JPS5832475A - アモルフアスシリコン太陽電池の製造方法 - Google Patents
アモルフアスシリコン太陽電池の製造方法Info
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- JPS5832475A JPS5832475A JP56130188A JP13018881A JPS5832475A JP S5832475 A JPS5832475 A JP S5832475A JP 56130188 A JP56130188 A JP 56130188A JP 13018881 A JP13018881 A JP 13018881A JP S5832475 A JPS5832475 A JP S5832475A
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- H10F71/10—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass the devices comprising amorphous semiconductor material
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- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
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- C23C14/0021—Reactive sputtering or evaporation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、シリコン太陽電池の製造方法に関するもので
ある。
ある。
最近において、太陽電池は太陽光エネルギーを直接電気
エネルギーに変換し得るものとして注目を集めている。
エネルギーに変換し得るものとして注目を集めている。
この太陽電池としては、種々の光起電力を生ずるものの
うち、大面積のものを容易に得ることかできて比較的大
きか効率が得られることから、アモルファスシリコン(
以下「1−シリコン」という。)半導体層を有するもの
が実際上鏝も有利とされている〇 従前におけるa−シリコンは、タイ素原子の結合手が未
結合のままのダングリングボンドが形成され、禁止帯中
に約10”/3”・・Vの局在状態が発生し、価電子制
御が困難で且つキャリア易動度が低く、太陽電池用半導
体材料として利用することはできな力・つた。
うち、大面積のものを容易に得ることかできて比較的大
きか効率が得られることから、アモルファスシリコン(
以下「1−シリコン」という。)半導体層を有するもの
が実際上鏝も有利とされている〇 従前におけるa−シリコンは、タイ素原子の結合手が未
結合のままのダングリングボンドが形成され、禁止帯中
に約10”/3”・・Vの局在状態が発生し、価電子制
御が困難で且つキャリア易動度が低く、太陽電池用半導
体材料として利用することはできな力・つた。
し力・しその後、価゛電子制御が可能1j:a−シリコ
ン層の製造方法であって実用化可能な亀のとしていわゆ
るグロー放電法が開発された。これはシランガスを真空
槽内に導入して当該真空槽内でグロ(5) 一放電を生ゼしぬ、シランを分解して活性のシリコン原
子及び水素原子を生成せしめ、真空槽内に設轄た基板上
Kaミーシリコン被着せしめる方法である@このグルー
放電法によって得られるa−シリコンは、ダングリング
ボンドが水素原子によシ補償されて−て−11111、
−81M、の結合を形成し、水素ガスによって濃度50
〜500p、p、wa、 K希釈したホスフィン、ジl
ラン、アルシン等のガスをシランガスと混合してグロー
放電を生ぜしめることKよって価電子制御が可能である
。そして更にその後、a−シリコンが太陽電池の材料と
して有用な可能性を有することが報告されて−る。
ン層の製造方法であって実用化可能な亀のとしていわゆ
るグロー放電法が開発された。これはシランガスを真空
槽内に導入して当該真空槽内でグロ(5) 一放電を生ゼしぬ、シランを分解して活性のシリコン原
子及び水素原子を生成せしめ、真空槽内に設轄た基板上
Kaミーシリコン被着せしめる方法である@このグルー
放電法によって得られるa−シリコンは、ダングリング
ボンドが水素原子によシ補償されて−て−11111、
−81M、の結合を形成し、水素ガスによって濃度50
〜500p、p、wa、 K希釈したホスフィン、ジl
ラン、アルシン等のガスをシランガスと混合してグロー
放電を生ぜしめることKよって価電子制御が可能である
。そして更にその後、a−シリコンが太陽電池の材料と
して有用な可能性を有することが報告されて−る。
しかしながら上述のグロー放電法にお−てけ、形成され
る龜−シリコンの組織状mがグロー放電のプラズマの状
llK依存するにもかかわらずそのプラズマを安定化す
ることが非常に困ml′&ことがら、均質なa−シリコ
ン膜を形成することは殆ど不可能であり、特に水素の導
入割合を単独に制御することができないために所望の特
性の1−シリコンを得ることはできない。
る龜−シリコンの組織状mがグロー放電のプラズマの状
llK依存するにもかかわらずそのプラズマを安定化す
ることが非常に困ml′&ことがら、均質なa−シリコ
ン膜を形成することは殆ど不可能であり、特に水素の導
入割合を単独に制御することができないために所望の特
性の1−シリコンを得ることはできない。
(6)
又グロー放電法においては、a−シリコンの製膜速度が
プラズマの状態によって定まシ、しかもこれは数オング
ストローム7秒の程度であって極めて小さく、更に大面
積のa−シリコン層の形成には限度があって基板を相対
的に移動して行なう連続製膜も不可能であり、危険性の
あるシランガス、或いは更に毒性のあるホスフィンガス
、ジlランガス、アルシンガス等を用いるため取扱いが
面倒であり、又前記ガスの公序物質が真空槽内面に地積
し、その後のグロー放電によつ−て解離して、基板上に
形成されるa−シリコン中に混入することとなるため、
所要の特性のa−シリコンが形成されず、均質性も損な
われるようKなシ、結局グロー放電法を利用する場合に
け、実用上の規模に制限があって実際上優れた特性の太
陽電池を有利に製造することはできない・ 本発明は以上のような事情に基いてな畑れた吃のであっ
て、優れた特性を有する太陽電池を有利KM造すること
ができる方法を提供することを目的とする。
プラズマの状態によって定まシ、しかもこれは数オング
ストローム7秒の程度であって極めて小さく、更に大面
積のa−シリコン層の形成には限度があって基板を相対
的に移動して行なう連続製膜も不可能であり、危険性の
あるシランガス、或いは更に毒性のあるホスフィンガス
、ジlランガス、アルシンガス等を用いるため取扱いが
面倒であり、又前記ガスの公序物質が真空槽内面に地積
し、その後のグロー放電によつ−て解離して、基板上に
形成されるa−シリコン中に混入することとなるため、
所要の特性のa−シリコンが形成されず、均質性も損な
われるようKなシ、結局グロー放電法を利用する場合に
け、実用上の規模に制限があって実際上優れた特性の太
陽電池を有利に製造することはできない・ 本発明は以上のような事情に基いてな畑れた吃のであっ
て、優れた特性を有する太陽電池を有利KM造すること
ができる方法を提供することを目的とする。
(7)
本発明の特徴とするところは、基板上にアモルファスシ
リコン半導体層を有するシリコン太陽電池の製造方法に
おいて、蒸着槽外の装置により活性化した水素ガスを当
該蒸着槽内に導入しながら、当該蒸着槽内において、基
板に負電圧を印加した状態において基板上にシリコンを
蒸着することによシアモルファスシリコン半導体層を形
成する工程と、このアモルファスシリコン半導体層の前
記基板と反対側に導電領域を形成する工程とを含むこと
にある。
リコン半導体層を有するシリコン太陽電池の製造方法に
おいて、蒸着槽外の装置により活性化した水素ガスを当
該蒸着槽内に導入しながら、当該蒸着槽内において、基
板に負電圧を印加した状態において基板上にシリコンを
蒸着することによシアモルファスシリコン半導体層を形
成する工程と、このアモルファスシリコン半導体層の前
記基板と反対側に導電領域を形成する工程とを含むこと
にある。
以下図面によって本発明の実施例について説明する。
本発明においては、第1図に示すように、蒸着槽を形成
するペルジャー1にノく夕7ライノくルブ2を有する排
気路3を介して真空lンプ(図示せず)を接続し、これ
Kよル当該ペルジャーl内を例えは10−3〜10−9
丁・rrの高真空状態柔し、当該ペルジャー1内KFi
蒸着基板4を配置してこれをヒーター5によ)温度15
0〜500℃、好ましくは250〜450℃に加熱する
と共に直流電i[6によシ蒸着1柵6o58−3247
5(3)’ 基板4に0〜10kVの負のバイアス電圧を印加する。
するペルジャー1にノく夕7ライノくルブ2を有する排
気路3を介して真空lンプ(図示せず)を接続し、これ
Kよル当該ペルジャーl内を例えは10−3〜10−9
丁・rrの高真空状態柔し、当該ペルジャー1内KFi
蒸着基板4を配置してこれをヒーター5によ)温度15
0〜500℃、好ましくは250〜450℃に加熱する
と共に直流電i[6によシ蒸着1柵6o58−3247
5(3)’ 基板4に0〜10kVの負のバイアス電圧を印加する。
そしてその出口か前記蒸着基板4と対向するようペルジ
ャー1に設けた水素ガス放電管7によシ活性化した水素
ガス即ち活性水素及び水素イオンをペルジャー1内に導
入しながら、前記蒸着基板4と対向するよう設けたシリ
コン蒸発源8を加熱してシリコンを前記蒸着基板4に蒸
着せしめ、これによシダングリングボンドが水素原子に
より補償又は封鎖されたa−シリコン半導体層を形成し
、更にこのa−シリコン半導体層の基板とは反対側の表
面に導電領域を形成して太陽電池を製造する。
ャー1に設けた水素ガス放電管7によシ活性化した水素
ガス即ち活性水素及び水素イオンをペルジャー1内に導
入しながら、前記蒸着基板4と対向するよう設けたシリ
コン蒸発源8を加熱してシリコンを前記蒸着基板4に蒸
着せしめ、これによシダングリングボンドが水素原子に
より補償又は封鎖されたa−シリコン半導体層を形成し
、更にこのa−シリコン半導体層の基板とは反対側の表
面に導電領域を形成して太陽電池を製造する。
以上における水素ガス放電管7の一例においては、第2
図に示すように、ガス人口21を有する筒状の一方の電
極部材22と、この一方の電極部材22を一端に設けた
、放電空間23を囲繞する例えば筒状ガラス製め放電空
間部材24と、この放電空間部材24の他端に設けた、
出口25を有するリング状の他方の電極部材26とよ構
成り、前記一方の電極部材22と他方の電極部材26と
(9) の間に¥i流又は交流の電圧が印加されることKより、
ガス人口21を介して供給された水素ガスが放電空間2
3においてグロー放電を生じ、これにより電子エネルギ
ー的に賦活された水素原子若しくけ分子より成る活性水
素及びイオン化された水素イオンが出口25より排出さ
れる。この図示の例の放電空間部材24け二重管構造で
あって冷却水を流過せしめ得る構成を有し、27.28
が冷却水入口及び出口を示す、29ti一方の電極部材
22の冷却用フィンである。この例の水素ガス放電管の
材質は例えばアルミニウムであって電極間距離tjlO
〜15傷であシ、他方の電極部材26をアース電位とし
一方の電極部材22に500〜800v好ましくは60
0v程度の交流又Fi会の直流電圧が印加され、放電空
間23の圧力は101?@rr程度とされる。この水素
ガス放電管7に供給する水素ガスとしては純度の高いも
のが用−られ、例えばパラジウムによシ純化されたもの
が好ましいO本発明方法による太陽電池の製造の具体例
を説明すると、第1図に示したように、ペルジャー1(
10) 内にはシリコン蒸発源8のほかKFM期律表第V族元素
の□蒸発源例えばアンチモン蒸発源9、金属の蒸発源飼
えげ白金蒸発源10を設けると共に前記蒸発源8〜10
の各々には開閉自在にシャッター8を設ける。そしてス
テンレス鋼よ構成る基板を蒸着基板として、これを温度
350℃に加熱した状態において、先ず、水素ガス放電
管7よシ活性水素及び水素イオンをペルジャーl内に導
入しながら、ペルジャー1内を2 X 10−’ To
rrの減圧状態に保ち、又蒸着基板に−3kVの直流電
圧を印加した状態でシリコン蒸発118及びアンチモン
蒸発源9を加熱して蒸発源物質を蒸発せしすると共にそ
れらのシャッターSを開き、これKより、第3図に示す
ように、基板30上に水素が導入され且つアンチモンが
不純物として含有されたa−シリコンを蒸着せしめて、
例えば厚さ50〜500λのn型層31を形成する。次
いでアンチモン蒸着@9の加熱を停止してそのシャッタ
ーSを閉じた状態でシリコン蒸発源8による蒸着を継続
し、前記n型層31上に不純物を含有しない龜−シリコ
(11) ンより成る例えば厚さ0.5〜2ミクロンの1J132
を形成する。その後活性水素及び水素イオンの導入を停
止すると共に前記シリコン蒸発源8の加熱を停止してそ
のシャッターBt−閉じ、白金蒸発源10を加熱して白
金を蒸発せしめると共にそのシャッター8を開き、これ
Kよシ前記i層32上に厚さ数百lの金属よ形成る金属
層33を影威し、更にこの金属層33上に必要に応じて
電流収集のための金属より成る電極体層34を餌えば網
状に形成し、以って太陽電池を製造する。
図に示すように、ガス人口21を有する筒状の一方の電
極部材22と、この一方の電極部材22を一端に設けた
、放電空間23を囲繞する例えば筒状ガラス製め放電空
間部材24と、この放電空間部材24の他端に設けた、
出口25を有するリング状の他方の電極部材26とよ構
成り、前記一方の電極部材22と他方の電極部材26と
(9) の間に¥i流又は交流の電圧が印加されることKより、
ガス人口21を介して供給された水素ガスが放電空間2
3においてグロー放電を生じ、これにより電子エネルギ
ー的に賦活された水素原子若しくけ分子より成る活性水
素及びイオン化された水素イオンが出口25より排出さ
れる。この図示の例の放電空間部材24け二重管構造で
あって冷却水を流過せしめ得る構成を有し、27.28
が冷却水入口及び出口を示す、29ti一方の電極部材
22の冷却用フィンである。この例の水素ガス放電管の
材質は例えばアルミニウムであって電極間距離tjlO
〜15傷であシ、他方の電極部材26をアース電位とし
一方の電極部材22に500〜800v好ましくは60
0v程度の交流又Fi会の直流電圧が印加され、放電空
間23の圧力は101?@rr程度とされる。この水素
ガス放電管7に供給する水素ガスとしては純度の高いも
のが用−られ、例えばパラジウムによシ純化されたもの
が好ましいO本発明方法による太陽電池の製造の具体例
を説明すると、第1図に示したように、ペルジャー1(
10) 内にはシリコン蒸発源8のほかKFM期律表第V族元素
の□蒸発源例えばアンチモン蒸発源9、金属の蒸発源飼
えげ白金蒸発源10を設けると共に前記蒸発源8〜10
の各々には開閉自在にシャッター8を設ける。そしてス
テンレス鋼よ構成る基板を蒸着基板として、これを温度
350℃に加熱した状態において、先ず、水素ガス放電
管7よシ活性水素及び水素イオンをペルジャーl内に導
入しながら、ペルジャー1内を2 X 10−’ To
rrの減圧状態に保ち、又蒸着基板に−3kVの直流電
圧を印加した状態でシリコン蒸発118及びアンチモン
蒸発源9を加熱して蒸発源物質を蒸発せしすると共にそ
れらのシャッターSを開き、これKより、第3図に示す
ように、基板30上に水素が導入され且つアンチモンが
不純物として含有されたa−シリコンを蒸着せしめて、
例えば厚さ50〜500λのn型層31を形成する。次
いでアンチモン蒸着@9の加熱を停止してそのシャッタ
ーSを閉じた状態でシリコン蒸発源8による蒸着を継続
し、前記n型層31上に不純物を含有しない龜−シリコ
(11) ンより成る例えば厚さ0.5〜2ミクロンの1J132
を形成する。その後活性水素及び水素イオンの導入を停
止すると共に前記シリコン蒸発源8の加熱を停止してそ
のシャッターBt−閉じ、白金蒸発源10を加熱して白
金を蒸発せしめると共にそのシャッター8を開き、これ
Kよシ前記i層32上に厚さ数百lの金属よ形成る金属
層33を影威し、更にこの金属層33上に必要に応じて
電流収集のための金属より成る電極体層34を餌えば網
状に形成し、以って太陽電池を製造する。
この第3図に示した構成にお―てけ基板30と襲型層3
1との間にオーミックコンタクトが形成されると共に、
1層32と金属層33との境界においてショットキーバ
リアが形成され、金属層33を透過した光によシ起電力
が現われ、金属層33若しくII′i電極体層34と基
板30との間に電圧が発生する。ここに得られる変換効
率はムMlの光・・:。
1との間にオーミックコンタクトが形成されると共に、
1層32と金属層33との境界においてショットキーバ
リアが形成され、金属層33を透過した光によシ起電力
が現われ、金属層33若しくII′i電極体層34と基
板30との間に電圧が発生する。ここに得られる変換効
率はムMlの光・・:。
(100dN/ ) ON射で約3.5sであっ
て十−・秒 分実用に供し得るものである。そして金属層33の形成
のためKは、白金以外にも金、パラジウム等の仕事関数
の大きい金属を用いてもよい。
て十−・秒 分実用に供し得るものである。そして金属層33の形成
のためKは、白金以外にも金、パラジウム等の仕事関数
の大きい金属を用いてもよい。
尚電極体N34の代シに、又は金属N33及び電極体層
340代、9KITO層と称される8m01 。
340代、9KITO層と称される8m01 。
In01等よ形成る透明電極を設けて成る構成としても
よい。この場合において、透明電極のシート抵抗がlO
Ω/d以下で光透過率が85%以上であることが好まし
い。
よい。この場合において、透明電極のシート抵抗がlO
Ω/d以下で光透過率が85%以上であることが好まし
い。
本発明F1以上のよ’lK%、−シリコン半導体層(#
!3’図の例でtin型層31屓び1層32)を、活性
水素及び水素イオンの存在下におけるシリコンの蒸着に
よって形成するものであるため、シリコン蒸発源8或い
け更に第V族元素の蒸発i19の加熱の程度並びに活性
水素の活性化の程度又は水素イオン量及び/又はその導
入量を個別に制御することができて所望の特性のa−シ
リコン半導体層を形成し得ると共に、常に均一な条件の
下で水素を含有したa−シリコン半導体層を形成するこ
とができてその組−若しくは組成を均質なものとするこ
とができる。しかもa−シリコン半導体層の製III速
度はグロー放電法の数十倍以上(例えば(13) 10〜1ooi/秒)とすることが容易であると共に、
大面積の蒸着基板の表面全面にも均一に蒸着することが
でき、更にシリコン蒸発源8に対して蒸着基板4を相対
的に移動せしめることによって連続製膜も可能である。
!3’図の例でtin型層31屓び1層32)を、活性
水素及び水素イオンの存在下におけるシリコンの蒸着に
よって形成するものであるため、シリコン蒸発源8或い
け更に第V族元素の蒸発i19の加熱の程度並びに活性
水素の活性化の程度又は水素イオン量及び/又はその導
入量を個別に制御することができて所望の特性のa−シ
リコン半導体層を形成し得ると共に、常に均一な条件の
下で水素を含有したa−シリコン半導体層を形成するこ
とができてその組−若しくは組成を均質なものとするこ
とができる。しかもa−シリコン半導体層の製III速
度はグロー放電法の数十倍以上(例えば(13) 10〜1ooi/秒)とすることが容易であると共に、
大面積の蒸着基板の表面全面にも均一に蒸着することが
でき、更にシリコン蒸発源8に対して蒸着基板4を相対
的に移動せしめることによって連続製膜も可能である。
又a−シリコン半導体層の価電子制御のためにシリコン
と共に周期律表第■族元素又は第V族元素を共蒸着する
場合にも、それら蒸発源を設けてその状態をシャッター
8の開閉及び蒸発用加熱電源の0N−OFFのみによシ
容易に制御することができる。従って、本発明によれけ
、優れた特性のa−シリコン半導体層を有し、従って優
れた特性の太陽電池を確実にしかも極めて有利に1即ち
、短時間のうちに所要の面積のものを工業的規模で容易
に製造することができる0 以上にお−て、水素ガス放電管7は、蒸着槽な構成する
ペルジャー1外に位置せしめるのが好ましい。即ち、水
素ガス放電管7#iその動作によシ発熱して1000℃
以上もO高温と表るため、そのままでは当該木葉ガス放
電管7の真空密封用0リングの溶融劣化、電極部材22
,26の溶融劣化を(14) 招くこととなり、従って冷却機構が必要となる2>E、
ペルジャー1の外部に水素ガス放電管7を設ければ、既
述のように4ぞ方の電極部材28をアース電位としてこ
れを水冷によって十分に冷却することが容易であり、電
圧が印加されるために水冷を利用することのできない一
方の電極部組2!11.については、これにフィン29
を設けてファン等によって空冷することKよシ、十分に
冷却することが容易である。併せて、水素ガス放電管7
をペルジャー1外に設けるととKよシ、電極部材2.Z
、26の清掃、真空密封用0リングの交換等の保守を蒸
着”槽内を汚染することなく行危うことができる。
と共に周期律表第■族元素又は第V族元素を共蒸着する
場合にも、それら蒸発源を設けてその状態をシャッター
8の開閉及び蒸発用加熱電源の0N−OFFのみによシ
容易に制御することができる。従って、本発明によれけ
、優れた特性のa−シリコン半導体層を有し、従って優
れた特性の太陽電池を確実にしかも極めて有利に1即ち
、短時間のうちに所要の面積のものを工業的規模で容易
に製造することができる0 以上にお−て、水素ガス放電管7は、蒸着槽な構成する
ペルジャー1外に位置せしめるのが好ましい。即ち、水
素ガス放電管7#iその動作によシ発熱して1000℃
以上もO高温と表るため、そのままでは当該木葉ガス放
電管7の真空密封用0リングの溶融劣化、電極部材22
,26の溶融劣化を(14) 招くこととなり、従って冷却機構が必要となる2>E、
ペルジャー1の外部に水素ガス放電管7を設ければ、既
述のように4ぞ方の電極部材28をアース電位としてこ
れを水冷によって十分に冷却することが容易であり、電
圧が印加されるために水冷を利用することのできない一
方の電極部組2!11.については、これにフィン29
を設けてファン等によって空冷することKよシ、十分に
冷却することが容易である。併せて、水素ガス放電管7
をペルジャー1外に設けるととKよシ、電極部材2.Z
、26の清掃、真空密封用0リングの交換等の保守を蒸
着”槽内を汚染することなく行危うことができる。
これに対し、ペルジャーl内に水素ガス放電管を位置せ
しめると、電極部材等の金属部分からの原子の飛散が生
ずるため、相当に強力な冷却機構を必要とする上、電圧
を印加すべき電極部材につペルジャー1内に配設するこ
と社、機構上大きな障害があシ、蒸着条件も厳しいもの
となる。併せ了15) て、水素ガス放電管の保守に際し、ペルジャー1内を汚
染する可能性が大きく、膳素、窒素、遷移金属等の好着
しくない不純物がペルジャーl内に導入されるように’
&夛、これによって形成されるa−シリコンは、暗抵抗
が小さく々つたシ光応答性が減少する等特性が劣ったも
のとなる0本発明方決によって製造される太陽電池は、
光起電力を生ずべき空乏層がa−シリコン半導体層によ
〕形成される型のものであれけ、その具体的#I威はW
kIiに及ぶ。例えば第3図の詞において更K1層32
と金属層33との藺Ktooi以下の81へ或−は81
N等′の絶縁層を形成して成るモツ)バリアによシ光起
電力を生ずる構成としてもよいし、又II4図に示すよ
うに、ガラス板40上にシーシ抵抗が109,4−以下
のITO膜、8mO3膜又は1m1O@膜より威る透明
導電層41を形成したもの、又#1前記透明導電層41
上K11百l厚の高仕事間1[,1 1kO金属層を形成したもOをシリコンの蒸着における
基板として用いて、当該基板上に厚さ0.5〜2ミクロ
ン01941更にその上に、オーミツ特開昭58−32
475(5)・ クコンタクトを得るためのU型層43を介して例えば厚
さ数百Aの金属よシ成る導電層44を設けて成る構成、
第5図に示すように、#!3WJの例と同様に、金属基
板50上に厚さ50’〜400 A C) m型層51
を介して厚さ0.2〜2文クロンの1層52を形成し、
この1層52上KfIlえげアル1=ウムを不純物とし
て含有する厚さ50〜3001のa−シリコンよシ成る
p型層53を影成し、その上に第3図の例におけると同
様に透明導電層54及び電極体層55又は透明導−電層
54を設けて空間電荷の電界が形成されるようにした構
成又はこの構、裁において1層42を設けずKp型層及
びII型層のみとして接合が形成されるようにした構成
、第6図に示すように第3図の例における3M層31と
1層32との間に、1層32との境界にシ曹ットキーバ
リアを形成する、仕事関数の高い金属例えば金、白金、
パラジウム等よ形成る厚さ100λ程度の透明金属層6
0を設け、五層32上にけI’rO導i層61及び電極
体層62を設けた構成、その他の構成としてもよい。
しめると、電極部材等の金属部分からの原子の飛散が生
ずるため、相当に強力な冷却機構を必要とする上、電圧
を印加すべき電極部材につペルジャー1内に配設するこ
と社、機構上大きな障害があシ、蒸着条件も厳しいもの
となる。併せ了15) て、水素ガス放電管の保守に際し、ペルジャー1内を汚
染する可能性が大きく、膳素、窒素、遷移金属等の好着
しくない不純物がペルジャーl内に導入されるように’
&夛、これによって形成されるa−シリコンは、暗抵抗
が小さく々つたシ光応答性が減少する等特性が劣ったも
のとなる0本発明方決によって製造される太陽電池は、
光起電力を生ずべき空乏層がa−シリコン半導体層によ
〕形成される型のものであれけ、その具体的#I威はW
kIiに及ぶ。例えば第3図の詞において更K1層32
と金属層33との藺Ktooi以下の81へ或−は81
N等′の絶縁層を形成して成るモツ)バリアによシ光起
電力を生ずる構成としてもよいし、又II4図に示すよ
うに、ガラス板40上にシーシ抵抗が109,4−以下
のITO膜、8mO3膜又は1m1O@膜より威る透明
導電層41を形成したもの、又#1前記透明導電層41
上K11百l厚の高仕事間1[,1 1kO金属層を形成したもOをシリコンの蒸着における
基板として用いて、当該基板上に厚さ0.5〜2ミクロ
ン01941更にその上に、オーミツ特開昭58−32
475(5)・ クコンタクトを得るためのU型層43を介して例えば厚
さ数百Aの金属よシ成る導電層44を設けて成る構成、
第5図に示すように、#!3WJの例と同様に、金属基
板50上に厚さ50’〜400 A C) m型層51
を介して厚さ0.2〜2文クロンの1層52を形成し、
この1層52上KfIlえげアル1=ウムを不純物とし
て含有する厚さ50〜3001のa−シリコンよシ成る
p型層53を影成し、その上に第3図の例におけると同
様に透明導電層54及び電極体層55又は透明導−電層
54を設けて空間電荷の電界が形成されるようにした構
成又はこの構、裁において1層42を設けずKp型層及
びII型層のみとして接合が形成されるようにした構成
、第6図に示すように第3図の例における3M層31と
1層32との間に、1層32との境界にシ曹ットキーバ
リアを形成する、仕事関数の高い金属例えば金、白金、
パラジウム等よ形成る厚さ100λ程度の透明金属層6
0を設け、五層32上にけI’rO導i層61及び電極
体層62を設けた構成、その他の構成としてもよい。
(17)
以上における1層、’a型層及びP型層は何れも既述の
ように、活性水素及び水素イオンの存在下におけるシリ
コンの蒸着による1−シリコン半導体層によシ形成され
%ml!層においてはリン、ヒ素、アンチモン、ビスマ
ス等の第■族元素が、又pl!層においてはホウ素、ア
ルミニウムlガリウム、インジウム、タリウム等の第1
族元素が不純物として、シリコンと同様に蒸着によル混
入せしめられる0又金属よシ成る導電層等を形成するた
めに#−i任意の方法を利用することができるが、本発
明においては、特に金属の蒸着決を利用することが便利
であや、従って、第1図に示したように四つの蒸発源8
〜11を配置してそれらをシリコン蒸発源、金属蒸発源
、第璽族元素蒸発源及び第■族元素蒸発源として用い、
その個々のシャッターの開閉制御を含めて各蒸発源によ
る蒸着を制御することにより、種々の層構成を有する太
陽電池を製造することができる。ここに各蒸発源の加熱
は、電子銃加熱方式、抵抗加熱方式等の任意の方式を採
用することができる。又基板として金属板(18) を用いるときは、ステンレス鋼のほか、モリブデン、タ
ングステン等を用−ることができる0又基板としては、
ガラス板、石英板上にモリブデン、タングステン、クロ
ム等の金属層を設けたもの、厚さ数百^の金、潰噛=白
金及び/又FiI丁0膜、8mOB膜、ImtOmml
等の透明電極層を設けたものを用−てもよい。
ように、活性水素及び水素イオンの存在下におけるシリ
コンの蒸着による1−シリコン半導体層によシ形成され
%ml!層においてはリン、ヒ素、アンチモン、ビスマ
ス等の第■族元素が、又pl!層においてはホウ素、ア
ルミニウムlガリウム、インジウム、タリウム等の第1
族元素が不純物として、シリコンと同様に蒸着によル混
入せしめられる0又金属よシ成る導電層等を形成するた
めに#−i任意の方法を利用することができるが、本発
明においては、特に金属の蒸着決を利用することが便利
であや、従って、第1図に示したように四つの蒸発源8
〜11を配置してそれらをシリコン蒸発源、金属蒸発源
、第璽族元素蒸発源及び第■族元素蒸発源として用い、
その個々のシャッターの開閉制御を含めて各蒸発源によ
る蒸着を制御することにより、種々の層構成を有する太
陽電池を製造することができる。ここに各蒸発源の加熱
は、電子銃加熱方式、抵抗加熱方式等の任意の方式を採
用することができる。又基板として金属板(18) を用いるときは、ステンレス鋼のほか、モリブデン、タ
ングステン等を用−ることができる0又基板としては、
ガラス板、石英板上にモリブデン、タングステン、クロ
ム等の金属層を設けたもの、厚さ数百^の金、潰噛=白
金及び/又FiI丁0膜、8mOB膜、ImtOmml
等の透明電極層を設けたものを用−てもよい。
以上のように本発明によれば、活性水素及び水素イオン
を真空槽内に導入しながらシリフンの蒸着を行なってa
−シリコン半導体層を形成することによシ太陽電池を製
造することができ、結局、優れた特゛性の太陽電池を有
利に製造することができる。
を真空槽内に導入しながらシリフンの蒸着を行なってa
−シリコン半導体層を形成することによシ太陽電池を製
造することができ、結局、優れた特゛性の太陽電池を有
利に製造することができる。
第1図は本発明シリコン太陽電池の製造に用φる蒸着装
置の構成を示す説明用断面図、第2!!!!!轄水素ガ
ス放電管の一例を示す説明用断面図、#I3図〜第6図
は本発明方法によって製造される太陽電池の構成例を示
す説明用断面図である。 1・・・ペルジャー 3・・・排気路(19) 4・・・蒸着基板 5・・・ヒーター7・・・
水素ガス放電管 21・・・ガス人口22・・・電極
部材 23・・・放電空間24・・・放電空間部
材 26・・・電極部材30・・・基板
31・・・渦原層32・・・1層 33−
・・金属層40・・・ガラス板 41・・・透明
導電層42・・・1層 43・・・*W1
1層44・・−導電層 50・・・金属基板
51・・・1111層 52・・・1層53
・・・pH層 54・・・透明導電層60・
・・透明金属層 61・・・ITO導電導電層間
8開昭582475(6) 第1図 第2図 水東力゛ス
置の構成を示す説明用断面図、第2!!!!!轄水素ガ
ス放電管の一例を示す説明用断面図、#I3図〜第6図
は本発明方法によって製造される太陽電池の構成例を示
す説明用断面図である。 1・・・ペルジャー 3・・・排気路(19) 4・・・蒸着基板 5・・・ヒーター7・・・
水素ガス放電管 21・・・ガス人口22・・・電極
部材 23・・・放電空間24・・・放電空間部
材 26・・・電極部材30・・・基板
31・・・渦原層32・・・1層 33−
・・金属層40・・・ガラス板 41・・・透明
導電層42・・・1層 43・・・*W1
1層44・・−導電層 50・・・金属基板
51・・・1111層 52・・・1層53
・・・pH層 54・・・透明導電層60・
・・透明金属層 61・・・ITO導電導電層間
8開昭582475(6) 第1図 第2図 水東力゛ス
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)基板上にアモルファスシリコン半導体層を有するシ
リコン太陽電池の製造方法において、蒸着槽外の装置に
よシ活性化した水素ガスを当該蒸着槽内に導入しながら
、当該蒸着槽内において、基板に負電圧を印加した状I
Iにおいて当該基板上にシリコンを蒸着することKよル
了モル7アスシリコン半導体層を形成する工程と、この
アモルファスシリコン半導体層の前記基板と反対@に導
電領域を形成する工程とを含むことを特徴とするアモル
ファスシリコン太11fi池の1IIfi[方法・2)
前記アモルファスシリコン半導体層を形成する工程がシ
リコンを単独に蒸着してアモルファスシリコン単独半導
体層を形成する工程及び/又は周期律表第1族元素及び
IIV族元素の一方から成るドープ剤をシリコンと共に
蒸着して前記ドープ剤によシドープされたアモルファス
シリコン牛(2) 導体層を形成する工程から成る特許請求の範囲第1項記
載のアモルファスシリコン太1li1[池の製造方法。 3)前記アモルファスシリコン半導体層を形成する工程
が、前記基板上に、周期律表第1族元素及び第■族元素
の一方から成る第10ドープ剤をドープした第1のアモ
ルファスシリコン半導体層、アモルファスシリコン単独
半導体層及び前記第1族元禦及び第■族元素の他方から
成る第2のドープ剤をドープした第2のアモルファスシ
リコン半導体層を積層して形成する工程から成り、前記
アモルファスシリコン真性半導体層中に空間電荷の電界
が形成されるようにした特許請求の範囲第1項記載のア
モルファスシリコン太陽電池の製造方法・ 4)前記アモルファスシリコン半導体層を形成する工程
が、前記基板上に1周期律表第1族元禦及び第■族元素
の一方から成るIIIのドープ剤をドープした第1のア
モルファスシリコン半導体層及び第璽族及び第■族元素
の他方から成る第2の(3) ドープ剤をドープした第2のアモルファスシリコン半導
体層を積層して形成する工程から成シ、前記tIM1の
アモルファスシリコン半導体層とIII!2C)アモル
ファスシリコン半導体層との関に接合を形成した特許請
求の範囲第1項記載のアモルファスシリコン太陽電池の
製造方法。 5)前記アモルファスシリコン半導体層を形成する工程
が、前記第2のアモルファスシリコン半導体響上に、前
記第20ドープ剤を第2のアモルファスシリコン半導体
層よシ高濃度にドープした館3のアモルファスシリコン
半導体層を積層して形成する工程を含む特許請求の範囲
第4項記載のアモルファスシリコン太陽電池osH,方
法。 6)前記導電領域を形成する工程が、前記アモルファス
シリコン半導体層上に光透過性導電材料を蒸着する工程
から威シ、前記導電領域に空間電荷の電算が形成される
ようK ’L・ηた特許請求の範囲第1項、1112項
、#I3項、第4項又#を第5項記載のアモルファスシ
リコン太陽電池の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56130188A JPS5832475A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | アモルフアスシリコン太陽電池の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56130188A JPS5832475A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | アモルフアスシリコン太陽電池の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5832475A true JPS5832475A (ja) | 1983-02-25 |
Family
ID=15028175
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56130188A Pending JPS5832475A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | アモルフアスシリコン太陽電池の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5832475A (ja) |
-
1981
- 1981-08-21 JP JP56130188A patent/JPS5832475A/ja active Pending
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