JPS5833117A - 確度表示を具えた電子測定器 - Google Patents
確度表示を具えた電子測定器Info
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- JPS5833117A JPS5833117A JP13109981A JP13109981A JPS5833117A JP S5833117 A JPS5833117 A JP S5833117A JP 13109981 A JP13109981 A JP 13109981A JP 13109981 A JP13109981 A JP 13109981A JP S5833117 A JPS5833117 A JP S5833117A
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- JP
- Japan
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- measured
- measurement
- measured value
- electronic measuring
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 38
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000002847 impedance measurement Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D7/00—Indicating measured values
- G01D7/02—Indicating value of two or more variables simultaneously
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Indicating Measured Values (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、測定確度の表示機能を具えた電子測定器に関
する。
する。
一般に電子測定器の確度（ａｃｃｕｒａｃｙ）とは、規
定された状態において動作する機器の測定値に対し、製
造業者が明示した誤差の限界値である。この確度は上位
の標準器によって校正され、そして国家標準に対するト
レーサビリティ−によって確立されている。一方、電子
測定器においては、測定対象の多様化とともに被測定物
に与える測定パラメータ（例えば測定周波数、測定レベ
ル等）を連続的に変化せしめている。このような測定器
においては、測定パラメータの変化に応じてその測定値
に対する確度も変化する。
定された状態において動作する機器の測定値に対し、製
造業者が明示した誤差の限界値である。この確度は上位
の標準器によって校正され、そして国家標準に対するト
レーサビリティ−によって確立されている。一方、電子
測定器においては、測定対象の多様化とともに被測定物
に与える測定パラメータ（例えば測定周波数、測定レベ
ル等）を連続的に変化せしめている。このような測定器
においては、測定パラメータの変化に応じてその測定値
に対する確度も変化する。
実際に、被測定対象（例えばり、Ｏ，Ｒのような回路素
子）の測定量が変化したり、又は測定パラメータが変化
した場合に各測定点における確度は、測定回路の測定信
号レベル対ノイズ比や使用周線数帯域における回路の周
波数特性等を解析し、そして測定パラメータの変化によ
る測定回路の誤差の変化量を近似式で表わし、更にこれ
を基に測定パラメータ、又は測定量の変化による確度を
近似式で求めていた。したがって、すべての測定点にお
ける確度を求める場合、各点における測定値（測定量）
と被測定対象に与える測定パラメータＤデータを近似式
に代入して計算して（へたが、上記の近似式が複雑にな
ればなるほどその計算工数が増加して確度を知ることは
困難である。
子）の測定量が変化したり、又は測定パラメータが変化
した場合に各測定点における確度は、測定回路の測定信
号レベル対ノイズ比や使用周線数帯域における回路の周
波数特性等を解析し、そして測定パラメータの変化によ
る測定回路の誤差の変化量を近似式で表わし、更にこれ
を基に測定パラメータ、又は測定量の変化による確度を
近似式で求めていた。したがって、すべての測定点にお
ける確度を求める場合、各点における測定値（測定量）
と被測定対象に与える測定パラメータＤデータを近似式
に代入して計算して（へたが、上記の近似式が複雑にな
ればなるほどその計算工数が増加して確度を知ることは
困難である。
本発明は上記の欠点を除去するために電子測定器の制御
回路Ｋ例えばマイクロプロセッサを内蔵し、Ｑ −ｒ
イクロプロセッサにはすべての測定点における確度の近
似式を予めストアしておき、そしてすべての測定点に対
して一回の測定毎にその測定値を表示すると共に、＃測
定値に対する確度を近似式で計算し表示するよ５Ｋした
電子測定器に関するものである。以下図面を用（Ｑで本
発明を説明する。
回路Ｋ例えばマイクロプロセッサを内蔵し、Ｑ −ｒ
イクロプロセッサにはすべての測定点における確度の近
似式を予めストアしておき、そしてすべての測定点に対
して一回の測定毎にその測定値を表示すると共に、＃測
定値に対する確度を近似式で計算し表示するよ５Ｋした
電子測定器に関するものである。以下図面を用（Ｑで本
発明を説明する。
第１図は本発明の一実施例による電子測定器のブロック
図、第２図は第１図における測定回路１２の具体的回路
図である。両図において、１０は測定信号発生器で、そ
の出力信号は標準抵抗器１２を介して被測定対象１４に
送りだされる。２０は演算増幅器２２とレンジ抵抗器２
４とを含む測定回路で、前記演算増幅器２２の反転入力
端は前記被測定対象１４に、そしてレンジ抵抗器２４を
介してその出力端子にそれぞれ接続されている。ここで
、測定信号発生器１０から送りだされる出力周波数ｆｓ
及び標準抵抗器１２に印加される電圧レベルＶ、を含
む測定パラメータの可変制御信号、測定回路２０におけ
るレンジ抵抗器２４（その値をルとする）の可変制御信
号は、それぞれ演算機能（例工ばマイクロプロセッサ）
を具えた演算処理装置１６から送りだされる。そして前
記演算処理装置１６は測定回路２０から電圧ψｔ、Ｖｘ
の測定値情報を導入する。なお、１８は表示装置で
ある。
図、第２図は第１図における測定回路１２の具体的回路
図である。両図において、１０は測定信号発生器で、そ
の出力信号は標準抵抗器１２を介して被測定対象１４に
送りだされる。２０は演算増幅器２２とレンジ抵抗器２
４とを含む測定回路で、前記演算増幅器２２の反転入力
端は前記被測定対象１４に、そしてレンジ抵抗器２４を
介してその出力端子にそれぞれ接続されている。ここで
、測定信号発生器１０から送りだされる出力周波数ｆｓ
及び標準抵抗器１２に印加される電圧レベルＶ、を含
む測定パラメータの可変制御信号、測定回路２０におけ
るレンジ抵抗器２４（その値をルとする）の可変制御信
号は、それぞれ演算機能（例工ばマイクロプロセッサ）
を具えた演算処理装置１６から送りだされる。そして前
記演算処理装置１６は測定回路２０から電圧ψｔ、Ｖｘ
の測定値情報を導入する。なお、１８は表示装置で
ある。
上記の如く、インピーダンスの測定例において、演算処
理装置１６は先ず測定回路２０から得られた測定値情報
（Ｖｌ 、 Ｖｘ １：基づき次式（１）の演算処理に
より測定値ｉｘを求めた後、この測定値が表示装置１８
に表示される。
理装置１６は先ず測定回路２０から得られた測定値情報
（Ｖｌ 、 Ｖｘ １：基づき次式（１）の演算処理に
より測定値ｉｘを求めた後、この測定値が表示装置１８
に表示される。
又、演算処理装置１６は上記の演算実行と同時又はこれ
と並行して次式（２）Ｋ示す近似式に基づいて前記測定
値ｉｘに対する確度にの演算を実行し、９ （１＋に７（１＋Ｋｓβ） −）−１−−＝−０−１，
−＋２１ィ。６、ｒ＝ｖ３．β＝漁、 Ｋ＋ 、 Ｋ２
６、−−１Ｋｅ。よ。
と並行して次式（２）Ｋ示す近似式に基づいて前記測定
値ｉｘに対する確度にの演算を実行し、９ （１＋に７（１＋Ｋｓβ） −）−１−−＝−０−１，
−＋２１ィ。６、ｒ＝ｖ３．β＝漁、 Ｋ＋ 、 Ｋ２
６、−−１Ｋｅ。よ。
測定レンジ、測定ファンクション（インダクタンス、キ
ャパシタンス、抵抗等）に異なる係数で、これら各係数
は予め計算され、そして処理装置におけるメモリにスト
アされている。
ャパシタンス、抵抗等）に異なる係数で、これら各係数
は予め計算され、そして処理装置におけるメモリにスト
アされている。
上記の説明より明らかなように１本発明は各点における
測定値すなわち、測定パラメータの変化に対する測定値
と該測定値に対するそれぞれの確度を同時に表示させる
ことができるので、実用に供し至便である。なお、上記
確度の表示方法は、絶対値確度、又は百分率確度−Ｗｘ
” ００％）のいずれでもよい。又測定値に対する確度
が得られると、この測定器が保証し得る測定値の最小値
、最大値を求めることができるので、測定パラメータ例
えば測定周波数を連続的に掃引して測定を行い、そして
ＣＲＴの管面又は記碌計等Ｋ（測定周波数）対（測定値
）をプロットする場合、各測定値の最小値曲線と最大値
曲線を同時にプロットすることもできる。
測定値すなわち、測定パラメータの変化に対する測定値
と該測定値に対するそれぞれの確度を同時に表示させる
ことができるので、実用に供し至便である。なお、上記
確度の表示方法は、絶対値確度、又は百分率確度−Ｗｘ
” ００％）のいずれでもよい。又測定値に対する確度
が得られると、この測定器が保証し得る測定値の最小値
、最大値を求めることができるので、測定パラメータ例
えば測定周波数を連続的に掃引して測定を行い、そして
ＣＲＴの管面又は記碌計等Ｋ（測定周波数）対（測定値
）をプロットする場合、各測定値の最小値曲線と最大値
曲線を同時にプロットすることもできる。
第１図は本発明の一実施例による電子測定器のブロック
図、第２図は第１図における測定回路２０の具体的回路
図である。 １０：測定信号発生器、１４：被測定対象、１６：演算
処理装置、１８：表示装置、２０：測定回路、２２：演
算増幅器、２４：レンジ抵抗器。
図、第２図は第１図における測定回路２０の具体的回路
図である。 １０：測定信号発生器、１４：被測定対象、１６：演算
処理装置、１８：表示装置、２０：測定回路、２２：演
算増幅器、２４：レンジ抵抗器。
Claims (1)
- ある設定された測定パラメータに応じて被測定対象の定
数値を測定する電子測定器において、前記被測定対象に
供給される測定信号のパラメータ情報又は測定値情報に
基づいて各測定値に対する確度を逐次演算する演算処理
装置と、前記測定値及び確度を同時に表示せしめる表示
装置とを具備して成る電子測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13109981A JPS5833117A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | 確度表示を具えた電子測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13109981A JPS5833117A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | 確度表示を具えた電子測定器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5833117A true JPS5833117A (ja) | 1983-02-26 |
| JPH0145587B2 JPH0145587B2 (ja) | 1989-10-04 |
Family
ID=15049949
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13109981A Granted JPS5833117A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | 確度表示を具えた電子測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5833117A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6192890A (ja) * | 1984-10-12 | 1986-05-10 | Mitsubishi Paper Mills Ltd | 感熱記録シ−ト |
| US8201122B2 (en) | 2010-05-25 | 2012-06-12 | International Business Machines Corporation | Computing resistance sensitivities with respect to geometric parameters of conductors with arbitrary shapes |
-
1981
- 1981-08-21 JP JP13109981A patent/JPS5833117A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6192890A (ja) * | 1984-10-12 | 1986-05-10 | Mitsubishi Paper Mills Ltd | 感熱記録シ−ト |
| US8201122B2 (en) | 2010-05-25 | 2012-06-12 | International Business Machines Corporation | Computing resistance sensitivities with respect to geometric parameters of conductors with arbitrary shapes |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0145587B2 (ja) | 1989-10-04 |
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