JPS5835677A - パタ−ン情報処理方法 - Google Patents

パタ−ン情報処理方法

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JPS5835677A
JPS5835677A JP56132622A JP13262281A JPS5835677A JP S5835677 A JPS5835677 A JP S5835677A JP 56132622 A JP56132622 A JP 56132622A JP 13262281 A JP13262281 A JP 13262281A JP S5835677 A JPS5835677 A JP S5835677A
Authority
JP
Japan
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pattern
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sum
column
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Prior art date
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Pending
Application number
JP56132622A
Other languages
English (en)
Inventor
Yutaka Kubota
豊 久保田
Kiyoshi Matsui
清 松井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Stanley Electric Co Ltd
Original Assignee
Stanley Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Stanley Electric Co Ltd filed Critical Stanley Electric Co Ltd
Priority to JP56132622A priority Critical patent/JPS5835677A/ja
Publication of JPS5835677A publication Critical patent/JPS5835677A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/40—Extraction of image or video features
    • G06V10/50—Extraction of image or video features by performing operations within image blocks; by using histograms, e.g. histogram of oriented gradients [HoG]; by summing image-intensity values; Projection analysis
    • G06V10/507—Summing image-intensity values; Histogram projection analysis

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、パターンデータを省略することなく圧縮す
ることにより、例えばベルトコンベア上を流れる部品を
テストするg o / n o −g o比較システム
等に用いて高精度のリアルタイム処理を可能としたパタ
ーン情峡埋方法に関する。
従来、この種のパターン情報の比較処理方法としては例
えばつぎのようなものが知られている。
即ち、まず基準とする被写体についてビデオカメラ等で
撮影することにより二次元光学パターンとして抽える撮
像工程と、その二次元光学パターンを構成する各画素の
明暗情報を電子ビームで走査することにより電気信号の
強弱に光電変換しアナログ電気信号として出力する信号
続出工程と、このアナログ電気信号を受けてアナログデ
ジタル変換(ム/D変換)を行ない、各画素毎に2値化
或いは1M数wIMに符号化した信号として出力するム
/D変換工程と、前記符号化した出力信号を受けて紀W
部の所定のメモリに記憶する記憶工程によって基準パタ
ーンの情報を記憶しておき、次で上記と全く同様の方法
で比較すべき被写体についての比較パターンの情報を記
憶し、かくして得られた基準パターンと比較パターンの
両データをメモリから呼び出して遂次比較演算し、両パ
ターンの間合を判別してその結果を出力するようにした
ものである。
しかしながら、このような従来のパターン情報処理方法
にあっては、A/D変換工程で杓号化した出力信号を次
の記憶工程で記憶するに際して、基準パターンと比較パ
ターンの両パターンを正確に対応させて比較する必要か
ら、第1図に示すパターン画素構成と全く同じく列の数
n列−行の数m行従って総−素all@n個に構成され
たパターンデータ記憶部を設けていた。ところがパター
ンの解像度は画素数に比例するから、パターン比較の精
度を高めるために高い解像度が安水される場−合には、
画素数を多くしなければならず必然的に記憶部の容置も
それに従って大きくなる。そしてこのようにデータ記憶
部が大きくなるとデータ処理時間が長くなってリアルタ
イム処理が困糠になるという不都合があった。
また、この不都合を避けるためにパターンを形成する画
素から所定の画素を抽出し、他は省略することによって
パター゛ンを代表するm報とし記憶させることも考えら
れるが、その場合にはパターンのすべてにわたる精密な
比較が行われないから例えば被写体の小さな傷のような
僅かな差異を見逃し易いという別の不都合を生じる。
この5@町は、このような不都合に着目してなされたも
ので、処理対象とするパターン情報をム/D変換しN得
られたパターンデータは画素の各列或いは各行毎に加算
して和を求め、その和を記憶部の対応するメモリに記憶
し、かくして得られた両パターンの省略のない圧縮した
データを比較することにより高精度でかつ迅速な比較を
可能としたパターン情報処理方法を提供することを目的
とする。
以下、この発明の一実施例を図面とともに説明する。
第2図はこの発明によるパターン情報処理方法の工程図
で、撮像工程1に続き、順次連続する信号続出工程2、
ム/Di換工程3、加算工程4、計“屯工程5、比較演
算1挫8よりなり、上記加算工程4を除いたその他の各
工程は従来一般に行われているものと同じであってよい
。
即ち、先ず撮像工程1で例えばビデオカメラ等の二次元
センサーで被写体を撮影することにより光字面上に基準
とする被写体の映像を捕える・この場合のパターン画素
構成は第1図に示す従来のものと全く同じである。
次でこの光学映像(二次元光学パターン情報)を走査系
、光電変侠糸、同期信号発生糸等を備えている信号続出
工程2において、電子ビームで所定の順序に走査するこ
とにより、光学映像のパターン情報は、(1,1)  
(2,1)・・・・・・(m、t)次で(1,2)  
(2,2)・・・−・と列の信号を遂次読み出し、或い
は(1,1)  (1,2)−・・・・(1,n)  
、  (2゜1)(2,2)・・・・・・と行の信号を
遂次読み出し連続して変化するアナログ電気信号に光電
変換して出力する。この時、同像の分解吠況を示す同期
信号も付加して出力する。
上記信号続出工程2からのアナリグ出力信号は、A/D
変換器を備えたム/D変換玉程3で予め設定した任意の
レベルを基準として例えば(ol)に符号化した各11
111Xのデジタル信号に変換して出力する。ここで、
上記の2値化以上の複数1ii#調に符号化してもよく
、その場合はより精密なパターン情報を得ることができ
る。
次で上記のム/D変換されたデジタル信号のデータは加
算工程4に送られるが、この工程では、(1,1)  
(2,1)・・・・・・OL 1)の如き各画素の列の
データを順次加算して列毎に和を求めその和會各列の1
つのデータとして出力する。従って第1図に示すような
パターン圃素輌成にあっては、n列のデータまでn個の
データを出力することになる。
或いは上記に順じて同様にm行のデータまでm個のデー
タを出力する。或いは列と行の両方のデータを用いる場
合はm+n個のデータを出力する。
−′  このようにして出力した各列毎或いは各行毎の
和のデータは、次の記憶工程5に送られ記憶される。こ
こでは既に述べたように(1,1のデータ)+(2,1
のデータ)+・・・・・・+(m、1のデータ)=(第
1列の和)同様に(2,1のデータ)+(2゜2のデー
タ)+・旧・・(m、2のデータ)=(第2列の和)の
ようにして求めた(第1列の和)、(第2列の和)・・
・−・・(第n列の和)を記憶するが、或いは同様にし
て求めた(第1行の和)、(第2行の和)−・−・(第
1行の和)を記憶すればよいから、従ってパターンデー
タ記憶部のメモリ構成は第3図のような簡単な構成でよ
いことになる。図に於て、(1)は列のデータの和をと
った場合、(2)は行aデニタの和をとった場合を示し
、(1)は1〜n列までn個で、また(2)は1〜m行
までm個でlp1成しである。又、m行、n列のデータ
までを両方使Maする場合は(1)と(2)を合成した
m+n個のメモリで構成する。
以上、基準の被写体について行った1〜5迄の上記各王
権は比較すべき被写体についても全く同様に行われるが
、た寸し基準被写体のパターンデータが基準データメモ
リ部6に記憶されるのに対し比較すべき被写体のパター
ンデータ、4′i比較デ一タメモリ部Iに記憶される点
が異なっている。
次で、上記両メモリ部6,7にストアされた谷データは
比較@算工樫8に呼び出して、例えばそれぞれ第1列の
和同志、第2列の和同志・・・−第n列の和同志のよう
に対応するデータを比較することにより基準パターンと
比較パターンの間合を判別し、その結果を出力するよう
にしてパターン債権処理を行なう。
以−F説明してきたように、この開明(よれは、二次元
のパターンとして表現され゛る情報をM顧する場合にお
いて、上記パターンを構成する画素の各行あるいは各列
毎に出力信号の和を求めてSパターンを代表させる情報
とするようにしたからmXn%2の画素データを比較処
理するのに、mm或いはn悩或いはm+n個−のデータ
に圧縮したデータを比較すればよく、配憶部のメモリ構
成数が従来に比し−或いは−或いはm土nでよい。これ
に1 m       n−mxn l土1に短縮できる。
Xn 更に谷−素データは省略することなく圧縮して、パター
ンを代表する情報とするから各画素の情報が活用されて
精密な比較判断が可能である。
したがって、例えば1栗用自動目視検査装置等にこの発
明の情報処理方法を採用すれば、装置の小皺化、検査時
間の短縮が従来の精度を維持しながら可能となり微細な
判定がリアルタイムで行なえる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のパターン情報処理方法におけるパターン
画素構成と記tms*成の説明図、第2図はこの発明に
保る一実施例の工程説明図、第3図は同じく記憶部構成
の説明図である。 1・・・・・・・・・撮像王権 2・・・・・・・・・信号杭出工梶 3・・・・・・・・・アナログ・デジタルih工程4・
・・・・・・・・加算工程 5・・・・・・・・・記憶工徨 6・・・・・・・・・基準データメモリ部I・・・・・
・・・・比較データメモリ部8・・・・・・・・・比較
演算工程 501

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 二次元のパターンとして表現される情報を認―する場合
    において、上記パターンを構成する画素の各行あるいは
    各列毎に出力信号の和を求めて、パターンを代表させる
    情報とすることを特徴とするパターン情報処理方法。
JP56132622A 1981-08-26 1981-08-26 パタ−ン情報処理方法 Pending JPS5835677A (ja)

Priority Applications (1)

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JP56132622A JPS5835677A (ja) 1981-08-26 1981-08-26 パタ−ン情報処理方法

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JP56132622A JPS5835677A (ja) 1981-08-26 1981-08-26 パタ−ン情報処理方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5835677A true JPS5835677A (ja) 1983-03-02

Family

ID=15085624

Family Applications (1)

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JP56132622A Pending JPS5835677A (ja) 1981-08-26 1981-08-26 パタ−ン情報処理方法

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JP (1) JPS5835677A (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4839125A (ja) * 1971-09-22 1973-06-08
JPS4879936A (ja) * 1972-01-28 1973-10-26
JPS55154654A (en) * 1979-05-21 1980-12-02 Hitachi Ltd Pattern inspection system

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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