JPS5836074A - カラ−信号復調回路の試験方法 - Google Patents
カラ−信号復調回路の試験方法Info
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- JPS5836074A JPS5836074A JP13351481A JP13351481A JPS5836074A JP S5836074 A JPS5836074 A JP S5836074A JP 13351481 A JP13351481 A JP 13351481A JP 13351481 A JP13351481 A JP 13351481A JP S5836074 A JPS5836074 A JP S5836074A
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はカラーテレビ相手導体集積回路(クロマIC)
の電気的特性の試験に関する。
の電気的特性の試験に関する。
テレビジョン信号は極めて複雑な信号でめり高品質の映
像を再生し、そnt−維持するには正確なタイミングで
そのパラメータt−復号化(デコーディング)しなけn
ばならな−。
像を再生し、そnt−維持するには正確なタイミングで
そのパラメータt−復号化(デコーディング)しなけn
ばならな−。
またカラーTV信号の伝送に使用する処理方式には、大
別して、3つの方式即ちNTSC,PAL及びSECA
M があることも周知である。
別して、3つの方式即ちNTSC,PAL及びSECA
M があることも周知である。
本発明はPAL方式のカラー信号処理用IC(クロマI
C)の色の特性(明度5色相及び飽和度)に比例する電
気的特性を測定する方法を提供するものである。
C)の色の特性(明度5色相及び飽和度)に比例する電
気的特性を測定する方法を提供するものである。
PAL方式ではNTSC方式と同じ信号が存在するが、
色差信号の一方(R−Y)の極性(符号)をライン毎(
水平同期)に反転しており、PALO色信号の復号化(
デコーディング)は線順次に行なっている。したがって
正しく復号するには正確な順序が既知でなければならな
い。
色差信号の一方(R−Y)の極性(符号)をライン毎(
水平同期)に反転しており、PALO色信号の復号化(
デコーディング)は線順次に行なっている。したがって
正しく復号するには正確な順序が既知でなければならな
い。
第1図は被試験用1G(クロマIC)のデコーダ回路部
及び試験用のクロマ信号(バースト信号と色差信号)の
概略を示す。
及び試験用のクロマ信号(バースト信号と色差信号)の
概略を示す。
各々の回路ブロックの機能を概説すると、色の特性に比
例した電気信号(複合映像信号)から分離取り出さnた
明度(Y)信号、2種の色差信号(B−Y 、凡−Y)
1色間期(BUR8T)信号及び水平同期σ力信号は、
各々の回路へ入力信号として印加さnる。マトリクス回
路4は色差信号の復調回路1+2及び3の各出力と(Y
)信号とを入力信号として、色の三原色(宵−緑2赤)
に対応する電気信号ケ取り出す変換機能を有している。
例した電気信号(複合映像信号)から分離取り出さnた
明度(Y)信号、2種の色差信号(B−Y 、凡−Y)
1色間期(BUR8T)信号及び水平同期σ力信号は、
各々の回路へ入力信号として印加さnる。マトリクス回
路4は色差信号の復調回路1+2及び3の各出力と(Y
)信号とを入力信号として、色の三原色(宵−緑2赤)
に対応する電気信号ケ取り出す変換機能を有している。
又、復調回路3は復調回路112の色差信号を復調して
得ら2する信号を入力信号として扱い、色差信号(G−
Y)に相当する復調出力を得る回路で必る。
得ら2する信号を入力信号として扱い、色差信号(G−
Y)に相当する復調出力を得る回路で必る。
そして、復調回路l及び2へは復調に必要な搬送信号?
電圧制御型発振回路5より直接あるいはPノ1L用スイ
ッチ7を介して供給さlしる。
電圧制御型発振回路5より直接あるいはPノ1L用スイ
ッチ7を介して供給さlしる。
一方、色同期(BuitsT)信号は電圧制御型発振回
路5の発振位相を制御する自動位相制御(APC)回路
6及びPAL用スイッチ7を介して得らlしる電圧制御
型発振回路5の発振位相と色同期信号の位相との照合を
行う照合回路(ID)9への入力信号として印加さnる
。他方、水平同期(ハ)信号はlライン毎にフリップフ
ロ21回路8の入力信号として印加さrしる。従ってフ
リップフロップ回路8の出力は通常2ライン毎に反転動
作して、PAL用スイッチ7のスイッチを切換えている
。
路5の発振位相を制御する自動位相制御(APC)回路
6及びPAL用スイッチ7を介して得らlしる電圧制御
型発振回路5の発振位相と色同期信号の位相との照合を
行う照合回路(ID)9への入力信号として印加さnる
。他方、水平同期(ハ)信号はlライン毎にフリップフ
ロ21回路8の入力信号として印加さrしる。従ってフ
リップフロップ回路8の出力は通常2ライン毎に反転動
作して、PAL用スイッチ7のスイッチを切換えている
。
又、照合回路9よりフリップフロップ回路8への信号は
、PAL用スイッチ7全介しての発振位相と色同期(H
tJR8T)信号との位相が異なる場合に発生するスイ
ッチ切換用の信号ある。
、PAL用スイッチ7全介しての発振位相と色同期(H
tJR8T)信号との位相が異なる場合に発生するスイ
ッチ切換用の信号ある。
以上の回路機能の動作を正確に測定する方法を本発明は
提供するものであり、その為に必要な試験用のクロマ信
号と水平同期(I()パルスを各[gllジブロック入
力へ印加して測定を行えば良い。l’AL方式で用いら
γしるクロマ信号と水平同期パルスは第2図に示すよう
に、クロマ信号では色同期信号(バース))10と10
’ とはl水平同期(ハ)信号毎に位相を変えており
(135°又は−135°)、その色同期信号はσ−)
パルス11と同期したゲートパルスを用いてクロマ信号
より取り出さγして、自動位相制御回路6および照合回
路9の入力信号として取り扱わnる。又、クロマ信号中
の色差信号(H−YとR−Y)に相当するカラー信号(
■とQ)の位相をO’(1)と90°(Q)に1水平開
期毎に繰り返して、復調回路1および2へ同時に入力す
る。なお、明度に対応する(Y)信号はマトリクス回路
4へ印加さnるが5本発明には直接関係ないので省略す
る。第3図^−(H)は第2図の試験用クロマ信号の色
同期信号10と10’ に対するカラー信号(1)と
(Q)との位相全示すベクトル図であり、線順次、Hの
場合(n番目の水平同期期間)と線順次(n+1)の場
合(n+1)會目の水平同期期間)とに分離して記述し
ている。
提供するものであり、その為に必要な試験用のクロマ信
号と水平同期(I()パルスを各[gllジブロック入
力へ印加して測定を行えば良い。l’AL方式で用いら
γしるクロマ信号と水平同期パルスは第2図に示すよう
に、クロマ信号では色同期信号(バース))10と10
’ とはl水平同期(ハ)信号毎に位相を変えており
(135°又は−135°)、その色同期信号はσ−)
パルス11と同期したゲートパルスを用いてクロマ信号
より取り出さγして、自動位相制御回路6および照合回
路9の入力信号として取り扱わnる。又、クロマ信号中
の色差信号(H−YとR−Y)に相当するカラー信号(
■とQ)の位相をO’(1)と90°(Q)に1水平開
期毎に繰り返して、復調回路1および2へ同時に入力す
る。なお、明度に対応する(Y)信号はマトリクス回路
4へ印加さnるが5本発明には直接関係ないので省略す
る。第3図^−(H)は第2図の試験用クロマ信号の色
同期信号10と10’ に対するカラー信号(1)と
(Q)との位相全示すベクトル図であり、線順次、Hの
場合(n番目の水平同期期間)と線順次(n+1)の場
合(n+1)會目の水平同期期間)とに分離して記述し
ている。
第3図から、通常放送用信号として用いらnているPA
L方式のクロマ信号と異なった試験用のクロマ信号であ
ることに容易に理解さnよう。すなわち、PAL方式の
特徴は2つある色差信号(B−YとR−Y)の一方(R
−Y)信号の極性及び色同期信号の位相も線順次に反転
させていることであり5周知のことでおる。本発明では
PAL方式のテレビジョンに採用さ1しているクロマ信
号と異なった。デコーダ回路試験用のクロマ信号を用意
することでPAL方式のデコーダ回路の電気13′、:
J特性を正確に測定できる方法を提供している。
L方式のクロマ信号と異なった試験用のクロマ信号であ
ることに容易に理解さnよう。すなわち、PAL方式の
特徴は2つある色差信号(B−YとR−Y)の一方(R
−Y)信号の極性及び色同期信号の位相も線順次に反転
させていることであり5周知のことでおる。本発明では
PAL方式のテレビジョンに採用さ1しているクロマ信
号と異なった。デコーダ回路試験用のクロマ信号を用意
することでPAL方式のデコーダ回路の電気13′、:
J特性を正確に測定できる方法を提供している。
第3図のベクトル図から明らかなように、不発5−
明による試験用クロマ信号はN ’It’ SC方式の
色同期信号の位相(−180°)を線順次に135°と
一135°とに変えている。又、別の見方をすrしば。
色同期信号の位相(−180°)を線順次に135°と
一135°とに変えている。又、別の見方をすrしば。
N T S C方式で線順次を2水平開期(nHと(n
+1)1−4) 毎に繰り返していると言っても良い。
+1)1−4) 毎に繰り返していると言っても良い。
このことは試験用クロマ信号発生装置はl’ A、 L
方式でなくてもN T S C方式で色同期信号のみ位
相を変えらnる装置であnばPAL方式のクロマICを
試験するクロマ信号を得ることが可能なことを示してい
る。
方式でなくてもN T S C方式で色同期信号のみ位
相を変えらnる装置であnばPAL方式のクロマICを
試験するクロマ信号を得ることが可能なことを示してい
る。
第2図〜第6図に従って試験用クロマ信号とデコーダ回
路の出力信号(EBIER及びEG)との関係を説明す
る。第4図には第2図に示すクロマ信号に対応したデコ
ーダ出力信号(EBHER及びE、)の出力波形及び色
差信号復調回路1+2+3の復調角と色同期信号(1:
1UR8T)との位相関係のベクトル図を線順次毎(、
Hと(n+1)H)に示している。
路の出力信号(EBIER及びEG)との関係を説明す
る。第4図には第2図に示すクロマ信号に対応したデコ
ーダ出力信号(EBHER及びE、)の出力波形及び色
差信号復調回路1+2+3の復調角と色同期信号(1:
1UR8T)との位相関係のベクトル図を線順次毎(、
Hと(n+1)H)に示している。
第4図の出力波形図において、実線で示す波形は正常動
作の場合で異常動作の場合にはER及び6− EGに破線で示す波形が表わ扛る。
作の場合で異常動作の場合にはER及び6− EGに破線で示す波形が表わ扛る。
先ず、線順次をnHの場合に限って説明すると。
デコーダ回路へのクロマ信号入力(工及びQ)に対応し
た時分割のデコーダ出力(EBIER及びEG)波形は
第5図(5)、 CB)のベクトル図に示す復調角にて
得ら扛る為1各出力はEB:H(i)、 ER=几(Q
)。
た時分割のデコーダ出力(EBIER及びEG)波形は
第5図(5)、 CB)のベクトル図に示す復調角にて
得ら扛る為1各出力はEB:H(i)、 ER=几(Q
)。
Ea= ’(I)G(Q)で表わせる。EBとERとは
mN角が互に90° の差を有しているのでクロマ(1
人力(1及びQ)に対して、どちらか一方の信号に対し
てのみ出力を得ることになる(偵調角とクロマ信号との
位相差を考えない場合である)。
mN角が互に90° の差を有しているのでクロマ(1
人力(1及びQ)に対して、どちらか一方の信号に対し
てのみ出力を得ることになる(偵調角とクロマ信号との
位相差を考えない場合である)。
つまり、復調軸 rz にて得られる出力EBは復調軸
と位相の一致しているクロマ信号(I)に対応した出力
+B(I)となる(復調軸と90゜位相の異なるクロマ
信号(Q)に対応した出力は得ら扛ない)。
と位相の一致しているクロマ信号(I)に対応した出力
+B(I)となる(復調軸と90゜位相の異なるクロマ
信号(Q)に対応した出力は得ら扛ない)。
又、復調軸ml にて得ら謁出力BRはOl復調軸位
相の一致しているクロマ信号(Q)に対応した出力子R
(Q)となる(復調軸と90°位相の!4なるクロマ信
号(I)に対応した出力は得らnない)。
相の一致しているクロマ信号(Q)に対応した出力子R
(Q)となる(復調軸と90°位相の!4なるクロマ信
号(I)に対応した出力は得らnない)。
又、復調軸 11m+ にて得ら謁出カEGは復調軸と
クロマ信号(1)、(Q)との位相差をそnぞ社有して
いるので(1)に対応した出力−G(I)と(Q)に対
応した出刃−〇(Q)となる。
クロマ信号(1)、(Q)との位相差をそnぞ社有して
いるので(1)に対応した出力−G(I)と(Q)に対
応した出刃−〇(Q)となる。
同 BR及びEGの破線で示した波形はデコーダ回路の
異常動作時に発生するものであり、その原因は第1図の
PAL用スイッチ7、フリップフロップ回路8、照合回
路9のい丁nがが誤動作していると推定できる。
異常動作時に発生するものであり、その原因は第1図の
PAL用スイッチ7、フリップフロップ回路8、照合回
路9のい丁nがが誤動作していると推定できる。
次に、線順次を(n+1)Hに限って説明すると、色同
期(BUR8’l’)信号の位相が変わることでデコー
ダ回路の復調軸が変わる。つまり、ロチは極性が反転し
て−[i1幻 となH,同=幻従って、復祠軸四冨にて
得ら謁出カEBは線順次rtHと同様のクロマ信号(I
)に対応した出力子B(I)となる。
期(BUR8’l’)信号の位相が変わることでデコー
ダ回路の復調軸が変わる。つまり、ロチは極性が反転し
て−[i1幻 となH,同=幻従って、復祠軸四冨にて
得ら謁出カEBは線順次rtHと同様のクロマ信号(I
)に対応した出力子B(I)となる。
復調軸−【トY−1軸にて得ら、Lる出力ERゆ線順次
、Hの時に傅らγ1.るJQ)の逆極性であるクロマ信
号(Q)に対応した出力−R(Q )とクロマ16号(
I)に対応する出力−〇(1)とクロマ信号(Q)に対
応し7を出力子〇(Q)となる(Qに対応する復調軸の
極性が反転することにより、線j@次nHと(n+1)
Hとでは出力波形の極性が反軸する)。
、Hの時に傅らγ1.るJQ)の逆極性であるクロマ信
号(Q)に対応した出力−R(Q )とクロマ16号(
I)に対応する出力−〇(1)とクロマ信号(Q)に対
応し7を出力子〇(Q)となる(Qに対応する復調軸の
極性が反転することにより、線j@次nHと(n+1)
Hとでは出力波形の極性が反軸する)。
向、破線で示した波形は線順次、Hと同様な原因で衣わ
nる異常動作時の出力である。
nる異常動作時の出力である。
以上の説明からも理解できることであるが、本発明によ
りばPAL方式のデコーダ回路の電気的#性試験全行う
場合にl’AL方式のクロマ信号発生装置を使わないで
試験できることを示している。
りばPAL方式のデコーダ回路の電気的#性試験全行う
場合にl’AL方式のクロマ信号発生装置を使わないで
試験できることを示している。
第6図は復調軸θに対して得らrしる出力、つまり、第
2図のクロマ信号(I)と(Q )とに対応して倚らγ
しる出力E(1)とE(Q)とのベクトル図全示し、前
記各出力のθに関しての変化を表している。
2図のクロマ信号(I)と(Q )とに対応して倚らγ
しる出力E(1)とE(Q)とのベクトル図全示し、前
記各出力のθに関しての変化を表している。
9−
復調軸θは
θ=tan−’ B(Q)/E(I) ””=”(
1)にて求めらnるパラメータであり、E(i)とE(
Q)は復調出力(EBIER及びEG)全笑測す扛ば求
めらnる値である。このことは試験用クロマ信号のIと
Qの入力信号に対応した出方E(1)とE(Q)を求め
ることにより、復調軸も前記(1)式にて求めらγしる
ことを意味している。
1)にて求めらnるパラメータであり、E(i)とE(
Q)は復調出力(EBIER及びEG)全笑測す扛ば求
めらnる値である。このことは試験用クロマ信号のIと
Qの入力信号に対応した出方E(1)とE(Q)を求め
ることにより、復調軸も前記(1)式にて求めらγしる
ことを意味している。
又、復調軸に於る合成出力E。に関してはE(、=JJ
’)2+E(Q)” 可曲−曲−(2)にて求めら
nる。
’)2+E(Q)” 可曲−曲−(2)にて求めら
nる。
したがって、復調回路の復調軸θと合成出力E。
は:e(1)及びE(Q)k実測することで求めらnる
。
。
第4図の復調出力(EBIER及びEG)においてEB
の出力子B(i)は第6図E(I)に相当する信号であ
る。又、 ERの出力子R(Q)(あるいは−lモ(Q
))は巣6図のB(Q)に相当する信号である。又 g
Gの出方で一〇(1)は第610− 図のE(I)・−〇(Q)(あるいはG(Q))は第6
図のE(Q)にそ扛ぞn@当する信号である。
の出力子B(i)は第6図E(I)に相当する信号であ
る。又、 ERの出力子R(Q)(あるいは−lモ(Q
))は巣6図のB(Q)に相当する信号である。又 g
Gの出方で一〇(1)は第610− 図のE(I)・−〇(Q)(あるいはG(Q))は第6
図のE(Q)にそ扛ぞn@当する信号である。
従って、EBにおける復調軸θB を求めると(1)式
へE(I)=十B(I)E(Q)=oを代入してθB=
o°となる。又、ERにおける復調軸θRを求めると E(I)−□・E(Q)=+ft(Q)を(1)式へ代
入してθR=90° となる。
へE(I)=十B(I)E(Q)=oを代入してθB=
o°となる。又、ERにおける復調軸θRを求めると E(I)−□・E(Q)=+ft(Q)を(1)式へ代
入してθR=90° となる。
又、EGにおける復調軸θGt求めるとL方式において
θG−08は約235°としている)。
θG−08は約235°としている)。
次に復調出力を求めると、九における合成出力ECBは
(2)式よりE。n=+B(I)+Enにおける合成出
力EcBは(2)式よりECR=+kL(Q)lEGに
おける合成出力E。Gは(2)式よりEca=’ (−
G(1))”+(’(Q))” で各々求めらrしる
。
(2)式よりE。n=+B(I)+Enにおける合成出
力EcBは(2)式よりECR=+kL(Q)lEGに
おける合成出力E。Gは(2)式よりEca=’ (−
G(1))”+(’(Q))” で各々求めらrしる
。
以上1本発明の詳細な説明した通り5本発明によnばP
AL方式のデコーダ回路の電気特性をPAL方式のクロ
マ信号を使うことなく正確に試験できる特徴をもってお
り、NTSC方式のデコーダ回路の試験を行なう方法に
も充分に適用でき。
AL方式のデコーダ回路の電気特性をPAL方式のクロ
マ信号を使うことなく正確に試験できる特徴をもってお
り、NTSC方式のデコーダ回路の試験を行なう方法に
も充分に適用でき。
且つ、両方式の両立性を持たせた試験装置の開発も可能
になる。
になる。
又、PAL方式における線順次(nH又は(n+1)n
)K対しての復調出力の極性を読み取ることで線順次に
対するl’AL用スイッチ7I7リツプフロツプ8I照
合回路9の動作状態を判断できる(つまりERt例にと
ると正常動作時1−j1.線順医毎に極性の反転する出
力(+JQ)又は−1t(CJ )を得るが異常動作時
は第3図破線で示す極性の出力を得ることとなる)。
)K対しての復調出力の極性を読み取ることで線順次に
対するl’AL用スイッチ7I7リツプフロツプ8I照
合回路9の動作状態を判断できる(つまりERt例にと
ると正常動作時1−j1.線順医毎に極性の反転する出
力(+JQ)又は−1t(CJ )を得るが異常動作時
は第3図破線で示す極性の出力を得ることとなる)。
xi図はl’Al、方式のカラーTV受像機に使用さ扛
る半導体集積回路(クロマIC)のPAL方式カラー信
号のデコーダ回路部を示すブロック図、第2図は各回路
ブロックへ印加ざnる試験用りpマ信号の略図である。 1.2.3・・・・・・色差信号(B−Y、R−Y及び
G−Y)の復調回路、4・・・・・・前記各色差出力を
入力としてEB・ERIEQの3出力に変換するマトリ
クス回路、5・・・・・・色同期信号の位相と同期した
搬送信号1に発生させる電圧制御型の発振回路、6・・
・・・・発振回路5の発振信号の位相を制御する自動位
相制御(Al’C)回路、7・・・・・・復調回路2へ
重量さnる搬送信号の位相全反転させる為のPALスイ
ッチ、8・・・・・・フリップフロップ(F−F)回路
。 9・・・・・・照合回路。 第3図四、(均は第1図の試験用クロマ信号に対応した
線順次(ni−iと(n+1)H) 毎のベクトル図で
おる。 第4図は第1図のマトリクス回路4より得らnる出力信
号(EBIER・EG)の第2図のクロマ信号に対応し
た波形を示す図、第5図(へ)+(ハ)は線順同期(B
URNT)信号の位相に関するベクトル図13− でらる。 第6図には色差信号の復調軸θにおいて、第2図の試験
用クロマ信号((1)と(Q))に対応した出力(E(
1)とE(Q))のベクトル図と各出力のθに対する変
化を表わした図である。 14−
る半導体集積回路(クロマIC)のPAL方式カラー信
号のデコーダ回路部を示すブロック図、第2図は各回路
ブロックへ印加ざnる試験用りpマ信号の略図である。 1.2.3・・・・・・色差信号(B−Y、R−Y及び
G−Y)の復調回路、4・・・・・・前記各色差出力を
入力としてEB・ERIEQの3出力に変換するマトリ
クス回路、5・・・・・・色同期信号の位相と同期した
搬送信号1に発生させる電圧制御型の発振回路、6・・
・・・・発振回路5の発振信号の位相を制御する自動位
相制御(Al’C)回路、7・・・・・・復調回路2へ
重量さnる搬送信号の位相全反転させる為のPALスイ
ッチ、8・・・・・・フリップフロップ(F−F)回路
。 9・・・・・・照合回路。 第3図四、(均は第1図の試験用クロマ信号に対応した
線順次(ni−iと(n+1)H) 毎のベクトル図で
おる。 第4図は第1図のマトリクス回路4より得らnる出力信
号(EBIER・EG)の第2図のクロマ信号に対応し
た波形を示す図、第5図(へ)+(ハ)は線順同期(B
URNT)信号の位相に関するベクトル図13− でらる。 第6図には色差信号の復調軸θにおいて、第2図の試験
用クロマ信号((1)と(Q))に対応した出力(E(
1)とE(Q))のベクトル図と各出力のθに対する変
化を表わした図である。 14−
Claims (1)
- 色間M(HUR8’I’)信号の位相のみを1水平開期
マ伯号を発生させる手段を用いてPAL方式の力2−テ
レビ信号復調回路の電気約物・跣を試験することf、特
徴とするカラー信号復調N路の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13351481A JPS5836074A (ja) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | カラ−信号復調回路の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13351481A JPS5836074A (ja) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | カラ−信号復調回路の試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5836074A true JPS5836074A (ja) | 1983-03-02 |
| JPS6248960B2 JPS6248960B2 (ja) | 1987-10-16 |
Family
ID=15106560
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13351481A Granted JPS5836074A (ja) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | カラ−信号復調回路の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5836074A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4875089A (en) * | 1988-06-09 | 1989-10-17 | Magni Systems, Inc. | Multi-standard vectorscope |
| JP2010012583A (ja) * | 2008-07-07 | 2010-01-21 | Denso Corp | ナット締付用レンチの操作装置 |
-
1981
- 1981-08-26 JP JP13351481A patent/JPS5836074A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4875089A (en) * | 1988-06-09 | 1989-10-17 | Magni Systems, Inc. | Multi-standard vectorscope |
| JP2010012583A (ja) * | 2008-07-07 | 2010-01-21 | Denso Corp | ナット締付用レンチの操作装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6248960B2 (ja) | 1987-10-16 |
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