JPS5840800A - Ｘ線装置 - Google Patents
Ｘ線装置Info
- Publication number
- JPS5840800A JPS5840800A JP13770581A JP13770581A JPS5840800A JP S5840800 A JPS5840800 A JP S5840800A JP 13770581 A JP13770581 A JP 13770581A JP 13770581 A JP13770581 A JP 13770581A JP S5840800 A JPS5840800 A JP S5840800A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heating
- circuit
- ray
- tube
- voltage
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- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/34—Anode current, heater current or heater voltage of X-ray tube
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はＸ線曝射時にＸ線管に印加される高電圧波形の
立下り特性の改善を図ったＸ１ｍ装置に関するものであ
る。
立下り特性の改善を図ったＸ１ｍ装置に関するものであ
る。
従来、この神の装置、殊に大容普の診断用三相Ｘ線装置
においては、同一管電圧の条件下であうて４設定管電流
、即ちフィラメント加熱電流の大小如何によって、高電
圧波形の立下り波形が大きく異なる。即ちｔＸｉｍ管に
印加される管電圧が同じであうても、Ｘ＠開閉器の開成
後。
においては、同一管電圧の条件下であうて４設定管電流
、即ちフィラメント加熱電流の大小如何によって、高電
圧波形の立下り波形が大きく異なる。即ちｔＸｉｍ管に
印加される管電圧が同じであうても、Ｘ＠開閉器の開成
後。
その高電圧波形が実質的な零電位に達するまでの立下砂
時間は、設定管電流が小さい軽負荷になるに連れ長くな
る。従うて、軽負荷ではＸｇ開閉器の開成した以後、継
続して曝射される不必要なＸ１ｓの曝射時間が長くなる
。
時間は、設定管電流が小さい軽負荷になるに連れ長くな
る。従うて、軽負荷ではＸｇ開閉器の開成した以後、継
続して曝射される不必要なＸ１ｓの曝射時間が長くなる
。
この高電圧波形の立下に特性の悪さは９周知のように高
圧ケーブルの浮遊容量（Ｃつ及びＸ線管球の浮遊容量（
Ｃ”；Ｃ１＞＞ＣＩ） Ｋ蓄積され九電荷Ｑが、高圧回
路の開成−６ｃＸ線管を通して放電することに起因する
。その放電カーブ、即ち高電圧波形の立下に特性は、前
記浮遊容量（Ｃ。
圧ケーブルの浮遊容量（Ｃつ及びＸ線管球の浮遊容量（
Ｃ”；Ｃ１＞＞ＣＩ） Ｋ蓄積され九電荷Ｑが、高圧回
路の開成−６ｃＸ線管を通して放電することに起因する
。その放電カーブ、即ち高電圧波形の立下に特性は、前
記浮遊容量（Ｃ。
Ｃ・十〇”）及び放電時の負荷抵抗（Ｒ） Ｋようて決
まる。この場合、前記浮遊容量（Ｃ）は装置固有の一定
値であるが、その負荷抵抗（勅はＸ線管）内部インピー
ダンスに依存する丸め、設定管電流（フィラメント加熱
電流）の大小の如何にようて大きく変化する。従うて、
高圧波形の立ける最大許容管電流時に最も、短くなる。
まる。この場合、前記浮遊容量（Ｃ）は装置固有の一定
値であるが、その負荷抵抗（勅はＸ線管）内部インピー
ダンスに依存する丸め、設定管電流（フィラメント加熱
電流）の大小の如何にようて大きく変化する。従うて、
高圧波形の立ける最大許容管電流時に最も、短くなる。
一般に診断用Ｘ線装置においては、Ｘ線テレビジ曹ン系
を有し、Ｘ線透視にて診断部位を観察して適正撮影タイ
ンングを得、すかさずＸ線フィルムを待機位置から撮影
位置に高速に移動して撮影を行なう１．所謂狙撃撮影方
式を採用している。この場合、前述したよりなＸｌｌ１
！撮影操作は、Ｘ線透視とＸ＠フィルム撮影とが交互に
繰撤されることが多い、仁の場合、Ｘ線撮影指令（撮影
スイッチ閉成）が出ると同時にＸ線透視が停止し、直ち
にＸｌｓフィルムが待機位置から撮影位置に向けて高速
移動を開始するようになっている。
を有し、Ｘ線透視にて診断部位を観察して適正撮影タイ
ンングを得、すかさずＸ線フィルムを待機位置から撮影
位置に高速に移動して撮影を行なう１．所謂狙撃撮影方
式を採用している。この場合、前述したよりなＸｌｌ１
！撮影操作は、Ｘ線透視とＸ＠フィルム撮影とが交互に
繰撤されることが多い、仁の場合、Ｘ線撮影指令（撮影
スイッチ閉成）が出ると同時にＸ線透視が停止し、直ち
にＸｌｓフィルムが待機位置から撮影位置に向けて高速
移動を開始するようになっている。
従うて、この種の撮影方式においては、殆どがＸ線フィ
ルム撮影の直前まで、Ｘｍ管が最も軽負荷となるＸ線透
視が行なわれているため。
ルム撮影の直前まで、Ｘｍ管が最も軽負荷となるＸ線透
視が行なわれているため。
移動中のＸ線フィルムが撮影領域に侵入し始めると、Ｘ
線透視停止指令後に継続して曝射されているＸＩｍ、即
ち前記浮遊容量による残留Ｘ線により、少なくてもＸ線
フィルムの撮影領域に侵入し始めた部分が不要な感光を
受けることになる。この移動中のＸ線フィルムの感光は
、その後の撮影用のＸ１ｌｌＫより形成されるＸＩｍ像
に対し、ボケ的な画質低下の要因となる。
線透視停止指令後に継続して曝射されているＸＩｍ、即
ち前記浮遊容量による残留Ｘ線により、少なくてもＸ線
フィルムの撮影領域に侵入し始めた部分が不要な感光を
受けることになる。この移動中のＸ線フィルムの感光は
、その後の撮影用のＸ１ｌｌＫより形成されるＸＩｍ像
に対し、ボケ的な画質低下の要因となる。
本発明は、上記の事情を踏まえてなされたもので少なく
ともＸ線透視直後のｘ！Ｉ管の内部インビーダン−を可
及的に低下させ、Ｘ線管に印加される高電圧波形の立下
り時間を最大限に短縮し、不要な残留Ｘ１ｍによるＸ１
ｍフィルムの感光を１避し得るＸ線装置を提供すること
を目的とする。
ともＸ線透視直後のｘ！Ｉ管の内部インビーダン−を可
及的に低下させ、Ｘ線管に印加される高電圧波形の立下
り時間を最大限に短縮し、不要な残留Ｘ１ｍによるＸ１
ｍフィルムの感光を１避し得るＸ線装置を提供すること
を目的とする。
以下図面を参照して本発明の一実施例について説明する
。
。
第１図は９本発明における三相Ｘ線装置の一実施例を示
す回路図で、１ＧはＸ線管球、１１は前記Ｘ線管球１０
のフィラメント加熱変圧器。
す回路図で、１ＧはＸ線管球、１１は前記Ｘ線管球１０
のフィラメント加熱変圧器。
１２は半導体加熱回路である。この加熱回路１２におい
て、商用交流電源１３からの入力は、入力端子Ｐｓに印
加される設定された管電流に対応する加熱レベル信号に
よりて制御・変換されフィラメント加熱制御電力として
前記フィラメント加熱変圧器１１に印加される０図中１
゜〜几、は抵抗、ＶＲ紘可変抵抗、Ｃはコ弐ンサ、Ｄは
ダイオード、１４Ｆｉ比較器、Ｎ１ 。
て、商用交流電源１３からの入力は、入力端子Ｐｓに印
加される設定された管電流に対応する加熱レベル信号に
よりて制御・変換されフィラメント加熱制御電力として
前記フィラメント加熱変圧器１１に印加される０図中１
゜〜几、は抵抗、ＶＲ紘可変抵抗、Ｃはコ弐ンサ、Ｄは
ダイオード、１４Ｆｉ比較器、Ｎ１ 。
はＮＯＲゲート、ｌ鍬インバータ、１６はアナログスイ
ッチ、１７は加算増幅器である。
ッチ、１７は加算増幅器である。
前記設定された管電流に対応し九レベルの加熱信号が入
力端子Ｐ、に印加されると、その信号は抵抗Ｒ１を通う
て抵抗Ｒ，，Ｒ４，可変抵抗ＶＢによりて作られた基準
の加熱レベルと比較器１４にようて比較され、そのレベ
ルの差の分だけが反転増幅されて、アナログスイッチ１
６の入力として印加される。
力端子Ｐ、に印加されると、その信号は抵抗Ｒ１を通う
て抵抗Ｒ，，Ｒ４，可変抵抗ＶＢによりて作られた基準
の加熱レベルと比較器１４にようて比較され、そのレベ
ルの差の分だけが反転増幅されて、アナログスイッチ１
６の入力として印加される。
ま九、ＮＯＲゲー）Ｎ１１Ｎ！＃抵抗Ｒ５ｔ Ｒｓ ｔ
コンデンサーＣにて構成される回路は単安定マルチバイ
ブレータ−であり、入力信号の立ち上９のエツジをとら
えて凡、とＣの時定数で決定される幅のパルス出力を取
り出す回路である。
コンデンサーＣにて構成される回路は単安定マルチバイ
ブレータ−であり、入力信号の立ち上９のエツジをとら
えて凡、とＣの時定数で決定される幅のパルス出力を取
り出す回路である。
次に第２図のタイ建ングチャートを参照に加えて本発明
の動作について説明する。
の動作について説明する。
まず、入力端子Ｐ、に、第２図Ｖｐ、で示されるよりな
Ｘ＠曝射信号が印加されると、この立ち上多のエツジ、
すなわちｘＩＩＩ曝射終了のタイ建ングで単安定マルチ
バイブレータ−回路が駆動され、第２図Ｖｐ４に示され
る様な出力パルスを発生する。この信号はアナログスイ
ッチ１６のコントロール入力に印加され、アナログスイ
ッチ１６はこのパルス幅（１，−１４）間だけ“ＯＮ＠
状態となり前述の比較器１４の出力信号を加算増幅器１
７に印加する。
Ｘ＠曝射信号が印加されると、この立ち上多のエツジ、
すなわちｘＩＩＩ曝射終了のタイ建ングで単安定マルチ
バイブレータ−回路が駆動され、第２図Ｖｐ４に示され
る様な出力パルスを発生する。この信号はアナログスイ
ッチ１６のコントロール入力に印加され、アナログスイ
ッチ１６はこのパルス幅（１，−１４）間だけ“ＯＮ＠
状態となり前述の比較器１４の出力信号を加算増幅器１
７に印加する。
壕九、Ｐ、は半導体加熱回路の設定加熱レベル入力端子
であり、この入力信号によって加熱回路１２からフィラ
メント加熱変圧器１１に印加されるフィラメント加熱制
御電力が制御される。し九がうてＰ、に社通常は選択さ
れた管電流に対応し九レベルの加熱信号が印加され（第
２図Ｖｐ １ ｏＶａ ） ｓ Ｘ ｉｌｌ＠射終了後
、アナｐグスイッチ１６が＠ＯＮ”状態の期間（Ｔ、−
Ｔ４間）だけは、Ｖａに比較器１４からの出力信号（Δ
Ｖ）を加算増幅器１７で加算増幅した信号が印加される
ことになる。つまりこの期間だけは軽負荷時（透視時）
では９選択された管電流には無関係に比較器１４でのＲ
，、Ｒ４，ＶＲにて設定された基準レベルの加熱信号が
ｔＰｓに印加されることになる。
であり、この入力信号によって加熱回路１２からフィラ
メント加熱変圧器１１に印加されるフィラメント加熱制
御電力が制御される。し九がうてＰ、に社通常は選択さ
れた管電流に対応し九レベルの加熱信号が印加され（第
２図Ｖｐ １ ｏＶａ ） ｓ Ｘ ｉｌｌ＠射終了後
、アナｐグスイッチ１６が＠ＯＮ”状態の期間（Ｔ、−
Ｔ４間）だけは、Ｖａに比較器１４からの出力信号（Δ
Ｖ）を加算増幅器１７で加算増幅した信号が印加される
ことになる。つまりこの期間だけは軽負荷時（透視時）
では９選択された管電流には無関係に比較器１４でのＲ
，、Ｒ４，ＶＲにて設定された基準レベルの加熱信号が
ｔＰｓに印加されることになる。
また、入力端子Ｐ０には半導体加熱回路１２を駆動させ
る信号、すなわち実際に撮影のためのフィラメントの本
加熱の開始、終了を制御する信号が印加される０通常Ｘ
ｌｌ制御器には９本加熱のボタンを押しつづける限り本
加熱が実施される術式と、Ｘ線曝射終了と同時に自動的
に本加熱が切れる術式がある。したがって第２図のＶｐ
ｓに示されるようにＸ線曝射終了と同時に加熱回路駆動
信号が切れる場合には、インバータ１５とＮＯＲゲート
Ｎ３によりて構成される回路によりてｔ Ｘ ＩＩ 曝
射終了後単安定マルチバイブレータの出力パルス信号の
幅だけ本加熱が持続される。（第２図＊Ｖｐ＠） また、フィラメント加熱変圧器１１０入力端子Ｐ、には
、加熱回路１２からの管球フィラメント加熱の制御出力
信号、すなわち管電流制御信号が印加される。第２図の
Ｖｐ で示される通り、最初ｖｂ−の値にようてＸ線
管球１０のフィラメントコイルが予備加熱されており１
時刻音、すなわち本加熱開始のタインングで選択された
管電流に対応する加熱レベルＶＣまで増大する。Ｘ＠曝
射が終了した時点（時刻１．）で加熱レベルは選択され
た管電流に無関係に基準レベルＶｄまで持ち上に１時刻
ｔ、にて再び予備加熱レベルに戻や９次回の曝射を待つ
。
る信号、すなわち実際に撮影のためのフィラメントの本
加熱の開始、終了を制御する信号が印加される０通常Ｘ
ｌｌ制御器には９本加熱のボタンを押しつづける限り本
加熱が実施される術式と、Ｘ線曝射終了と同時に自動的
に本加熱が切れる術式がある。したがって第２図のＶｐ
ｓに示されるようにＸ線曝射終了と同時に加熱回路駆動
信号が切れる場合には、インバータ１５とＮＯＲゲート
Ｎ３によりて構成される回路によりてｔ Ｘ ＩＩ 曝
射終了後単安定マルチバイブレータの出力パルス信号の
幅だけ本加熱が持続される。（第２図＊Ｖｐ＠） また、フィラメント加熱変圧器１１０入力端子Ｐ、には
、加熱回路１２からの管球フィラメント加熱の制御出力
信号、すなわち管電流制御信号が印加される。第２図の
Ｖｐ で示される通り、最初ｖｂ−の値にようてＸ線
管球１０のフィラメントコイルが予備加熱されており１
時刻音、すなわち本加熱開始のタインングで選択された
管電流に対応する加熱レベルＶＣまで増大する。Ｘ＠曝
射が終了した時点（時刻１．）で加熱レベルは選択され
た管電流に無関係に基準レベルＶｄまで持ち上に１時刻
ｔ、にて再び予備加熱レベルに戻や９次回の曝射を待つ
。
本発明は、前記一実施例に限定されるものではなく１例
えば、加熱回路が抵抗加熱の場合でも曝射終了のタイミ
ングでフィラメント加熱変圧器の一次側の電流を基準レ
ベルに変化させるととにようて、適用可能である。その
具体例を第３図に示す。
えば、加熱回路が抵抗加熱の場合でも曝射終了のタイミ
ングでフィラメント加熱変圧器の一次側の電流を基準レ
ベルに変化させるととにようて、適用可能である。その
具体例を第３図に示す。
２０はスタビライず−、２１は空間電荷補償は切換器、
２４は切換器２３の切換のタイミングの信号を発生させ
るタイミング回路である。
２４は切換器２３の切換のタイミングの信号を発生させ
るタイミング回路である。
前記スタビライザー２０によりて安定化された加熱電圧
は、空間電荷補償変圧器２１によりて管電圧補正され、
管電流選定用の加熱抵抗器２２に印加される。切換器２
３には、設定された管電流に対応した加熱電圧Ｖｅと前
述の具体例と同様の基準加熱電圧Ｖｆが印加され、タイ
ミング回路２４のタイミング信号によって９本加熱中は
Ｖｅがフィラメント加熱変圧器１１の１次側に印加され
、陽射終了のタイミングで■が印加される。
は、空間電荷補償変圧器２１によりて管電圧補正され、
管電流選定用の加熱抵抗器２２に印加される。切換器２
３には、設定された管電流に対応した加熱電圧Ｖｅと前
述の具体例と同様の基準加熱電圧Ｖｆが印加され、タイ
ミング回路２４のタイミング信号によって９本加熱中は
Ｖｅがフィラメント加熱変圧器１１の１次側に印加され
、陽射終了のタイミングで■が印加される。
タイミング回路２４は、前述の具体例の単安定マルチバ
イブレータ−回路と、そのパ羨ス間だけ切換器２３がＶ
ｅからＶｆをフィラメント加熱変圧器１１の１次側に印
加するように駆動させる回路から成うている。
イブレータ−回路と、そのパ羨ス間だけ切換器２３がＶ
ｅからＶｆをフィラメント加熱変圧器１１の１次側に印
加するように駆動させる回路から成うている。
以上詳述した如く本発明によれば、管電流の違いによる
Ｘ線管球の放電特性を改善し、精度の高い撮影時間の制
御を行ない得るＸ線装置を擾供することができるもので
ある。
Ｘ線管球の放電特性を改善し、精度の高い撮影時間の制
御を行ない得るＸ線装置を擾供することができるもので
ある。
尚９本発明は、上記した一実施例に限定される４のでは
なく９本発明の要旨を変更しない範囲で、適宜変形して
実施得ることは勿論である。
なく９本発明の要旨を変更しない範囲で、適宜変形して
実施得ることは勿論である。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図第２図は第
１１のタイ建ングチャート、第３図は本発明の他の実施
例を示すブロック図である。 ｉ ｏ −−−−−Ｘ線管球、 １１−・・−フィラメ
ント加熱変圧器、１２−・・−半導体加熱回路、 １３
−−−−−−・・・商用交流電源、１４−−−比較器、
１５・・・−インバータ、１６−・−・アナログスイッ
チ、 １７−・・加算増幅器、２０−−−スタビライザ
ー、 ２１−・・空間電荷補償変圧器、２２−−一管電
流選定用加熱抵抗器、２３−・−切換器、２４−・・−
タイミング回路、Ｒ４〜Ｒ，−−−抵抗、 Ｖ Ｒ−−
−−−可変抵抗、Ｎ□〜Ｎ ５−−−−Ｎｏ几ゲート代
理人弁理士 則近憲佑 ほか１名
１１のタイ建ングチャート、第３図は本発明の他の実施
例を示すブロック図である。 ｉ ｏ −−−−−Ｘ線管球、 １１−・・−フィラメ
ント加熱変圧器、１２−・・−半導体加熱回路、 １３
−−−−−−・・・商用交流電源、１４−−−比較器、
１５・・・−インバータ、１６−・−・アナログスイッ
チ、 １７−・・加算増幅器、２０−−−スタビライザ
ー、 ２１−・・空間電荷補償変圧器、２２−−一管電
流選定用加熱抵抗器、２３−・−切換器、２４−・・−
タイミング回路、Ｒ４〜Ｒ，−−−抵抗、 Ｖ Ｒ−−
−−−可変抵抗、Ｎ□〜Ｎ ５−−−−Ｎｏ几ゲート代
理人弁理士 則近憲佑 ほか１名
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 Ｘ線管球と、このＸ線管球のフィラメントを加熱する加
熱回路と、この加熱回路に切換器を介して接続された透
視用加熱信号を印加する回路ならびに撮影用加熱信号を
印加する回路と。 前記切換器がＸ線曝射信号により透視から撮影に切換え
られたときフィラメントをある一定レベルまで予備加熱
する回路と、この予備加熱期間と撮影加熱期間のタイミ
ングを制御する回路とからなるＸ線装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13770581A JPS5840800A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | Ｘ線装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13770581A JPS5840800A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | Ｘ線装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5840800A true JPS5840800A (ja) | 1983-03-09 |
Family
ID=15204887
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13770581A Pending JPS5840800A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | Ｘ線装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5840800A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111063471A (zh) * | 2019-12-13 | 2020-04-24 | 北方夜视技术股份有限公司 | Angel型龙虾眼X射线聚焦光学器件及其制备、检测方法 |
-
1981
- 1981-09-03 JP JP13770581A patent/JPS5840800A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111063471A (zh) * | 2019-12-13 | 2020-04-24 | 北方夜视技术股份有限公司 | Angel型龙虾眼X射线聚焦光学器件及其制备、检测方法 |
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