JPS5842003A - 偏光板 - Google Patents
偏光板Info
- Publication number
- JPS5842003A JPS5842003A JP56140756A JP14075681A JPS5842003A JP S5842003 A JPS5842003 A JP S5842003A JP 56140756 A JP56140756 A JP 56140756A JP 14075681 A JP14075681 A JP 14075681A JP S5842003 A JPS5842003 A JP S5842003A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- polarizing plate
- grating
- film
- conductive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/30—Polarising elements
- G02B5/3025—Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state
- G02B5/3058—Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state comprising electrically conductive elements, e.g. wire grids, conductive particles
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は例えば液晶表示装置等に用いられ、透過形はも
ちろん、反射形も可能てToシ、かつ波長特性が平坦で
薄膜化が可能な偏光板に関するものである。
ちろん、反射形も可能てToシ、かつ波長特性が平坦で
薄膜化が可能な偏光板に関するものである。
従来、偏光板としては0機屈折結晶を用いたニコルプリ
ズム、ダラムトムソンプリズムなど、あるいは■沃紮ン
含むポリビニルアルコール(PVA ’)延伸フィルム
、■2色性色紫を含むノラスチ、クフィルムを延伸した
もの、などが使われていた。
ズム、ダラムトムソンプリズムなど、あるいは■沃紮ン
含むポリビニルアルコール(PVA ’)延伸フィルム
、■2色性色紫を含むノラスチ、クフィルムを延伸した
もの、などが使われていた。
しかし、ながら、■の方法では、偏光特性の入射角依存
性が大きく、小形化が難しいこと、経済性に劣ること、
■・■において緯そう大損失が大きく、また波長帯域が
限られていること、更に■においては耐湿性に劣る欠点
を有していた。
性が大きく、小形化が難しいこと、経済性に劣ること、
■・■において緯そう大損失が大きく、また波長帯域が
限られていること、更に■においては耐湿性に劣る欠点
を有していた。
本発明は、これらの欠点を解決するために、微細な′導
電格子を用いることで偏光板を作製しようとするもので
あシ、以下実施例にしたがって詳細に説明する。
電格子を用いることで偏光板を作製しようとするもので
あシ、以下実施例にしたがって詳細に説明する。
沃素−PVA嫉伸フィルムによる偏光の原理は、以下の
通りとされている。PVA中で沃素は錯体を形成し、延
伸方向に平行な直線状の導電部が形成される・このフィ
ルムに垂直に光が入射スると延伸方向と一致する電界成
分を持つ光はフィルム内に電流を誘起し、ジーール熱を
発生するために吸収されてしまう。一方延伸方向と垂直
な偏光成分を持つ光は、電流を誘起することが−できな
いため、吸収されずに透過してしまう。
通りとされている。PVA中で沃素は錯体を形成し、延
伸方向に平行な直線状の導電部が形成される・このフィ
ルムに垂直に光が入射スると延伸方向と一致する電界成
分を持つ光はフィルム内に電流を誘起し、ジーール熱を
発生するために吸収されてしまう。一方延伸方向と垂直
な偏光成分を持つ光は、電流を誘起することが−できな
いため、吸収されずに透過してしまう。
二色性色素の場合も一般に分子が細長くなっておシ、こ
の長軸方向に微視的な電流が流れるのであるから、偏光
の原理は、沃素−PVAフィルムの場合と同様である。
の長軸方向に微視的な電流が流れるのであるから、偏光
の原理は、沃素−PVAフィルムの場合と同様である。
したがりて做細な導電格子・9タンは、上記偏光フィル
ムをモデル化したものと考えられ、同様な偏光作用を持
つことが期待できる。
ムをモデル化したものと考えられ、同様な偏光作用を持
つことが期待できる。
格子の巾およびピッチ、特にピッチは使用する光の波長
帯よシも小さいヒとが必要である。
帯よシも小さいヒとが必要である。
ピッチが波長よ〉大きい時は′回折格子としての作用が
強くなる。したがりて可視光領゛域で使う偏光板として
は格子のピッチは0.4μm以下、望ましくは0.2−
以下、さらに望ましくFio、o4μmυ下であること
が好ましい。近年、盛んになっている光通信の領域では
使用波長帯が、1.4μm帯となっているが、こめ領域
で用いるには1.4μm以下、望ましく蝶0.7μm以
下、更にIMましくは0.j4μm以下であることが必
要である。
強くなる。したがりて可視光領゛域で使う偏光板として
は格子のピッチは0.4μm以下、望ましくは0.2−
以下、さらに望ましくFio、o4μmυ下であること
が好ましい。近年、盛んになっている光通信の領域では
使用波長帯が、1.4μm帯となっているが、こめ領域
で用いるには1.4μm以下、望ましく蝶0.7μm以
下、更にIMましくは0.j4μm以下であることが必
要である。
金属格子による偏光板は、すでに遠赤外領域では、回折
格子の!ラスチッ、クレプリカに、金属を斜め蒸着する
ことで°実現されている。しかしながら、この方法では
基板に回折格子状のものを用いているため、透過光の波
面が乱れること、またピッチを充分に小さ、くできない
ため近赤外、あるいは可視光領域では用いられない。
格子の!ラスチッ、クレプリカに、金属を斜め蒸着する
ことで°実現されている。しかしながら、この方法では
基板に回折格子状のものを用いているため、透過光の波
面が乱れること、またピッチを充分に小さ、くできない
ため近赤外、あるいは可視光領域では用いられない。
1μml[Iあるいは、これより微細なピッチの格子は
、電子mまたはX線リソグラ2イ、あるいは特殊な方法
として、極短波長光を用いた干渉法を用いたリングラフ
ィによシ可能である。
、電子mまたはX線リソグラ2イ、あるいは特殊な方法
として、極短波長光を用いた干渉法を用いたリングラフ
ィによシ可能である。
導電格子材料としては通常の金輌、金、アルミニウム、
銀、クロムなどの他、カーがン蒸着膜が使用てきる。
銀、クロムなどの他、カーがン蒸着膜が使用てきる。
基板としては通常の透明材料として、ガラス板、石英板
、NaC1板、KCl板など、不透明基板としては、金
、銀ζ銅、鉄、などの金属板、あるいけグラファイト板
、あるいはシリコン、ダルマニウムなどの半導体基板が
用いられる。
、NaC1板、KCl板など、不透明基板としては、金
、銀ζ銅、鉄、などの金属板、あるいけグラファイト板
、あるいはシリコン、ダルマニウムなどの半導体基板が
用いられる。
不透明基板、特に金属、グラファイト板は、それ自体が
導電性を持っているので、絶縁性保賎膜を介して、導電
格子を作る必要がある。
導電性を持っているので、絶縁性保賎膜を介して、導電
格子を作る必要がある。
透明基板を用いた場合は、透過形、反射形の両方に、不
透明基板を用いた時には反射形として用いられ為。
透明基板を用いた時には反射形として用いられ為。
第1図は、表面が平坦な基板の上に作製した導電性格子
の例であFt、s#i導電格子、2は基板である。これ
を作るには、基板2上に金属薄膜、あるいはカーーン薄
膜を蒸着、あるいはメ、キなどKより作製し、レジスト
を塗付し、−子線、X#、あるいは極紫外線を露光した
彼、現像しこのレジストパタンを保IIJliとして、
工、チングを行い、最終的にレジストを除去することK
よシ導電格子lを作製する。電子線の場合には細く絞っ
たI−ムを走査して露光できるが、X1!!の場合は電
子線を用いて作製したマスクを介して露光する。極紫外
線の場合は、光源としてレーず光を用いて干渉法によっ
て側光することによって微細ノ臂タン奢作製するととが
できる。極紫外のレーザは現在開発されていないので、
YAGレーザなどの高調波を使用する。
の例であFt、s#i導電格子、2は基板である。これ
を作るには、基板2上に金属薄膜、あるいはカーーン薄
膜を蒸着、あるいはメ、キなどKより作製し、レジスト
を塗付し、−子線、X#、あるいは極紫外線を露光した
彼、現像しこのレジストパタンを保IIJliとして、
工、チングを行い、最終的にレジストを除去することK
よシ導電格子lを作製する。電子線の場合には細く絞っ
たI−ムを走査して露光できるが、X1!!の場合は電
子線を用いて作製したマスクを介して露光する。極紫外
線の場合は、光源としてレーず光を用いて干渉法によっ
て側光することによって微細ノ臂タン奢作製するととが
できる。極紫外のレーザは現在開発されていないので、
YAGレーザなどの高調波を使用する。
第2図は凹凸を持った導電格子パタンの例である。1は
導電格子、2/ri基板である。これを作るには、基板
上にレジストを塗付し、第1図に示す例と同じように、
露光現像し、この上に金属を蒸着するか、あらかじめ、
凹凸を持った断面形状の基板を作製しておき、加熱して
おいてグラスチ、り基板上に押し付ける仁とで表面形状
を転写することで達成できる。レジストを用いた場合は
、このあと溶剤Kfi!L、てレゾストを除去すれば、
いわゆるリフトオフ法となり第1図と同じ形状にするこ
とも可能である。
導電格子、2/ri基板である。これを作るには、基板
上にレジストを塗付し、第1図に示す例と同じように、
露光現像し、この上に金属を蒸着するか、あらかじめ、
凹凸を持った断面形状の基板を作製しておき、加熱して
おいてグラスチ、り基板上に押し付ける仁とで表面形状
を転写することで達成できる。レジストを用いた場合は
、このあと溶剤Kfi!L、てレゾストを除去すれば、
いわゆるリフトオフ法となり第1図と同じ形状にするこ
とも可能である。
蒸着を真上から行えば第2図のような形状になるが、斜
めから蒸着すれば凸部だ妙に′#着されるととKなる。
めから蒸着すれば凸部だ妙に′#着されるととKなる。
導電部は凸部、凹部のいずれか、あるいは双方に設けら
れても良いが、それぞ糺が連続せずKM立していること
が必要である。第3図のように基板2の凸部がアンダカ
ットになっている場合は真上からの蒸着で導電格子1を
形成しても良いが、第2図のようにアンダカットがない
か、逆に基部がふくれている場合には斜め蒸着が好まし
い。
れても良いが、それぞ糺が連続せずKM立していること
が必要である。第3図のように基板2の凸部がアンダカ
ットになっている場合は真上からの蒸着で導電格子1を
形成しても良いが、第2図のようにアンダカットがない
か、逆に基部がふくれている場合には斜め蒸着が好まし
い。
レジスFを露光する時の光源としてX線、あるいは極紫
外線を用いた場合は、基板は厚くと4良い。しかしなが
ら電子線を用いた場合KFi、基板から、電子線が散乱
されて、レゾスト中に再びはいるため、高解倫度の加工
は困難となる。
外線を用いた場合は、基板は厚くと4良い。しかしなが
ら電子線を用いた場合KFi、基板から、電子線が散乱
されて、レゾスト中に再びはいるため、高解倫度の加工
は困難となる。
この問題を避けるためには薄膜状の基板を用いれば嵐い
、iI膜基板を用いた時は、電子線の後方散tはなくな
シ、ピッチ間隔の極めて狭い格子を作製することができ
る。薄膜基板用材料としては、通常の有機薄膜あるいは
シリコンウェハ上に窒化シリコンを作製し、後からシリ
コンをエツチングして取り除いたもの勾、どを用いるこ
とができる番薄膜基板の厚さ仁τ士は、1μm以下、好
オしくは0.5励以下が良い。電子線による加工は現状
で厚膜基板で0,4珈程度であるが薄膜基板では約1桁
微細な加工が可能である。
、iI膜基板を用いた時は、電子線の後方散tはなくな
シ、ピッチ間隔の極めて狭い格子を作製することができ
る。薄膜基板用材料としては、通常の有機薄膜あるいは
シリコンウェハ上に窒化シリコンを作製し、後からシリ
コンをエツチングして取り除いたもの勾、どを用いるこ
とができる番薄膜基板の厚さ仁τ士は、1μm以下、好
オしくは0.5励以下が良い。電子線による加工は現状
で厚膜基板で0,4珈程度であるが薄膜基板では約1桁
微細な加工が可能である。
以上のようにして作製した偏光板は、その壕までは、機
械的強度に劣シ、また汚れ劣化などにより特性が変化す
るので、第4図のように透明なプラスチックあるいは無
機薄膜岬の透明保@6!でコーティングするヒとが好ま
しい。コーティングの効果は単に保睦だけでなく透過光
線の波面の乱れを防ぐ効果を持っている。また薄膜基板
を用いた場合は強度が弱いため、これを補強する効果を
持っている。
械的強度に劣シ、また汚れ劣化などにより特性が変化す
るので、第4図のように透明なプラスチックあるいは無
機薄膜岬の透明保@6!でコーティングするヒとが好ま
しい。コーティングの効果は単に保睦だけでなく透過光
線の波面の乱れを防ぐ効果を持っている。また薄膜基板
を用いた場合は強度が弱いため、これを補強する効果を
持っている。
以上述べた偏光板は多層化することで消光比を向上する
ことができる。また、この場合各層のピッチを広くして
も第5図に示すように全体としてのピッチを狭くするこ
とができるため、製造技術上の困難さが軽減される。特
に電子線リングラフィを用いて基板加工を行う場合、孤
立パタンの作製は容易であるが、ピッチの細いAlタン
の作製は困難であるという欠点を持っているため、多層
化の方法は有効である。各層のピッチは、単層に比べ層
数倍にすることができる。倒し、格子の巾は、単層の場
合に比べて広くすることはできず、各層の格子パタンの
巾は0、7μmυ下である。
ことができる。また、この場合各層のピッチを広くして
も第5図に示すように全体としてのピッチを狭くするこ
とができるため、製造技術上の困難さが軽減される。特
に電子線リングラフィを用いて基板加工を行う場合、孤
立パタンの作製は容易であるが、ピッチの細いAlタン
の作製は困難であるという欠点を持っているため、多層
化の方法は有効である。各層のピッチは、単層に比べ層
数倍にすることができる。倒し、格子の巾は、単層の場
合に比べて広くすることはできず、各層の格子パタンの
巾は0、7μmυ下である。
(実施例1)
酸化シリコンを表面にコートしたシリコン基板上に約1
00X厚のクロム、次いで1500X厚の金を真空蒸着
した。クロムは基板と金のロロメチル化ポリーa−メチ
ルスチレン(aM−CN3と略称)をスピンコードし、
135℃で30分間ノリベークしてから電子ビームで露
光したのち、アセトンで現曹、イソプロノ°譬ノールで
リンスした。このあと、50Wの出力でアルゴンガスス
パッタエツチングを10−’Torrで10分間行い、
金のエツチングを行い、線巾0.15−、ピッチ0.4
趣の格子を作製した。辷れはH・−N・レーデの波長(
0,634m )で消光比l/10 の反射属偏光板
となった。
00X厚のクロム、次いで1500X厚の金を真空蒸着
した。クロムは基板と金のロロメチル化ポリーa−メチ
ルスチレン(aM−CN3と略称)をスピンコードし、
135℃で30分間ノリベークしてから電子ビームで露
光したのち、アセトンで現曹、イソプロノ°譬ノールで
リンスした。このあと、50Wの出力でアルゴンガスス
パッタエツチングを10−’Torrで10分間行い、
金のエツチングを行い、線巾0.15−、ピッチ0.4
趣の格子を作製した。辷れはH・−N・レーデの波長(
0,634m )で消光比l/10 の反射属偏光板
となった。
(実施例2)
芝
酸化シリコン膜付ψタリコン基板上に実施例1と同様1
00X厚のクロムと1500芙厚の金を真空蒸着したー
この上にホトレジス)AZ−2415(シブレイ社#)
を子0001スピンコードし、95℃、30升グリベー
クした。
00X厚のクロムと1500芙厚の金を真空蒸着したー
この上にホトレジス)AZ−2415(シブレイ社#)
を子0001スピンコードし、95℃、30升グリベー
クした。
コレにYAGレーザの第9次高調波を二本にわけ、基板
上に異なる角度で照射し、干渉ノ々タンを発生させ、露
光した。現像はAZ2401現像液(シフレ4社製)を
脱イオン水で175に希釈して行い、更に脱イオン水で
リンスした。その後、実施例1と同様にアルデンスI4
ツタエツチングで加工し一金の格子ノ4タンを作製した
。格子間隔は0,16μm1ピツチは0,33μm1面
−往10−角である。消光比は0.63 srsの波長
で11/10が得られた。
上に異なる角度で照射し、干渉ノ々タンを発生させ、露
光した。現像はAZ2401現像液(シフレ4社製)を
脱イオン水で175に希釈して行い、更に脱イオン水で
リンスした。その後、実施例1と同様にアルデンスI4
ツタエツチングで加工し一金の格子ノ4タンを作製した
。格子間隔は0,16μm1ピツチは0,33μm1面
−往10−角である。消光比は0.63 srsの波長
で11/10が得られた。
(実施例3)
ガラス基板上に実施例1と同様な方法で金の格子ノ苛タ
ンを作製した。消光比は透過形で杓であった。
ンを作製した。消光比は透過形で杓であった。
(実施例4)
実施例3の偏光板の上に厚さ100018102の膜を
蒸着し、さらに同様の導電格子パタンを作製した。消光
比は透過形で1/100であった。
蒸着し、さらに同様の導電格子パタンを作製した。消光
比は透過形で1/100であった。
(実施例5)
厚さ400μmのシリコン基板上に減圧CVD法で10
001の窒化シリコン膜を片面に付着させ、反対飼から
ホトレジス、トを用い5m角の窓を作製し、40嘔KO
H!I*”t’70℃で4時間エツチングし、窒化シリ
コン薄膜の窓を有するシリコン基板を作製した。仁れに
クロム100X。
001の窒化シリコン膜を片面に付着させ、反対飼から
ホトレジス、トを用い5m角の窓を作製し、40嘔KO
H!I*”t’70℃で4時間エツチングし、窒化シリ
コン薄膜の窓を有するシリコン基板を作製した。仁れに
クロム100X。
金500Xを蒸着したのち電子線レジストPMMムを1
0001−塗付し、50Xの口径を持った電子ビームを
加速電圧50 kVで無光した。
0001−塗付し、50Xの口径を持った電子ビームを
加速電圧50 kVで無光した。
メチルイソブチルケトンーイソグロビルアルコール1:
1溶液で現像したのち、イングロビルアルコールテリン
スシタ、アルがンスパツタエッチによシ金を工、チング
した。得られた格子の寸法は巾200X、ピッチ400
Xであう九。
1溶液で現像したのち、イングロビルアルコールテリン
スシタ、アルがンスパツタエッチによシ金を工、チング
した。得られた格子の寸法は巾200X、ピッチ400
Xであう九。
この偏光板は、波長4000Xで消光比1/30となっ
た。
た。
以上説明したように本発明による偏光板枠、薄膜化が可
能であり、また透過形はもちろん反射型にすることもで
き、耐湿、耐熱性に優れる利点があり、表示用、各at
芥生学測定用るいは光通信部品用として好適である。
能であり、また透過形はもちろん反射型にすることもで
き、耐湿、耐熱性に優れる利点があり、表示用、各at
芥生学測定用るいは光通信部品用として好適である。
第1M〜第5図はそれぞれ本発明の実施例を示し、第1
図は表面が平坦な基板上に作製した偏光板、第2図は凹
凸のある基板上に作製した偏光板、第3図は、アンダカ
、トのある凹凸基板上に作製しfc偏光板、第4図は保
験層を設けた偏光板、第5゛図は多層化した偏光板であ
る。 1・・・導電格子、2・・・基板、3・・・透明保睦膜
。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図
図は表面が平坦な基板上に作製した偏光板、第2図は凹
凸のある基板上に作製した偏光板、第3図は、アンダカ
、トのある凹凸基板上に作製しfc偏光板、第4図は保
験層を設けた偏光板、第5゛図は多層化した偏光板であ
る。 1・・・導電格子、2・・・基板、3・・・透明保睦膜
。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1) 基板上に微細導電格子・母タンが形成されて
いることを%徴とする偏光板。 (2、特許請求の範囲第1項記載の偏光板において、基
板として透明基板を用いることを特徴とする透過形の偏
光板。 (3)特許請求の範囲第1項記載の偏光板において、基
板として不透明基板を用いることを特徴とする反射形の
偏光板。゛ (4)特許請求の勅、囲第1項記載の偏光板において、
基板として薄膜基板を用いることを特徴とする偏光板。 (5)薄膜基板の厚さが1μm以下であることを特徴と
する特許請求の範囲第4項記載の偏光板。 (6)特許請求の範囲第1項記載の偏光板において、基
板として凹凸部を有する基板を用い、該基板の凹部ある
いは凸部のいずれかあるいは両方に金属ノ母タンが形成
されていることを特徴〜 とする偏光板。 (7)特許請求の範囲第1項記載の偏光板において、微
細導電格子・リン白格子間隔が1.4μm以下であるこ
とを特徴とすi偏光板。 (8)微細導電格子ノ4タン上に透明保護膜を有するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の偏光板。 (9)基板上に微細導電格子ノ4タンが形成され該パタ
ン上に透明保護膜が形成された偏光板上に1さらに微細
導電格子パタンと透明保護膜が、多数回層状に重ねられ
ていることを特徴とする偏光板。 (ト)特許請求の範囲第9項記載の偏光板において、各
一層の微細導電格子パタンの巾が0.7μm以下てあり
、ピッチが1.4×層数以下であることを特徴とする偏
光板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56140756A JPS5842003A (ja) | 1981-09-07 | 1981-09-07 | 偏光板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56140756A JPS5842003A (ja) | 1981-09-07 | 1981-09-07 | 偏光板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5842003A true JPS5842003A (ja) | 1983-03-11 |
Family
ID=15276001
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56140756A Pending JPS5842003A (ja) | 1981-09-07 | 1981-09-07 | 偏光板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5842003A (ja) |
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60211402A (ja) * | 1984-04-04 | 1985-10-23 | Tokai Rika Co Ltd | 光方向制限板 |
| JPH0212023A (ja) * | 1988-06-30 | 1990-01-17 | Sanyo Electric Co Ltd | 赤外線調光素子及びこれを使用した赤外線検出器 |
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| JPH0384502A (ja) * | 1989-08-29 | 1991-04-10 | Shimadzu Corp | グリッド偏光子 |
| EP0612068A3 (en) * | 1993-02-16 | 1995-12-06 | Nec Corp | Optical scanning head and birefringent diffraction grating polarizer and hologram polarizer therefor. |
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