JPS5848876A - しや断器の合成等価試験回路 - Google Patents
しや断器の合成等価試験回路Info
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- JPS5848876A JPS5848876A JP56146154A JP14615481A JPS5848876A JP S5848876 A JPS5848876 A JP S5848876A JP 56146154 A JP56146154 A JP 56146154A JP 14615481 A JP14615481 A JP 14615481A JP S5848876 A JPS5848876 A JP S5848876A
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- voltage
- breaker
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/333—Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers ; Testing of breaking capacity or related variables, e.g. post arc current or transient recovery voltage
- G01R31/3333—Apparatus, systems or circuits therefor
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、しや1仇器の合成等価試験回路に係り特に、
電力用しゃ断器の大電流、しゃ断性能を検討するだめの
合成等価試験回路、とくに4パラメータ[旧田電圧を発
生するに最適なしゃ断器の合成等価試験回路に関する。
電力用しゃ断器の大電流、しゃ断性能を検討するだめの
合成等価試験回路、とくに4パラメータ[旧田電圧を発
生するに最適なしゃ断器の合成等価試験回路に関する。
大容惜電力用しゃ断器の進歩ばめざ1しく、最近で多重
300 K\11点切り、55f)KV2点切り12や
断器を目標に研究開発が、イ(められている。
300 K\11点切り、55f)KV2点切り12や
断器を目標に研究開発が、イ(められている。
一方、し−や断器規格では系統に発生する再起電圧波形
に即して4パラメータ再起電圧波形が採用され、4・々
ラメータ再起電圧発生回路に関して多数の発表が成され
ている。第1図に:4パラメータ再起電圧波形説明図で
ある。ここでt1、t2、u1、u2、はそれぞれ、初
期波高時、波高時間、初期波高値および波高値と呼ばれ
る。一般に波高時間t2の大きい1町起電圧を経済的に
発生することが困難で、しゃ断試験に実用されている回
路は比較的少ない。第2図は原理的には4パラメータ再
起電圧を二発生可能と思われる従来公知の回路の一例で
あって、図示の如く3つの電源より成っているもので、
特公昭52−9832に贈られる例である。
に即して4パラメータ再起電圧波形が採用され、4・々
ラメータ再起電圧発生回路に関して多数の発表が成され
ている。第1図に:4パラメータ再起電圧波形説明図で
ある。ここでt1、t2、u1、u2、はそれぞれ、初
期波高時、波高時間、初期波高値および波高値と呼ばれ
る。一般に波高時間t2の大きい1町起電圧を経済的に
発生することが困難で、しゃ断試験に実用されている回
路は比較的少ない。第2図は原理的には4パラメータ再
起電圧を二発生可能と思われる従来公知の回路の一例で
あって、図示の如く3つの電源より成っているもので、
特公昭52−9832に贈られる例である。
第1電圧源は低電圧大電流回路であって、交流電源1か
ら電流調整用リアクトル2、第1の補助しゃ断器3、供
試しゃ断器4を通して所定の短絡電流を供給する。5は
抵抗、6はコンデンサであってリアク)・ル2の出力鼎
lIK接続されてラージ、アブソーバを形成する。第2
電圧ゆ;ζ(liVl、:lは通常タイル合成等価試験
装置の電圧源と呼ぶものとほとんど同じであるが、ただ
第2の補助17や断器7が第1電源と第2電源の間に接
続される点が異なる。電圧源:1ンデンザ8、制御ギャ
ップ9、電圧源リアクトル10の各々は直列接続されて
補助しゃ断器7の第2電源側に接続されると共に、再起
電ITE 、iJ、l整用抵抗1]、再起電圧調整用コ
ンチン”リ−12の各々が直列接続されて同様に補助し
ゃ断器7の二次電源細端に接続されている。さらに第3
電源(ITV2)の出力端にはコンテンツ13が接続さ
れる。リアクトル14と抵抗15の並列回路と!til
l allギャップ15を直列接続した回路を一方の出
力端に接続し々がら第3電源の出力端は補助しゃ断器7
0両端に接続される6寸だ、補助しゃ断器7の両端には
コンテンツ17が接続される。
ら電流調整用リアクトル2、第1の補助しゃ断器3、供
試しゃ断器4を通して所定の短絡電流を供給する。5は
抵抗、6はコンデンサであってリアク)・ル2の出力鼎
lIK接続されてラージ、アブソーバを形成する。第2
電圧ゆ;ζ(liVl、:lは通常タイル合成等価試験
装置の電圧源と呼ぶものとほとんど同じであるが、ただ
第2の補助17や断器7が第1電源と第2電源の間に接
続される点が異なる。電圧源:1ンデンザ8、制御ギャ
ップ9、電圧源リアクトル10の各々は直列接続されて
補助しゃ断器7の第2電源側に接続されると共に、再起
電ITE 、iJ、l整用抵抗1]、再起電圧調整用コ
ンチン”リ−12の各々が直列接続されて同様に補助し
ゃ断器7の二次電源細端に接続されている。さらに第3
電源(ITV2)の出力端にはコンテンツ13が接続さ
れる。リアクトル14と抵抗15の並列回路と!til
l allギャップ15を直列接続した回路を一方の出
力端に接続し々がら第3電源の出力端は補助しゃ断器7
0両端に接続される6寸だ、補助しゃ断器7の両端には
コンテンツ17が接続される。
以上の構成による動作を次に説明する。但し、第1電圧
源と第2電圧源は従来のタイル合成等価試験回路と同様
であり周知のことであるので詳細説明を省略する。
源と第2電圧源は従来のタイル合成等価試験回路と同様
であり周知のことであるので詳細説明を省略する。
第1電圧源の最終電流零点直前で制御ギャップ9へ指令
を発[7、あらかじめ直流高電圧装置1−T Vlより
充電されたコンデンサ8からリアクトル10、第2の補
助しゃ断器7全通して供試しゃ断器4へ電圧源電流を供
給し、供試l〜や断器4がそのl、や断器に成功すると
、供試しゃ断器4の端子には第1図V、の如き電圧が印
加される。
を発[7、あらかじめ直流高電圧装置1−T Vlより
充電されたコンデンサ8からリアクトル10、第2の補
助しゃ断器7全通して供試しゃ断器4へ電圧源電流を供
給し、供試l〜や断器4がそのl、や断器に成功すると
、供試しゃ断器4の端子には第1図V、の如き電圧が印
加される。
電圧V1 の初)υJ部分発生後、第2の補助しゃ断
器7を開極時間のばらつきが少なく急速に開き、流れて
いた比I咬的小さな電流を裁断する。その後、制御ギャ
ップ16にトリガーを与えて第3電圧諒である第2の血
流高電圧電源ITV2から、あらかじめ充電されていた
コンテンツ13から、リアクトル14.抵抗15.制御
キャップ16を経由しテコンデンザ17全充電する。こ
れにより第2補助しゃ断器7の両端に第1図v2 に示
す!41 < 、VBに対して微少時間Δtだけ遅れた
電圧が現われる。
器7を開極時間のばらつきが少なく急速に開き、流れて
いた比I咬的小さな電流を裁断する。その後、制御ギャ
ップ16にトリガーを与えて第3電圧諒である第2の血
流高電圧電源ITV2から、あらかじめ充電されていた
コンテンツ13から、リアクトル14.抵抗15.制御
キャップ16を経由しテコンデンザ17全充電する。こ
れにより第2補助しゃ断器7の両端に第1図v2 に示
す!41 < 、VBに対して微少時間Δtだけ遅れた
電圧が現われる。
電圧V、 、 V2 は加算されて第1図にTR,V
として示す波高値が遅れてあられれる4パラメータ再起
電圧が供試12や断器4に印加される。
として示す波高値が遅れてあられれる4パラメータ再起
電圧が供試12や断器4に印加される。
しかし、一般の短絡試験場では、開極時間のばらつきが
少なく、急速に開くしゃ断器は高価で、入手困難である
こと、従来のタイル合成等価試験回路に対して第3電圧
源を追加することは試験場の敷地面積や建設費、取扱い
手数等の点で問題になることがあり、さらに簡単な回路
の出願が強く望捷れでいた。
少なく、急速に開くしゃ断器は高価で、入手困難である
こと、従来のタイル合成等価試験回路に対して第3電圧
源を追加することは試験場の敷地面積や建設費、取扱い
手数等の点で問題になることがあり、さらに簡単な回路
の出願が強く望捷れでいた。
本発明の1−I的は、簡単な回路構成により波高時間の
J=4い4・々ラメータt■1起電圧を゛ボ生1.うる
しや断器の合成等価試験回路iz提供する(である。
J=4い4・々ラメータt■1起電圧を゛ボ生1.うる
しや断器の合成等価試験回路iz提供する(である。
・1り発明は、第3電圧源の設置を省略するとともに、
再起電圧の初期711〜分発生後、111起電圧調整回
路台:電圧d1;ドlンテ/りから−−11(リリ前し
、次に同じ電圧jjj;j コンデンサの全部−斗だは
一部に残留する電荷を利用I7て、再び再起電圧を高め
られる様に2、I’illの河〕1μ′11L圧調整回
路を設けたものである。
再起電圧の初期711〜分発生後、111起電圧調整回
路台:電圧d1;ドlンテ/りから−−11(リリ前し
、次に同じ電圧jjj;j コンデンサの全部−斗だは
一部に残留する電荷を利用I7て、再び再起電圧を高め
られる様に2、I’illの河〕1μ′11L圧調整回
路を設けたものである。
第3図は本発明の実施例を示−(−回路図である。
なお、不実M11例においては第2図に示したと同一
rils igであえ)ものには同一ね号をイ・1すと
j(に、その1況明を省略する。
rils igであえ)ものには同一ね号をイ・1すと
j(に、その1況明を省略する。
第2図に示した補助しゃ断z:)7の代りに!fi制御
ギ制御ギブ18を]1イtき、該1111 i’fl」
lギヤツブ18とリアクトル10の接続点と接順間にI
l+(抗]9、−Jンデンザ20の内列回路全接続する
。さらに供試しゃ断器4と並列に、抵抗21.コンテン
ツ22.23よりなる泊列回路を1妾続すると共に、抵
抗24およびコンブ・ンザ25J:りなる+−?、i列
回路を接11mする。
ギ制御ギブ18を]1イtき、該1111 i’fl」
lギヤツブ18とリアクトル10の接続点と接順間にI
l+(抗]9、−Jンデンザ20の内列回路全接続する
。さらに供試しゃ断器4と並列に、抵抗21.コンテン
ツ22.23よりなる泊列回路を1妾続すると共に、抵
抗24およびコンブ・ンザ25J:りなる+−?、i列
回路を接11mする。
寸た、コンデンサ8 K 8 aと81)に分割し、こ
の分割点とコンデンサ22と23の接続点との間にコン
デンサ26.抵抗27.1:りなる直列回路を挿入する
。
の分割点とコンデンサ22と23の接続点との間にコン
デンサ26.抵抗27.1:りなる直列回路を挿入する
。
以−1−の構成による本発明の実施例を第4図の動作説
明図に基づいて説明する。
明図に基づいて説明する。
供試しゃ断器4ff::通る電流源電流1゜の最終電流
零点t。の直前t8 で、わずかなしゃ断性能のある制
御ギャップ18を放電するとコンデンサ8a、8bから
リアクトル10全通]−で供試]2や断4へ電圧源電流
1vを流す。わずかな1.−や断性能を有した?lif
iャップとしてL丁、例えばS 、r” +1ガス中の
制御ギー\・ツブ、吹付ガス中の制御ギヤノブ舌が利用
できる。斗だコンデンーリ8i1,8bは図示を省略し
た直流高電圧発生装置から同極性に直列に充電されたコ
ンデンサである。この期間でコンチン−v81)とリア
、りトル10の接続点の7J地電位へloは第4図の様
に変化する。tl、[1,1点で供試I2や断器4が電
圧源電流j9のしゃ断に成功しく 、制御ギー′ツブ1
8でし1.その電流を・しゃ断できない場合には、コン
デンサ8;1.81)の電荷にリアク]・ル10を通し
て再起電圧調整用の抵抗19、出超電圧調整用のコンテ
ンツ20へ、寸だすでに内絡している制御ギャップ1.
8 k 111′11〜で、L[]起電ITE;it’
、l整用の抵抗21.1町起電圧調整用のコンチン92
2.23、同じ[]的の抵抗24、コンデンサ25へ流
入し、供試しべ・断器4の端子には第4図の電圧VI
が印加される。再起電圧発生後、制御ギー・ツブ18
を通る電流波形は第4図のtl、〜1c間に点線で示す
様に振動周波数けt8〜Ll+間に実線で示1〜た1、
」=り高く、その値は1、」:す小さい。本発明では1
0時点で制@+lIギャップ18を通る電流をしゃ断し
たいため、制御ギしノブ18のしゃ断性能を考慮して抵
抗19.コンデンサ2゜の値を選定する。それにより振
動電流の一部を分流I2、制御ギャップ18を通る電流
を調節する。
零点t。の直前t8 で、わずかなしゃ断性能のある制
御ギャップ18を放電するとコンデンサ8a、8bから
リアクトル10全通]−で供試]2や断4へ電圧源電流
1vを流す。わずかな1.−や断性能を有した?lif
iャップとしてL丁、例えばS 、r” +1ガス中の
制御ギー\・ツブ、吹付ガス中の制御ギヤノブ舌が利用
できる。斗だコンデンーリ8i1,8bは図示を省略し
た直流高電圧発生装置から同極性に直列に充電されたコ
ンデンサである。この期間でコンチン−v81)とリア
、りトル10の接続点の7J地電位へloは第4図の様
に変化する。tl、[1,1点で供試I2や断器4が電
圧源電流j9のしゃ断に成功しく 、制御ギー′ツブ1
8でし1.その電流を・しゃ断できない場合には、コン
デンサ8;1.81)の電荷にリアク]・ル10を通し
て再起電圧調整用の抵抗19、出超電圧調整用のコンテ
ンツ20へ、寸だすでに内絡している制御ギャップ1.
8 k 111′11〜で、L[]起電ITE;it’
、l整用の抵抗21.1町起電圧調整用のコンチン92
2.23、同じ[]的の抵抗24、コンデンサ25へ流
入し、供試しべ・断器4の端子には第4図の電圧VI
が印加される。再起電圧発生後、制御ギー・ツブ18
を通る電流波形は第4図のtl、〜1c間に点線で示す
様に振動周波数けt8〜Ll+間に実線で示1〜た1、
」=り高く、その値は1、」:す小さい。本発明では1
0時点で制@+lIギャップ18を通る電流をしゃ断し
たいため、制御ギしノブ18のしゃ断性能を考慮して抵
抗19.コンデンサ2゜の値を選定する。それにより振
動電流の一部を分流I2、制御ギャップ18を通る電流
を調節する。
:1ンデンサ22にくらべてコンデンサ23の静電容計
ヲ十分大きくし選定(7ておけば、この時点のコンチン
゛す23の対地電圧は微少であるから、時刻t。伺近で
制御ギーヤップ26を放電させ、適当な抵抗27全通し
てコンデンサ23を適当な時定数で充電するととが(1
能である。側斜ギA′ツブ26の放電r1時刻し。の前
でも後でもか捷わない1.11i11笹11ギ−ヤノフ
26の放電後、コンチン′v23の対地電位は例えば第
4図v2 の様になる。コンデンサ25の静電容量を2
2にくらべて子分小さく、抵抗24−(c−21にくら
べて十分大に選定して、1?けば、供試し−や断器4の
端子電圧は第4図T It Vとしで示す如く、4パラ
メ一タ表示に適(〜たFIT起電圧にすることが可能で
ある。
ヲ十分大きくし選定(7ておけば、この時点のコンチン
゛す23の対地電圧は微少であるから、時刻t。伺近で
制御ギーヤップ26を放電させ、適当な抵抗27全通し
てコンデンサ23を適当な時定数で充電するととが(1
能である。側斜ギA′ツブ26の放電r1時刻し。の前
でも後でもか捷わない1.11i11笹11ギ−ヤノフ
26の放電後、コンチン′v23の対地電位は例えば第
4図v2 の様になる。コンデンサ25の静電容量を2
2にくらべて子分小さく、抵抗24−(c−21にくら
べて十分大に選定して、1?けば、供試し−や断器4の
端子電圧は第4図T It Vとしで示す如く、4パラ
メ一タ表示に適(〜たFIT起電圧にすることが可能で
ある。
第3図に示した実施例に」:れば、第2発電源を有効に
利用することにより、第3電圧源を設けることなく、簡
tliな構成の4パラメ一タ再起電圧発生回路を提供す
ることができる。
利用することにより、第3電圧源を設けることなく、簡
tliな構成の4パラメ一タ再起電圧発生回路を提供す
ることができる。
第5図は本発明の第2図の実施例を示す装部回路図であ
る。本実施例は第4図に示した’r’ It、 Vの如
き実際のしゃ断器で省える有限の時間範囲内においては
、−に昇を続ける波形として観察され、最大値を定めに
くいという問題に対処するものである。第5図f示す如
く、コンデンサ′8aの一部8a1に抵抗28と放電制
御ギャップ29なで設けて、第4図の波形T R,Vが
要求値に達した時点1.で制御ギャップ29を内絡させ
る。これにより第4図の時刻1.以後は一点鎖線で図示
する如(Tl(、’Vを減少させることが可能になる。
る。本実施例は第4図に示した’r’ It、 Vの如
き実際のしゃ断器で省える有限の時間範囲内においては
、−に昇を続ける波形として観察され、最大値を定めに
くいという問題に対処するものである。第5図f示す如
く、コンデンサ′8aの一部8a1に抵抗28と放電制
御ギャップ29なで設けて、第4図の波形T R,Vが
要求値に達した時点1.で制御ギャップ29を内絡させ
る。これにより第4図の時刻1.以後は一点鎖線で図示
する如(Tl(、’Vを減少させることが可能になる。
これによりTI、Vのρだ高1直が明確になる七いう効
果がある。
果がある。
第6図は本発明の第3の実施例を示す要部回路図である
。本実施例は第3図に示した実施例の一部を変更し一部
こものであり、第3図の実施例における制御ギャップ1
8の代りに、起電圧発生後にばらつき少なく高速度に開
く(〜や断器30を設けると共に、コンデンサ8bと直
列に放電側御ギヤノン31を設ける。1だ第3図で抵抗
27を使用した位置にリアクトル32を設けるように[
、たものである。この回路では、コンデンサ20が、最
初の状態ではギャップ31で切り離されているために′
重圧源流初期部分のザージ性電流がなくなり、a+++
定や制御系への誘導等に」:る悪影響がなくなるという
効果があり、寸だ、第3図の抵抗27をリアクトル32
置換した効果としては、コンデンサ(11) 23との振動現象により、供試しゃ断器に印加する再起
電圧に最大値が明確にあられれるという効果も有してい
る。
。本実施例は第3図に示した実施例の一部を変更し一部
こものであり、第3図の実施例における制御ギャップ1
8の代りに、起電圧発生後にばらつき少なく高速度に開
く(〜や断器30を設けると共に、コンデンサ8bと直
列に放電側御ギヤノン31を設ける。1だ第3図で抵抗
27を使用した位置にリアクトル32を設けるように[
、たものである。この回路では、コンデンサ20が、最
初の状態ではギャップ31で切り離されているために′
重圧源流初期部分のザージ性電流がなくなり、a+++
定や制御系への誘導等に」:る悪影響がなくなるという
効果があり、寸だ、第3図の抵抗27をリアクトル32
置換した効果としては、コンデンサ(11) 23との振動現象により、供試しゃ断器に印加する再起
電圧に最大値が明確にあられれるという効果も有してい
る。
第7図は本発明の変形例を示す回路図であり、第3図の
抵抗24、コンデンサ25をのぞき、これらの作用を点
線図示の如く、回路の分布静電容量のみに期待するとと
もに、放■イ1制御ギャップ18の一方の電極を接地電
位側に置いたものである。すでに合成投入等価試験とい
うものが実用され、それに用いるためにSF6 ガス中
に制御1ギャップを置いた場合には、ある程度、(7や
断性能を有することが知られている。この場合の制御1
ギャップの一端子は、接地電位に対し、低電圧の電流源
電圧に削えれば十分という構造になっていることが多い
。第7図では、前記投入用制御ギャップヶ流用すること
ができ、寸だ、第3図の抵抗24やコンデンサ25に相
当するものを省略しているので、現有設備の状況によっ
て汀、経済的に試験回路を構成できるという効果がある
。
抵抗24、コンデンサ25をのぞき、これらの作用を点
線図示の如く、回路の分布静電容量のみに期待するとと
もに、放■イ1制御ギャップ18の一方の電極を接地電
位側に置いたものである。すでに合成投入等価試験とい
うものが実用され、それに用いるためにSF6 ガス中
に制御1ギャップを置いた場合には、ある程度、(7や
断性能を有することが知られている。この場合の制御1
ギャップの一端子は、接地電位に対し、低電圧の電流源
電圧に削えれば十分という構造になっていることが多い
。第7図では、前記投入用制御ギャップヶ流用すること
ができ、寸だ、第3図の抵抗24やコンデンサ25に相
当するものを省略しているので、現有設備の状況によっ
て汀、経済的に試験回路を構成できるという効果がある
。
第8図は本発明のさらに他の変形例を示す回路(12)
図であり、電圧源コンデンサ8の全電圧を制御ギャップ
26放電後、コンデンサ23の充電に利用するので、波
高値の高い4パラメータ[11起電圧を発生1〜得ると
いう効果がある。
26放電後、コンデンサ23の充電に利用するので、波
高値の高い4パラメータ[11起電圧を発生1〜得ると
いう効果がある。
以上詳述したように、本発明では2組の再起重用発生回
路を直列に使用し、しかもその接地電位例にくらべて大
きく選ぶことにより、同一の電圧源から、電圧源電流と
再起電圧初期部分および4パラメータ再起電圧の波高値
を経済的に与えることができる。
路を直列に使用し、しかもその接地電位例にくらべて大
きく選ぶことにより、同一の電圧源から、電圧源電流と
再起電圧初期部分および4パラメータ再起電圧の波高値
を経済的に与えることができる。
以」二」:り明らかな如く本発明によれば、少数の電源
を用いた構成によって波高値の高い4パラメータ再起電
圧を発生することができる。
を用いた構成によって波高値の高い4パラメータ再起電
圧を発生することができる。
第1図は従来のしゃ断器の合成等価試験回路の動作説明
図、第2図は従来のしゃ断器の合成等価試験回路の回路
図、第3図は本発明の第1の実施例を示す回路図、第4
図は本発明の動作説明図、第5図は本発明の第2の実施
例を示す要部回路図、第6図は本発明の第3の実施例を
示す要部回路図、第7図は本発明の変形例を示す回路図
、第8図は本発明の他の変形例を示す回路図である。 1・・・交流電源、2・・・電流調整用リアク]・ル、
3・・・補助1−や断器、4・・供試しゃ断器、5,1
9゜21、.24..27.28−・・抵抗、6,8,
8a。 8a’、8b、20,22.25−:+7デンサ、10
・・・電圧源リアクトル、18,26,29゜31・・
・制御ギャップ、30・・・しゃ断器、32・・・リア
クトル。
図、第2図は従来のしゃ断器の合成等価試験回路の回路
図、第3図は本発明の第1の実施例を示す回路図、第4
図は本発明の動作説明図、第5図は本発明の第2の実施
例を示す要部回路図、第6図は本発明の第3の実施例を
示す要部回路図、第7図は本発明の変形例を示す回路図
、第8図は本発明の他の変形例を示す回路図である。 1・・・交流電源、2・・・電流調整用リアク]・ル、
3・・・補助1−や断器、4・・供試しゃ断器、5,1
9゜21、.24..27.28−・・抵抗、6,8,
8a。 8a’、8b、20,22.25−:+7デンサ、10
・・・電圧源リアクトル、18,26,29゜31・・
・制御ギャップ、30・・・しゃ断器、32・・・リア
クトル。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、供試しゃ断器に補助し7や断z))(イ):経由し
て短絡大電流百害」(給する電流源回路と、充電装置を
崩する電圧源コンテンツからりアクドルと放電制御ギャ
ップを〕11]−で供試しゃ断器に電圧源電流を供給す
る電圧源回路を有したしゃ断器の合成等価試験回路にお
いて、前記供試しゃ断器に比べ極めて小さな1〜や断性
能を有するものとした前記放電制御ギャップの前記供試
しゃ断器側と大地間に接続された第1の再起電圧調整回
路と、前記放電制御ギャップの前記電圧源コンデンサと
大地間に直列接続して挿入される第2.第3の再起電圧
調整回路と、接地電位側に接続されている前記第2ある
いは第3の再起電圧調整回路に対し、その対地電圧を再
起電圧初期部分の発生後に高めるJ:うに成す4パラメ
一タ再起電圧発生部とを具備することを特徴とするしゃ
断器の合成等価試験回路。 2、前記4パラメ一タ再起電圧発生部は、前記電圧源コ
ンデンサの高圧端子寸たけ其の多段の途中端子と、前記
第2.第3の1丁起電圧調整回路の接続点との間に、第
2の放電!fi制御ギャップの第1の抵抗を直列接続し
た回路を挿入して構成することを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載のしゃ断器の合成等価試験回路。 3 前記4パラメ一タ再起電圧発生部は、前記電圧コン
デンサの高圧端子またけ其の多段の途中端子と、前記第
2.第3の再起電圧調整回路の接続点との間に第3の放
電制御ギャップと第2の抵抗を直列接続した回路を挿入
して構成するとと全特徴とする特許請求の範囲第1項記
載のしゃ断器の合成等価試験回路。 4 接地側に配置された前記第2あるいは第3の再起電
圧調整回路を充電する前記電圧源コンデンサの一部を、
所定の時定数を有する第3の放電制御ギャップと第2の
抵抗を直列接続した回路を並列接続することを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載のしゃ断器の合成等価試験
回路。 5 ごくわずかなしゃ断器性能を有するものとした前記
放電制御ギャップの一端子を接地して使用し、前記放電
制御ギャップの両端子を供試しや断器の非接地側端子と
の間に再度電圧調整回路を設けたととを特徴とする特許
請求の範囲第1項および第4項記載のしゃ断器の合成等
価試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56146154A JPS5848876A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | しや断器の合成等価試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56146154A JPS5848876A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | しや断器の合成等価試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5848876A true JPS5848876A (ja) | 1983-03-22 |
| JPH0480351B2 JPH0480351B2 (ja) | 1992-12-18 |
Family
ID=15401347
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56146154A Granted JPS5848876A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | しや断器の合成等価試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5848876A (ja) |
-
1981
- 1981-09-18 JP JP56146154A patent/JPS5848876A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0480351B2 (ja) | 1992-12-18 |
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