JPS5853716A - プロセスシユミレ−タ - Google Patents
プロセスシユミレ−タInfo
- Publication number
- JPS5853716A JPS5853716A JP15209381A JP15209381A JPS5853716A JP S5853716 A JPS5853716 A JP S5853716A JP 15209381 A JP15209381 A JP 15209381A JP 15209381 A JP15209381 A JP 15209381A JP S5853716 A JPS5853716 A JP S5853716A
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- JP
- Japan
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- controlling
- processing part
- input
- signal
- static
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D21/00—Measuring or testing not otherwise provided for
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はｆａミセス御１ＩＩｉ＆置０１イトにおける年
次定期点検および機能改造時に行われる特性試験および
機能試験等に用いるｆロセスシイ晶し−メに関する。
次定期点検および機能改造時に行われる特性試験および
機能試験等に用いるｆロセスシイ晶し−メに関する。
従来のプロセスシミ晶し−タ紘ＩＥＩ図に示すよ５に、
アナログ式計算機１を用いてｆａミセス訃４Ｉ性を４ｍ
擬し、簡鳥形静特性シイ晶レータ２を用−て７？Ｉｌセ
スの静特性を模擬し、デ■セス制御装置３に入出力して
ｉ九、このシず晶し−メは、アナーｒ式計算機ｌｔ用い
ているため、演算適度が遮−と％Ａ３４１黴を持りてい
るが、アナログ回路であゐ九め＊度に＠界がＴｏル、９
１ｍレージ、ン精度が劣ると−う大暑な欠点がある。ま
九、！ロセスＯ＃特性を横綱する部分は手動で設定せね
ばならな−と％Ａ５欠点もある。
アナログ式計算機１を用いてｆａミセス訃４Ｉ性を４ｍ
擬し、簡鳥形静特性シイ晶レータ２を用−て７？Ｉｌセ
スの静特性を模擬し、デ■セス制御装置３に入出力して
ｉ九、このシず晶し−メは、アナーｒ式計算機ｌｔ用い
ているため、演算適度が遮−と％Ａ３４１黴を持りてい
るが、アナログ回路であゐ九め＊度に＠界がＴｏル、９
１ｍレージ、ン精度が劣ると−う大暑な欠点がある。ま
九、！ロセスＯ＃特性を横綱する部分は手動で設定せね
ばならな−と％Ａ５欠点もある。
ζＯアナログ回路による精度上の欠点と手動設定による
欠点を改豐するためＫＮ発されたのが、纂２図に示すハ
イブリッド弐計算機４を用いたシｔ、レータである。Ｃ
のシき晶レータは、固定化され九ｆロセスを１ａｌｌ！
するのに優れているが、一部分アナログ回路を用ｉでい
るため、中はルシン為レージ、ン槽度に遊子の欠点があ
ることと、固定化され九シミル−タであるため汎用性に
劣るとｖｈ５大きな欠点がある。
欠点を改豐するためＫＮ発されたのが、纂２図に示すハ
イブリッド弐計算機４を用いたシｔ、レータである。Ｃ
のシき晶レータは、固定化され九ｆロセスを１ａｌｌ！
するのに優れているが、一部分アナログ回路を用ｉでい
るため、中はルシン為レージ、ン槽度に遊子の欠点があ
ることと、固定化され九シミル−タであるため汎用性に
劣るとｖｈ５大きな欠点がある。
更に、ｇａ図に示すように、ン二；ンピ島−タ５を用い
てプロセスの動特性および静特性をＩＩ擬シ、インク７
エース６を介してｆロセス制−ａｔ３に人出力する方式
も知られて−る。こ０シイ晶レータは、プロセス制御装
置３の製作工場ＫＴｈける特性試験および機能試験に用
−ることを目的として開発されたものでＴｏシ、菖１図
に示すアナログ式針算ａｌｌのシミーレージ、ンＮ［の
欠点と、纂２図に示すハイブリッド式計算機４による汎
用性の欠点とを改善しているが、定位置化されたジオ為
レータである比め運搬性に劣るといり欠点がある。
てプロセスの動特性および静特性をＩＩ擬シ、インク７
エース６を介してｆロセス制−ａｔ３に人出力する方式
も知られて−る。こ０シイ晶レータは、プロセス制御装
置３の製作工場ＫＴｈける特性試験および機能試験に用
−ることを目的として開発されたものでＴｏシ、菖１図
に示すアナログ式針算ａｌｌのシミーレージ、ンＮ［の
欠点と、纂２図に示すハイブリッド式計算機４による汎
用性の欠点とを改善しているが、定位置化されたジオ為
レータである比め運搬性に劣るといり欠点がある。
このように従来技術におけるプロセスシｔ＆レークでは
、サイ）Ｋおける年次定期点検あるーは機能改造時の特
性試験あるいは機能試験に大幅な制約があった・ 本発明は上記従来技術の欠点を除き、マイク關グロセ、
すとカートリッジ式メモリを用いて構成することにより
、塩９扱いが簡単にして汎用性に優れ、コンノヤクトな
プロセスシ建＾レータを提供することを目的とすゐ。
、サイ）Ｋおける年次定期点検あるーは機能改造時の特
性試験あるいは機能試験に大幅な制約があった・ 本発明は上記従来技術の欠点を除き、マイク關グロセ、
すとカートリッジ式メモリを用いて構成することにより
、塩９扱いが簡単にして汎用性に優れ、コンノヤクトな
プロセスシ建＾レータを提供することを目的とすゐ。
以下、本発＠ｔ−１ＩｌｌＯ夾膣例を参照して説明する
。
。
１１４１１ａ本発＠〇−実膣例に係るシ建轟し−ジｗ３
’ｊｌｊｌｌｆｔ示し比ｔｏ’ｔ’、’Ｉｕｙｌ”ｔｘ
＊ｘ制Ｈ回路３Ｔｈ６：ｙ”−セス制御信号８を受は取
る一方、！―竜スの状態量を示す信号９を７’Ｅ１七ス
制舞装置為に与える７”ａセスシイ、レータである。
’ｊｌｊｌｌｆｔ示し比ｔｏ’ｔ’、’Ｉｕｙｌ”ｔｘ
＊ｘ制Ｈ回路３Ｔｈ６：ｙ”−セス制御信号８を受は取
る一方、！―竜スの状態量を示す信号９を７’Ｅ１七ス
制舞装置為に与える７”ａセスシイ、レータである。
ζ□ｆ鴛竜スシンａレータ７＃′ｉ、３１５図に示す如
く、主演算制御感層１１１０とデ京セス入出方制−搗履
部１１とコンソール１２とから構成されている。主・演
算制御鵡ｆｆｌ蕩１ｏはグミセス入出カ制−ｍ麿部１１
が被試験システムであるプロセス制御装置３から入力し
たｆ■竜ス制陶信号８を入力としてプロセスの動特性を
演算して、その演算結果をｆロセス入出力制御処１１１
ｍ１１へ出方することと、コンソーｘ１２に対する入力
、出力０制御と、；ンソール１２から入力されたプロセ
スの動轡ａＳ変更指゛示および静特性の変更指示に従り
て、主演算制御ｌＡ１１ｉＢ１Ｇ内のメモリ羨夏と、グ
はセス入出力制御鵡濡部１１内のメ毫り変更を主な機能
として＾る。
く、主演算制御感層１１１０とデ京セス入出方制−搗履
部１１とコンソール１２とから構成されている。主・演
算制御鵡ｆｆｌ蕩１ｏはグミセス入出カ制−ｍ麿部１１
が被試験システムであるプロセス制御装置３から入力し
たｆ■竜ス制陶信号８を入力としてプロセスの動特性を
演算して、その演算結果をｆロセス入出力制御処１１１
ｍ１１へ出方することと、コンソーｘ１２に対する入力
、出力０制御と、；ンソール１２から入力されたプロセ
スの動轡ａＳ変更指゛示および静特性の変更指示に従り
て、主演算制御ｌＡ１１ｉＢ１Ｇ内のメモリ羨夏と、グ
はセス入出力制御鵡濡部１１内のメ毫り変更を主な機能
として＾る。
グロセス入出力制御１％履１１１１は、１１４図に幹け
る被試験システムである７”ａセス制御装置３から出力
されるグ党セス制−信号８を読込んでその信号をディジ
タル数値に変換して、菖５１１ＫＴｈける主演算制御１
４６１０００に対して出力することと、主演算制御処珈
部ｌＯで演算された動特性０ＩｌＥ算結果を入力して被
試験システムであるプロセス制御装置３に必要な信号レ
ベルに変換してｆ■竜スの状態量を示す信号９として７
” ａ ４１ス制舞装置３に対して出力することと、プ
ロセスの静特性を演算し、その演算結果をプロセス制御
装置３に必要な信号レベルに変換してプロセスの状態量
を示す信号９としてプロセス制御装置３に対して出力す
ることを主な機能としてｉる。
る被試験システムである７”ａセス制御装置３から出力
されるグ党セス制−信号８を読込んでその信号をディジ
タル数値に変換して、菖５１１ＫＴｈける主演算制御１
４６１０００に対して出力することと、主演算制御処珈
部ｌＯで演算された動特性０ＩｌＥ算結果を入力して被
試験システムであるプロセス制御装置３に必要な信号レ
ベルに変換してｆ■竜スの状態量を示す信号９として７
” ａ ４１ス制舞装置３に対して出力することと、プ
ロセスの静特性を演算し、その演算結果をプロセス制御
装置３に必要な信号レベルに変換してプロセスの状態量
を示す信号９としてプロセス制御装置３に対して出力す
ることを主な機能としてｉる。
コンソール１２は本発明のプロセスシミａレータ７を使
用して被試験システ＾であるｆ諺セス制御１装置３に一
試験する試験者が必要な時にプロセスの動特性の定数を
変更するための、ある−はプロセスの静特性の定数を変
更する良めのキイーが一ド入力機＃！七、前記試験者が
必１！＆ｌＩｋキイートＰかも指示することによりて、
前記ｆａ七スジ建ａレーメｏｔｑ＊ｏ状纏量を見ること
ができるＬＩＤ表示磯謔を持ってい為。
用して被試験システ＾であるｆ諺セス制御１装置３に一
試験する試験者が必要な時にプロセスの動特性の定数を
変更するための、ある−はプロセスの静特性の定数を変
更する良めのキイーが一ド入力機＃！七、前記試験者が
必１！＆ｌＩｋキイートＰかも指示することによりて、
前記ｆａ七スジ建ａレーメｏｔｑ＊ｏ状纏量を見ること
ができるＬＩＤ表示磯謔を持ってい為。
ｔた、主演算制御ＢＭ場部１Ｇとプロセス入出力制−慇
麿部ｌ！は別々にマイクロデロセッｔｔ−持うでか）、
各々独立して機能する・このむとは、マイクロ；ンビ畠
−メの１４点である演算適度を上け、プロセスの動特性
に忠実な演算を可能にして−る。・］！に、プロセス４
ＤＪＩＩ＆特性および静特性のアｓ、 ｆ ｌ ＪＦム
をメモリに記憶しておき、このメモリ′をカートｖｖシ
カーｙＫ装着して数枚のカートリＶ・シカ−ｒで大きな
ｆ鰭セスＯ動特性および静特性も入力で自るようにして
−る・ 薦６ｍは、第５１の主演算制舞旭履部１Ｇと、ｆロセス
入斑力ｌ１ｌＩｌ搗履１１１１を詳細な機能フロックで
示す図で６り、主演算制舞旭履部Ｊｏｔ；ｔマイ／ ａ
ｆ ａ −ｋ ｙ ｔ １３、ＦＲＯＭ １４、ＲＡ
Ｍ １５４ ：ｚンソールコント■−ラ１６とから構成
される。一方、プロセス入出力制御ｌ＆環部１１は！イ
ク誼１０セｙ ｔｌ ７、ＰＢＯＭ １８、ＲＡＭ １
Ｇとアナ諺ダ入出力制御部２Ｇ、ディジタル入出力制
御ｓ２１とΔルス入出力制軸部２２とから構成される。
麿部ｌ！は別々にマイクロデロセッｔｔ−持うでか）、
各々独立して機能する・このむとは、マイクロ；ンビ畠
−メの１４点である演算適度を上け、プロセスの動特性
に忠実な演算を可能にして−る。・］！に、プロセス４
ＤＪＩＩ＆特性および静特性のアｓ、 ｆ ｌ ＪＦム
をメモリに記憶しておき、このメモリ′をカートｖｖシ
カーｙＫ装着して数枚のカートリＶ・シカ−ｒで大きな
ｆ鰭セスＯ動特性および静特性も入力で自るようにして
−る・ 薦６ｍは、第５１の主演算制舞旭履部１Ｇと、ｆロセス
入斑力ｌ１ｌＩｌ搗履１１１１を詳細な機能フロックで
示す図で６り、主演算制舞旭履部Ｊｏｔ；ｔマイ／ ａ
ｆ ａ −ｋ ｙ ｔ １３、ＦＲＯＭ １４、ＲＡ
Ｍ １５４ ：ｚンソールコント■−ラ１６とから構成
される。一方、プロセス入出力制御ｌ＆環部１１は！イ
ク誼１０セｙ ｔｌ ７、ＰＢＯＭ １８、ＲＡＭ １
Ｇとアナ諺ダ入出力制御部２Ｇ、ディジタル入出力制
御ｓ２１とΔルス入出力制軸部２２とから構成される。
マイクロプロセッサ１３と！イクロデ諺七、す１７は結
合部２３を介してデーＩＯ受授を行−１主演算劃−処ｍ
部ＺｏｏマイクＥ１７”ロセｙ ’？ １３ＦｉＰＩＯ
Ｍ １４と部層１５のメモリを持ち、一方、ゾロ七ス入
出力制御Ｉ６履＠１１０マイク１−セッサ１フ蝶ＰＲＯ
Ｍ １ ｇとＲＡＭ １９のメモリを持つ、仁ＯＦＲＯ
Ｍ １４はプロセスの動特性アルｆリズムを、ＲＡＭ
１５はプロセス０ＩＩｈｌｌ＃性の種々な定数を記憶し
ている。一方、ＰＩＯＭ１８はｆミセスの静特性アルｆ
リズムを、ＲＡＭ １９はプロセスの＃畳性０種種な定
数を記憶している・動特性アルｆｕｍｅｄ＞よび静特性
アルｆリズ７４を記憶しているＦＲＯＭ １４ 。
合部２３を介してデーＩＯ受授を行−１主演算劃−処ｍ
部ＺｏｏマイクＥ１７”ロセｙ ’？ １３ＦｉＰＩＯ
Ｍ １４と部層１５のメモリを持ち、一方、ゾロ七ス入
出力制御Ｉ６履＠１１０マイク１−セッサ１フ蝶ＰＲＯ
Ｍ １ ｇとＲＡＭ １９のメモリを持つ、仁ＯＦＲＯ
Ｍ １４はプロセスの動特性アルｆリズムを、ＲＡＭ
１５はプロセス０ＩＩｈｌｌ＃性の種々な定数を記憶し
ている。一方、ＰＩＯＭ１８はｆミセスの静特性アルｆ
リズムを、ＲＡＭ １９はプロセスの＃畳性０種種な定
数を記憶している・動特性アルｆｕｍｅｄ＞よび静特性
アルｆリズ７４を記憶しているＦＲＯＭ １４ 。
１８はカートリッジカードに装着されてか）、例えば火
力発電とｂう大きなプロセスを？イツ系、タービン系、
発電機系、電気系とに分割して各基に対するカートリ、
シカ−ｒを予め作成しておき−このカートリッジカード
を差替えることにようて任意に且り簡単にｆロ竜スシオ
轟し−メＯモデルｔｍ替えることができ、しか賜この簡
単な操作にようてｆロセスシ電ル−タとしてのモデル範
囲を大暑（拡張することができる。一方、動特性７ｋｆ
＊Ｊｅムと静特性アルｆリズムとの種々な定数を記憶し
て−るメ毫りはＲＡＭ １５とＲＡＭ １９であ）、こ
れｂｏ記憶内容はコンソールコントローラを介してコン
ソール１２上のキイー一−ドから入力することによりて
簡単に書き替えることができ、自由自在に動特性および
静特性を変更することがで自る・このようにして、プ■
セスシミ凰レータに汎用性を持たせてｖｈ ｈ ＠ このよｊ Ｋ ｓ本実１例ではマイクロ７”ｏ−にツサ
を眉−ることによル、従来のアナログ式計算機によるプ
ロセスシ建轟し−Ｉの欠点でめるシ々轟レージ、ン槽度
の問題と静特性シＪｓ、レータの手動設定の問題とを解
決し、更にハイブリ、Ｐ大針算機によるプロセスシ電ａ
レータの欠点である汎用性の問題と建二コンビ為−タに
よるｆｃＩセスシ建轟レータの欠点である運搬性の問題
とを解決した。
力発電とｂう大きなプロセスを？イツ系、タービン系、
発電機系、電気系とに分割して各基に対するカートリ、
シカ−ｒを予め作成しておき−このカートリッジカード
を差替えることにようて任意に且り簡単にｆロ竜スシオ
轟し−メＯモデルｔｍ替えることができ、しか賜この簡
単な操作にようてｆロセスシ電ル−タとしてのモデル範
囲を大暑（拡張することができる。一方、動特性７ｋｆ
＊Ｊｅムと静特性アルｆリズムとの種々な定数を記憶し
て−るメ毫りはＲＡＭ １５とＲＡＭ １９であ）、こ
れｂｏ記憶内容はコンソールコントローラを介してコン
ソール１２上のキイー一−ドから入力することによりて
簡単に書き替えることができ、自由自在に動特性および
静特性を変更することがで自る・このようにして、プ■
セスシミ凰レータに汎用性を持たせてｖｈ ｈ ＠ このよｊ Ｋ ｓ本実１例ではマイクロ７”ｏ−にツサ
を眉−ることによル、従来のアナログ式計算機によるプ
ロセスシ建轟し−Ｉの欠点でめるシ々轟レージ、ン槽度
の問題と静特性シＪｓ、レータの手動設定の問題とを解
決し、更にハイブリ、Ｐ大針算機によるプロセスシ電ａ
レータの欠点である汎用性の問題と建二コンビ為−タに
よるｆｃＩセスシ建轟レータの欠点である運搬性の問題
とを解決した。
まえ、マイクロプロセッサの致命的な欠点であるメモリ
サイズの問題を、プロセスの動特性および静特性を記憶
しているメモリをカートリッジ化し、これを差替えるこ
とによって解決しえ、ζＯ結果、簡単且つ自由自在にプ
ロセスのシミ轟し−ジ、ン範囲が拡大可能となった・ 災に、このようにサイトにおけるｆロセス制脚装置の年
次点検時および機能改造時に４１性試験および機能試験
を容品ならしめ、その結果としてデμセス制御装置Ｏ保
全性と信頼性の向上に大音〈貢献することができるよ５
になりた。
サイズの問題を、プロセスの動特性および静特性を記憶
しているメモリをカートリッジ化し、これを差替えるこ
とによって解決しえ、ζＯ結果、簡単且つ自由自在にプ
ロセスのシミ轟し−ジ、ン範囲が拡大可能となった・ 災に、このようにサイトにおけるｆロセス制脚装置の年
次点検時および機能改造時に４１性試験および機能試験
を容品ならしめ、その結果としてデμセス制御装置Ｏ保
全性と信頼性の向上に大音〈貢献することができるよ５
になりた。
以上のように、本発ｆｌＪＫよ九ば、マイク關デνセ、
すを用いるようにし九ので、シｔＪＬレージ。
すを用いるようにし九ので、シｔＪＬレージ。
ン精度が嵐い上、コン／４クトＫ１１１成できると同時
に、メ毫りをカートリ、ジ化し、これを差替えるように
したので、各種シミ為し−ジ、ンが可能となル、取ル１
ＩＩｋいが簡単にして汎用性に優れたプロセスクレータ
ータが得られるようになる。
に、メ毫りをカートリ、ジ化し、これを差替えるように
したので、各種シミ為し−ジ、ンが可能となル、取ル１
ＩＩｋいが簡単にして汎用性に優れたプロセスクレータ
ータが得られるようになる。
纂１図、ｌＥＺ崗、纂３図は従来の各グ闘セスシミ、レ
ージ、ン回路の説明図、ＩＩ４ｉ１ｇｌは本脅−０−実
施例に係るシミ凰レージ、ン回路図、＃Ｅ５ｍａｔｉｇ
４ｍのプロセスシ建轟し−タＯ概略機能ツ四、り図、纂
６図は第４崗のプ薗セスシ電凰レータの詳細機能ツーツ
ク図てあゐ。 １・・・アナログ式計算機、２−１１１Ｔｏ形静特性シ
電＆Ｉ／−タ、３−ｆ ａ −ｋ Ｊ％制御ｌｊ［１置
、４−ハイツリ、ド式計算機、５−ｔニコンピ島−メ、
６−インタフェース、 ７ ｓｅｗプロセスシζ島レー
タ、ｇ−７９０セス制御信号、９・・・プロセスの状態
量を示す信号、ｌＯ・・・主演算制御ＩＩ＆通部％１１
””プロセス入出力制御廻理部、１２・・・コンソール
、１３．１７・・・マイクロプロセッサ、１４１１８・
・・ＰＢＯＭ、 １５゜１９・・・シＬＭＳ１６−・・
コンソール３ントローラ、２０・・・アナログ入出力制
御部、２１ ”’デイジメル入出力制御部％２２””）
母ルス入出力制ＮＩＬｚ３・・・結合部。 （７３１７）代麩弁理士 則近憲佑 （はか１名） 第１図 第２図 第３図 第４図
ージ、ン回路の説明図、ＩＩ４ｉ１ｇｌは本脅−０−実
施例に係るシミ凰レージ、ン回路図、＃Ｅ５ｍａｔｉｇ
４ｍのプロセスシ建轟し−タＯ概略機能ツ四、り図、纂
６図は第４崗のプ薗セスシ電凰レータの詳細機能ツーツ
ク図てあゐ。 １・・・アナログ式計算機、２−１１１Ｔｏ形静特性シ
電＆Ｉ／−タ、３−ｆ ａ −ｋ Ｊ％制御ｌｊ［１置
、４−ハイツリ、ド式計算機、５−ｔニコンピ島−メ、
６−インタフェース、 ７ ｓｅｗプロセスシζ島レー
タ、ｇ−７９０セス制御信号、９・・・プロセスの状態
量を示す信号、ｌＯ・・・主演算制御ＩＩ＆通部％１１
””プロセス入出力制御廻理部、１２・・・コンソール
、１３．１７・・・マイクロプロセッサ、１４１１８・
・・ＰＢＯＭ、 １５゜１９・・・シＬＭＳ１６−・・
コンソール３ントローラ、２０・・・アナログ入出力制
御部、２１ ”’デイジメル入出力制御部％２２””）
母ルス入出力制ＮＩＬｚ３・・・結合部。 （７３１７）代麩弁理士 則近憲佑 （はか１名） 第１図 第２図 第３図 第４図
Claims (1)
- 被試験システムにプロセスＯ模擬信号を与えるプロ七ス
ジ電轟レータにお−て、必要なプロセスの静特性および
動特性が記憶されて−るカートリ、ジ弐メモリと、前記
静特性および動特性の各定数を入力するコンソールと、
前記動特性を演算し且つ前記コンソールを制御するマイ
クロコンビ１−タ構成の主演算制御処履部と、前記静特
性を演算し且つ７”ａセス信号を入出力するマイクロコ
ンビ、−夕構成の入出力制御処理部とを備えて成るＣト
ｔ４１１１とするグロセスシ建、レータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15209381A JPS5853716A (ja) | 1981-09-28 | 1981-09-28 | プロセスシユミレ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15209381A JPS5853716A (ja) | 1981-09-28 | 1981-09-28 | プロセスシユミレ−タ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5853716A true JPS5853716A (ja) | 1983-03-30 |
Family
ID=15532887
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15209381A Pending JPS5853716A (ja) | 1981-09-28 | 1981-09-28 | プロセスシユミレ−タ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5853716A (ja) |
-
1981
- 1981-09-28 JP JP15209381A patent/JPS5853716A/ja active Pending
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