JPS5857823A - 集積回路の入力保護回路 - Google Patents
集積回路の入力保護回路Info
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- JPS5857823A JPS5857823A JP56157263A JP15726381A JPS5857823A JP S5857823 A JPS5857823 A JP S5857823A JP 56157263 A JP56157263 A JP 56157263A JP 15726381 A JP15726381 A JP 15726381A JP S5857823 A JPS5857823 A JP S5857823A
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- Japan
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- voltage
- circuit
- input
- integrated circuit
- gate
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
- H03K19/00315—Modifications for increasing the reliability for protection in field-effect transistor circuits
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Mathematical Physics (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は半導体集積回路の入力端子に加わる高電5°
圧に対する保護回路に関するものである。
圧に対する保護回路に関するものである。
従来半導体集積回路の入力端子には例えば第1図に示す
ような静電破壊に対する入力保護回路が設けられていた
。
ような静電破壊に対する入力保護回路が設けられていた
。
図において(P+) (Ps)はそれぞれ入出力端子で
あCP@)と被保護集積回路内部の入力線(&1の間に
挿入される入力保護回路を形成する。(Q・1)は(P
l)に接続された出力トランジスタ、(AIは(Q−の
ゲートを駆動する出力信号線b (RLl)け(Q@
1)に接続される外付狛荷抵抗で、ある。
あCP@)と被保護集積回路内部の入力線(&1の間に
挿入される入力保護回路を形成する。(Q・1)は(P
l)に接続された出力トランジスタ、(AIは(Q−の
ゲートを駆動する出力信号線b (RLl)け(Q@
1)に接続される外付狛荷抵抗で、ある。
(QoXQnXRo)(Rn)αm、χQ@I)から成
る回路×1と同様な回路×曾が(Q*tXQttXRs
+XR55)ej−(Qov)により構成されている。
る回路×1と同様な回路×曾が(Q*tXQttXRs
+XR55)ej−(Qov)により構成されている。
(bl fBI CRx、@)は回路×1に対する入力
線、出力信号線、外付曾荷抵抗である。
線、出力信号線、外付曾荷抵抗である。
第2図は第1図の回路を集積[l1111路上で実現し
たパターンの例を示す。(Xθ’1(XI)けそれぞれ
CP+) (Ps)に対する入力保護回路、出力トラン
ジスタをまとめたブロックで、そこからは第1図に対応
して入力線11LI fbl、出力練込1(B)、及び
接地線(Vs+s+)が引き出されている。(VDD)
は被保護集積回路の電源線である。□図で黒塗りは拡散
による配線、斜線はアルミ配線とする。
たパターンの例を示す。(Xθ’1(XI)けそれぞれ
CP+) (Ps)に対する入力保護回路、出力トラン
ジスタをまとめたブロックで、そこからは第1図に対応
して入力線11LI fbl、出力練込1(B)、及び
接地線(Vs+s+)が引き出されている。(VDD)
は被保護集積回路の電源線である。□図で黒塗りは拡散
による配線、斜線はアルミ配線とする。
この入力保護回路は高VTT1(ランジスタ(Qtl)
*(Qs+)が導通するまで機能せず、その電′圧は数
十7以上であるので1通常、9荷抵抗(RLt) (R
Lt)が接続されている電源(Vp )の電圧はそのま
ま内部の入力線1al 、 fl)lに加わる。
*(Qs+)が導通するまで機能せず、その電′圧は数
十7以上であるので1通常、9荷抵抗(RLt) (R
Lt)が接続されている電源(Vp )の電圧はそのま
ま内部の入力線1al 、 fl)lに加わる。
従来の回路は以上のように構成されているので、電源(
Vp )の電圧が被保護回路の電源(VDD)の電圧(
107程度]より著しく高い場合(40V程変)には、
入力線(al (telの配線には高層“圧に対する特
別の配慮をせねばならず、バンチスルーや絶縁破壊によ
る短絡から逃れるため、一般には第2図のように、配線
(at (E間の間隔(W9)は通常の配線の間隔(W
z)よりかなり広くする必要があり、集積回路のチッ
プ面積縮小の障害となっていた。
Vp )の電圧が被保護回路の電源(VDD)の電圧(
107程度]より著しく高い場合(40V程変)には、
入力線(al (telの配線には高層“圧に対する特
別の配慮をせねばならず、バンチスルーや絶縁破壊によ
る短絡から逃れるため、一般には第2図のように、配線
(at (E間の間隔(W9)は通常の配線の間隔(W
z)よりかなり広くする必要があり、集積回路のチッ
プ面積縮小の障害となっていた。
この発明は上記のような従来の欠点−をなくすためのも
ので、入力端子に被保護集積回路の電源電圧以上の電圧
が加わった場合に、内部の配線にはほぼ電源電圧以上の
電圧が加わらないようにすることにより、チップ面積の
縮小を図るものである。
ので、入力端子に被保護集積回路の電源電圧以上の電圧
が加わった場合に、内部の配線にはほぼ電源電圧以上の
電圧が加わらないようにすることにより、チップ面積の
縮小を図るものである。
第3図にこの発明の一実施例を示す。この回路は牙1図
の回路に加えてゲートに電源電゛圧(VDD)を印加し
たMO8形高耐°圧トランジスタ(Q+a)(Qts)
を設けたものである。このトランジスタを付加したため
、入力@ (JLI (111のイ王けもはや被保護回
路の電源電゛圧(VDり)より高くけならない。
の回路に加えてゲートに電源電゛圧(VDD)を印加し
たMO8形高耐°圧トランジスタ(Q+a)(Qts)
を設けたものである。このトランジスタを付加したため
、入力@ (JLI (111のイ王けもはや被保護回
路の電源電゛圧(VDり)より高くけならない。
オ番図は第8図回路のパターン図である。集積回路の牛
ツブ周辺には、電源が太いアルミ配線で走っていること
が多く、(Q+s) (’Qvs)はそのアルミ配−〇
下に埋め込まれており、何ら余分な面積を必要としない
。しかも入力線(al (1)l Fi他の配線と同様
に扱えるので、配線間隔はすべて(L)で良いことにな
り、チップ面積の縮小に寄与する。
ツブ周辺には、電源が太いアルミ配線で走っていること
が多く、(Q+s) (’Qvs)はそのアルミ配−〇
下に埋め込まれており、何ら余分な面積を必要としない
。しかも入力線(al (1)l Fi他の配線と同様
に扱えるので、配線間隔はすべて(L)で良いことにな
り、チップ面積の縮小に寄与する。
電圧を制限する原理を第5図、第6図に示す。
図において(Qm)け第3図の(Qss)(Qmに相当
する高耐゛圧トランジスタで、(VI)は入力端子(p
+)(P鵞)に加わる電′圧、(v・)は入力配線[j
Ll (blに伝わる電圧に対応する。
する高耐゛圧トランジスタで、(VI)は入力端子(p
+)(P鵞)に加わる電′圧、(v・)は入力配線[j
Ll (blに伝わる電圧に対応する。
(QA)のスレッショルド電゛圧をv?■とすると、(
VI)73! ovカG) (VDD −Vya) ノ
KKToル時ti Qsけ導通状態にあり、(v・)は
(Vz)に等しい。しカL (VX)y3f (VDI
) −’VT!りを超L ;b ト(CLs) if
非’11通状IIKなる。現実には曳れ電′流等により
、(V・)は(すD−VTII)に保たれる。この(V
I)と(V・)との関係を表わしたのが第6図である。
VI)73! ovカG) (VDD −Vya) ノ
KKToル時ti Qsけ導通状態にあり、(v・)は
(Vz)に等しい。しカL (VX)y3f (VDI
) −’VT!りを超L ;b ト(CLs) if
非’11通状IIKなる。現実には曳れ電′流等により
、(V・)は(すD−VTII)に保たれる。この(V
I)と(V・)との関係を表わしたのが第6図である。
以上の例で1iQsはエンハンスメントトランジスタで
あるが、回路構成上、入力層゛圧が電源電圧よりVTI
[だけ下がることが不都合な場合はへにデプレッション
トランジスタを使うことも可′能である。この場合、ス
レッショルド電EE(V?Ift)け(VTH)と逆符
号となり、牙7図に示すように(vo)け(VDD)よ
り高くなるが、その値はわずかであり、高電圧に対する
配慮は不要で、前述の例と同じ効果が得られる。
あるが、回路構成上、入力層゛圧が電源電圧よりVTI
[だけ下がることが不都合な場合はへにデプレッション
トランジスタを使うことも可′能である。この場合、ス
レッショルド電EE(V?Ift)け(VTH)と逆符
号となり、牙7図に示すように(vo)け(VDD)よ
り高くなるが、その値はわずかであり、高電圧に対する
配慮は不要で、前述の例と同じ効果が得られる。
以上のように、この発明によれば被保護集積回路の入力
端子に加わる高層′圧を、チップ周辺で所定の電′圧以
下に抑えることができ、チップ中心部につながる配線を
最小寸法でパターン設計することが可能となるのでチッ
プ面積が縮小でき、チップが安価となる。
端子に加わる高層′圧を、チップ周辺で所定の電′圧以
下に抑えることができ、チップ中心部につながる配線を
最小寸法でパターン設計することが可能となるのでチッ
プ面積が縮小でき、チップが安価となる。
第1図は従来の入力保護回路を示す回路図、第8図は第
1図の回路を集積回路上で実現したパターンレイアクト
図である。 第8図はこの発明の一実施例による入力保護回路を示す
回路図、オ番図は第3図回路のパターンレイアクト図、
オ6図〜オフ図は第3図回路の動゛作説明図である。(
Qu)(Qt@)はMO8O8耐高耐圧トランジスタP
+)(1’s)は入力端子を示す。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 葛 野 信 − 第71図 第!′1図 1 第7図
1図の回路を集積回路上で実現したパターンレイアクト
図である。 第8図はこの発明の一実施例による入力保護回路を示す
回路図、オ番図は第3図回路のパターンレイアクト図、
オ6図〜オフ図は第3図回路の動゛作説明図である。(
Qu)(Qt@)はMO8O8耐高耐圧トランジスタP
+)(1’s)は入力端子を示す。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 葛 野 信 − 第71図 第!′1図 1 第7図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 111 被保護集積回路とこの回路に対する入力端子
との間、にゲート電極に所定電圧が印加された絶縁ゲー
ト形トランジスタを直列接続し、このトランジスタによ
り上記入力端子から被保護集積回路に印加される電゛圧
を制限するようにした集積回路の入力保護回路。 ft+ 所定電子が被保護集積回路の電源電圧である
特許請求の範囲オ1項記載の集積回路の入力保護回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56157263A JPS5857823A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | 集積回路の入力保護回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56157263A JPS5857823A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | 集積回路の入力保護回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5857823A true JPS5857823A (ja) | 1983-04-06 |
Family
ID=15645825
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56157263A Pending JPS5857823A (ja) | 1981-10-01 | 1981-10-01 | 集積回路の入力保護回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5857823A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62195923A (ja) * | 1986-02-24 | 1987-08-29 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
| CN103713678A (zh) * | 2012-09-28 | 2014-04-09 | 富士通半导体股份有限公司 | 保护电路、接口电路及通信系统 |
-
1981
- 1981-10-01 JP JP56157263A patent/JPS5857823A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62195923A (ja) * | 1986-02-24 | 1987-08-29 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
| CN103713678A (zh) * | 2012-09-28 | 2014-04-09 | 富士通半导体股份有限公司 | 保护电路、接口电路及通信系统 |
| CN103713678B (zh) * | 2012-09-28 | 2016-04-27 | 株式会社索思未来 | 保护电路、接口电路及通信系统 |
| US9520708B2 (en) | 2012-09-28 | 2016-12-13 | Socionext Inc. | Protection circuit, interface circuit, and communication system |
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