JPS5877326A - Fetドライバ回路 - Google Patents
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- JPS5877326A JPS5877326A JP57176502A JP17650282A JPS5877326A JP S5877326 A JPS5877326 A JP S5877326A JP 57176502 A JP57176502 A JP 57176502A JP 17650282 A JP17650282 A JP 17650282A JP S5877326 A JPS5877326 A JP S5877326A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 2
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 2
- 230000021715 photosynthesis, light harvesting Effects 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/24—Memory cell safety or protection circuits, e.g. arrangements for preventing inadvertent reading or writing; Status cells; Test cells
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/081—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/0812—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit
- H03K17/08122—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit in field-effect transistor switches
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- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/01—Modifications for accelerating switching
- H03K19/017—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
- H03K19/01707—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits
- H03K19/01721—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits by means of a pull-up or down element
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は半導体回路、特にFETドライバ回路の改良
に関する。
に関する。
第1図に、従来の2イン・ドライバ回路が示されている
。このライン・ドライバは、データ入力信号をその極性
を変えることはなく入力端のインバータ1からドライバ
出力端へ転送するものである。インバーターの出力は、
能動FET装置4のゲごトとインバータ2の入力とに加
えられる。インバータ2の出力は負荷FET装置3のゲ
ートに加えられる。能動、FET装置4は比較的低い導
通抵控R′を有し、負荷FET装置3は比較的低い導通
抵抗Rjを有する。この第1図に示す従来のライン・ド
ライバ回路が2進値の′″1”の状態にあって、データ
入力とデータ出力が相対的に高いレベルの方の2進値信
号にあるとき、このライン・ドライバ回路は出力端の偶
発的な接地によシ不注意に破壊されることがある。これ
は過大な電流が、比較的に低い抵抗R8を有する負荷装
置3を通ってドレイン電位■DDから出力端へ流れるか
らである。短絡電流の大きさは、負荷装置3の抵抗R6
を大、きくすることにより小さくすることができる。し
かしながらこれは負荷装置6を流れる信号電流が出力容
量Cを充電しなければなut らないため、通常の動作の場合に低レベルから高レベル
に移る際、出力信号の立上少時間特性を非常に悪くする
。
。このライン・ドライバは、データ入力信号をその極性
を変えることはなく入力端のインバータ1からドライバ
出力端へ転送するものである。インバーターの出力は、
能動FET装置4のゲごトとインバータ2の入力とに加
えられる。インバータ2の出力は負荷FET装置3のゲ
ートに加えられる。能動、FET装置4は比較的低い導
通抵控R′を有し、負荷FET装置3は比較的低い導通
抵抗Rjを有する。この第1図に示す従来のライン・ド
ライバ回路が2進値の′″1”の状態にあって、データ
入力とデータ出力が相対的に高いレベルの方の2進値信
号にあるとき、このライン・ドライバ回路は出力端の偶
発的な接地によシ不注意に破壊されることがある。これ
は過大な電流が、比較的に低い抵抗R8を有する負荷装
置3を通ってドレイン電位■DDから出力端へ流れるか
らである。短絡電流の大きさは、負荷装置3の抵抗R6
を大、きくすることにより小さくすることができる。し
かしながらこれは負荷装置6を流れる信号電流が出力容
量Cを充電しなければなut らないため、通常の動作の場合に低レベルから高レベル
に移る際、出力信号の立上少時間特性を非常に悪くする
。
したがって、この発明の一つの目的は改良されたFET
ドライバ回路を提供することである。
ドライバ回路を提供することである。
この発明の他の目的は、出力端が接地電位に短絡されて
も破埼されることのないFETドライバ回路を提供する
ことである。
も破埼されることのないFETドライバ回路を提供する
ことである。
この発明の更に他の目的は、出力端が接地電位に短絡さ
れても破壊されることがなく、シかも、高速の回路スイ
ッチング特性を与えるFETドライバ回路を提供するこ
とである。
れても破壊されることがなく、シかも、高速の回路スイ
ッチング特性を与えるFETドライバ回路を提供するこ
とである。
この発明の更に他の目的は、接地電位又はドレイン電位
に短絡されても破壊されることのないFETドライバ回
路を提供することである。
に短絡されても破壊されることのないFETドライバ回
路を提供することである。
この発明のこれらの目的や他の目的、特徴及び効果は、
ここに、開示される高速FETドライバ回路により達成
される。ここに開示されるFET−ドライバ回路はその
性能を悪化することなく短絡に対しての保護を与える。
ここに、開示される高速FETドライバ回路により達成
される。ここに開示されるFET−ドライバ回路はその
性能を悪化することなく短絡に対しての保護を与える。
接地電位への短絡に対しての保護は、出力端の負荷抵抗
を分割して2つの平行な構成部分、低抵抗の第1負荷F
ET装置と高抵抗の第2負荷FET装置に分けることに
よシ行なわれている。遅延素子がデータ入力と低抵抗の
第1負荷FET装置との間に介挿される。データ入力信
号が低ち場合、両方の第1、箒2負荷FET装置は遮断
状態にあり、能動論理FET装置は導通状態にあって回
路に低い出力値を発生している。回路へのデータ入力信
号が高くなる時、出力容量は初めは高抵抗の第2負荷F
ET装置によシ充電され、短一時間の遅れの後、低抵抗
の第1負荷FET装置を通じて充電される。低抵抗の第
1負荷FET装置は所定時間後に自動的に電流の流れを
遮断する。この所定時間の長さは回路の所望の立上り時
間と等しいか、あるいは、それよシ大きい様に設計され
ておシ、更に、もし出力端が接地電位に短絡された時に
低抵抗の第1負荷FET装置が破壊されるのに要する時
間よシ短く設計されている。従って、もし回路の出力が
誤まって接地に短絡されても、回路は保護される。なぜ
ならば、低抵抗の第1負荷FET装置の短い導通時間は
電力消費を破壊レベル以下に抑え1.更に、高抵抗の第
2負荷FET装置中の短絡電流は問題を生ずる程大きく
ならかへ以下、図面を参照してこの発明の実施例を詳細
に説明する。
を分割して2つの平行な構成部分、低抵抗の第1負荷F
ET装置と高抵抗の第2負荷FET装置に分けることに
よシ行なわれている。遅延素子がデータ入力と低抵抗の
第1負荷FET装置との間に介挿される。データ入力信
号が低ち場合、両方の第1、箒2負荷FET装置は遮断
状態にあり、能動論理FET装置は導通状態にあって回
路に低い出力値を発生している。回路へのデータ入力信
号が高くなる時、出力容量は初めは高抵抗の第2負荷F
ET装置によシ充電され、短一時間の遅れの後、低抵抗
の第1負荷FET装置を通じて充電される。低抵抗の第
1負荷FET装置は所定時間後に自動的に電流の流れを
遮断する。この所定時間の長さは回路の所望の立上り時
間と等しいか、あるいは、それよシ大きい様に設計され
ておシ、更に、もし出力端が接地電位に短絡された時に
低抵抗の第1負荷FET装置が破壊されるのに要する時
間よシ短く設計されている。従って、もし回路の出力が
誤まって接地に短絡されても、回路は保護される。なぜ
ならば、低抵抗の第1負荷FET装置の短い導通時間は
電力消費を破壊レベル以下に抑え1.更に、高抵抗の第
2負荷FET装置中の短絡電流は問題を生ずる程大きく
ならかへ以下、図面を参照してこの発明の実施例を詳細
に説明する。
第2図はこの発明の一実施例を示すものである。
第1因の従来のドライバ回路の負荷装置30機能は、2
つの負荷装置、比較的低い導通抵抗R’に有する第1負
荷FET装置5と比較的高い導通抵抗R6を有する第2
負荷F、ET装置6、に分割される。
つの負荷装置、比較的低い導通抵抗R’に有する第1負
荷FET装置5と比較的高い導通抵抗R6を有する第2
負荷F、ET装置6、に分割される。
出力が正に変位する間、大きな充電電流を供給する為に
、両方の負荷装置5と6は導通状態になる。
、両方の負荷装置5と6は導通状態になる。
これは出力信号に速い立上り時間を与える。しかし、所
定の遅延時間の後に低抵抗負荷装置5は遮断されて出力
信号の正の2進値は負荷装置6によシ維持される。もし
、出力端が試験中又は他の状況下で不注意に接地された
場合、装置5は保護される。なぜならば、装置5の短い
導通時間は大きな短絡電流の持続時間を制限し、装置5
内のエネルギ散逸を破壊レベル以下に制限するからであ
る。
定の遅延時間の後に低抵抗負荷装置5は遮断されて出力
信号の正の2進値は負荷装置6によシ維持される。もし
、出力端が試験中又は他の状況下で不注意に接地された
場合、装置5は保護される。なぜならば、装置5の短い
導通時間は大きな短絡電流の持続時間を制限し、装置5
内のエネルギ散逸を破壊レベル以下に制限するからであ
る。
また、負荷装置6の比較的高い抵抗Rは許容できない程
度の大きさの短絡電流が装置6を通ってドレイン電位v
DDから出力端に流れることを防ぐ。
度の大きさの短絡電流が装置6を通ってドレイン電位v
DDから出力端に流れることを防ぐ。
郷2図の回路は更にFET装置8、FET装置9及び遅
延コンデンサCDから遅延回路Eを有する。FET装置
8、と9は通常の能動、負荷非反転バッファの様に連結
されていて、その出力は遅延コンデンサCDとNOR回
路10の第1人力に接続されている。能1負荷FET装
置8のゲートはデータ入力端に接続されている。データ
入力端はまたインバータ11の入力に接続されている。
延コンデンサCDから遅延回路Eを有する。FET装置
8、と9は通常の能動、負荷非反転バッファの様に連結
されていて、その出力は遅延コンデンサCDとNOR回
路10の第1人力に接続されている。能1負荷FET装
置8のゲートはデータ入力端に接続されている。データ
入力端はまたインバータ11の入力に接続されている。
インバータ11の出力は、能動装置7のゲートに接続さ
れ、また、能動装置9のゲートに接続され、更に、NO
R回路10の第2人力に接続されている。NOR回路1
0の出力は低抵抗第1負荷FET装置5のゲート’を駆
動する。これら遅延回路Eと、NOR障路1Oはスイッ
チング手段12″ft:構成している。データ入力端が
2進値の0″または低電圧の信号値にある時、第2負荷
装置6が遮断されており、第1負荷装置5も遮断されて
おシ、そして能動装置7が導通状態にあシ、これによシ
出力端に接地電位又は2進値゛01の出力を供給してい
る。これは以下の様に達成される。インバータ11は、
たとえば米国特許第3775695号の第1図に示され
るような高速回路である。データ入力信号の低い値は、
高速インバータ11で反転され、正電位となって装置7
のゲートに印加され、装置7を導通状態に維持する。デ
ータ入力信号の低い竺は、また、負荷装置6のゲートに
加えられてこれを遮断状態に保つ。データ入力信号の低
い値は、更に、遅延回路Eの負荷装置8のゲートに加え
られてこれを遮断状態に保つ。同時に、インバータ11
からの比較的高い電圧値が能動装置9のゲートに加えら
れてこれを導通状態に保ち、そしてNOR回路10の第
1人力に接地電位を加える。インバータ11の比較、的
高い出力電圧がN’OR回路10の第2人力に加えられ
ているため、NOR回路10の出力は比較的低い2進値
−0″の電圧にあり、第1負荷FET装置5のゲートに
加えられてそれを遮断状態に維持する。
れ、また、能動装置9のゲートに接続され、更に、NO
R回路10の第2人力に接続されている。NOR回路1
0の出力は低抵抗第1負荷FET装置5のゲート’を駆
動する。これら遅延回路Eと、NOR障路1Oはスイッ
チング手段12″ft:構成している。データ入力端が
2進値の0″または低電圧の信号値にある時、第2負荷
装置6が遮断されており、第1負荷装置5も遮断されて
おシ、そして能動装置7が導通状態にあシ、これによシ
出力端に接地電位又は2進値゛01の出力を供給してい
る。これは以下の様に達成される。インバータ11は、
たとえば米国特許第3775695号の第1図に示され
るような高速回路である。データ入力信号の低い値は、
高速インバータ11で反転され、正電位となって装置7
のゲートに印加され、装置7を導通状態に維持する。デ
ータ入力信号の低い竺は、また、負荷装置6のゲートに
加えられてこれを遮断状態に保つ。データ入力信号の低
い値は、更に、遅延回路Eの負荷装置8のゲートに加え
られてこれを遮断状態に保つ。同時に、インバータ11
からの比較的高い電圧値が能動装置9のゲートに加えら
れてこれを導通状態に保ち、そしてNOR回路10の第
1人力に接地電位を加える。インバータ11の比較、的
高い出力電圧がN’OR回路10の第2人力に加えられ
ているため、NOR回路10の出力は比較的低い2進値
−0″の電圧にあり、第1負荷FET装置5のゲートに
加えられてそれを遮断状態に維持する。
データ入力信号が2進値′″0″から2進値@1 ″ま
たは高い状態に移る時、次の様な動作が生ずる。
たは高い状態に移る時、次の様な動作が生ずる。
正の方向へ変化する入力信号は直接に第2負荷FET装
置6のゲートに加えられ、それを導通状態にする。正の
方向へ変化する入力信号は、また、高速インバータ11
によシ反転されてこの結饗生ずる負の方向へ変化する信
号は能動FET装置7のゲートに加えられてそれを遮断
する。インバータ11から出力される信号の速い負方向
への変化はNOR回路10の第2人力に加えられる。N
。
置6のゲートに加えられ、それを導通状態にする。正の
方向へ変化する入力信号は、また、高速インバータ11
によシ反転されてこの結饗生ずる負の方向へ変化する信
号は能動FET装置7のゲートに加えられてそれを遮断
する。インバータ11から出力される信号の速い負方向
への変化はNOR回路10の第2人力に加えられる。N
。
R回路10は米国特許第3775693号の第1a図に
示されるような高速回路であり、このため素早く正方向
に変化する信号を作・うて低抵抗第1負荷FET装置5
のゲートに加え、これを導通状態にする。ドレイン電位
vDDからの電流は素早く低抵抗第1負荷FET装置5
を通ってドライバ回路の出力端へ流れて出力容量Cを充
電し、ut これにより出力信号の速い立上り時間変化を達成する。
示されるような高速回路であり、このため素早く正方向
に変化する信号を作・うて低抵抗第1負荷FET装置5
のゲートに加え、これを導通状態にする。ドレイン電位
vDDからの電流は素早く低抵抗第1負荷FET装置5
を通ってドライバ回路の出力端へ流れて出力容量Cを充
電し、ut これにより出力信号の速い立上り時間変化を達成する。
この間、インバータ11から出力される負方向へ変化す
る信号は、また、遅延回路Eの能動FET装置9のゲー
トに加えられる。装置8が導通状態にあシ、装置9が遮
断状態にあるため、遅延コンデンサCDは今、装置8を
介してドレイン電位vDDから充電が行なわれている。
る信号は、また、遅延回路Eの能動FET装置9のゲー
トに加えられる。装置8が導通状態にあシ、装置9が遮
断状態にあるため、遅延コンデンサCDは今、装置8を
介してドレイン電位vDDから充電が行なわれている。
所定時間後、FET装置8のソースに接続されているN
OR回路10の第1人力の電位は正になり、NOR回路
10から遅延して負方向へ変化する信号が出力されてF
ET装置5のゲートに加えられる。これにより、低抵抗
第1負荷FET装置5を遮断する。
OR回路10の第1人力の電位は正になり、NOR回路
10から遅延して負方向へ変化する信号が出力されてF
ET装置5のゲートに加えられる。これにより、低抵抗
第1負荷FET装置5を遮断する。
ドライバ回路の出力端に正の出力信号が出力される場合
の安定した状態においては、低抵抗第1負荷FET装置
5が遮断され、高抵抗第2負荷FET装置6が導通され
ている。この正の出力条件での安定した状態において、
もしドライバ回路の出力端が不注意に接地電位に短絡さ
れると、第2負荷FET装置6の高抵抗R6が、損傷を
生ずるような短絡電流が装置6を介してvDDから出力
端子10へ流れることを防止する。なお、装置5は導通
時間が短かくて装置5内で6エネルギ散逸が安全なレベ
ルに制限されるため破壊から保護される。
の安定した状態においては、低抵抗第1負荷FET装置
5が遮断され、高抵抗第2負荷FET装置6が導通され
ている。この正の出力条件での安定した状態において、
もしドライバ回路の出力端が不注意に接地電位に短絡さ
れると、第2負荷FET装置6の高抵抗R6が、損傷を
生ずるような短絡電流が装置6を介してvDDから出力
端子10へ流れることを防止する。なお、装置5は導通
時間が短かくて装置5内で6エネルギ散逸が安全なレベ
ルに制限されるため破壊から保護される。
第3図には、第2図のドライバ回路の通常の状況下にお
けるライン・ドライバ波形が示されている。9個の波形
が対応する第2図中の電圧記号または電流記号と同一記
号により示されている。データ入力信号の波形は正方向
の変化Aを形成し、直ちに第2負荷FET装置6を導通
状態にして電流波形IR6のEに示されるような小さな
l、流を流す。この電流はFET装置7を通って電流波
彫工R7のHに示すように流されるため、出力電圧V
は上昇しない。単位遅延時間の後、V2ut はBに示すように小さくなり、FET装置7を遮断し、
そして、出力端電圧V はFに示されouす るように緩く上昇しはじめる。更に単位遅延時間の後、
電位v6が上昇し、第1負荷FET装置5が導通状態、
になり、電流波形lR5のJ及び電流波形■ ゛ の
Kに示すように大きな充電電流がOu を 出力容量Cに流れ込むことができるようにut する。これは、出力電圧V をGに示すようut に急激に上昇させてLに示すようなドレイン電位vDD
まで到達させる。この時点で、全ての出力電流工
は零になる。また、この時点あるいut は少し後で、遅延電圧V、が0点に示すように上昇しミ
電圧V を1ゲ一ト遅延時間後にMに示すように下降さ
せ、第1負荷FET装置5を遮断する。このようにして
、通常の操作においては出力容量Cの全充電電流は電圧
v3のノ(ルスにut より流される。電圧v6のパルス幅は、出力容量Cの完
全充電を行なうのに十分なはビ長くut なるように設計されている。v6のパルス幅の上限は、
第4図の波形図に示されるように出力が接地された時、
ドライバ回路を破壊するのに必要な量以下に全パルスエ
ネルギを制限する大きさである。
けるライン・ドライバ波形が示されている。9個の波形
が対応する第2図中の電圧記号または電流記号と同一記
号により示されている。データ入力信号の波形は正方向
の変化Aを形成し、直ちに第2負荷FET装置6を導通
状態にして電流波形IR6のEに示されるような小さな
l、流を流す。この電流はFET装置7を通って電流波
彫工R7のHに示すように流されるため、出力電圧V
は上昇しない。単位遅延時間の後、V2ut はBに示すように小さくなり、FET装置7を遮断し、
そして、出力端電圧V はFに示されouす るように緩く上昇しはじめる。更に単位遅延時間の後、
電位v6が上昇し、第1負荷FET装置5が導通状態、
になり、電流波形lR5のJ及び電流波形■ ゛ の
Kに示すように大きな充電電流がOu を 出力容量Cに流れ込むことができるようにut する。これは、出力電圧V をGに示すようut に急激に上昇させてLに示すようなドレイン電位vDD
まで到達させる。この時点で、全ての出力電流工
は零になる。また、この時点あるいut は少し後で、遅延電圧V、が0点に示すように上昇しミ
電圧V を1ゲ一ト遅延時間後にMに示すように下降さ
せ、第1負荷FET装置5を遮断する。このようにして
、通常の操作においては出力容量Cの全充電電流は電圧
v3のノ(ルスにut より流される。電圧v6のパルス幅は、出力容量Cの完
全充電を行なうのに十分なはビ長くut なるように設計されている。v6のパルス幅の上限は、
第4図の波形図に示されるように出力が接地された時、
ドライバ回路を破壊するのに必要な量以下に全パルスエ
ネルギを制限する大きさである。
第4図は、第2図のライン・ドライバ回路の第5図に示
されたのと同様の波形の流れを、出方端が接地された状
態で示すものである。データ大刀信号はAで正方向−に
変化して第2負荷FET装置6を導通状態にして電流波
彫工R6に小さな電流Bを流して、短絡された出力部に
出力電流I。utのCに示されるように流す。単位遅延
時間後、電圧v2はDに示すように下降して電圧v3を
Eに示すように上昇させ、第1負荷FET装置5を導′
通状態にする。短絡電流は電流波彫工 のFに5 示すように装置5を通って、出力電流工。utのJに示
されるように短絡された出力端へ流入する。
されたのと同様の波形の流れを、出方端が接地された状
態で示すものである。データ大刀信号はAで正方向−に
変化して第2負荷FET装置6を導通状態にして電流波
彫工R6に小さな電流Bを流して、短絡された出力部に
出力電流I。utのCに示されるように流す。単位遅延
時間後、電圧v2はDに示すように下降して電圧v3を
Eに示すように上昇させ、第1負荷FET装置5を導′
通状態にする。短絡電流は電流波彫工 のFに5 示すように装置5を通って、出力電流工。utのJに示
されるように短絡された出力端へ流入する。
装置8.9及びコンデンサC′t−有する遅延回り
路Eが所定時間の遅延を行なった後、電圧V は上昇し
て電圧V s f下降させ、これにより装置5を電流波
形IR5のIに示すように遮断する。ドライバ回路の破
壊が生ずる前に出力電流I。LLtはKに示すように安
全なレベルまで下降する。この発明の1つの特徴は、出
力電力の最高値は単に出力容量Cの素早い充電をなうの
に十分なだけの聞出力される。ドライバ回路を破壊する
のに必要なピーク電力のエネルギは出力容量C0utを
充電するのに必要なエネルギよりはるかに大きいため、
ドライバ回路は効果的に保護される。換言すれば、保護
は電力よりもむしろエネルギを制限することにより達成
される。
て電圧V s f下降させ、これにより装置5を電流波
形IR5のIに示すように遮断する。ドライバ回路の破
壊が生ずる前に出力電流I。LLtはKに示すように安
全なレベルまで下降する。この発明の1つの特徴は、出
力電力の最高値は単に出力容量Cの素早い充電をなうの
に十分なだけの聞出力される。ドライバ回路を破壊する
のに必要なピーク電力のエネルギは出力容量C0utを
充電するのに必要なエネルギよりはるかに大きいため、
ドライバ回路は効果的に保護される。換言すれば、保護
は電力よりもむしろエネルギを制限することにより達成
される。
第1負荷FET装置5のゲートに入力される正パルスの
幅は、ライン・ドライバの出力における最悪の場合の立
上シ時間に適合するよりに設計される。この最悪の場合
の立上り時間は、10−6程度の大きさの2つのFET
に対して、低レベルの最大(0,4ボルト)から高レベ
ルの最小(2,4ボルト)の電位差で100pfの容量
負荷をドライブするのに20ナノ秒より小さい。したが
って、もしこの高レベルの間(20ナノ秒より小さい)
に出力が不注意に短絡されると、大きな一時的な電流が
正のドレイン電圧VDDから回路へ流れ込むことができ
る。しかし、電流パルスのエネルギは回路中の金属導体
の破壊に必要な量(大よそ数百マイクロ秒に対応する)
よりはるかに少ないため、回路を損傷することはできな
い。
幅は、ライン・ドライバの出力における最悪の場合の立
上シ時間に適合するよりに設計される。この最悪の場合
の立上り時間は、10−6程度の大きさの2つのFET
に対して、低レベルの最大(0,4ボルト)から高レベ
ルの最小(2,4ボルト)の電位差で100pfの容量
負荷をドライブするのに20ナノ秒より小さい。したが
って、もしこの高レベルの間(20ナノ秒より小さい)
に出力が不注意に短絡されると、大きな一時的な電流が
正のドレイン電圧VDDから回路へ流れ込むことができ
る。しかし、電流パルスのエネルギは回路中の金属導体
の破壊に必要な量(大よそ数百マイクロ秒に対応する)
よりはるかに少ないため、回路を損傷することはできな
い。
第5図は、この発明の他の実施例を示すものであシ、こ
の実施例では、高速のライン・ドライバ回路は正のV
電位に対しても、また、接地電位西対しても保護され
ている。基本的には、第2図中に示された回路の鏡像が
第5図中に複製されており、そして第2図中に示される
装置7を保護する役割を果している。第5図中には遅延
回路E及びNOR回路10からなるスイッチング手段に
第1負荷FET装置5、及び第2急荷FET装置6が示
されており、これらは第2図と同様な態様でもって第5
図中で作用する。これに加わるに、遅延回路E′及びN
OR回路10′からなるスイッチング手段12’、FE
T装置5′及びFET装置6′が、第5図中のダッシュ
の付けられていない参照符号を有する要素、に対応した
機能を果す。
の実施例では、高速のライン・ドライバ回路は正のV
電位に対しても、また、接地電位西対しても保護され
ている。基本的には、第2図中に示された回路の鏡像が
第5図中に複製されており、そして第2図中に示される
装置7を保護する役割を果している。第5図中には遅延
回路E及びNOR回路10からなるスイッチング手段に
第1負荷FET装置5、及び第2急荷FET装置6が示
されており、これらは第2図と同様な態様でもって第5
図中で作用する。これに加わるに、遅延回路E′及びN
OR回路10′からなるスイッチング手段12’、FE
T装置5′及びFET装置6′が、第5図中のダッシュ
の付けられていない参照符号を有する要素、に対応した
機能を果す。
特に、第5図の低導通抵抗FET装置5′と高導通抵抗
FET装置6′は第2図のFET装置7と効果的に置き
換っている。もし、出力端が不注意に接地電位に短絡さ
れると、第2図で説明されたのと同様の回路保護機能が
第5図中で働く。これに加えて1.もし出力端が不注意
に、十vDDのドレイン電位に短絡され、そして、デー
タ入力信号が下方に変化する時、N0RN路10′は正
方向に変化する電位を出力し、比較゛的低インピーダン
スのFET装置5′を導通状態にし、これによシ出力端
が接地電位に短絡し、そして、比較的大きな電流がFE
T装置5′を通って流れはじめる。
FET装置6′は第2図のFET装置7と効果的に置き
換っている。もし、出力端が不注意に接地電位に短絡さ
れると、第2図で説明されたのと同様の回路保護機能が
第5図中で働く。これに加えて1.もし出力端が不注意
に、十vDDのドレイン電位に短絡され、そして、デー
タ入力信号が下方に変化する時、N0RN路10′は正
方向に変化する電位を出力し、比較゛的低インピーダン
スのFET装置5′を導通状態にし、これによシ出力端
が接地電位に短絡し、そして、比較的大きな電流がFE
T装置5′を通って流れはじめる。
遅延回路E′によシ決められる所定の遅延時間後、遅延
回路Eに対して説明されたのと同じ態様で以て遅延回路
E′の出力は上昇しはじめ、NOR回路10′の出力を
降下させる。これにより、低インピーダンスのFET装
置5′を回路の要素を破壊するのに要する時間よりも短
い時間後に遮断する。
回路Eに対して説明されたのと同じ態様で以て遅延回路
E′の出力は上昇しはじめ、NOR回路10′の出力を
降下させる。これにより、低インピーダンスのFET装
置5′を回路の要素を破壊するのに要する時間よりも短
い時間後に遮断する。
このようにして、回路は+V 電位への不注意D
な短絡から保護される。
したがって、第5図中に示された回路の作用L1第2図
の回路について説明されたのと同じ原理に基づいている
ことが理解される。また、この回路は接地電位に対する
と同様に正のドレイン電位■DDに対しても店注意な短
絡から保護されていることが理解される。
の回路について説明されたのと同じ原理に基づいている
ことが理解される。また、この回路は接地電位に対する
と同様に正のドレイン電位■DDに対しても店注意な短
絡から保護されていることが理解される。
この発明の高速FETライン・ドライバ回路は、回路の
性能を劣化させることなく出力端の短絡から回路を保護
することができる。
性能を劣化させることなく出力端の短絡から回路を保護
することができる。
以上、いくつかの実施例につい、てこの発明を説明して
きたが、この発明は上述の実施例に限定されるものでは
なく、特許請求の範囲の精神を逸脱しない範囲で種々の
変更が可能である。
きたが、この発明は上述の実施例に限定されるものでは
なく、特許請求の範囲の精神を逸脱しない範囲で種々の
変更が可能である。
第1図は従来のライン・ドライバ回路を示す回路図、第
2図はこの発明の一実施例による高速FETライン・ド
ライバ回路を示す回路図、第3図は第2図のライ、ン・
ドライバ回路の通常の状態における回路中の電圧及び電
流波形を示す波形図、第4図は第2図のライン・ドライ
バ回路の出力が短絡された状態における回路中の電圧及
び電流波形を示す波形図、第5図はこの発明の他の実施
例によるFET:>イン・ドライバ回路を示す回路図で
ある。 5・・・・第1負荷FET装置、6・・・・第2負荷F
ET装置1.10・・・・NOR回路、12・・・・ス
イッチング手段、E・・・・遅延回路。 出願人 インタ廿Aナル・ヒ琳・マV−>ズ・コ+カン
復代理人 弁理士 合 1) 潔− 盲
= −1。 −> 、m 、!F エ
。 1’lT’a マ3 E”
2図はこの発明の一実施例による高速FETライン・ド
ライバ回路を示す回路図、第3図は第2図のライ、ン・
ドライバ回路の通常の状態における回路中の電圧及び電
流波形を示す波形図、第4図は第2図のライン・ドライ
バ回路の出力が短絡された状態における回路中の電圧及
び電流波形を示す波形図、第5図はこの発明の他の実施
例によるFET:>イン・ドライバ回路を示す回路図で
ある。 5・・・・第1負荷FET装置、6・・・・第2負荷F
ET装置1.10・・・・NOR回路、12・・・・ス
イッチング手段、E・・・・遅延回路。 出願人 インタ廿Aナル・ヒ琳・マV−>ズ・コ+カン
復代理人 弁理士 合 1) 潔− 盲
= −1。 −> 、m 、!F エ
。 1’lT’a マ3 E”
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 出力の短絡に対して保護を有するFETドライバ回路に
おいて、 ソースードレイン路がドレイン電位と出力端との間に接
続されてゲートに加わる信号に応じて選択的に出力端へ
の比較的速い充電路を形成する第1負荷FET装置と、 ソース・ドレイン路が前記ドレイン電位と前記出力端と
の間に接続され、ゲートが入力端に接続され、前記入力
端にある極性の入力信号が印加される時に前記出力端へ
の比較的遅い充電路を形成する前記第1負荷FET装′
門よりも大きな抵抗を有する第2負荷FET装置と、 前記入力端に接続された入力と、前記第1負荷FET装
置のゲートに接続された出力とを有し、前記入力信号が
接地電位から前記ある極性に変化する際に前記比較的速
い充電路を導通し、所定時間後に前記比較的速い充電路
を遮断するスイッチング手段と を有することを特徴とするFETドライバ回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/317,659 US4421994A (en) | 1981-11-02 | 1981-11-02 | High speed line driver with ground output capability |
| US317659 | 1981-11-02 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5877326A true JPS5877326A (ja) | 1983-05-10 |
| JPH026455B2 JPH026455B2 (ja) | 1990-02-09 |
Family
ID=23234697
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57176502A Granted JPS5877326A (ja) | 1981-11-02 | 1982-10-08 | Fetドライバ回路 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4421994A (ja) |
| EP (1) | EP0078490B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5877326A (ja) |
| DE (1) | DE3278708D1 (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4477741A (en) * | 1982-03-29 | 1984-10-16 | International Business Machines Corporation | Dynamic output impedance for 3-state drivers |
| US4498021A (en) * | 1982-07-13 | 1985-02-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Booster for transmitting digital signal |
| US4527081A (en) * | 1983-02-11 | 1985-07-02 | The United States Of America As Represented By The Scretary Of The Army | Overshoot predriven semi-asynchronous driver |
| US4672243A (en) * | 1985-05-28 | 1987-06-09 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Zero standby current TTL to CMOS input buffer |
| US4785201A (en) * | 1986-12-29 | 1988-11-15 | Integrated Device Technology, Inc. | High speed/high drive CMOS output buffer with inductive bounce suppression |
| JPH01119773A (ja) * | 1987-11-02 | 1989-05-11 | Mitsubishi Electric Corp | インバータ回路 |
| US4989127A (en) * | 1989-05-09 | 1991-01-29 | North American Philips Corporation | Driver for high voltage half-bridge circuits |
| US5414583A (en) * | 1991-12-19 | 1995-05-09 | Unitrode Corporation | Current source bus terminator with voltage clamping and steady state power reduction |
| US5336948A (en) * | 1992-12-16 | 1994-08-09 | Unitrode Corporation | Active negation emulator |
| FR2707058B1 (ja) * | 1993-06-23 | 1995-09-15 | Sgs Thomson Microelectronics | |
| EP0689292A3 (en) * | 1994-06-17 | 1997-10-22 | Harris Corp | Control circuit for bridge circuits and corresponding method |
| US5486782A (en) * | 1994-09-27 | 1996-01-23 | International Business Machines Corporation | Transmission line output driver |
| US5726589A (en) * | 1995-11-01 | 1998-03-10 | International Business Machines Corporation | Off-chip driver circuit with reduced hot-electron degradation |
| US6094086A (en) * | 1997-05-12 | 2000-07-25 | Industrial Technology Research Institute | High drive CMOS output buffer with fast and slow speed controls |
| US5850159A (en) * | 1997-05-12 | 1998-12-15 | Ind Tech Res Inst | High and low speed output buffer with controlled slew rate |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS583321A (ja) * | 1981-06-29 | 1983-01-10 | Fujitsu Ltd | データバッファ回路 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3631528A (en) * | 1970-08-14 | 1971-12-28 | Robert S Green | Low-power consumption complementary driver and complementary bipolar buffer circuits |
| US3749936A (en) * | 1971-08-19 | 1973-07-31 | Texas Instruments Inc | Fault protected output buffer |
| US3769528A (en) * | 1972-12-27 | 1973-10-30 | Ibm | Low power fet driver circuit |
| DE2539890B2 (de) * | 1975-09-08 | 1978-06-01 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Schaltungsanordnung zum Schutz von Eingängen integrierter MOS-Schaltkreise |
| DE2737544B2 (de) * | 1977-08-19 | 1979-06-21 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Ausgangsverstärker mit CMOS-Transistoren |
| US4329600A (en) * | 1979-10-15 | 1982-05-11 | Rca Corporation | Overload protection circuit for output driver |
| US4363068A (en) * | 1980-08-18 | 1982-12-07 | Sundstrand Corporation | Power FET short circuit protection |
| US4347447A (en) * | 1981-04-16 | 1982-08-31 | Mostek Corporation | Current limiting MOS transistor driver circuit |
-
1981
- 1981-11-02 US US06/317,659 patent/US4421994A/en not_active Expired - Lifetime
-
1982
- 1982-10-08 JP JP57176502A patent/JPS5877326A/ja active Granted
- 1982-10-26 DE DE8282109886T patent/DE3278708D1/de not_active Expired
- 1982-10-26 EP EP82109886A patent/EP0078490B1/en not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS583321A (ja) * | 1981-06-29 | 1983-01-10 | Fujitsu Ltd | データバッファ回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4421994A (en) | 1983-12-20 |
| JPH026455B2 (ja) | 1990-02-09 |
| EP0078490A3 (en) | 1984-05-23 |
| EP0078490A2 (en) | 1983-05-11 |
| DE3278708D1 (en) | 1988-07-28 |
| EP0078490B1 (en) | 1988-06-22 |
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