JPS5877477U - Icテスト治具用シヤツタ機構 - Google Patents

Icテスト治具用シヤツタ機構

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Publication number
JPS5877477U
JPS5877477U JP17346881U JP17346881U JPS5877477U JP S5877477 U JPS5877477 U JP S5877477U JP 17346881 U JP17346881 U JP 17346881U JP 17346881 U JP17346881 U JP 17346881U JP S5877477 U JPS5877477 U JP S5877477U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
shutter mechanism
test jig
ics
shutter
guide rail
Prior art date
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Pending
Application number
JP17346881U
Other languages
English (en)
Inventor
神吉 孝明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS5877477U publication Critical patent/JPS5877477U/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本考案に係るICテスト治具用シ
ャッタ機構の一実施例を説明するための平面−および正
面図である。 図において、1はガイドレール、2はガイドポール、3
はプローブドライビングポール、4はスプリング、5は
ブツシュプローブ、6はストッパプローブ、7はブロッ
クA、 8はブロックB、 9はタイロッドバー、10
はストッパプレート、11はガイドレール溝、I2.1
2’、12″。 13.13’および13″は切欠き、14は駆動用シリ
ンダー、15aおよび15bハIC,16ハ取付金具、
21および31はナツト、91は長円形孔を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ICを自動検査するに際し、ガイドレール内のICの流
    れを規制するシャッタ機構であって、当該シャッタ機構
    のシャッタプローブ間隔を検査すべきICの長さに対応
    して可変可能な構成としたことを特徴とするノCテスト
    治具用シャッタ機構、。
JP17346881U 1981-11-20 1981-11-20 Icテスト治具用シヤツタ機構 Pending JPS5877477U (ja)

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Publication Number Publication Date
JPS5877477U true JPS5877477U (ja) 1983-05-25

Family

ID=29965331

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5340141U (ja) * 1976-09-10 1978-04-07

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5340141U (ja) * 1976-09-10 1978-04-07

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