JPS5881962A - メツキ体 - Google Patents
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- JPS5881962A JPS5881962A JP17748781A JP17748781A JPS5881962A JP S5881962 A JPS5881962 A JP S5881962A JP 17748781 A JP17748781 A JP 17748781A JP 17748781 A JP17748781 A JP 17748781A JP S5881962 A JPS5881962 A JP S5881962A
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- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
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-
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はチッ化チタン(以下TiNと略する)上に無電
解ニッケルメッキをすることKよって、 TiN上に金
色仕上げきしての金メッキが施されたメッキ体KISf
lする。
解ニッケルメッキをすることKよって、 TiN上に金
色仕上げきしての金メッキが施されたメッキ体KISf
lする。
従来、金色を出す唯一のものとして金が使#4きれて鯉
た。hころが、金の価格は高くその代替物が求められ、
TiN被膜が金と同じような色調を持つものとして注目
を集めていた。
た。hころが、金の価格は高くその代替物が求められ、
TiN被膜が金と同じような色調を持つものとして注目
を集めていた。
とこ^が、イオンプレーティーフグ法によるTiN被膜
は、金メツキ被膜に比較して ■合一部が劣る a)−t m性のバうツキが出やすい等の間幽かあった
。
は、金メツキ被膜に比較して ■合一部が劣る a)−t m性のバうツキが出やすい等の間幽かあった
。
そのため、lt+rじ金色であっても、TiN被膜を付
けたものは高級品に使用することが不可能であった。そ
こで、i’iN被嘆上に金メツキ被膜を従来の金メッキ
wi@より薄く付けることで同様の色調を出し、かつ金
メツキ被膜を薄くすることによるコヌトダウンの要求が
新らたに生第1た。
けたものは高級品に使用することが不可能であった。そ
こで、i’iN被嘆上に金メツキ被膜を従来の金メッキ
wi@より薄く付けることで同様の色調を出し、かつ金
メツキ被膜を薄くすることによるコヌトダウンの要求が
新らたに生第1た。
そこで、TiNへの直接金メッキが考えられたがメッキ
被膜の密着性が悪く賽用化で群なかった。
被膜の密着性が悪く賽用化で群なかった。
また、TiN上へ地神の金顧を無電解メッキした後金メ
ッキを行った場合もメッキ被膜の密着性が悪く。布を用
いて表面をζするだtFでメッキ被膜が剥離するきいう
状態でありた。
ッキを行った場合もメッキ被膜の密着性が悪く。布を用
いて表面をζするだtFでメッキ被膜が剥離するきいう
状態でありた。
本発明は、上!l[(間賄点を無11解ニツケルメツキ
後の焼成により解決した、TIN」−\金メッキ被膜を
形成した無1F鮒メッキ体に14+’ L −Cいる。
後の焼成により解決した、TIN」−\金メッキ被膜を
形成した無1F鮒メッキ体に14+’ L −Cいる。
本発明によれば、従来表面什ヒげとして9川されてきた
金メッキの膜厚を薄くすることかで一1大巾なコストダ
ウンが可能となった。また、表面仕上げとしての金メツ
キ被膜が磨耗しても下地が金色であるため表面の外観を
損わない、そのために必要なことはTiN上のニッケル
メッキ被Inできるだ行薄くすることである。
金メッキの膜厚を薄くすることかで一1大巾なコストダ
ウンが可能となった。また、表面仕上げとしての金メツ
キ被膜が磨耗しても下地が金色であるため表面の外観を
損わない、そのために必要なことはTiN上のニッケル
メッキ被Inできるだ行薄くすることである。
次にこの無電解メッキ体の製造方法の概略を述べる。
イオンブレーティング法により適当な金属上KTiNの
薄膜を形成する。こhをメッキ基板とする。
薄膜を形成する。こhをメッキ基板とする。
次に通常の無電解メッキの前処理をこの基板K1す前処
理工II祉次の通りである。
理工II祉次の通りである。
1 ) Sn C1N溶液浸漬(センシタイジング)
2)水洗 51 P601s溶液あるいはAg N Oa溶溶液
への浸漬(アクティベーティング) 4) 水洗 である、センシタイジングは基板上に8n”+イオンを
吸着させる目的であり、アクティベーティングは 8
n” + Pd”+→S’n” + P♂の反応を
甲いて基板上に無電解メッキの触媒核を形成する目的で
ある。
2)水洗 51 P601s溶液あるいはAg N Oa溶溶液
への浸漬(アクティベーティング) 4) 水洗 である、センシタイジングは基板上に8n”+イオンを
吸着させる目的であり、アクティベーティングは 8
n” + Pd”+→S’n” + P♂の反応を
甲いて基板上に無電解メッキの触媒核を形成する目的で
ある。
また、S n”* Pd”+を使用する無電解前処理
方法の他に1日n2+とPd!+が共存する了クチベー
ターと称される活性液を使甲してもよいのはもちろんで
ある。
方法の他に1日n2+とPd!+が共存する了クチベー
ターと称される活性液を使甲してもよいのはもちろんで
ある。
こうして仲られた基板を無電解ニッケルメッキ浴に浸漬
することKよってTiN上にニッケルメッキ被膜が形成
される。このメッキ被膜は1sa Xから1μまでの厚
さか適当であり、望ましくは50Aから2000λが良
い。これは、 5O!以下のニッケルメッキ@膜は均一
でなく、1μ以上になると密着性が悪くな秒始めるから
である。
することKよってTiN上にニッケルメッキ被膜が形成
される。このメッキ被膜は1sa Xから1μまでの厚
さか適当であり、望ましくは50Aから2000λが良
い。これは、 5O!以下のニッケルメッキ@膜は均一
でなく、1μ以上になると密着性が悪くな秒始めるから
である。
次にニッケルメッキ被膜が形成された基板を、650℃
トノ下で焼成する。350℃以上であると無電解ニッケ
ルリン被膜の場合緒晶化が起抄、1a優の体積減少をす
るためメッキ破膜の密着性が椿端に悪くなる。また、1
50℃以下の場合は燐酸時間が長くなり実用酌ではない
。
トノ下で焼成する。350℃以上であると無電解ニッケ
ルリン被膜の場合緒晶化が起抄、1a優の体積減少をす
るためメッキ破膜の密着性が椿端に悪くなる。また、1
50℃以下の場合は燐酸時間が長くなり実用酌ではない
。
焼故後のニッケル被膜には酸化物が形成さねており、こ
のままでは次の金メツキ被膜の密着性が悪くなったり、
均一なメッキ被膜が得られないために、基板の活性什を
行う。活性化としては、通常塩酸溶液への浸漬、塩化第
二鉄溶液等への浸漬により表面の酸化物被膜を除去する
。
のままでは次の金メツキ被膜の密着性が悪くなったり、
均一なメッキ被膜が得られないために、基板の活性什を
行う。活性化としては、通常塩酸溶液への浸漬、塩化第
二鉄溶液等への浸漬により表面の酸化物被膜を除去する
。
この後、充分な水洗を行い置換型の全メッキ浴に浸漬す
ることでニッケh被嘆を金と置換する。
ることでニッケh被嘆を金と置換する。
この時充分注意しなければならないのは、完全にニッケ
ルか金き置換されてLまうき金被膜の密着性が椿端に悪
くなることであ抄、ニッケル被膜は一市着性を確保する
ために201))上は残しておかねばならない点である
。また、tII換型金メッキを行うのは次の1穆の1解
金メツキを行うために、導通をよくするためである。
ルか金き置換されてLまうき金被膜の密着性が椿端に悪
くなることであ抄、ニッケル被膜は一市着性を確保する
ために201))上は残しておかねばならない点である
。また、tII換型金メッキを行うのは次の1穆の1解
金メツキを行うために、導通をよくするためである。
七〇後、電解金メッキにより所定の膜厚に金メッキを行
う二2で本メッキ工穆は終る。
う二2で本メッキ工穆は終る。
次に実施例を用いて本発明をP m K説明する、。
実施例1
ステンレス上にTiNをイオンブレ〜ティ/グした基板
をアルカリ説訃により表面洗浄を行った。
をアルカリ説訃により表面洗浄を行った。
この基板を塩イビ第一スズ泗液(Sn C1*/Jl
) Ic 2分間浸漬稜、純水によって2分間洗浄した
。次に日本カニゼンH&lの活性液レッドシューマの5
倍梠釈液を1μの水酸化ナトリウム沿によってPH=1
10に調整された液に2分間が潰し、純水を用いて2分
間の浸漬洗浄を行った。このように前処理さtまた基板
を日本カニゼン社製のシェーマ−8680の5倍存釈液
、45℃VC1分間浸漬することにより400大のニッ
ケルメッキ被膜を得た・これを洗浄後、200℃の桓温
槽でIhr焼成し、酸化物被験を除去するために塩化第
二鉄溶液(pecム/g/4に10秒間浸漬し、充分水
洗した。そして、日本エンゲルハルト社製のアトメック
ス無電解金メッキ液の20倍希釈、70℃袷に7分間浸
漬し、金に換メブキ後、INF金メッキ浴(日進化成製
)60℃、 I A/drn” 、で40秒間メッキ
をするこhで01μの金メツキ被膜を得た。この密着強
度をみるために、基板を150°の角度に曲けたがメッ
キ被膜の剥れは起らなかった。
) Ic 2分間浸漬稜、純水によって2分間洗浄した
。次に日本カニゼンH&lの活性液レッドシューマの5
倍梠釈液を1μの水酸化ナトリウム沿によってPH=1
10に調整された液に2分間が潰し、純水を用いて2分
間の浸漬洗浄を行った。このように前処理さtまた基板
を日本カニゼン社製のシェーマ−8680の5倍存釈液
、45℃VC1分間浸漬することにより400大のニッ
ケルメッキ被膜を得た・これを洗浄後、200℃の桓温
槽でIhr焼成し、酸化物被験を除去するために塩化第
二鉄溶液(pecム/g/4に10秒間浸漬し、充分水
洗した。そして、日本エンゲルハルト社製のアトメック
ス無電解金メッキ液の20倍希釈、70℃袷に7分間浸
漬し、金に換メブキ後、INF金メッキ浴(日進化成製
)60℃、 I A/drn” 、で40秒間メッキ
をするこhで01μの金メツキ被膜を得た。この密着強
度をみるために、基板を150°の角度に曲けたがメッ
キ被膜の剥れは起らなかった。
実施例2
ニッケル、クロム、アルミニウムを故分とする合金上に
イオンブレーティング法によりTiN薔喚を形成した。
イオンブレーティング法によりTiN薔喚を形成した。
この合金をアルカリ脱脂により表面洗浄を行った。その
後、日立化成製の増感剤Ha−101Bを所定の方法に
より!&l製した活性液に1分間基板を浸漬した。そし
て充分水洗し、日立化成製の密着促進剤ADP −20
1を所定の方法により調製した液に1分間浸漬し、充分
水洗した。その後、実施例1と同様の方法によりニッケ
ルメッキ。
後、日立化成製の増感剤Ha−101Bを所定の方法に
より!&l製した活性液に1分間基板を浸漬した。そし
て充分水洗し、日立化成製の密着促進剤ADP −20
1を所定の方法により調製した液に1分間浸漬し、充分
水洗した。その後、実施例1と同様の方法によりニッケ
ルメッキ。
金メッキを行った。こうして得られた金メツキ被膜は、
充分な密着性と耐磨耗性が得らねた。
充分な密着性と耐磨耗性が得らねた。
実施例1と2よりわかるように1本発明によりTiN上
への金メッキが可能になり充分な色−の金色を出すため
のコストを大巾に引き下げることが可能、になった。
への金メッキが可能になり充分な色−の金色を出すため
のコストを大巾に引き下げることが可能、になった。
尚、本発明の応用として、時計ケース、メカネフレーム
等の外装部品に金色仕上げが行うことかでtだ、
リ 上山願人 株式会社 諏訪精
工舎 手続補正書(自発) 昭和58年2月 3E+ 特許庁長官殿 2、発明の名称 メ ッ キ 体 3、補正をする者 4、代理人 6、補正の対象 明細書 7、補正の内容 手続補正−M(目%) 1、 明細書4負1行目 [s n”−”−1−p a”j+s n’ +p d
、’ J とりるを「an″+十P d” ”−+S
n’ −1−P d、’ Jに?+n正゛する。
等の外装部品に金色仕上げが行うことかでtだ、
リ 上山願人 株式会社 諏訪精
工舎 手続補正書(自発) 昭和58年2月 3E+ 特許庁長官殿 2、発明の名称 メ ッ キ 体 3、補正をする者 4、代理人 6、補正の対象 明細書 7、補正の内容 手続補正−M(目%) 1、 明細書4負1行目 [s n”−”−1−p a”j+s n’ +p d
、’ J とりるを「an″+十P d” ”−+S
n’ −1−P d、’ Jに?+n正゛する。
2 明細書4貝12朽目
1’AからzoooXが良い。」とめる會rXから2o
oOXが良い。」に補正する。
oOXが良い。」に補正する。
五 明細書6負2h目
r(8nct1/g/を月とめるr
r(8nct1 : 1g/l)Jに補正する。
4゜ 明細書6m115行目〜6?′T目[希釈′wi
を1μの水饅化ナトリウム准によってPH−11,0に
調整された液に2分間浸漬し、]とろるを 「希釈液2分子11]浸漬し、」に補正する。
を1μの水饅化ナトリウム准によってPH−11,0に
調整された液に2分間浸漬し、]とろるを 「希釈液2分子11]浸漬し、」に補正する。
5 明細書6負12有目
[(veals/g/l)J と;v 6 ’Kf(F
θct3:1g/l)J に袖正す0゜以 上
θct3:1g/l)J に袖正す0゜以 上
Claims (1)
- チッ化チタン上に無電解ニッケルメッキを行い焼成後、
置換型の無電解金メッキを行い、劇にその上に電解金メ
ッキを行ったことを特徴とするメッキ体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56177487A JPS6039155B2 (ja) | 1981-11-05 | 1981-11-05 | メツキ体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56177487A JPS6039155B2 (ja) | 1981-11-05 | 1981-11-05 | メツキ体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5881962A true JPS5881962A (ja) | 1983-05-17 |
| JPS6039155B2 JPS6039155B2 (ja) | 1985-09-04 |
Family
ID=16031757
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56177487A Expired JPS6039155B2 (ja) | 1981-11-05 | 1981-11-05 | メツキ体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6039155B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS542942A (en) * | 1977-06-10 | 1979-01-10 | Tsuneo Nishida | Golddcolorrtrimmed members |
-
1981
- 1981-11-05 JP JP56177487A patent/JPS6039155B2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS542942A (en) * | 1977-06-10 | 1979-01-10 | Tsuneo Nishida | Golddcolorrtrimmed members |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6039155B2 (ja) | 1985-09-04 |
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