JPS5889877A - 超伝導回路装置 - Google Patents
超伝導回路装置Info
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- JPS5889877A JPS5889877A JP56187185A JP18718581A JPS5889877A JP S5889877 A JPS5889877 A JP S5889877A JP 56187185 A JP56187185 A JP 56187185A JP 18718581 A JP18718581 A JP 18718581A JP S5889877 A JPS5889877 A JP S5889877A
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- Japan
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- superconductor
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- grounding
- superconductor layer
- superconductive
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N60/00—Superconducting devices
- H10N60/10—Junction-based devices
- H10N60/12—Josephson-effect devices
Landscapes
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、絶縁層上に超伝導回路を構成してなるm成の
超伝導回路構IIt部とこれに対する接地用超伝導体層
とが基板上に形成されてなる構成を有する超伝導回路装
置に関する。
超伝導回路構IIt部とこれに対する接地用超伝導体層
とが基板上に形成されてなる構成を有する超伝導回路装
置に関する。
J91檀超伝尋回路I&皺として、従来、第1図に下す
如き、シリコン、ガラス等でなる基板1上に、鉛、鉛−
インジウム−金合金、ニオブ等でなる接地用超伝導体層
2が蒸着、スパッタリング等によって形成され、一方像
地用超伝尋体層2上にSio2 等でなる絶縁層6が
蒸着等によって形成され、而してその絶縁層6上に超伝
導回路4が構・成され、この場合超伝導回路4が絶縁層
5上に鉛、鉛−インジウム−金合金、鉛−ビスマス合金
、ニオブ等でなる超伝導体層5が所要のパターンを以っ
て形成され、その少(とも遊端部の表面上に超伝導体層
5に対する酸化処理によりトンネル障壁となる薄い絶縁
層6が形成され、又絶縁層6上に超伝導体層5と一様の
材料でなる超伝導体層7か、超伝導体層5と絶縁層6を
介して対向適長せる態様を以って所要のパターンを以っ
て形成され、更に絶縁層3上に超伝導体層5及び7を埋
設せる態様を以って絶縁層3と一様の材料でなる層間絶
縁層8が形成され、その層間絶縁層8上に、超伝導体層
7が超伝導体層5と絶縁層6を介して対向適長している
部と対時延長せる態様を以って超伝導体層5及び7と同
様の材料でなる超伝導体層9が所要のパターンを以って
形成されてなるllI4成を有するものが提案されてい
る。
如き、シリコン、ガラス等でなる基板1上に、鉛、鉛−
インジウム−金合金、ニオブ等でなる接地用超伝導体層
2が蒸着、スパッタリング等によって形成され、一方像
地用超伝尋体層2上にSio2 等でなる絶縁層6が
蒸着等によって形成され、而してその絶縁層6上に超伝
導回路4が構・成され、この場合超伝導回路4が絶縁層
5上に鉛、鉛−インジウム−金合金、鉛−ビスマス合金
、ニオブ等でなる超伝導体層5が所要のパターンを以っ
て形成され、その少(とも遊端部の表面上に超伝導体層
5に対する酸化処理によりトンネル障壁となる薄い絶縁
層6が形成され、又絶縁層6上に超伝導体層5と一様の
材料でなる超伝導体層7か、超伝導体層5と絶縁層6を
介して対向適長せる態様を以って所要のパターンを以っ
て形成され、更に絶縁層3上に超伝導体層5及び7を埋
設せる態様を以って絶縁層3と一様の材料でなる層間絶
縁層8が形成され、その層間絶縁層8上に、超伝導体層
7が超伝導体層5と絶縁層6を介して対向適長している
部と対時延長せる態様を以って超伝導体層5及び7と同
様の材料でなる超伝導体層9が所要のパターンを以って
形成されてなるllI4成を有するものが提案されてい
る。
所で期る構成を有する超伝導回路装置は、絶一層3及び
超伝導回路4による超伝導回路構成部10を有し、その
超伝導回路構成@10と、これに対する接地用超伝導体
層2とか基f!1上に形成されてなる構成を有するもの
である。そしてこの場合、超伝導回路構成部10の超伝
導回路4が、超伝導体層7が、超伝導体層5に絶縁層6
を介して対向延長している部に於て形成されたジョセフ
ソン接合11を有し、そのジョセフソン接合11が、超
伝導体層7が超伝導体層5にS縁層6を介して対向延長
している部即ちジョセフソン接合11と対向延長してい
る超伝導体層9に111111用電訛が流されることに
よってその超伝導体層9の周りに発生する磁場の影譬を
受けてスイッチング制御されるものである。
超伝導回路4による超伝導回路構成部10を有し、その
超伝導回路構成@10と、これに対する接地用超伝導体
層2とか基f!1上に形成されてなる構成を有するもの
である。そしてこの場合、超伝導回路構成部10の超伝
導回路4が、超伝導体層7が、超伝導体層5に絶縁層6
を介して対向延長している部に於て形成されたジョセフ
ソン接合11を有し、そのジョセフソン接合11が、超
伝導体層7が超伝導体層5にS縁層6を介して対向延長
している部即ちジョセフソン接合11と対向延長してい
る超伝導体層9に111111用電訛が流されることに
よってその超伝導体層9の周りに発生する磁場の影譬を
受けてスイッチング制御されるものである。
又接地用超伝導体層2が、上述ぜる如くに超伝導体層9
の周りに発生する磁場を、接地用超伝導体層2と超伝導
体層9との間に局在せしめ、値って上述せるジョセフソ
ン接合11のスイツチングll1lI41を効果的にな
さしめるものである。
の周りに発生する磁場を、接地用超伝導体層2と超伝導
体層9との間に局在せしめ、値って上述せるジョセフソ
ン接合11のスイツチングll1lI41を効果的にな
さしめるものである。
従って第1図に示す従来の超伝導回路装置によれば、絶
縁層3上に超伝導回路4を構成してなる構成の超伝導回
路構成部10と、これに対する接地用超伝導体層2とが
基板1上に形成されてなる構成を有し、そして接地用超
伝導体層2にて、超伝導1路4を栴成せる超伝導体層9
に流される電流によってその超伝導体層9の周りに発生
する磁場を、接地用超伝導体層2と超伝導体層9との間
に局在せしめて、超伝導回路4を構成せるジョセフソン
接合11を効果的にスイッチングIIJ御せしめ得るも
のである。
縁層3上に超伝導回路4を構成してなる構成の超伝導回
路構成部10と、これに対する接地用超伝導体層2とが
基板1上に形成されてなる構成を有し、そして接地用超
伝導体層2にて、超伝導1路4を栴成せる超伝導体層9
に流される電流によってその超伝導体層9の周りに発生
する磁場を、接地用超伝導体層2と超伝導体層9との間
に局在せしめて、超伝導回路4を構成せるジョセフソン
接合11を効果的にスイッチングIIJ御せしめ得るも
のである。
然し乍ら、接地用超伝導体層2にて、超伝導回wI4を
1/I#成せる超伝導体層9に流される電流によってそ
の超伝導体層9の周りに発生する磁場を、接地用超伝導
体層2と超伝導体層9との間に局在せしめる様になされ
ている為、接地用超伝導体層2と超伝導体層9との間に
、磁場の影譬を受けてはならない超伝導体層、他のジョ
セフソン接合等を配し得ないという制約を有し、この為
へ伝4−路装置が全体として大向種化するものである。
1/I#成せる超伝導体層9に流される電流によってそ
の超伝導体層9の周りに発生する磁場を、接地用超伝導
体層2と超伝導体層9との間に局在せしめる様になされ
ている為、接地用超伝導体層2と超伝導体層9との間に
、磁場の影譬を受けてはならない超伝導体層、他のジョ
セフソン接合等を配し得ないという制約を有し、この為
へ伝4−路装置が全体として大向種化するものである。
依って本発明は、全体として小面槓化し得る、νI規な
期檀超伝尋回路装置を提案せんとするもので、以下詳述
する所より明らかとなるであろう。
期檀超伝尋回路装置を提案せんとするもので、以下詳述
する所より明らかとなるであろう。
第2図は本発明による超伝導回路装置の一例を示し、第
1図にて上述せる絶縁層3上に超伝導回路4を構成して
なる構成の超伝導回路構成部10とlI!111の構成
を有する超伝導回路構成部の少(とも2つが、第1及び
wJ2の起伝導回路4[ei:l110A及び10Bと
して有し、而してそれ等第1及び第2の超伝導[g1路
構成部10A及び10Bが、それ等間にそれ轡に対して
共通の第1図の場合の接地用超伝導体層2と(ロ)様の
接地用超伝導体層2AB・を配した関係で、第1図の一
合とflllmの基&1上に積重ねられて形成されてな
る構成を有する。尚第1及び第2の超伝導回路構成部1
0人及び10Bに於て、第1図との対応部分には同一符
号にA及びBの附された符号が附されている。
1図にて上述せる絶縁層3上に超伝導回路4を構成して
なる構成の超伝導回路構成部10とlI!111の構成
を有する超伝導回路構成部の少(とも2つが、第1及び
wJ2の起伝導回路4[ei:l110A及び10Bと
して有し、而してそれ等第1及び第2の超伝導[g1路
構成部10A及び10Bが、それ等間にそれ轡に対して
共通の第1図の場合の接地用超伝導体層2と(ロ)様の
接地用超伝導体層2AB・を配した関係で、第1図の一
合とflllmの基&1上に積重ねられて形成されてな
る構成を有する。尚第1及び第2の超伝導回路構成部1
0人及び10Bに於て、第1図との対応部分には同一符
号にA及びBの附された符号が附されている。
この場合、超伝導回路構成$1OA及び10Bは、超伝
導回路構成部10Aを基板1@とじて基板1上に積重ね
られて形成され、又超伝導回路構成部10A及び10B
は、それ郷の絶縁層3A及び3Bを夫々誉地用超伝導体
層2人B側としているものである。尚この場合超伏4回
路構g部10Bは、それが接地用超伝導体層流の基@1
1mとは反対側の面上に形成されているので、その絶縁
層3−B1超伝導体i!ll513.絶縁層6B°、超
伝導体層7J層間絶縁層8B及び超伝導体層9Bが、帛
1図にて上述せる一超伝嶌回路?lI底部10の場合と
、一様に、それ等の朧に接地用超伝導体層2AB上に形
成されて形成されるも、超伝導回鮎構JiSl:1@5
10Aは、それが接地用超伝導体層2AB・の基板1@
の向上に形成゛されているので、その絶縁層5に、超伝
導体層7A、絶縁層6A、%超伝尋体層5A、層間絶縁
層8人及び超伝導体層9人かそれ等の順とは逆の鵬に基
板1上に形成されるものである。
導回路構成部10Aを基板1@とじて基板1上に積重ね
られて形成され、又超伝導回路構成部10A及び10B
は、それ郷の絶縁層3A及び3Bを夫々誉地用超伝導体
層2人B側としているものである。尚この場合超伏4回
路構g部10Bは、それが接地用超伝導体層流の基@1
1mとは反対側の面上に形成されているので、その絶縁
層3−B1超伝導体i!ll513.絶縁層6B°、超
伝導体層7J層間絶縁層8B及び超伝導体層9Bが、帛
1図にて上述せる一超伝嶌回路?lI底部10の場合と
、一様に、それ等の朧に接地用超伝導体層2AB上に形
成されて形成されるも、超伝導回鮎構JiSl:1@5
10Aは、それが接地用超伝導体層2AB・の基板1@
の向上に形成゛されているので、その絶縁層5に、超伝
導体層7A、絶縁層6A、%超伝尋体層5A、層間絶縁
層8人及び超伝導体層9人かそれ等の順とは逆の鵬に基
板1上に形成されるものである。
以上が本発明による超伝導回路装置の−例構成であるか
、馴る構成によれば、その超伝専回に!1@成810A
及び1013の夫々が、第1図にて上述せる超伝導回路
構成部1oと同様の構成を令し、そして超伝導回路W底
部10Aと接地用超伝導体層2ABとよりなる構成、及
び超伝尋回w&偶゛成510Bと接地用超伝導体層2A
Hとよりなる構成が、@1mo)場合の超伝導回路構成
部10・と接地用超伝導体層2とよりなる構IJk4こ
対応するので、超伝導回路構成部10Aと接地用超伝導
体層2ABとよりなる構成に於て、第1医の場合と同様
に、接地用超伝導体層塵にて、超伝導回路4Aを構成せ
る超伝導体層9AIC流されるIILfILによってそ
の超伝導体層9Aの周りに発生する磁場を、接地用超伝
導体層2ABと超伝導体層9ムとの間に局在せしめて′
、超伝導回路4ムを構成せるジョセフソン接合11Aを
効果的にスイッナンク側II!11せしめ俺、又超伝専
回mmg部10Bと接地用超伝導体層2ABとよりなる
構成に於ても、同様に、接地用超伝導体層2ABにて、
超伝導(ロ)路4.uflll成せる超伝導体層9Bに
流される電流によってその超伝導1体1m9Bの周りに
発生する磁場を、接地用超伝導体層2AHと超伝導体1
−9Bとの間に局在せしめて、超伝導回路4Bを栴成せ
るシ’−r * 7 ソ7 接合11 Bを効果的にス
イッf7ダ制倫せしめ得るもので返る。又この為、第1
図の場合と同様に、超伝導回路構成部10Aと接地用超
伝導体層2AHとよりなる構成に於て、接地用超伝導体
層2AB〆超伝導体層9Aとの間に、磁−場の影智を受
けてはならない超伝導体層、他のジョセフソン接合−を
配し侍ないものであり、又超伝導回路構成部1・DBと
接地用超伝導体p#II2 ABとよりなる構成に於て
も、同様に、接地用超伝導体層2ABと超伝導体層9b
との間に、磁場の影参を受けてはならない超伝導体層、
他のジョセフソン接合等を配し鞠ないものである。
、馴る構成によれば、その超伝専回に!1@成810A
及び1013の夫々が、第1図にて上述せる超伝導回路
構成部1oと同様の構成を令し、そして超伝導回路W底
部10Aと接地用超伝導体層2ABとよりなる構成、及
び超伝尋回w&偶゛成510Bと接地用超伝導体層2A
Hとよりなる構成が、@1mo)場合の超伝導回路構成
部10・と接地用超伝導体層2とよりなる構IJk4こ
対応するので、超伝導回路構成部10Aと接地用超伝導
体層2ABとよりなる構成に於て、第1医の場合と同様
に、接地用超伝導体層塵にて、超伝導回路4Aを構成せ
る超伝導体層9AIC流されるIILfILによってそ
の超伝導体層9Aの周りに発生する磁場を、接地用超伝
導体層2ABと超伝導体層9ムとの間に局在せしめて′
、超伝導回路4ムを構成せるジョセフソン接合11Aを
効果的にスイッナンク側II!11せしめ俺、又超伝専
回mmg部10Bと接地用超伝導体層2ABとよりなる
構成に於ても、同様に、接地用超伝導体層2ABにて、
超伝導(ロ)路4.uflll成せる超伝導体層9Bに
流される電流によってその超伝導1体1m9Bの周りに
発生する磁場を、接地用超伝導体層2AHと超伝導体1
−9Bとの間に局在せしめて、超伝導回路4Bを栴成せ
るシ’−r * 7 ソ7 接合11 Bを効果的にス
イッf7ダ制倫せしめ得るもので返る。又この為、第1
図の場合と同様に、超伝導回路構成部10Aと接地用超
伝導体層2AHとよりなる構成に於て、接地用超伝導体
層2AB〆超伝導体層9Aとの間に、磁−場の影智を受
けてはならない超伝導体層、他のジョセフソン接合−を
配し侍ないものであり、又超伝導回路構成部1・DBと
接地用超伝導体p#II2 ABとよりなる構成に於て
も、同様に、接地用超伝導体層2ABと超伝導体層9b
との間に、磁場の影参を受けてはならない超伝導体層、
他のジョセフソン接合等を配し鞠ないものである。
然し乍ら、第2図に示す本発明による超伝導回路装置の
場合、第1図にて上述せる超伝導回路装置i@S10と
lW1様の超伝導回路構成部10A及び10Bが、それ
叫間にそれ等に対して共通の接地用超伝導体層2AHを
配した関係で基板1上に槓重ねられて形成されているの
で、基板1の面積をw、1図の場合の1/2根度迄小と
しても、鵬1図の場合と同様の&kll:を得ることが
出来るものである。又超伝導(ロ)路栴成1@510A
及び10B藺に介挿された接地用超伝導体m2ABか反
磁性を呈するので、超伝導回路構成部10Aと接地用超
伝導体層2ABとよりなる構成、及び超伝導回路構成部
10Bと接地用超伝導一体層2ABとよりなる構成が、
接地用超伝導体層2ABによって、磁気的に互に分離さ
れた状態で動作するものである。
場合、第1図にて上述せる超伝導回路装置i@S10と
lW1様の超伝導回路構成部10A及び10Bが、それ
叫間にそれ等に対して共通の接地用超伝導体層2AHを
配した関係で基板1上に槓重ねられて形成されているの
で、基板1の面積をw、1図の場合の1/2根度迄小と
しても、鵬1図の場合と同様の&kll:を得ることが
出来るものである。又超伝導(ロ)路栴成1@510A
及び10B藺に介挿された接地用超伝導体m2ABか反
磁性を呈するので、超伝導回路構成部10Aと接地用超
伝導体層2ABとよりなる構成、及び超伝導回路構成部
10Bと接地用超伝導一体層2ABとよりなる構成が、
接地用超伝導体層2ABによって、磁気的に互に分離さ
れた状態で動作するものである。
依って812図にて上述ゼる本発明による超伝導回路装
置によれば、@1図にて上述せる従来の超伝導回路装置
にて得ら°れると同様の機能を、絽1図にて上述せる従
来の超伝導−路装置に比し格段的に小面積化して得るこ
とが出来るという大なる%倣を有するものである。
置によれば、@1図にて上述せる従来の超伝導回路装置
にて得ら°れると同様の機能を、絽1図にて上述せる従
来の超伝導−路装置に比し格段的に小面積化して得るこ
とが出来るという大なる%倣を有するものである。
次に本発明による超伝導−W6装置の他の例を一8g3
図を伴なって述べるに、l121Jとの対応部分には同
一符号を附し詳細説明はこれを省略するも、第2図にて
上述せる構成に於て、その超伝導回路構成部10人に於
て、その層間絶縁層8人及び基板1間に、超伝導体層9
人の周りに於て、その超伝導体層9ムと略々同じ厚さを
有する層間絶縁層8Aと同様の絶縁層25Aがスペーサ
として形成され、又層間絶縁層8人の基板1111とは
反対側の面上に、超伝導体層5ムの周りに於て、その超
伝導体層5ムと略々同じ厚さを有する層間絶縁層8ムと
同様の絶縁層22Aが、層間絶縁層8A上に絶縁層22
Bを介して超伝導体層7人が形成されてなる#/#成が
得られるべ(、スペーサとして形成され、更に超伝導体
層5人及び絶縁層22A上に、超伝導体層710)@り
に於て、その超伝導体層7人と略々同じ厚さを有する層
間絶縁層8人と一様の絶縁層21ムか、一様にスペーサ
として形成され、依って絶縁層3Aが基板1の板面と略
々平行に蝙兼せる平らな上−面を有し、これに応じて接
地用超伝導体層2ABが平らな上面を有し、又超伝導回
路構成@10Bに於て、その絶縁層3Bの接地用超伝導
体層2ABIIとは反対憫の面上に、超伝導体層5Bの
周りに於て、その超伝導体層5Bと略々同じ厚さを有す
る絶縁層5Bと同様の絶縁層21Bが、絶縁層3B上に
絶縁層21Bを介して超伝導体層7Bが形成されてなる
構成が得られるべく、スペーサとして形成され、更に超
伝導体層5B及び絶縁層21B上に、超伝導体層7Bの
周りに於て、その超伝導体層7Bt略々同じ厚さを有す
る絶縁層3Bと同様−の絶縁層22Bが、同様にスペー
サとして形成され、依って層間絶縁層8Bが基板1の板
間と輪々平行に砥長せる平らな上面を有することを除い
てはs m 2図の場合と同様の構成を一有する。
図を伴なって述べるに、l121Jとの対応部分には同
一符号を附し詳細説明はこれを省略するも、第2図にて
上述せる構成に於て、その超伝導回路構成部10人に於
て、その層間絶縁層8人及び基板1間に、超伝導体層9
人の周りに於て、その超伝導体層9ムと略々同じ厚さを
有する層間絶縁層8Aと同様の絶縁層25Aがスペーサ
として形成され、又層間絶縁層8人の基板1111とは
反対側の面上に、超伝導体層5ムの周りに於て、その超
伝導体層5ムと略々同じ厚さを有する層間絶縁層8ムと
同様の絶縁層22Aが、層間絶縁層8A上に絶縁層22
Bを介して超伝導体層7人が形成されてなる#/#成が
得られるべ(、スペーサとして形成され、更に超伝導体
層5人及び絶縁層22A上に、超伝導体層710)@り
に於て、その超伝導体層7人と略々同じ厚さを有する層
間絶縁層8人と一様の絶縁層21ムか、一様にスペーサ
として形成され、依って絶縁層3Aが基板1の板面と略
々平行に蝙兼せる平らな上−面を有し、これに応じて接
地用超伝導体層2ABが平らな上面を有し、又超伝導回
路構成@10Bに於て、その絶縁層3Bの接地用超伝導
体層2ABIIとは反対憫の面上に、超伝導体層5Bの
周りに於て、その超伝導体層5Bと略々同じ厚さを有す
る絶縁層5Bと同様の絶縁層21Bが、絶縁層3B上に
絶縁層21Bを介して超伝導体層7Bが形成されてなる
構成が得られるべく、スペーサとして形成され、更に超
伝導体層5B及び絶縁層21B上に、超伝導体層7Bの
周りに於て、その超伝導体層7Bt略々同じ厚さを有す
る絶縁層3Bと同様−の絶縁層22Bが、同様にスペー
サとして形成され、依って層間絶縁層8Bが基板1の板
間と輪々平行に砥長せる平らな上面を有することを除い
てはs m 2図の場合と同様の構成を一有する。
実際上絶縁層25ム、22A、21ム、21B及び22
Bは夫々超伝導体層9ム、5ム、7ム、6B及び7Bを
形成して后、所謂リフトオフ法により形成し得るもので
ある。
Bは夫々超伝導体層9ム、5ム、7ム、6B及び7Bを
形成して后、所謂リフトオフ法により形成し得るもので
ある。
以上が本発明による超伏411jl懺置の他の例の構成
であるが、それがスペーサとしての絶縁層21A、22
ム、25A、21B]び22Bを有するξとを除いては
第21の場合と同様の構成を有するので、92図の場合
と同様の優れたe鎗が得られるものである。
であるが、それがスペーサとしての絶縁層21A、22
ム、25A、21B]び22Bを有するξとを除いては
第21の場合と同様の構成を有するので、92図の場合
と同様の優れたe鎗が得られるものである。
然し乍ら、第3図にて上述せる本発明による超伝導回路
装置の場合、スペーサとしての絶縁層21ム、22A、
23ム、21B及び22Bを有するので、超伝導体層5
A17ム、6−B。
装置の場合、スペーサとしての絶縁層21ム、22A、
23ム、21B及び22Bを有するので、超伝導体層5
A17ム、6−B。
7B及び9Bか折重って嬌長することがなく、従ってそ
れ等超伝導体層5ム、7ム、6B17B及び9Bに不必
要に断線が生ずる轡のことがないという特徴を有するも
のである。
れ等超伝導体層5ム、7ム、6B17B及び9Bに不必
要に断線が生ずる轡のことがないという特徴を有するも
のである。
尚上述に於ては本発明の僅かな例を示したに留まり超伝
導回路構M、部10A及び10Bの何れか一方が、超伏
4体層を有するもジョセフソン接合を有さざる構成とす
ることも出来るものである。又上述に於ては、ジョセフ
ソン接合が所謂トンネル接合直Satであるとして開示
説明したが、ジョセフソン接合を所−トンネル振合・直
交型とすることも出来、更にはブリッジ型とすることも
出来、その他事発明の精神を脱することなしに檀々の変
型変更をなし得るであろう。
導回路構M、部10A及び10Bの何れか一方が、超伏
4体層を有するもジョセフソン接合を有さざる構成とす
ることも出来るものである。又上述に於ては、ジョセフ
ソン接合が所謂トンネル接合直Satであるとして開示
説明したが、ジョセフソン接合を所−トンネル振合・直
交型とすることも出来、更にはブリッジ型とすることも
出来、その他事発明の精神を脱することなしに檀々の変
型変更をなし得るであろう。
第1図は従来の超伝導回路構成を示す4鍼的−f面図、
第2図は本発明によ゛る超伝導回路装置の一例を示す路
線的断面図、第3図は本発明による超伝導回路装置の他
の例を示す略−的断面図である。 図中、1は基板、2ABは接堆用超伝導体層、3A及び
5Bは絶縁層、4A及び4Bは超伝導回路、5人1.5
B、7A、7B、9ム及び9Bは超伝導体層、10ム及
び10Bは超伏4ig回路構成部、11人及び11Bは
ジョセフソン接合、21A、22A、25ム、21B及
び22Bはスペーサとしての絶縁層を夫々示す。 出願人 日本電信電鈷公社
第2図は本発明によ゛る超伝導回路装置の一例を示す路
線的断面図、第3図は本発明による超伝導回路装置の他
の例を示す略−的断面図である。 図中、1は基板、2ABは接堆用超伝導体層、3A及び
5Bは絶縁層、4A及び4Bは超伝導回路、5人1.5
B、7A、7B、9ム及び9Bは超伝導体層、10ム及
び10Bは超伏4ig回路構成部、11人及び11Bは
ジョセフソン接合、21A、22A、25ム、21B及
び22Bはスペーサとしての絶縁層を夫々示す。 出願人 日本電信電鈷公社
Claims (1)
- 絶縁層上に超伝導回路を構成してなる構成の超伝導口*
*g部の少くとも2つ7を#!1及び第2の超伏4同路
構成部として有し、該第1及び絹2の超伝専回路構成鄭
が、それ等間にそれ等に対して共通の接地用超伝導体層
を配した関係で、基板上に積重ねられて形成されてなる
◆を特徴とする超伝導−路装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56187185A JPS5889877A (ja) | 1981-11-21 | 1981-11-21 | 超伝導回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56187185A JPS5889877A (ja) | 1981-11-21 | 1981-11-21 | 超伝導回路装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5889877A true JPS5889877A (ja) | 1983-05-28 |
Family
ID=16201593
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56187185A Pending JPS5889877A (ja) | 1981-11-21 | 1981-11-21 | 超伝導回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5889877A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5721196A (en) * | 1991-02-12 | 1998-02-24 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Stacked tunneling and stepped grain boundary Josephson junction |
| US11040102B2 (en) | 2010-05-14 | 2021-06-22 | Amgen Inc. | High concentration antibody formulations |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5853874A (ja) * | 1981-09-26 | 1983-03-30 | Fujitsu Ltd | ジヨセフソン集積回路 |
-
1981
- 1981-11-21 JP JP56187185A patent/JPS5889877A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5853874A (ja) * | 1981-09-26 | 1983-03-30 | Fujitsu Ltd | ジヨセフソン集積回路 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5721196A (en) * | 1991-02-12 | 1998-02-24 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Stacked tunneling and stepped grain boundary Josephson junction |
| US11040102B2 (en) | 2010-05-14 | 2021-06-22 | Amgen Inc. | High concentration antibody formulations |
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