JPS589076A - 車両用自動試験装置 - Google Patents
車両用自動試験装置Info
- Publication number
- JPS589076A JPS589076A JP56107073A JP10707381A JPS589076A JP S589076 A JPS589076 A JP S589076A JP 56107073 A JP56107073 A JP 56107073A JP 10707381 A JP10707381 A JP 10707381A JP S589076 A JPS589076 A JP S589076A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- central processing
- terminal tester
- terminal
- processing unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/005—Testing of electric installations on transport means
- G01R31/006—Testing of electric installations on transport means on road vehicles, e.g. automobiles or trucks
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、車両の多数の搭載機器を）れぞれの・試験実
行プログラムによって自動的に試験する車両用自動試験
装置に係り、特に、試験実行プログラムの保守の容易化
を図った車両用自動試験装置に関するものである。
行プログラムによって自動的に試験する車両用自動試験
装置に係り、特に、試験実行プログラムの保守の容易化
を図った車両用自動試験装置に関するものである。
近時、車両（電気車）の搭載機器の試験は自動的に行な
われるようになってｈる。これらの搭載機器の試験項目
としては、電気車の各電気回路の絶縁抵抗測定試験、走
行駆動制御を行なうサイリスタチョッパ式制御装置、停
止制御を行なう空気ブレーキ装置、電気車の運転に関す
不自勲列車制御装置及び自動列車運転装置、通信を担当
する無線連絡装置、電源装置、空気圧縮機、ドア装置等
における確認試験がある。
われるようになってｈる。これらの搭載機器の試験項目
としては、電気車の各電気回路の絶縁抵抗測定試験、走
行駆動制御を行なうサイリスタチョッパ式制御装置、停
止制御を行なう空気ブレーキ装置、電気車の運転に関す
不自勲列車制御装置及び自動列車運転装置、通信を担当
する無線連絡装置、電源装置、空気圧縮機、ドア装置等
における確認試験がある。
従来の車両用自動試験装置は、車両の各搭載機器に対応
して設けられている複数の端末試験装置と、全搭載機器
に関する試験プログラムに基づいて作動するコンピュー
タが内蔵されていて各端末試験装置を制御する中央処理
装置とから構成されておシ、中央処理装置からの集中制
御方式を採用している。ところが、マイクロコンピュー
タの普及等に伴い、中央処理装置の負荷の分散や危険分
散、拡張性を目的として、各端末試験器に自らの試験を
遂行させ得る機能を持たせ、中央処理装置は試験項目及
び試験開始指令を与えたり６、試験結果の伝送要求を行
なうようにした分散形の車両用自動試験装置が考えられ
ている。
して設けられている複数の端末試験装置と、全搭載機器
に関する試験プログラムに基づいて作動するコンピュー
タが内蔵されていて各端末試験装置を制御する中央処理
装置とから構成されておシ、中央処理装置からの集中制
御方式を採用している。ところが、マイクロコンピュー
タの普及等に伴い、中央処理装置の負荷の分散や危険分
散、拡張性を目的として、各端末試験器に自らの試験を
遂行させ得る機能を持たせ、中央処理装置は試験項目及
び試験開始指令を与えたり６、試験結果の伝送要求を行
なうようにした分散形の車両用自動試験装置が考えられ
ている。
第１図に、この分散形の車両用自動試験装置の全体系統
図を示す。車両１は検修用ピット線に停止する状態で、
ケーブル２を介して、車両の各搭載機器に対してそれぞ
れ配置されている端末試験器３に接続できるよ、うにな
っている。各端末試験器３には、各搭載機器に電圧を与
えたり、車上の状態を取込むことのできる試験実行装置
４と、試験実行装置４を制御する４イクロコンピユータ
４とがそれぞれ内蔵されている。各端末試験器３は全て
中央処理装置６によって管理され、中央処理装置６は操
作盤７及びディスプレイ装置８をも制御するようになっ
てム゛る。
図を示す。車両１は検修用ピット線に停止する状態で、
ケーブル２を介して、車両の各搭載機器に対してそれぞ
れ配置されている端末試験器３に接続できるよ、うにな
っている。各端末試験器３には、各搭載機器に電圧を与
えたり、車上の状態を取込むことのできる試験実行装置
４と、試験実行装置４を制御する４イクロコンピユータ
４とがそれぞれ内蔵されている。各端末試験器３は全て
中央処理装置６によって管理され、中央処理装置６は操
作盤７及びディスプレイ装置８をも制御するようになっ
てム゛る。
ここで中央処理装置６と各端末試験器３とは、ケーブル
９を介して接続されているが、各端末式・験器３は独自
に試験を遂行することができる機能−を備えた分散形シ
ステムとされており、中央処理装置６との間では直列伝
送による結合によって情報の客換が可能となり、ケーブ
ル９の構成が非常に簡素化されている。
９を介して接続されているが、各端末式・験器３は独自
に試験を遂行することができる機能−を備えた分散形シ
ステムとされており、中央処理装置６との間では直列伝
送による結合によって情報の客換が可能となり、ケーブ
ル９の構成が非常に簡素化されている。
第２図に、ｉ１図従来例の中央処理装置のプログラムロ
ーディング及び試験実行処理のフローチャートを示す。
ーディング及び試験実行処理のフローチャートを示す。
中央処理装置６は１、試験開始指令前に端末試験器３に
対しプログラムを伝送線を介してローディングする。該
当する端末試験器は、自分のプログラムであることを認
識した場合は、これを自分の記憶装置へ台−ディングす
ると共に、ローディングＯＫの信号を返送する。以上の
シーケンスの後、中央処理装置６は試験開始指令、結果
の表示を繰返して全項目の試験が終了したとき終わる。
対しプログラムを伝送線を介してローディングする。該
当する端末試験器は、自分のプログラムであることを認
識した場合は、これを自分の記憶装置へ台−ディングす
ると共に、ローディングＯＫの信号を返送する。以上の
シーケンスの後、中央処理装置６は試験開始指令、結果
の表示を繰返して全項目の試験が終了したとき終わる。
しかし、上記した従来技術では７、各試験の、実行は、
マイクロコンピュータ５内のＲＯＭ（リード・オンリ・
メモリ）に記憶されたプログラムの実行により行なわれ
ることから、デバッグ時のプログラム変更や、車両の各
種基準値変更に伴うプログラムの変更が容易でないとい
う不都合があった。
マイクロコンピュータ５内のＲＯＭ（リード・オンリ・
メモリ）に記憶されたプログラムの実行により行なわれ
ることから、デバッグ時のプログラム変更や、車両の各
種基準値変更に伴うプログラムの変更が容易でないとい
う不都合があった。
本発明の目的は、上記した従来技術での不都合を除き、
プログラムの保守の集中化を可能とする車両用自動試験
装置を提供するにある。
プログラムの保守の集中化を可能とする車両用自動試験
装置を提供するにある。
本発明の特徴は、各端末試験器の試験プログラムをファ
イル登録しておく補助記憶装置を中央処理装置側に設け
、各端末試験器のマイクロコンピュータ内に書込み読出
し可能の記憶装置部とこの記憶装置部への前記補助記憶
装置からの試験プログラムのローディングを制御するロ
ーディング制御部とをそれぞれ設ける構成とするにある
。
イル登録しておく補助記憶装置を中央処理装置側に設け
、各端末試験器のマイクロコンピュータ内に書込み読出
し可能の記憶装置部とこの記憶装置部への前記補助記憶
装置からの試験プログラムのローディングを制御するロ
ーディング制御部とをそれぞれ設ける構成とするにある
。
以下、本発明の一実施例を図面により説明する。
第３図は、本発明の一実施例において使用され−る端末
試験器３のブロック構成図であシ、第４図は第３図に対
する処理フローチャートを示゛す。第３図において、１
５は処理装置本体、１１及び１２はそれぞれ記憶装置部
であシ、１３は伝送装置部であって中央処理装置６（第
１図）からの直列データを並列デー多に変換可能となっ
ている。゛まだ、試験実行装置４は入出力装置１４によ
って直接制御されるようになっている。ここで、第３図
実施例が従来の端末試験器と異な木魚は、ローディング
制御部１６により中央処理装置６開からの試験プログラ
ムを、書込み読出し可能の記憶装置部１１にローディン
グ可能とした点にある。即ち、・中央処理装置６の補助
記憶装置１’Ｏに、前もって試験プログラムを記憶させ
ておき、この試験プログラムを中央処理装置６はシステ
ム立上げ時にケーブル９を介して各端末試験器３に対し
て伝送する。各端末試験器内の伝送装置部１３をこれを
受信し処理装置本体１５に送る。処理装置本体１５は受
信内容が自端末試験器に対する試験プログラムであるか
否かを判定し、自端末試験器に対するものである時は試
験プログラムをローディング制御部１６に″より記憶装
置部１１にローディングすると共に、ローディングされ
た試験プログラムを入出力装置部１４、試験実行装置４
を介して実行させる。
試験器３のブロック構成図であシ、第４図は第３図に対
する処理フローチャートを示゛す。第３図において、１
５は処理装置本体、１１及び１２はそれぞれ記憶装置部
であシ、１３は伝送装置部であって中央処理装置６（第
１図）からの直列データを並列デー多に変換可能となっ
ている。゛まだ、試験実行装置４は入出力装置１４によ
って直接制御されるようになっている。ここで、第３図
実施例が従来の端末試験器と異な木魚は、ローディング
制御部１６により中央処理装置６開からの試験プログラ
ムを、書込み読出し可能の記憶装置部１１にローディン
グ可能とした点にある。即ち、・中央処理装置６の補助
記憶装置１’Ｏに、前もって試験プログラムを記憶させ
ておき、この試験プログラムを中央処理装置６はシステ
ム立上げ時にケーブル９を介して各端末試験器３に対し
て伝送する。各端末試験器内の伝送装置部１３をこれを
受信し処理装置本体１５に送る。処理装置本体１５は受
信内容が自端末試験器に対する試験プログラムであるか
否かを判定し、自端末試験器に対するものである時は試
験プログラムをローディング制御部１６に″より記憶装
置部１１にローディングすると共に、ローディングされ
た試験プログラムを入出力装置部１４、試験実行装置４
を介して実行させる。
第３図構成によれば、デバッグ期間中や、車両の基準値
変更等に伴う試験プログラムの変更が、全て中央処理装
置において行なうことが可能となり、これを再ローディ
ングすることで、全ての端末試験器の試験プログラムの
変更が行なえることになる。
変更等に伴う試験プログラムの変更が、全て中央処理装
置において行なうことが可能となり、これを再ローディ
ングすることで、全ての端末試験器の試験プログラムの
変更が行なえることになる。
以上のように、本発明によれば、分散端末である端末試
験器内の試験プログラムを全て中央処理装置に管理させ
る構成であることから、プログラム保守が容易になり、
さらに、試験項目の単位でローディングを行なうことに
よシ、各端末試験器内に配置する記憶装置の記憶容量を
少なくすることができる。
験器内の試験プログラムを全て中央処理装置に管理させ
る構成であることから、プログラム保守が容易になり、
さらに、試験項目の単位でローディングを行なうことに
よシ、各端末試験器内に配置する記憶装置の記憶容量を
少なくすることができる。
第１図は分散形の車両用自動試験装置の全体系統図、第
２図は第１図に対する処理フローチャート、第３図は本
発明の一実施例に用いる端末試験器の内部構成図、第４
図は第３図に対する処理フローチャートである。
２図は第１図に対する処理フローチャート、第３図は本
発明の一実施例に用いる端末試験器の内部構成図、第４
図は第３図に対する処理フローチャートである。
Claims (1)
- １、車両の各搭載機器に対応して設けられ各搭載機器に
関する試験プログラムにより作動するマイクロコンピュ
ータをそれぞれ内蔵している複数゛の端末試験器と、こ
れらの端末試験器を制御して全体的な試験の進行を管理
する中央処理装置とを備えて各搭載機器を試験する車両
用自動試験装置にオイてぐ各端末試験器の試験プログラ
ムをファイル登録ピておく補助記憶装置を中央処理装置
側に設け、各マイクロコンピュータ内に書込み読出し可
能の記憶装置部とこの記憶装置部への前記補助記憶装置
からの試験プロゲラ、ムのロー ディングを制御するロ
ーディング制御部とを設けることにより、試験プログラ
ムを各端末試験器内のマイクロコンピュータに随時可能
としたことを特徴とする車両用自動試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56107073A JPS589076A (ja) | 1981-07-10 | 1981-07-10 | 車両用自動試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56107073A JPS589076A (ja) | 1981-07-10 | 1981-07-10 | 車両用自動試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS589076A true JPS589076A (ja) | 1983-01-19 |
Family
ID=14449793
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56107073A Pending JPS589076A (ja) | 1981-07-10 | 1981-07-10 | 車両用自動試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS589076A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6344182A (ja) * | 1986-08-11 | 1988-02-25 | Nec Corp | デイスク試験システム |
| JPH01154228A (ja) * | 1987-12-10 | 1989-06-16 | Nec Corp | ファームウェア制御方式 |
-
1981
- 1981-07-10 JP JP56107073A patent/JPS589076A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6344182A (ja) * | 1986-08-11 | 1988-02-25 | Nec Corp | デイスク試験システム |
| JPH01154228A (ja) * | 1987-12-10 | 1989-06-16 | Nec Corp | ファームウェア制御方式 |
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