JPS6344182A

JPS6344182A - デイスク試験システム

Info

Publication number: JPS6344182A
Application number: JP18891286A
Authority: JP
Inventors: Masaru Shimobayashi; 下林　勝
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1986-08-11
Filing date: 1986-08-11
Publication date: 1988-02-25
Anticipated expiration: 2009-03-16
Also published as: JPH0619399B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明はディスク試験機、特にコンビーータ等の外部記
憶装置に用いられる信号記憶ディスク装置のディスク試
験システムに関する。

〔技術環境〕

近年のディスク試験システムは、ディスク装置の高密度
化・大容量化に伴なって測定データが大容量化する傾向
にあり、信号記憶媒体の種類の多様化とディスクサイズ
の多様化とディスク装置の高信頼性化とに伴なって、試
験条件、試験シーケンスの多様化、試験の種類の増加の
傾向にある。

〔共通的技術〕

一般洸、ディスク試験システムの測定は、ディスク上の
任意の位置において、以下に示す三種類の測定に大別で
きる。

ａ）再生信号の振幅に影響を与えるディスク表面の物理
定数の変動を測定する物理特性測定。例えば、ディスク
の面振れ測定、磁気ディスクのディスク表面精度の測定
、元ディスクのプリグループトラックの偏心の測定、元
ディスクの反射率の測定等がある。

ｂ）信号記憶媒体に無記録、記録、消去の少なくとも１
つを行った後の再生信号測定。

例えば、記録強度（例えば、元ディスクでは媒体への入
射光パワー、磁気ディスクでは磁性媒体）て加わる磁束
密度等）を変化させて記録した後の再生信号振＠を測定
する媒体記録感度測定、あるいは、消去強度（例えば、
光磁気ディスクでは媒体入射光パワーと入力磁束密度、
磁気ディスクでは磁性媒体に加わる磁束密度等）を変化
させて消去した後の再生信号振＠を測定する媒体消去感
度測定、また、キャリア周波数で記録した後の再生信号
のキャリア周波数成分とある周波数におけるノイズ成分
の比でちるＣ／Ｎ比の測定等々がある。

Ｃ）無記録、記録、消去の少なくとも１つを行った後の
信号記憶媒体欠陥に起因する再生信号の振幅変化を検出
する欠陥測定、例えば、媒体の欠陥に起因する無記録時
の再生信号に含まれる擬似記録信号を測定するエクスト
ラエラー測定、あるいは記録時の再生信号に含まれる媒
体欠陥に起因する再生信号測定の落ち込みを頂１ｊ定す
るドロップアクトエラー測定等々がある。

したがって、信号記憶ディスクの試験は、ディスク上の
任意の位置、信号記憶媒体と記録再生を行なうヘッドと
の間の相対速度、記録周波数、記録強度、消去強度、欠
陥測定時の検出条件の少なくとも１つをそれぞれパラメ
ータ、主変数にして、前記物理特性測定、前記再生信号
測定、前記欠陥測定を組み合せて行なうことができる。

〔従来の技術〕

従来のディスク試験システムは、試験条件作成手段と、
試験シーケンス作成手段と、試験制御手段と、試験結果
出力手段とを含んで構成される。

次に従来のディスク試験システムについて図面を参照し
て詳細に説明する。

第５図は従来のディスク試験システムの一例ヲ示すブロ
ック便である。

試験条件作成手段１１ば、ディスク上の位置と前記パラ
メータと前記主２数とからなる試、験条件Ｋを試験条中
打７制御手段１３に設定し、試験シーケンス作成手段１
２は試験条件Ｋに対応し念前記三徨のｎｉ＋￥の少なく
とも１つ以上で構成される測定のジータンス全試放シー
ケンス形として試験制御手段１３に設定し、試験制御手
段１３は試験条件にと試験シーケンス！とに応じた測定
を行ない試験を制御し試験データｍを試験結果出力手段
１４に出力し、試験結果出力手段１４は前記試験データ
ｍを図・表化し試験結果がとして出力する。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述した従来のディスク試験システムは、試験条件、試
験シーケンス、試験データを試験制御手段内のメモリ上
で管理しているため以下の欠点め：あった。

（１）測定条件や測定シーケンスを変えた場合、試験制
御手段内のメモリ構成により制約を受ける。

（２）試験を構成する測定内容が変夛、試胤継条件、試
験シーケンス、試験データの内容に変更がある場合、試
験条件作成手段、試験シーケンス作成手段、試験結果出
力手段のそれぞれを変更する必要があり、多種多様な試
験に対応できない。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明のディスク試験システムは、信号記憶ディスク上
の位置と、記録条件、再生条件、消去条件の少なくとも
２つとからなる測定条件を作成し、記憶手段に登録する
測定条件作成手段と、再生信号の振幅に影響を与えるデ
ィスク表面の物理定数の変動を測定する物理特性６ｔｌ
ｉ定と信号記憶媒体に無記録、記録、消去の少なくとも
１つを行った後の再生信号測定と無記録、記録、消去の
少なくとも１つを行った後の信号記憶媒体の欠陥に起因
する再生信号の振幅変化全検出する欠陥測定との少なく
とも１つで構成される測定のノ■序を作成し記憶手段に
登録する測定シーケンス作成手段と、×前記記憶手段か
ら読み出した前記測定条件を設定し前記記憶手段から読
み出した前記測定シーケンスに従う測定を行ない測定結
果を前記記憶手段に登録する測定制御手段と、ム前記混１定条件と前記田；１定シーケンスと前記測定
結果とをそれぞれファイル群として輔助記憶を行なう記
憶手段と、前記記憶手段から読み出した前記測定シーケンスと前記
測定条件とを参照して前記記憶１手段から読み出した前
記測定結果の取捨選択、集計、演算を行ない試験に必要
な編集データを作成する御１定結果編集手段と、前記編集データの作表９作図を行ない、試験結果として
出力する試験結果出力手段とを含んで構成される。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。

第１図は本発明の一実施例を示すブロック因である。

第１図に示すディスク試険装置に含まれる測定条件作成
手段１の出力である測定条件ａは、記憶手段４に加えら
れ、測定制御手段３に記憶手段４から入力される。測定
シーケンス作成手段２Ｂの測定結果Ｃとは記憶手段４に
加えられる。測定制御手段３は、記憶手段４から測定条
件ａ、測定シーケンスｂ−ｆ入力する。測定結果編集手
段５は記憶手段４から測定結果Ｃを入力し、編集データ
ｄを試験結果出力手段６に出力する。試験結果ｅは、試
験結果出力手段６から出力される。

第２図（ａｌ〜（ｅ）は、本発明の動作シーケンスを説
明するフローチャートである。

第２図ｆａ）は、メインフローを表わすフローチャート
でちゃ、測定条件や測定シーケンスを設定もしくは登録
した地試験を開始し、測定条件を読み出し設定し測定シ
ーケンス全貌み出し測定を実行し測定データを記憶手段
に書き込み測定結果を編集するという一連のシーケンス
衡測定シーク／スに登録てれた分だけ繰り返し、試験結
果を出力するフローに示す。

第２図（ｂｌは、測定条件作成フローの詳細フローチャ
ートであり、測定位置、相対速度、記録周波数、記録強
度、消去強度、欠陥測定検出のｇ＋１定条件の作成フロ
ーを示す。

第２図（Ｃ）は、測定シーケンス作成フローの詳細フロ
ーチャートであり、物理的測定、再生信号測定、欠陥測
定の測定シーケンスの作成フローを示す。

第２図（ｄ）け測定条件涜み出し及び設定フローの詳細
フローチャートであり、測定条件′ｆｒ、記憶手段より
読み込み、読み込′″’！ｆ１−ｆｃテータに従って測
定位置へ移動し、相対速度・記録強度・消去強度・記録
周波数・欠陥測定検出条件を設定するフローを示す。

第２図ｔｅｌは測定シーケンス読み出し及び実行フロー
の詳細２０−チャートでちゃ、測定シーケンスを記憶手
段より読み込み、読み込まれたシーケンスに従って、物
理測定、再生信号測定、欠陥側　　　　　′定を行なう
フローを示す。

第３図は、本発明の一実施例を示す構成図であり、ディ
スク記録・再生部２２とＣ几Ｔ／ＫＢ２４とディスク記
録再生部２２と接続されるマイコンシステム２１と、Ｃ
几Ｔ／ＫＢ２．ｉとハードディスク２３とプリンタ２６
と接続されるパソコンシステム２５と、を含んで構成さ
れる。第２図（ａ）〜ｔｅｌのディスク試験システムに
おいて、測定条件作成手段１と測定シーケンス作成手段
２とは、それぞれマイコンシステム２１　トＣＲＴ／Ｋ
Ｂ　２４　、！：から構成され、測定制御手段３はマイ
コンシステム２１とディスク記録・再生部２２とから構
成され、記憶手段４はハードディスク２３で構成され、
測定結果編集手段５はパソコンシステム２５と、ＣＲＴ
／ＫＢ２４とから構成され、試験結果出力手段６はパソ
コンシステム２５とプリンタ２６とから構成される。

次に、第４図（ａ）〜す）を用いて動作を説明する。

第４図ｆａ）￥ｉ、測定条件、測定シーケンスを示す図
である。第４図（ａｔにおいて、測定条件は、面振れ測
定に対して測定位置がろ周と外周で、媒体感度測定に対
して測定位置が内周と外周で記録条件がそれぞれの位置
で記録強度人、記碌強度Ｂ、記録強度Ｃで示される。ま
た、測定シーケンスは、内周外周それぞれに対して、面
振れ測定→媒体感度測定（記録強度Ａ時）→媒体感度測
定（記録強度Ｃ時）→媒体感度測定（記録強度Ｃ時）と
いうシーケンスを繰り返すことを示す。

第４図（ｂ）　、　（ｃ）は面振れ測定、媒体感度測定
の測定結果の例を示す図であり、横軸はディスクの回転
角度（ｒａｄ）でちゃ、各測定条件に対してそれぞれ同
様な測定結果が存在する。

第４図（ｄ）は試験結果の一例を示す図でお夕、面振れ
測定で得られた測定結果を編集して最大値全面振れ試験
結果として表出力し、媒体感度測定で得られた測定結果
を編集して平均値を試験結果として表出力している。

〔発明の効果〕

本発明のディスク試験システムは、記憶手段上に測定条
件、測定シーケンス、測定結果を登録して、測定結果を
編集することにより試験結果を得ているため、（１）測定条件や測定シーケンスが多種多様化しても前
記各手段内のメモリ構成による制約を受けない（２）試験が多種多様化しても、測定結果編集手段と試
験結果出力手段とを変更するだけで対処でき、多種多様
な試験への対応が容易であるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第３図は本発明の一実施例を示す構成図、第４図（ａＪ
〜（ｄｌは測定条件・測定シーケンス−測定結果・試験
結果の一例を示す説明図、第５図は従来の一例を示すブ
ロック図である。１・・・・・・測定条件作成手段、２・・〜・・・測定
シーケンス作成手段、３・・・・・・測定制御手段、４
・・・・・・記憶手段、５・・・・・・測定結果編集手
段、６・・・・・・試験結果出力手段、１１・・−・・
・試験条件作成手段、１２・・・・・・試験シーケンス
作成手段、１３・・・・・・試験制御手段、１４・・・
・−・試験結果出力手段、２１・・・・・・マイコンシ
ステム、２２・・・・・・ディスク記録再生部、２３・
・・・・・ハ）＊、−＝イスク、２４・・・・・・ＣＲ
Ｔ／ＫＢ、２５・・・シ壓ｊ σＤ第２図（、ａ） σＤ第２図（澱第２図（ｄ）

Claims

【特許請求の範囲】信号記憶ディスク上の位置と、記録条件、再生条件、消
去条件の少なくとも２つとからなる測定条件を作成し、
記憶手段に登録する測定条件作成手段と、再生信号の振
幅に影響を与えるディスク表面の物理定数の変動を測定
する物理特性測定と信号記憶媒体に無記録、記録、消去
の少なくとも１つを行った後の再生信号測定と無記録、
記録、消去の少なくとも１つを行った後の信号記憶媒体
の欠陥に起因する再生信号の振幅変化を検出する欠陥測
定との少なくとも１つで構成される測定の順序を作成し
記憶手段に登録する測定シーケンス作成手段と、前記記憶手段から読み出した前記測定条件を設定し前記
記憶手段から読み出した前記測定シーケンスに従う測定
を行ない測定結果を前記記憶手段に登録する測定制御手
段と、 ×前記測定条件と前記測定シーケンスと前記測定結果と
をそれぞれファイル群として補助記憶を行なう記憶手段
と、 ×前記記憶手段から読み出した前記測定シーケンスと前
記測定条件とを参照して前記記憶手段から読み出した前
記測定結果の取捨選択、集計、演算を行ない試験に必要
な編集データを作成する測定結果編集手段と、 ×前記編集データの作表、作図を行ない試験結果として
出力する試験結果出力手段とを含むことを特徴とするデ
ィスク試験システム。