JPS5890849A - 暗号試験装置 - Google Patents
暗号試験装置Info
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- JPS5890849A JPS5890849A JP56188105A JP18810581A JPS5890849A JP S5890849 A JPS5890849 A JP S5890849A JP 56188105 A JP56188105 A JP 56188105A JP 18810581 A JP18810581 A JP 18810581A JP S5890849 A JPS5890849 A JP S5890849A
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- test
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Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 71
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 8
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 13
- 238000004891 communication Methods 0.000 abstract description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L9/00—Cryptographic mechanisms or cryptographic arrangements for secret or secure communications; Network security protocols
- H04L9/06—Cryptographic mechanisms or cryptographic arrangements for secret or secure communications; Network security protocols the encryption apparatus using shift registers or memories for block-wise or stream coding, e.g. DES systems or RC4; Hash functions; Pseudorandom sequence generators
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L2209/00—Additional information or applications relating to cryptographic mechanisms or cryptographic arrangements for secret or secure communication H04L9/00
- H04L2209/26—Testing cryptographic entity, e.g. testing integrity of encryption key or encryption algorithm
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半二重通信を行なう暗号装置の試験に関する。
一般に、デジタル信号、ファクシミリ信号などのデータ
伝送において、第三者に受信されることを避けるために
暗号化して送信し受信側でこれを解読して受信すること
がある。この場合、送信と受信とを同時に行う全二重通
信方式とブレストーク型の送信受信を行う半二重通信方
式とがある。
伝送において、第三者に受信されることを避けるために
暗号化して送信し受信側でこれを解読して受信すること
がある。この場合、送信と受信とを同時に行う全二重通
信方式とブレストーク型の送信受信を行う半二重通信方
式とがある。
このような暗号装置の送信受信を試験する試験装置は、
装置の動作が半二重であり、送信状態と受信状態とが同
時に起り得ないため、全二重通信用暗号装置で行なって
いるような折り返し試験方式がとれない。そのため、こ
れら送受信回路は自己試験機能を持たないか、または自
己試験機能を持っていても、自己試験を行なう場合には
、送信側の試験と受信側の試験に分けて行なう等の方法
がとられていた。
装置の動作が半二重であり、送信状態と受信状態とが同
時に起り得ないため、全二重通信用暗号装置で行なって
いるような折り返し試験方式がとれない。そのため、こ
れら送受信回路は自己試験機能を持たないか、または自
己試験機能を持っていても、自己試験を行なう場合には
、送信側の試験と受信側の試験に分けて行なう等の方法
がとられていた。
この場合、あらかじめ自己試験用−を暗号装置に設定し
、テスト信号を送信回路または受信回路に与え、送信回
路または受信回路からの出力信号とあらかじめ用意した
自己試験回路におけるテスト信号に対応する判定信号と
を比較し、試験の良否を判定するものであった。ここで
鍵を自己試験用とする理由は、一定のテスト信号を送信
回路ま九は受信回路に与えても、鍵が変化した場合、送
信回路ま九は受信回路の出力信号が鍵に対応して変化し
てしまい、鍵の種類数分のテスト信号に対応する判定４
Ｆｊ１号をあらかじめ準備しておくには膨大な記憶回路
を必要とするためである。したがって、自己試験時に、
送信側と受信側とに分゛けて行なう手間がかかると共に
、任意の鍵に対する試験が行なえないという欠点があっ
た。
、テスト信号を送信回路または受信回路に与え、送信回
路または受信回路からの出力信号とあらかじめ用意した
自己試験回路におけるテスト信号に対応する判定信号と
を比較し、試験の良否を判定するものであった。ここで
鍵を自己試験用とする理由は、一定のテスト信号を送信
回路ま九は受信回路に与えても、鍵が変化した場合、送
信回路ま九は受信回路の出力信号が鍵に対応して変化し
てしまい、鍵の種類数分のテスト信号に対応する判定４
Ｆｊ１号をあらかじめ準備しておくには膨大な記憶回路
を必要とするためである。したがって、自己試験時に、
送信側と受信側とに分゛けて行なう手間がかかると共に
、任意の鍵に対する試験が行なえないという欠点があっ
た。
本発明の目的は、半二重通信を行なう暗号装置の送信状
態と受信状、−を時分割的に切り換えることにより、任
意の鍵に対して自動的に自己試験を行なうことのできる
暗号試験装置を提供することにある。
態と受信状、−を時分割的に切り換えることにより、任
意の鍵に対して自動的に自己試験を行なうことのできる
暗号試験装置を提供することにある。
本発明の４−％試験装置゛は′、デジタル信号を暗号、
化する暗号回路とその暗号化信号を解読する解読回路と
を含む装置の試験を行う暗号試験装置において、所定ス
タート信号に従って所定長のデジタル試験信号を発生す
るテスト信号発生回路と、前記暗号回路で暗号化したデ
ジタル試験信号を記憶し所定時間後に前記解読回路に供
給する記憶回路と、前記解読回路の出力と前記テスト信
号回路の試験信号とを比較しこの比較結果を出力する比
較判定回路と、前記暗号回路および前記解読回路の各同
期信号から前記スタート信号を形成し、前記テスト信号
発生回路に供給する手段と金會み構成される。
化する暗号回路とその暗号化信号を解読する解読回路と
を含む装置の試験を行う暗号試験装置において、所定ス
タート信号に従って所定長のデジタル試験信号を発生す
るテスト信号発生回路と、前記暗号回路で暗号化したデ
ジタル試験信号を記憶し所定時間後に前記解読回路に供
給する記憶回路と、前記解読回路の出力と前記テスト信
号回路の試験信号とを比較しこの比較結果を出力する比
較判定回路と、前記暗号回路および前記解読回路の各同
期信号から前記スタート信号を形成し、前記テスト信号
発生回路に供給する手段と金會み構成される。
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の実施例を含むブロック図である。図中
、点線の内部が自己試験回［１０であり、試験をすべき
暗号装置の送信回路１１と受１６回路１２とに入出力が
接続されており、送信回路１１では暗号化の処理を行な
い、受信回ｊ！！１２では復元の処理を行なうものであ
る。この装置の自己試験状態においては、装置の送信状
態と受信状態が時分割に切り換わる。
、点線の内部が自己試験回［１０であり、試験をすべき
暗号装置の送信回路１１と受１６回路１２とに入出力が
接続されており、送信回路１１では暗号化の処理を行な
い、受信回ｊ！！１２では復元の処理を行なうものであ
る。この装置の自己試験状態においては、装置の送信状
態と受信状態が時分割に切り換わる。
まず、送信状態において、テスト信号発生回路！より所
定の長さく例えば、３２ビツト）のテスト信号が発生さ
れ、そのテスト信号が送信回路１１に入力される。この
送信回路１１で暗号化処理されたテスト信号はメモリ３
に逐次記憶される。次に、この装置が送信状態から受信
状態に切り換わると、メモリ３に記憶されているテスト
信号が読み出され受信回路１２に入力される。この受信
回路１２で暗号の解読処理されて復元したテスト信号は
比較判定回路５に入力される。この比較判定回路５はこ
の受信回路１２より入力される復元したテスト信号と共
にテスト信号発生回路ｌよりテスト信号が同時に入力さ
れるため、比較判定回路５においてこの２つの信号を比
較し、自己試験結果の各ビット毎に調べ良否の判定を行
い表示部４に結果を示す。
定の長さく例えば、３２ビツト）のテスト信号が発生さ
れ、そのテスト信号が送信回路１１に入力される。この
送信回路１１で暗号化処理されたテスト信号はメモリ３
に逐次記憶される。次に、この装置が送信状態から受信
状態に切り換わると、メモリ３に記憶されているテスト
信号が読み出され受信回路１２に入力される。この受信
回路１２で暗号の解読処理されて復元したテスト信号は
比較判定回路５に入力される。この比較判定回路５はこ
の受信回路１２より入力される復元したテスト信号と共
にテスト信号発生回路ｌよりテスト信号が同時に入力さ
れるため、比較判定回路５においてこの２つの信号を比
較し、自己試験結果の各ビット毎に調べ良否の判定を行
い表示部４に結果を示す。
なおここで２つのテスト年号を比較するためには２つの
テスト信号の開始位置を合わせる必要がある。この丸め
送信時においては、メツセージ送出時に鰻初に送出され
る同期信号の終了時漬でのパルスを、また受信時におい
ては、メツセージ受信時に同期信号を受信し九時点での
パルスをオア回路２を介してテスト信号発生回路１のス
タート信号とすることにより、比較時における２つのテ
スト信号の開始位置を合わせている。
テスト信号の開始位置を合わせる必要がある。この丸め
送信時においては、メツセージ送出時に鰻初に送出され
る同期信号の終了時漬でのパルスを、また受信時におい
ては、メツセージ受信時に同期信号を受信し九時点での
パルスをオア回路２を介してテスト信号発生回路１のス
タート信号とすることにより、比較時における２つのテ
スト信号の開始位置を合わせている。
本発明は、以上説明したように、半二重通信を行なう暗
号装置の自己試験時において、装置の送信状態と受信状
態とを時分割に切り換え、送信時に送信回路から出力さ
れるテスト信号をメモリに蓄積し、受信状態にこの信号
を絖み出して受信回路に与えることにより、任意の鍵に
対し自動的に自己試験を行なうことができる。
号装置の自己試験時において、装置の送信状態と受信状
態とを時分割に切り換え、送信時に送信回路から出力さ
れるテスト信号をメモリに蓄積し、受信状態にこの信号
を絖み出して受信回路に与えることにより、任意の鍵に
対し自動的に自己試験を行なうことができる。
第１図は本発明の実施例のプロ、り図を示した回路図で
ある。図において １・・・・・・テスト信号発生回路、２・旧・・オア回
路、３・・・・・・メモリ、４・・・・・・表示部、５
・・・・・・比較判定回路、１０・・・・・・自己試験
回路、１１・・・・・・送信回路、１２・・・・・・受
信回路、である。
ある。図において １・・・・・・テスト信号発生回路、２・旧・・オア回
路、３・・・・・・メモリ、４・・・・・・表示部、５
・・・・・・比較判定回路、１０・・・・・・自己試験
回路、１１・・・・・・送信回路、１２・・・・・・受
信回路、である。
Claims (1)
- デジタル信号を暗号化する暗号回路とその暗号化信号を
解読する解読回路とを含む装置の試験を行う暗号試験装
置において、所定スタート信号に従って所定長のデジタ
ル試験信号を発生するテスト信号発生回路と、前記暗号
回路で暗号化したデジタル試験信号を記憶し所定時間後
に前記解読回路に供給する記憶回路と、前記解読回路の
出力と前記テスト信号発生回路の試験信号とを比較しこ
の比較結果を出力する比較判定回路と、前記暗号回路お
よび前記解読回路の各同期信号から前記スタート信号を
形成し前記テスト信号発生回路に供給する手段とを含む
暗号試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56188105A JPS5890849A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 暗号試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56188105A JPS5890849A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 暗号試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5890849A true JPS5890849A (ja) | 1983-05-30 |
Family
ID=16217784
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56188105A Pending JPS5890849A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 暗号試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5890849A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0199341A (ja) * | 1987-10-13 | 1989-04-18 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 障害検出装置 |
| JPH03500117A (ja) * | 1988-02-01 | 1991-01-10 | モトローラ・インコーポレーテッド | 電子的に再定義可能なアルゴリズムを備えた暗号化方法および装置 |
| JPH04301939A (ja) * | 1991-03-29 | 1992-10-26 | Conditional Access Technol Kenkyusho:Kk | スクランブルデコーダの試験方法及び試験装置 |
| WO1995034150A1 (de) * | 1994-06-04 | 1995-12-14 | Esd Vermögensverwaltungsgesellschaft Mbh | Entschlüsselungseinrichtung von digitalen informationen und verfahren zur durchführung der entschlüsselung dieser informationen |
| WO1995034969A1 (de) * | 1994-06-16 | 1995-12-21 | Esd Vermögensverwaltungsgesellschaft Mbh | Entschlüsselungseinrichtung von digitalen informationen und verfahren zur durchführung der ver- und entschlüsselung derselben |
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| WO2005117333A1 (ja) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Sony Corporation | データ検査装置、データ検査方法及びデータ検査プログラム |
| JP2005341371A (ja) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Nippon Signal Co Ltd:The | 暗号復号回路の動作確認方法及び動作確認装置 |
| JP2012194693A (ja) * | 2011-03-15 | 2012-10-11 | Ricoh Co Ltd | インターフェース回路および画像形成装置 |
| JP2021057802A (ja) * | 2019-09-30 | 2021-04-08 | アンリツ株式会社 | 移動端末試験システム |
Citations (2)
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|---|---|---|---|---|
| JPS5179521A (ja) * | 1975-01-08 | 1976-07-10 | Hitachi Ltd | |
| JPS52129218A (en) * | 1976-04-22 | 1977-10-29 | Mitsubishi Electric Corp | Fault test system of tdma terminal station |
-
1981
- 1981-11-24 JP JP56188105A patent/JPS5890849A/ja active Pending
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