JPS5891168A - マグネトロン型スパッタ装置 - Google Patents
マグネトロン型スパッタ装置Info
- Publication number
- JPS5891168A JPS5891168A JP19207282A JP19207282A JPS5891168A JP S5891168 A JPS5891168 A JP S5891168A JP 19207282 A JP19207282 A JP 19207282A JP 19207282 A JP19207282 A JP 19207282A JP S5891168 A JPS5891168 A JP S5891168A
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- JP
- Japan
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- target
- sputtering
- magnet
- grooves
- ferromagnetic material
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
- H01J37/3402—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
- H01J37/3405—Magnetron sputtering
- H01J37/3408—Planar magnetron sputtering
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はマグネ)oン型スパッタ装置に関し、特にター
ゲットの材料及θ形状を改良したマグネトロン型スパッ
タ装置に係る。
ゲットの材料及θ形状を改良したマグネトロン型スパッ
タ装置に係る。
近年、無公害なメッキ方法として、蒸着法、イオンブレ
ーティング法、スパッタリング法などの真空メッキ法が
盛んに用いられるようになりてきた。これらの方法は、
いずれの場合でもメッキ基板の表面温度が上昇し、特に
プラスチックなどをメッキ基板とする場合には、基板を
劣化される問題があった。このうち、スパッタリング法
は不活性ガスの低真空中でグロー放電を行なったとき、
その放電で陰極(ターゲット)の金属が陽イオンの衝撃
によりたえき出されて、メッキ基板の表面に付着するも
ので、合金の組成を変える之となくメッキ皮膜が得られ
、しかも高融点材料のメッキも可能であるという特色を
有している。しかしこの方法はスパッタ速度が遅く、作
業圧力が高い上、前述の如くメッキ基板の表面温度が上
昇するといった欠点があるため、限られた分野でしか応
用されていなかった。
ーティング法、スパッタリング法などの真空メッキ法が
盛んに用いられるようになりてきた。これらの方法は、
いずれの場合でもメッキ基板の表面温度が上昇し、特に
プラスチックなどをメッキ基板とする場合には、基板を
劣化される問題があった。このうち、スパッタリング法
は不活性ガスの低真空中でグロー放電を行なったとき、
その放電で陰極(ターゲット)の金属が陽イオンの衝撃
によりたえき出されて、メッキ基板の表面に付着するも
ので、合金の組成を変える之となくメッキ皮膜が得られ
、しかも高融点材料のメッキも可能であるという特色を
有している。しかしこの方法はスパッタ速度が遅く、作
業圧力が高い上、前述の如くメッキ基板の表面温度が上
昇するといった欠点があるため、限られた分野でしか応
用されていなかった。
この点を改善するため、ターゲットの裏面に磁石を配置
して放電空間に於ける電界に直交した磁石をかけるよう
にしたマグネトロン型のスパッタ装置が開発された。こ
の装置は放電に伴って生成された電子が磁界によシ曲け
られて、ドリフト運動を行なうようにして、陰極(ター
ゲット)に対向して配置されたメッキ基板に電子が流入
するのを防止して、メッキ基板の温度上昇を抑えるよう
にしたものである。しかもこの装置は磁力線がターゲッ
ト表面近傍で長い連続軌道を持ち高い密度の電子雲が形
成されるため、低い圧力においても効率良く気体を電離
でき、大電力を投入してもメッキ基板の温度上昇が抑え
られるので、蒸着に近い高速スバ、りが可能で、プラス
チックなど熱損傷を受は易いメッキ基板に良好なメッキ
皮膜を形成することができる。
して放電空間に於ける電界に直交した磁石をかけるよう
にしたマグネトロン型のスパッタ装置が開発された。こ
の装置は放電に伴って生成された電子が磁界によシ曲け
られて、ドリフト運動を行なうようにして、陰極(ター
ゲット)に対向して配置されたメッキ基板に電子が流入
するのを防止して、メッキ基板の温度上昇を抑えるよう
にしたものである。しかもこの装置は磁力線がターゲッ
ト表面近傍で長い連続軌道を持ち高い密度の電子雲が形
成されるため、低い圧力においても効率良く気体を電離
でき、大電力を投入してもメッキ基板の温度上昇が抑え
られるので、蒸着に近い高速スバ、りが可能で、プラス
チックなど熱損傷を受は易いメッキ基板に良好なメッキ
皮膜を形成することができる。
しかしながら、このマグネット型スパッタ装置のターゲ
ットは、その材料として強磁性体を使用しないことが常
識とされていた。この理由はターゲットの表面近傍に磁
力線が存在することが低温高速スパッタを行なうための
要件であ・者トとから、鉄、ニッケル、コバルトなどの
強磁性体でターゲットを構成すると、磁力線がこの中を
通シ、外部に出にくくなると考えられていた丸めである
。しかもターゲットはスパッタ材料で構成されているこ
とから、形成されるメッキ皮膜は磁石に吸引されない材
料で、その上、比較的成形性に優れた材料に限定されて
いた。
ットは、その材料として強磁性体を使用しないことが常
識とされていた。この理由はターゲットの表面近傍に磁
力線が存在することが低温高速スパッタを行なうための
要件であ・者トとから、鉄、ニッケル、コバルトなどの
強磁性体でターゲットを構成すると、磁力線がこの中を
通シ、外部に出にくくなると考えられていた丸めである
。しかもターゲットはスパッタ材料で構成されているこ
とから、形成されるメッキ皮膜は磁石に吸引されない材
料で、その上、比較的成形性に優れた材料に限定されて
いた。
またターゲットはこれ自体がスパッタ材料で構成されて
いることからメッキの進行と共に消費されて行き、適宜
、新たなターゲットを取付けなければならず作業性が悪
かった。
いることからメッキの進行と共に消費されて行き、適宜
、新たなターゲットを取付けなければならず作業性が悪
かった。
本発明は、かかる点に鑑み、強磁性体を始めとして、あ
らゆる材料のスパッタリングが可能で、しかも低温高速
のスパッタリングが可能なマグネトロン型スパッタ装置
を提供することを目的とするものである。
らゆる材料のスパッタリングが可能で、しかも低温高速
のスパッタリングが可能なマグネトロン型スパッタ装置
を提供することを目的とするものである。
以下、本発明を図面を参照して詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すもので、図中の1は鉄
、ニッケル、コバルト、又はこれらの合金からなる強磁
性体のターゲットであシ、このターゲット1の裏面には
E字形状をなす磁石2が設けられている。また、前記磁
石2のN極と8極の中間に位置するターゲット1の表面
にはU型状をなす2個の溝部3.3が形成され、該溝部
3,3の対向する端部の一方はN極、他方が8極となる
。前記磁石2には該磁石2を支持するカバー4が取付け
られている。更にこのカバー4は絶縁碍子5を介して真
空壁6の開口部に取付けられ、この真空壁6により大気
側7と内部の真空側8とを隔離している。
、ニッケル、コバルト、又はこれらの合金からなる強磁
性体のターゲットであシ、このターゲット1の裏面には
E字形状をなす磁石2が設けられている。また、前記磁
石2のN極と8極の中間に位置するターゲット1の表面
にはU型状をなす2個の溝部3.3が形成され、該溝部
3,3の対向する端部の一方はN極、他方が8極となる
。前記磁石2には該磁石2を支持するカバー4が取付け
られている。更にこのカバー4は絶縁碍子5を介して真
空壁6の開口部に取付けられ、この真空壁6により大気
側7と内部の真空側8とを隔離している。
また前記磁石2にはカバー4を通して冷却水の流入管9
と流出管10とが設けられ、磁石2を常時冷却するよう
になっている。
と流出管10とが設けられ、磁石2を常時冷却するよう
になっている。
11は陰極となるターゲット1に対向して配置された陽
極で、電源12を介して陰極側の磁石2に接続されてい
る。なお図において13はメッキ基板、14はガスケッ
トを夫々示す。
極で、電源12を介して陰極側の磁石2に接続されてい
る。なお図において13はメッキ基板、14はガスケッ
トを夫々示す。
しかして、上記マグネトロン型スパッタ装置において、
その作用を説明すると、先ず装置内を低真空にしてアル
ゴンガスを導入し、所定の内圧に保持する。一方、磁石
2によりターゲット1に磁場を与えると、該ターゲット
1の厚さは溝部3.3の箇所で部分的に薄くしであるの
で、比較的磁力の弱い磁石2を用いても容易に磁気飽和
体に達し、溝部3.3の所で破總で示すように磁力線1
5がN極とS極との間に形成される。この状態で電源1
2により陰極となるターゲット1と陽極11との間に電
圧を印加すると、グロー放電が生じてターゲット1を構
成するスパッタ材料が陽イオンの衝撃により前記溝部3
.3から優先的にた九き出され、メッキ基板13の表面
に付着して強磁性体のメッキ皮膜16が形成され、低温
高速のマグネトロンスパッタがなされる。
その作用を説明すると、先ず装置内を低真空にしてアル
ゴンガスを導入し、所定の内圧に保持する。一方、磁石
2によりターゲット1に磁場を与えると、該ターゲット
1の厚さは溝部3.3の箇所で部分的に薄くしであるの
で、比較的磁力の弱い磁石2を用いても容易に磁気飽和
体に達し、溝部3.3の所で破總で示すように磁力線1
5がN極とS極との間に形成される。この状態で電源1
2により陰極となるターゲット1と陽極11との間に電
圧を印加すると、グロー放電が生じてターゲット1を構
成するスパッタ材料が陽イオンの衝撃により前記溝部3
.3から優先的にた九き出され、メッキ基板13の表面
に付着して強磁性体のメッキ皮膜16が形成され、低温
高速のマグネトロンスパッタがなされる。
なお、溝部3の形状としては、第1図に示すようにU型
状のものに限らず第2図に示すようにV型状をなすもの
、あるいは第3図に示すように皿状をなすものなど何れ
の形状のものでも良い。
状のものに限らず第2図に示すようにV型状をなすもの
、あるいは第3図に示すように皿状をなすものなど何れ
の形状のものでも良い。
更に本発明は、スパッタ材料自体でターゲット1を構成
せず、第4図に示すように強磁性体でターゲット1を構
成すると共に、とのターゲット10表面に設けた溝部3
に非磁性材料からなるスパッタ材料17を充填して、ス
パッタリングを行なっても良い、この場合、前記溝部3
に対応して、スパッタ材料17を溝部3に供給するフィ
ーダー18.18が設けられている。
せず、第4図に示すように強磁性体でターゲット1を構
成すると共に、とのターゲット10表面に設けた溝部3
に非磁性材料からなるスパッタ材料17を充填して、ス
パッタリングを行なっても良い、この場合、前記溝部3
に対応して、スパッタ材料17を溝部3に供給するフィ
ーダー18.18が設けられている。
この装置では、磁石2の磁力を調整し、溝部30所で、
その端部の一方をN極、他方をS極として、これらの間
に磁力線15が形成されるようにすると、強磁性体で構
成されたターゲット1がスパッタリングに対して安定と
なり、溝部3に充填した非磁性体からなるスパッタ材料
17が優先的にスパッタリングされて、メッキ基板13
の表面に低温高速でメッキ皮膜16を形成させることが
できる。
その端部の一方をN極、他方をS極として、これらの間
に磁力線15が形成されるようにすると、強磁性体で構
成されたターゲット1がスパッタリングに対して安定と
なり、溝部3に充填した非磁性体からなるスパッタ材料
17が優先的にスパッタリングされて、メッキ基板13
の表面に低温高速でメッキ皮膜16を形成させることが
できる。
従って、スパッタ材料12としては粉状、粒状をなす材
料や、成形性の悪い材料、あるいは高価な材料などでメ
ッキ皮膜16を形成する場合に%に有効である。また異
種金属の粉体、粒体を混合したスパッタ材料17を充填
することにより、容易に所定の組成比の合金メッキ皮膜
16を形成することもできる。また上記装置はフィーダ
ー18を備えていることからスパッタ材料11が連続的
に供給され、従来の如くスパVり材料自体でターゲット
を構成し、次第に消耗して行くものに比べて、著しく作
業性を向上させることができる。
料や、成形性の悪い材料、あるいは高価な材料などでメ
ッキ皮膜16を形成する場合に%に有効である。また異
種金属の粉体、粒体を混合したスパッタ材料17を充填
することにより、容易に所定の組成比の合金メッキ皮膜
16を形成することもできる。また上記装置はフィーダ
ー18を備えていることからスパッタ材料11が連続的
に供給され、従来の如くスパVり材料自体でターゲット
を構成し、次第に消耗して行くものに比べて、著しく作
業性を向上させることができる。
なお上記実施例ではフィーダー18を備えたものについ
て示したが、スパッタ材料11が箔状であるような場合
には、自動的に供給することが難しく、必ずしもフィー
ダー18を設けていなくとも良い。
て示したが、スパッタ材料11が箔状であるような場合
には、自動的に供給することが難しく、必ずしもフィー
ダー18を設けていなくとも良い。
次に、本発明の具体的表実施例について説明する。
実施例1
第4図に示す如きスパッタ装置に&いて、フィーダー1
8を設けず、ま九ターゲット1を鉄で構成して、その表
面にはげ4 W I深さ4mの溝部3.3を形成し九も
のを用いた。前記溝部3.3にスパッタ材料17として
銀のリボン材を挿入、充填した。この状態で装置内を真
空にしてアルゴンガスを導入し、アルゴン分圧を3 X
10”−”Torrとし、直流電圧420V、電流2
Aの電力を与えた。またメッキ基板13としてプラスチ
ック板を用い、メッキ基板13とターゲット1の距離を
100nとしてスパッタリングを行なり九ところ、プラ
スチック板の表面に400オノグストロ一ム/分の成膜
速度で成好な釧メッキ皮膜が形成され、ま九プラスチッ
ク板の表面には何ら熱変形は認められなかつ九。
8を設けず、ま九ターゲット1を鉄で構成して、その表
面にはげ4 W I深さ4mの溝部3.3を形成し九も
のを用いた。前記溝部3.3にスパッタ材料17として
銀のリボン材を挿入、充填した。この状態で装置内を真
空にしてアルゴンガスを導入し、アルゴン分圧を3 X
10”−”Torrとし、直流電圧420V、電流2
Aの電力を与えた。またメッキ基板13としてプラスチ
ック板を用い、メッキ基板13とターゲット1の距離を
100nとしてスパッタリングを行なり九ところ、プラ
スチック板の表面に400オノグストロ一ム/分の成膜
速度で成好な釧メッキ皮膜が形成され、ま九プラスチッ
ク板の表面には何ら熱変形は認められなかつ九。
実施例2
第4図に示す如きスパッタ装置においてフづ−ダー18
を設けず、またターゲット1を鉄で構成し、その表面に
第3図に示すような皿状の溝部3を形成したものを用い
た。この溝部3に、約50メツシーの金粉末と、同じく
約50メツシユの銀粉末を予じめ重量比で1:1とまる
ように混合した混合粉末をスパッタ材料17として充填
し九、この状態でアルゴン分圧を3 X 10−”To
rrとし、直流電圧400V、電流1.5Aとして、プ
ラスチック板からなるメッキ基板130表面にスパッタ
リングを行なったところ、表面に300オンゲスト目−
ム/分の成膜速度でAu−Ag合金のメッキ皮膜が得ら
れた。
を設けず、またターゲット1を鉄で構成し、その表面に
第3図に示すような皿状の溝部3を形成したものを用い
た。この溝部3に、約50メツシーの金粉末と、同じく
約50メツシユの銀粉末を予じめ重量比で1:1とまる
ように混合した混合粉末をスパッタ材料17として充填
し九、この状態でアルゴン分圧を3 X 10−”To
rrとし、直流電圧400V、電流1.5Aとして、プ
ラスチック板からなるメッキ基板130表面にスパッタ
リングを行なったところ、表面に300オンゲスト目−
ム/分の成膜速度でAu−Ag合金のメッキ皮膜が得ら
れた。
実施例3
第4図に示す如きフィーダー18.18を2個設けたス
パッタ装置において、ターゲット1を鉄で構成し、その
表面に第3図に示すような皿状の溝部3を形成し九もの
を用いた。前記フィーダー18からスパッタ材料11と
して粒径0.5〜1■の金属クロムを溝部3に連続的に
供給した。また装置内のアルゴン分圧を2.2 x 1
0−”Torrとし、直流電圧400V、電流2.5A
で、プラスチック板からなるメッキ基板13の表面にス
パッタリングを行なったところ、純度の高い金属クロム
のメッキ皮膜が形成され、また連続作業が可能であった
。
パッタ装置において、ターゲット1を鉄で構成し、その
表面に第3図に示すような皿状の溝部3を形成し九もの
を用いた。前記フィーダー18からスパッタ材料11と
して粒径0.5〜1■の金属クロムを溝部3に連続的に
供給した。また装置内のアルゴン分圧を2.2 x 1
0−”Torrとし、直流電圧400V、電流2.5A
で、プラスチック板からなるメッキ基板13の表面にス
パッタリングを行なったところ、純度の高い金属クロム
のメッキ皮膜が形成され、また連続作業が可能であった
。
実施例4
第4図に示す如きフィーダー18 、.1.IIを2個
設けたスパッタ装置において、ターゲット1をニッケル
で構成し、一方のフィーダー18に約50メツシ旗の金
粉末を入れ、他方のフィーダー18に約50メツシユの
錫粉末を入れた。
設けたスパッタ装置において、ターゲット1をニッケル
で構成し、一方のフィーダー18に約50メツシ旗の金
粉末を入れ、他方のフィーダー18に約50メツシユの
錫粉末を入れた。
また装置内のアルゴン分圧を2.2 X 10−”To
rr 。
rr 。
直流電圧450V、電流2.5Aとし、一方のフィーダ
ー18からスパッタ材料17として金粉末を溝部3に供
給しながらスパッタリングを行なった後、他方のフィー
ダー18から別のスパッタ材料17として錫粉末を他方
の溝部3に供給してスパッタリングを行ない、この操作
を交互に行なった。この結果、プラスチックからなるメ
ッキ基板13の表面に金と錫の多層メッキ皮膜が形成さ
れ、またプラスチックの表面には側ら熱変形は認められ
なかった。
ー18からスパッタ材料17として金粉末を溝部3に供
給しながらスパッタリングを行なった後、他方のフィー
ダー18から別のスパッタ材料17として錫粉末を他方
の溝部3に供給してスパッタリングを行ない、この操作
を交互に行なった。この結果、プラスチックからなるメ
ッキ基板13の表面に金と錫の多層メッキ皮膜が形成さ
れ、またプラスチックの表面には側ら熱変形は認められ
なかった。
以上説明した如く、本発明に係るマグネトロン型スパッ
タ装置によれば、従来、不可能とされていた強磁性体を
始め、あらゆる材料の低温高速スパッタリングが可能で
あり、かつターゲラ)K溝部を設けてここに充填したス
パッタ材料を優先的にスパッタリングできるので、成盤
性の悪い材料や、粉状、粒状、あるいは箔状力ど何れの
形状の材料でも容易にスパッタリングすることができる
。更に本発明によれば、ターゲットに設けた溝部に対応
してスパッタ材料を供給するフィーダーを設けることに
よシ、連続作業も可能になるなど、スパッタ材料自体で
ターゲットを構成していた従来装置に比べて著しく作業
性を向上させることができる。
タ装置によれば、従来、不可能とされていた強磁性体を
始め、あらゆる材料の低温高速スパッタリングが可能で
あり、かつターゲラ)K溝部を設けてここに充填したス
パッタ材料を優先的にスパッタリングできるので、成盤
性の悪い材料や、粉状、粒状、あるいは箔状力ど何れの
形状の材料でも容易にスパッタリングすることができる
。更に本発明によれば、ターゲットに設けた溝部に対応
してスパッタ材料を供給するフィーダーを設けることに
よシ、連続作業も可能になるなど、スパッタ材料自体で
ターゲットを構成していた従来装置に比べて著しく作業
性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はターゲットの表面に溝部を設けたマグネ)oン
型スパッタ装置の正面断面図、第2図および第3図は夫
々異なる溝部の形状を示すターゲットの要部断面図、第
4図祉溝部に対応してフィーダーを設けたマグネトロン
型スパッタ装置の正面断面図である。 1・・・ターゲット、2・・・磁石、3・・・溝部、6
:・。 真空壁、11・・・陽極、12・・・電源、13・・・
メッキ基板、15・・・磁力線、16・・・メッキ凍膜
、17・・・スパッタ材料、18・・・フィーダ7゜出
願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図 z 第2図 第3図
型スパッタ装置の正面断面図、第2図および第3図は夫
々異なる溝部の形状を示すターゲットの要部断面図、第
4図祉溝部に対応してフィーダーを設けたマグネトロン
型スパッタ装置の正面断面図である。 1・・・ターゲット、2・・・磁石、3・・・溝部、6
:・。 真空壁、11・・・陽極、12・・・電源、13・・・
メッキ基板、15・・・磁力線、16・・・メッキ凍膜
、17・・・スパッタ材料、18・・・フィーダ7゜出
願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図 z 第2図 第3図
Claims (2)
- (1) ターゲットの裏面に磁石を設けたマグネトロ
ン型スパッタ装置において、前記ターゲットを鉄、ニッ
ケル、コバルト又はこれらの合金などの強磁性体で形成
し、かつ前記磁石のN極とS極の中間に位置するターゲ
ットの表面に1個又は複数個の溝部を設け、該溝部の対
向する端部がN極又はS極となるようにしたことを特徴
とするマグネトロン型スパッタ装置。 - (2) ターゲットの表面に設けた溝部に対応して、
これにスパッタ材料を供給するフィーダーを備えたこと
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載のマグネトロン
型スパッタ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19207282A JPS5943548B2 (ja) | 1982-11-01 | 1982-11-01 | マグネトロン型スパッタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19207282A JPS5943548B2 (ja) | 1982-11-01 | 1982-11-01 | マグネトロン型スパッタ装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP54054986A Division JPS5813622B2 (ja) | 1979-05-04 | 1979-05-04 | マグネトロン型スパッタ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5891168A true JPS5891168A (ja) | 1983-05-31 |
| JPS5943548B2 JPS5943548B2 (ja) | 1984-10-23 |
Family
ID=16285160
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19207282A Expired JPS5943548B2 (ja) | 1982-11-01 | 1982-11-01 | マグネトロン型スパッタ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5943548B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2551459A1 (fr) * | 1983-08-31 | 1985-03-08 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Cathode d'atomisation |
| WO1999034029A1 (fr) * | 1997-12-26 | 1999-07-08 | Japan Energy Corporation | Cible de pulverisation a corps magnetique |
| KR100948547B1 (ko) | 2007-12-11 | 2010-03-18 | 한국원자력연구원 | 고진공 마그네트론 스퍼터링 건 |
| RU180112U1 (ru) * | 2017-04-20 | 2018-06-04 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Поволжский государственный технологический университет" | Магнетрон с увеличенным коэффициентом использования материала мишени |
-
1982
- 1982-11-01 JP JP19207282A patent/JPS5943548B2/ja not_active Expired
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| Publication number | Publication date |
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| JPS5943548B2 (ja) | 1984-10-23 |
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