JPS5896242A - 水分量測定装置 - Google Patents
水分量測定装置Info
- Publication number
- JPS5896242A JPS5896242A JP56194904A JP19490481A JPS5896242A JP S5896242 A JPS5896242 A JP S5896242A JP 56194904 A JP56194904 A JP 56194904A JP 19490481 A JP19490481 A JP 19490481A JP S5896242 A JPS5896242 A JP S5896242A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- measured
- amount
- measuring device
- fluorescent
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、放射線の透過特性等を利用して、走行する帯
状の被測定体に含有されている水分量を測定する水分量
測定装置に関する。
状の被測定体に含有されている水分量を測定する水分量
測定装置に関する。
このような水分量測定装置の従来例として、走行する被
測定体である紙に近赤外線を透過させ、該近赤外線の特
定波長の減少量から上記紙に含まれる水分量を測定する
装置がある。すなわち、蚊装置においては、近赤外線の
１．ｅａｕ（若しくは１．４ｅｐ）の波長が水分により
吸収されることを利用し、該特定波長の減少量から上記
紙に含まれる水分量を測定せんとするものである。
測定体である紙に近赤外線を透過させ、該近赤外線の特
定波長の減少量から上記紙に含まれる水分量を測定する
装置がある。すなわち、蚊装置においては、近赤外線の
１．ｅａｕ（若しくは１．４ｅｐ）の波長が水分により
吸収されることを利用し、該特定波長の減少量から上記
紙に含まれる水分量を測定せんとするものである。
然し乍ら、上記従来例においては、近赤外線という光が
測定媒体であるため、被測定体としての紙が厚くなるに
つれて上記光が上記被測定体を透過しＫ＜＜なり、究極
的に水分の測定感度が低下するという°欠点があった。
測定媒体であるため、被測定体としての紙が厚くなるに
つれて上記光が上記被測定体を透過しＫ＜＜なり、究極
的に水分の測定感度が低下するという°欠点があった。
また、このような欠点を回避する丸め、被測定体の表面
で上記光を反射させ反射光の特定波長減少量から上記被
測定体に含まれる水分量を測定するいわゆる反射型の装
置が用いられること４ｈあるが、皺装置では被測定体の
表面付近の水分量しか検出されないという欠点があった
。更に、被測定体である紙に含まれる水分には、自由水
、結合水、および凝縮水という３種類もの型態の水があ
り、該ｍｓに応じて各種特性が夫々異なるため、辷れも
全ての形＠（Ｄ水を従来の装置で直接測定することは根
本的に無理であゐという欠点があった。
で上記光を反射させ反射光の特定波長減少量から上記被
測定体に含まれる水分量を測定するいわゆる反射型の装
置が用いられること４ｈあるが、皺装置では被測定体の
表面付近の水分量しか検出されないという欠点があった
。更に、被測定体である紙に含まれる水分には、自由水
、結合水、および凝縮水という３種類もの型態の水があ
り、該ｍｓに応じて各種特性が夫々異なるため、辷れも
全ての形＠（Ｄ水を従来の装置で直接測定することは根
本的に無理であゐという欠点があった。
本発明は、かかる欠点に鑑みてなされたものであシ、そ
の目的は、上記欠点が全て除去され被測定体に含有され
ている水分量を正確に測定できるような水分量測定装置
を提供することにある。
の目的は、上記欠点が全て除去され被測定体に含有され
ている水分量を正確に測定できるような水分量測定装置
を提供することにある。
以下、本発明にりいて図を用いて詳細に説明する。第１
図線紙中の水と該水の水素結合によって結合されて紙を
構成しているセルロースの一般的な化学式を示す構造図
である。また、第２図は本発明実施例の構成説明図であ
り、図中、１は第２図の紙面上例えば垂直方向に走行す
る帯状の紙でなる被測定体、２１はβ線を発するβＩＩ
源、２ｂはβ線源２１から発せられ被測定体１を透過し
たβ線を検出するβ線検出器、３ａＦｉＸｌｉを発する
ＸＩＩ源、３ｂｅｉＸ線源３ａから発せられ被測定体１
０表面で反射し螢光Ｘ線となうて到達するＸ線を検出す
る螢光Ｘ線検出器、３ｃはＸ線源３ｍから発せられ１被
測ばコンビ為−夕でなる演算部、５は表示部である。
図線紙中の水と該水の水素結合によって結合されて紙を
構成しているセルロースの一般的な化学式を示す構造図
である。また、第２図は本発明実施例の構成説明図であ
り、図中、１は第２図の紙面上例えば垂直方向に走行す
る帯状の紙でなる被測定体、２１はβ線を発するβＩＩ
源、２ｂはβ線源２１から発せられ被測定体１を透過し
たβ線を検出するβ線検出器、３ａＦｉＸｌｉを発する
ＸＩＩ源、３ｂｅｉＸ線源３ａから発せられ被測定体１
０表面で反射し螢光Ｘ線となうて到達するＸ線を検出す
る螢光Ｘ線検出器、３ｃはＸ線源３ｍから発せられ１被
測ばコンビ為−夕でなる演算部、５は表示部である。
ｂ
更に１β線＄２ｍおよびβ線検出器からβ線方式坪量測
定器が構成され、Ｘ線源３ａ、螢光ｘｇ検出器３ｂ、お
よび透過Ｘ線検出＠３ａから螢光Ｘ線方式炭素測定器が
構成されるとともに、該螢光ＸＩｓ方式嶽素測定器と上
記β線方式坪量測定器は通常−緒に例えば第２図の紙面
上水平方向に走査させられ石ようになっている。淘、透
過Ｘ線検出器３ｃは全く除去され、Ｘ ＩＩ ＃ ３ｍ
と螢光Ｘ線検出器３ｂにけで螢光Ｘ線方式炭素測定装置
が構成されていて４よいものとする。また演算部４と表
示部５が一体化され、演算・表示部として演算機能と表
示機能を一緒に行なわせられ石ようにしてもよい。
定器が構成され、Ｘ線源３ａ、螢光ｘｇ検出器３ｂ、お
よび透過Ｘ線検出＠３ａから螢光Ｘ線方式炭素測定器が
構成されるとともに、該螢光ＸＩｓ方式嶽素測定器と上
記β線方式坪量測定器は通常−緒に例えば第２図の紙面
上水平方向に走査させられ石ようになっている。淘、透
過Ｘ線検出器３ｃは全く除去され、Ｘ ＩＩ ＃ ３ｍ
と螢光Ｘ線検出器３ｂにけで螢光Ｘ線方式炭素測定装置
が構成されていて４よいものとする。また演算部４と表
示部５が一体化され、演算・表示部として演算機能と表
示機能を一緒に行なわせられ石ようにしてもよい。
上記構成からなる本発明の実施例について、以下動作の
説明を行なう。第２図において、被測定体１は上述の如
く垂直方向に走行し、上記β線方式坪量測定器および螢
光Ｘ線方式炭素測定器が上述の如く水平方向に滝査畜せ
られている。また、β線源２凰から発せられたβ線は、
被測定体１を透過して減衰し表からβ線検出器２ｂに至
って検出され、骸検出信号が演算部４に入力されて被測
定体１の坪量が求められる。一方、Ｘ線源３ａから放射
されたＸ線は、被測定体１によって一部が反射されて螢
光ｘＩＩとなり螢光ｘ１ｍ検出器３ｂに到達してＪ偵）
検出信号は夫々演算部４へ入力され、所定の演算処理が
施こされて被測定体１に含有されている炭素量が求めら
れる。また、演算部４において、上記炭素量に更なる所
定の演算処理（セルロースの分子式が第１図の化学構造
式からも明らか−スの重量が求められる。更に、演算部
４において、上述のようＫして求められた被測定体１の
上記秤量から上記セルロースの重量が差し引かれる所定
の演算処理が施こされて、上記被測定体１に含有されて
いる水分量が算出され、その後、該算出信号が表示部５
へ入力され、被測定体１に含有されている水分量として
表示部５で表示される。
説明を行なう。第２図において、被測定体１は上述の如
く垂直方向に走行し、上記β線方式坪量測定器および螢
光Ｘ線方式炭素測定器が上述の如く水平方向に滝査畜せ
られている。また、β線源２凰から発せられたβ線は、
被測定体１を透過して減衰し表からβ線検出器２ｂに至
って検出され、骸検出信号が演算部４に入力されて被測
定体１の坪量が求められる。一方、Ｘ線源３ａから放射
されたＸ線は、被測定体１によって一部が反射されて螢
光ｘＩＩとなり螢光ｘ１ｍ検出器３ｂに到達してＪ偵）
検出信号は夫々演算部４へ入力され、所定の演算処理が
施こされて被測定体１に含有されている炭素量が求めら
れる。また、演算部４において、上記炭素量に更なる所
定の演算処理（セルロースの分子式が第１図の化学構造
式からも明らか−スの重量が求められる。更に、演算部
４において、上述のようＫして求められた被測定体１の
上記秤量から上記セルロースの重量が差し引かれる所定
の演算処理が施こされて、上記被測定体１に含有されて
いる水分量が算出され、その後、該算出信号が表示部５
へ入力され、被測定体１に含有されている水分量として
表示部５で表示される。
以上詳しく説明したような本発明の実施例によれば、被
測定体の坪量から諌被測定体に含まれているセルロース
の重量を減算して骸被測定体に含まれる水分量を求める
ような構成であるため、前記３種類の形態等に影響され
ることなく被測定体に含有されでいる水分量を正確に測
定できるという利点を有する。また、前記光に比してβ
線やＸ−は被測定体を透過し易いため、被測定体が厚く
な９例えば紙の秤量が大きくなっても、被測定体に非接
触状態を保ちなから該被測定体に含有されている水分量
を常に正確に測定できるという利点４有する。伺、Ｘ線
方式炭素測定器を用いず、被測定体中の１４ｃの放射線
量を測定して被測定体中の炭素量を求めるようにしても
よく、著しくは１３Ｃの核磁気共鳴を利用して被測定体
中の炭素量を求めるようＫしてもよいものとする。
測定体の坪量から諌被測定体に含まれているセルロース
の重量を減算して骸被測定体に含まれる水分量を求める
ような構成であるため、前記３種類の形態等に影響され
ることなく被測定体に含有されでいる水分量を正確に測
定できるという利点を有する。また、前記光に比してβ
線やＸ−は被測定体を透過し易いため、被測定体が厚く
な９例えば紙の秤量が大きくなっても、被測定体に非接
触状態を保ちなから該被測定体に含有されている水分量
を常に正確に測定できるという利点４有する。伺、Ｘ線
方式炭素測定器を用いず、被測定体中の１４ｃの放射線
量を測定して被測定体中の炭素量を求めるようにしても
よく、著しくは１３Ｃの核磁気共鳴を利用して被測定体
中の炭素量を求めるようＫしてもよいものとする。
第１図はセルＵ−スの化学式を示す構造図、第２図は本
発明実施例の構成説明図である。 １・・・被測定体、２ｍ・・・β線源、２ｂ・・・β線
検出器、３１Ｌ・・・Ｘｌｌ１ｌ１１１３ｂ・・・螢光
ＸＩｓ検出器、３ｃｍ透過Ｘ線検出器、４・・・演算部
、５・・・表示部。
発明実施例の構成説明図である。 １・・・被測定体、２ｍ・・・β線源、２ｂ・・・β線
検出器、３１Ｌ・・・Ｘｌｌ１ｌ１１１３ｂ・・・螢光
ＸＩｓ検出器、３ｃｍ透過Ｘ線検出器、４・・・演算部
、５・・・表示部。
Claims (1)
- 走行する帯状の被測定体に含有゛されている水分量を測
定する水分量測定装置において、前記被測定体にβ線を
透過させて前記被測定体の坪量を測定するβ線方式坪量
測定器と、前記被測定体にＸ線を透過若しく線反射させ
て前記被測定体に含有基れる炭素量を測定するＸ線方式
炭素測定器とを具備し、該Ｘ線方式炭素測定器で求めら
れた炭素量から前記被測定体に含有されるセルロース量
を算出し、前記β線方式坪量測定器で求められた坪量か
ら前記セルロース量を減算することによって前記被測定
体に含有されている水分量を求めることを特徴とする水
分量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56194904A JPS5896242A (ja) | 1981-12-03 | 1981-12-03 | 水分量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56194904A JPS5896242A (ja) | 1981-12-03 | 1981-12-03 | 水分量測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5896242A true JPS5896242A (ja) | 1983-06-08 |
Family
ID=16332263
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56194904A Pending JPS5896242A (ja) | 1981-12-03 | 1981-12-03 | 水分量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5896242A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61134649A (ja) * | 1984-12-05 | 1986-06-21 | Yokogawa Electric Corp | 物理量測定装置 |
-
1981
- 1981-12-03 JP JP56194904A patent/JPS5896242A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61134649A (ja) * | 1984-12-05 | 1986-06-21 | Yokogawa Electric Corp | 物理量測定装置 |
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