JPS5897866A - 絶縁ゲ−ト型電界効果トランジスタ - Google Patents
絶縁ゲ−ト型電界効果トランジスタInfo
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- JPS5897866A JPS5897866A JP56197091A JP19709181A JPS5897866A JP S5897866 A JPS5897866 A JP S5897866A JP 56197091 A JP56197091 A JP 56197091A JP 19709181 A JP19709181 A JP 19709181A JP S5897866 A JPS5897866 A JP S5897866A
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- semiconductor region
- region
- conductive
- conductive layers
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/60—Insulated-gate field-effect transistors [IGFET]
- H10D30/64—Double-diffused metal-oxide semiconductor [DMOS] FETs
- H10D30/66—Vertical DMOS [VDMOS] FETs
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は絶縁ゲート型電界効果トランジスタ(以下簡単
の為単にトランジスタと外す)の改良に関する。
の為単にトランジスタと外す)の改良に関する。
本出願人勢は%願紹56−27295号に於て次の如き
構成のトランジスタを提案している。
構成のトランジスタを提案している。
即ち、纂1図及びII!21Elに示す如く、例えばF
’JIIの千尋体層1下にN” jlfの半導体層2を
配してなる構成を有する半導体基板3を用いて、複数の
トランジスタQがマトリクス状に配列形成されている。
’JIIの千尋体層1下にN” jlfの半導体層2を
配してなる構成を有する半導体基板3を用いて、複数の
トランジスタQがマトリクス状に配列形成されている。
各トランジスタQは、半導体基板3をドレイン領域とし
、而してその半導体基&s内に、その半導体層1の半導
体層2儒とは反対側の面でなる主面4側より、P型のチ
ャンネル形成用領域としての半導体領域Z1が、半導体
基@5の主面4儒に半導体領域z1にて取囲まれた半導
体基板3の半導体層1による半導体領域z2か形成され
るべく形成され、一方半導体領域z1内にその主面4側
の面側より継型のソース領域としての半導体領域z3が
、半導体領域z1の主面4側の面側に半導体領域z3に
てIiL囲菫れた半導体領域z1による半導体領域Z4
が形成されるべく形成され、又半導体領域z3の主面4
1I!iの面上にソース電極としての導電性層M1が附
され、更に半導体領域z1の半導体領域z3よりみて半
導体領域Z4側とは反対側の領域z6に導電性層M1と
連結せるパックゲート電極としての導電性層M6が附さ
れ、尚更に半導体領域z4の主面4@の向上にゲート絶
縁層としての絶縁層5を介してゲート電極としての導電
性層M2が配され、又半導体基板5の半導体層2の半導
体層1側とは反対側の主面6上にドレイン電極としての
導電性層M4が附されてなる構成を有する。又各トラン
ジスタQは、半導体基板Sの半導体領域z2の主面4側
の面上に、絶縁層5よりこれと一体に連続延長せる絶縁
層21を介して制御用IIE極としての導電性層M5が
配されてなる構成を有する。但しこの場合導電性層M3
は、出来得る限りチャンネル形成用領域としての半導体
領域z1の領域Z4上に近い位置迄延長せしめるを可と
するも、ゲート電極としての導電性層M2に連接せしめ
ないことは注意すべきである。更に各トランジスタQは
、ソース領域としての半導体領域z3、ゲ、、−ト絶縁
層としての絶縁層5乃至絶縁層21、及びゲート電極と
しての導電性層M2上に、そのソース−電極としての導
電性層M1と制御用電極としての導電性mM5との間に
延長せる絶縁層22が形成され、而してその絶縁層22
上に導電性層M1及びM3間にそれ咎と一体に延長せる
導電性層M7が形成され、従ってソース電極としての導
電性層M1と制御用電極としての導電性層M3とが、ゲ
ート電極としての導電性層M2上にこれと連接すること
なしに対向延長している導電性層M7にて互に連結され
てなる構成を有する。この場合、導電性層M7かゲート
1に極としての導電性層M2の全域に亘って対向延長し
ていることは注意すべきである。
、而してその半導体基&s内に、その半導体層1の半導
体層2儒とは反対側の面でなる主面4側より、P型のチ
ャンネル形成用領域としての半導体領域Z1が、半導体
基@5の主面4儒に半導体領域z1にて取囲まれた半導
体基板3の半導体層1による半導体領域z2か形成され
るべく形成され、一方半導体領域z1内にその主面4側
の面側より継型のソース領域としての半導体領域z3が
、半導体領域z1の主面4側の面側に半導体領域z3に
てIiL囲菫れた半導体領域z1による半導体領域Z4
が形成されるべく形成され、又半導体領域z3の主面4
1I!iの面上にソース電極としての導電性層M1が附
され、更に半導体領域z1の半導体領域z3よりみて半
導体領域Z4側とは反対側の領域z6に導電性層M1と
連結せるパックゲート電極としての導電性層M6が附さ
れ、尚更に半導体領域z4の主面4@の向上にゲート絶
縁層としての絶縁層5を介してゲート電極としての導電
性層M2が配され、又半導体基板5の半導体層2の半導
体層1側とは反対側の主面6上にドレイン電極としての
導電性層M4が附されてなる構成を有する。又各トラン
ジスタQは、半導体基板Sの半導体領域z2の主面4側
の面上に、絶縁層5よりこれと一体に連続延長せる絶縁
層21を介して制御用IIE極としての導電性層M5が
配されてなる構成を有する。但しこの場合導電性層M3
は、出来得る限りチャンネル形成用領域としての半導体
領域z1の領域Z4上に近い位置迄延長せしめるを可と
するも、ゲート電極としての導電性層M2に連接せしめ
ないことは注意すべきである。更に各トランジスタQは
、ソース領域としての半導体領域z3、ゲ、、−ト絶縁
層としての絶縁層5乃至絶縁層21、及びゲート電極と
しての導電性層M2上に、そのソース−電極としての導
電性層M1と制御用電極としての導電性mM5との間に
延長せる絶縁層22が形成され、而してその絶縁層22
上に導電性層M1及びM3間にそれ咎と一体に延長せる
導電性層M7が形成され、従ってソース電極としての導
電性層M1と制御用電極としての導電性層M3とが、ゲ
ート電極としての導電性層M2上にこれと連接すること
なしに対向延長している導電性層M7にて互に連結され
てなる構成を有する。この場合、導電性層M7かゲート
1に極としての導電性層M2の全域に亘って対向延長し
ていることは注意すべきである。
尚W、1図及び第2凶に於ては、マトリクス配列されて
いる複数のトランジスタQに於ける相隣るトランジスタ
のバックケート電極としての導電性層M6がそれ等と一
体に絶縁層′51上に延長せる導電性層M8にて互に連
結され、又マトリクス配列されている複数のトランジス
タQに於ける相隣るトランジスタのドレイン電極として
の導電性層M4が互に連接し、更に第1−でみて縦方向
に配列されている複数のトランジスタQに於ける相隣る
トランジスタが、詳細図示説明はこれを省略するも、概
念的に第1図にて鎖線図示の導電性層Mlこで互に連結
され、従って第1図でみて縦方向に配列されている複数
のトランジスタQが並列彎絖されて作動する様になされ
ている場合を示しているものである。
いる複数のトランジスタQに於ける相隣るトランジスタ
のバックケート電極としての導電性層M6がそれ等と一
体に絶縁層′51上に延長せる導電性層M8にて互に連
結され、又マトリクス配列されている複数のトランジス
タQに於ける相隣るトランジスタのドレイン電極として
の導電性層M4が互に連接し、更に第1−でみて縦方向
に配列されている複数のトランジスタQに於ける相隣る
トランジスタが、詳細図示説明はこれを省略するも、概
念的に第1図にて鎖線図示の導電性層Mlこで互に連結
され、従って第1図でみて縦方向に配列されている複数
のトランジスタQが並列彎絖されて作動する様になされ
ている場合を示しているものである。
以上にて本出願人等の%願昭56−27295号に於て
提案しているトランジスタQの構成が明らかとな9たが
、斯る構成のトランジスタQの場合、ソース電極として
の導電性層M1及びドレイン電極としての導電性層M4
閏に負性を通じてp**の電源を接続せる状態で、導電
性層M1及びゲート電極としての導電性層M2間に、導
電性層M2@を正とする予定の値(蘭4IjL)より大
なる電圧で意味づけられた2値表示で[月の制御電圧を
与えれば、チャンネル形成用領域としての半導体領域Z
1の領域Z4の表面(主面4側のlf[l)側にN型層
でなるチャンネルが形成され、この為導電性層M1、ソ
ース領域としての半導体領域Z3、半導体領域z1の領
域z4に形成せるチャンネル、ドレイン領域としての半
導体基板3の半導体領域z2、半導体基板3の半導体領
域z2に連なる導電性層M4側の領域、及び導電性層M
4による電流路を形成せるオン状態が得られ、又上述せ
る如く導電性mM1及びM4間に負荷を通じて所要の電
源を接続せる状態で、導電性層M1及びM2間に、上述
せる閾値より小なる電圧で意味づけられた2値表示で「
0」の制御電・圧を与えれば、上述せるチャンネルが形
成されず、この為上述せる電流路を形成せるオン状態が
得られず、オフ状態が得られるものである。
提案しているトランジスタQの構成が明らかとな9たが
、斯る構成のトランジスタQの場合、ソース電極として
の導電性層M1及びドレイン電極としての導電性層M4
閏に負性を通じてp**の電源を接続せる状態で、導電
性層M1及びゲート電極としての導電性層M2間に、導
電性層M2@を正とする予定の値(蘭4IjL)より大
なる電圧で意味づけられた2値表示で[月の制御電圧を
与えれば、チャンネル形成用領域としての半導体領域Z
1の領域Z4の表面(主面4側のlf[l)側にN型層
でなるチャンネルが形成され、この為導電性層M1、ソ
ース領域としての半導体領域Z3、半導体領域z1の領
域z4に形成せるチャンネル、ドレイン領域としての半
導体基板3の半導体領域z2、半導体基板3の半導体領
域z2に連なる導電性層M4側の領域、及び導電性層M
4による電流路を形成せるオン状態が得られ、又上述せ
る如く導電性mM1及びM4間に負荷を通じて所要の電
源を接続せる状態で、導電性層M1及びM2間に、上述
せる閾値より小なる電圧で意味づけられた2値表示で「
0」の制御電・圧を与えれば、上述せるチャンネルが形
成されず、この為上述せる電流路を形成せるオン状態が
得られず、オフ状態が得られるものである。
従って第1図及び第2図にて上述せるトランジスタの場
合、導電性層M1及びM4間に負荷を通じて所要の電源
をI!絖せる状態で、導電性層M1及びM2間に上述せ
る2値表示で「1」の制御電圧を与えれば、電源より上
述せる電流路を通じて負荷に電流を供給し、然し乍ら導
電性層M1及びM2間に上述せる2gi表示で「0」の
餉@電圧を与えれば、負荷に電流を供給しないというス
イッチング素子としての機能を呈するものである。
合、導電性層M1及びM4間に負荷を通じて所要の電源
をI!絖せる状態で、導電性層M1及びM2間に上述せ
る2値表示で「1」の制御電圧を与えれば、電源より上
述せる電流路を通じて負荷に電流を供給し、然し乍ら導
電性層M1及びM2間に上述せる2gi表示で「0」の
餉@電圧を与えれば、負荷に電流を供給しないというス
イッチング素子としての機能を呈するものである。
又第1図及び第2図にて上述せるトランジスタの場合、
ドレイン領域としての半導体基板5の半導体領域z2の
*面上に絶縁層21を介してゲート電極としての導電性
層M2に連接せざるもソース電極としての導電性層M1
に連結せる導電性層M5を有し、向して導電性MM5及
びM4間に導電性層M1を介して導電性層M1及びM4
間に接続される電源が接続されることになるので、半導
体領域z2の表面側に電子を蓄積する蓄積層が、チャン
ネル形成用領域としての半導体領域z1の領域z4に達
する又は領域Z4に近接する拡がりを以って形成される
ものである。従って上述せるオン状態が得られるときに
、導電性層M1及びM3関に上述せる制御用電圧が与え
られていれば、上述せるオン状態を形成せる電流路が、
半導体領域Z2の表面側の領域Z4@より、領域z2の
表面に沿う方向に大きく拡がった電流路部を有するもの
として得られているものである。
ドレイン領域としての半導体基板5の半導体領域z2の
*面上に絶縁層21を介してゲート電極としての導電性
層M2に連接せざるもソース電極としての導電性層M1
に連結せる導電性層M5を有し、向して導電性MM5及
びM4間に導電性層M1を介して導電性層M1及びM4
間に接続される電源が接続されることになるので、半導
体領域z2の表面側に電子を蓄積する蓄積層が、チャン
ネル形成用領域としての半導体領域z1の領域z4に達
する又は領域Z4に近接する拡がりを以って形成される
ものである。従って上述せるオン状態が得られるときに
、導電性層M1及びM3関に上述せる制御用電圧が与え
られていれば、上述せるオン状態を形成せる電流路が、
半導体領域Z2の表面側の領域Z4@より、領域z2の
表面に沿う方向に大きく拡がった電流路部を有するもの
として得られているものである。
依って第1図及び第2図にて上述せるトランジスタの場
合、上述せるオン状態に於て、導電性層M1及びM4間
の等価抵抗即ちオン抵抗が格段的に小なる値を有し、こ
の鳥人なる電力消費を伴うことがないという大なる%徴
を得ることが出来るものである。
合、上述せるオン状態に於て、導電性層M1及びM4間
の等価抵抗即ちオン抵抗が格段的に小なる値を有し、こ
の鳥人なる電力消費を伴うことがないという大なる%徴
を得ることが出来るものである。
又第1図及び第2図にて上述せるトランジスタの場合、
半導体領域z2の表面上に、絶縁層21を介してソース
電極としての導電性層1に連結せる導電性層M!iを有
するので、ソース電極としての導電性層M1及びゲート
電極としての導電性層M2間の電圧が2値表示で「0」
の制御電圧であるか又は零である状態に於て、導電性層
M1及びドレイン電極としての導電性層M4間に導電性
層M1側を負とせる電圧が与えられても、半導体基板・
3に生ずる電界分布が1千尋体基板5の半導体領域Z2
の表向の半導体領域z1の領域Z4@で密に終絡する等
電位−で表わされる電界分布を呈するものとして得られ
ることはなく、第2図中鎖線図示の如き、半導体領域z
2に於てその表面に沿って粗に延長せる電界分布を呈す
るものとして得られ、この為導電性層M1及びM2間の
電圧が上述せる状態である状態に於て、半導体基板3及
び半導体領域31間のPN接合が不必要に破壊すること
がないものである。
半導体領域z2の表面上に、絶縁層21を介してソース
電極としての導電性層1に連結せる導電性層M!iを有
するので、ソース電極としての導電性層M1及びゲート
電極としての導電性層M2間の電圧が2値表示で「0」
の制御電圧であるか又は零である状態に於て、導電性層
M1及びドレイン電極としての導電性層M4間に導電性
層M1側を負とせる電圧が与えられても、半導体基板・
3に生ずる電界分布が1千尋体基板5の半導体領域Z2
の表向の半導体領域z1の領域Z4@で密に終絡する等
電位−で表わされる電界分布を呈するものとして得られ
ることはなく、第2図中鎖線図示の如き、半導体領域z
2に於てその表面に沿って粗に延長せる電界分布を呈す
るものとして得られ、この為導電性層M1及びM2間の
電圧が上述せる状態である状態に於て、半導体基板3及
び半導体領域31間のPN接合が不必要に破壊すること
がないものである。
従ってI!!1図及びII!2図にて上述せるトランジ
スタの場合、ソース電極としての導電性層M1及びドレ
イン電極としての導電性JIIIM4r&Illに与え
られる導電性層M1側を負とする電圧に対して高い耐圧
を有し、この為使用に便である等の大なる%黴を得るこ
とが出来るものである。
スタの場合、ソース電極としての導電性層M1及びドレ
イン電極としての導電性JIIIM4r&Illに与え
られる導電性層M1側を負とする電圧に対して高い耐圧
を有し、この為使用に便である等の大なる%黴を得るこ
とが出来るものである。
更に1IL1図及び第2図にて上述せるトランジスタの
場合、半導体基板3の半導体領域z2のlI面上ζこ絶
縁層21を介してソース電極としての導電性層M1に連
結せる導電性層M3を有するも、それがゲート電極とし
ての導電性層M2に連接していないので、導電性層M3
によって4電性層M1及びM2間でみた等価入力容量が
増大するものではないものである。
場合、半導体基板3の半導体領域z2のlI面上ζこ絶
縁層21を介してソース電極としての導電性層M1に連
結せる導電性層M3を有するも、それがゲート電極とし
ての導電性層M2に連接していないので、導電性層M3
によって4電性層M1及びM2間でみた等価入力容量が
増大するものではないものである。
従って第1図及び第2図にて上述せるトランジスタの場
合、上述せるスイッチング素子としての機能を^い周波
数で得ることが出来、この為使用に便である等の大なる
特徴を得ることが出来るものである。
合、上述せるスイッチング素子としての機能を^い周波
数で得ることが出来、この為使用に便である等の大なる
特徴を得ることが出来るものである。
然し乍ら、第1図及び第2図にて上述せるトランジスタ
の場合、導電性層M3が、ゲート電極としての導電性層
M2上にこれと連接することなしに対向延長せる導電性
層M7を介してソース電極としての導電性層M1に連結
されているので、導電性層M2及びM1間の容量が導電
性層M1及びM2間でみた等個入力容量となっているも
のである。而してその等個入力容量は、導電性層M7が
導電性層M2の全域に亘って対向延長しているので、大
なる値を有するものである。従ってw、1図及び第2図
にて上述せるトランジスタの場合、動作周波数を商い上
限値を有するものとするに一定の限度を有するものであ
る。
の場合、導電性層M3が、ゲート電極としての導電性層
M2上にこれと連接することなしに対向延長せる導電性
層M7を介してソース電極としての導電性層M1に連結
されているので、導電性層M2及びM1間の容量が導電
性層M1及びM2間でみた等個入力容量となっているも
のである。而してその等個入力容量は、導電性層M7が
導電性層M2の全域に亘って対向延長しているので、大
なる値を有するものである。従ってw、1図及び第2図
にて上述せるトランジスタの場合、動作周波数を商い上
限値を有するものとするに一定の限度を有するものであ
る。
又#!1図及び第2図にて上述せるトランジスタの場合
、その全体の寸法を小とすれば、これに応じて導電性層
M7の導電性層M2との対向面積が小となるので、等個
入力容量を小とする仁とが出来るも、斯くする場合これ
に応じてトランジスタの動作抵抗が大となり、この鳥人
なる損失を伴うものである。
、その全体の寸法を小とすれば、これに応じて導電性層
M7の導電性層M2との対向面積が小となるので、等個
入力容量を小とする仁とが出来るも、斯くする場合これ
に応じてトランジスタの動作抵抗が大となり、この鳥人
なる損失を伴うものである。
依って本発明はIII、図及び#!2図にて上述せるト
ランジスタを基礎とするも、等個入力容量及び動作抵抗
が小さく、従って動作周波数の上限値が高く且損失の少
ないIjk嵐なトランジスタを提案せんとするもので、
以下述べる所より明らかとなるであろう。
ランジスタを基礎とするも、等個入力容量及び動作抵抗
が小さく、従って動作周波数の上限値が高く且損失の少
ないIjk嵐なトランジスタを提案せんとするもので、
以下述べる所より明らかとなるであろう。
第3図及び第4図は、1!!11図及び第2vAにて上
述せるトランジスタを基礎とせる本発明番こ依るトラン
ジスタの一例を示し、第1図及び第2図との対応部分に
は同一符号を附し詳細Wi明はこれを省略するも、lI
c1図及び第2図にて上述せる構成に於て、各トランジ
スタQに於て、その導電性層M1及びM5を互に連結し
ている導電性層M7に、導電性層M2と対向する領域に
於て切##!部41が設けられ、従って導電性層M7が
、導電性層M2の一部領域と対向延長しているとしても
、導電性mM2の全域に亘って対向延長していないこと
を除いては、第1図及び@2図の場合と同様の構成を有
する。
述せるトランジスタを基礎とせる本発明番こ依るトラン
ジスタの一例を示し、第1図及び第2図との対応部分に
は同一符号を附し詳細Wi明はこれを省略するも、lI
c1図及び第2図にて上述せる構成に於て、各トランジ
スタQに於て、その導電性層M1及びM5を互に連結し
ている導電性層M7に、導電性層M2と対向する領域に
於て切##!部41が設けられ、従って導電性層M7が
、導電性層M2の一部領域と対向延長しているとしても
、導電性mM2の全域に亘って対向延長していないこと
を除いては、第1図及び@2図の場合と同様の構成を有
する。
以上が本発明によるトランジスタの一例構成であるが、
斯る構成によれば、それが上述せる事項を除いては第1
図及び第2図にて上述せると同様の構成を有するので、
評判説明はこれを省略するも、1111図及び第2図に
て上述せると同様のスイッチング素子としての機能を呈
し、そして第1内及び第2図にて上述せると一様の優れ
た特徴を得ることが出来るものである。
斯る構成によれば、それが上述せる事項を除いては第1
図及び第2図にて上述せると同様の構成を有するので、
評判説明はこれを省略するも、1111図及び第2図に
て上述せると同様のスイッチング素子としての機能を呈
し、そして第1内及び第2図にて上述せると一様の優れ
た特徴を得ることが出来るものである。
然し乍ら、第5図及び#!4図にて上述せる本発明によ
るトランジスタの場合、導電性層M3がゲート電極とし
ての導電性層M2上にこれと連接することなしに対向延
長している導電性層M7を介してソース電極としての導
電性層M1に連結され、従って、導電性層M2及びM7
間の容量が導電性層M1及びM2間でみた等個入力容量
となっているも、その等個入力容量は、導電性層M7が
導電性層M2の全域に亘って対向延長していないのて、
導電性層M7が導電性層M2の全域に亘って対向延長し
ている第1区及び第2図の場合に比し小なる値を有する
ものである。又この為、等個入力容量を小とすべく、全
体の寸法を不必要に小にしなくても済み、この為トラン
ジスタの動作抵抗を大ならしめることがないものである
。
るトランジスタの場合、導電性層M3がゲート電極とし
ての導電性層M2上にこれと連接することなしに対向延
長している導電性層M7を介してソース電極としての導
電性層M1に連結され、従って、導電性層M2及びM7
間の容量が導電性層M1及びM2間でみた等個入力容量
となっているも、その等個入力容量は、導電性層M7が
導電性層M2の全域に亘って対向延長していないのて、
導電性層M7が導電性層M2の全域に亘って対向延長し
ている第1区及び第2図の場合に比し小なる値を有する
ものである。又この為、等個入力容量を小とすべく、全
体の寸法を不必要に小にしなくても済み、この為トラン
ジスタの動作抵抗を大ならしめることがないものである
。
依って第3図及び第4図にて上述せる本発明によるトラ
ンジスタの場合、動作周波数を、第場合に比し小ならし
め得るという大なる特徴を有するものである。
ンジスタの場合、動作周波数を、第場合に比し小ならし
め得るという大なる特徴を有するものである。
尚上述に於ては本発明の一例を示したに貿まり、半導体
基板。5をN型乃至N−型、でなる1つの半導体層でな
る構成とすることも出来、又上述セルrN”J、rN−
J 及ヒr P J ’jt夫k rP”J 。
基板。5をN型乃至N−型、でなる1つの半導体層でな
る構成とすることも出来、又上述セルrN”J、rN−
J 及ヒr P J ’jt夫k rP”J 。
rP−J 及びrNJと読み替えた構成とすることも
出来、その他事発明の精神を脱することなしに種々の質
量変更をなし得るであろう。
出来、その他事発明の精神を脱することなしに種々の質
量変更をなし得るであろう。
第1図は本発明による紙−ゲート型電界効果トランジス
タの基礎となる絶縁ゲート製電界効果トランジスタを示
す路線的平面図、第2図はそのn−m5上の断面図、第
6図は本発明による絶縁ゲートII!電界効果トランジ
スタの一例を示す路線約平面図、第4図はそのIV−I
V融上の断面図である。 図中3は半導体基板、4は主面、zlはチャンネル形成
用領域としての半導体領域、Z2は半導体領域Z1にて
順回まれた半導体領域、z3はソース領域としての半導
体領域、Z4はチャンネルの形成される半導体領域、5
はゲート絶縁層としての絶縁層、21は絶縁層、Mlは
ソース電極としての導電性層、M2はゲート電極として
の導電性層、MSは導電性層、M4はドレイン電極とし
ての導電性層、M6はバックゲート電極としての導電性
層、41番ま導電性層M7に設けられた切除部を夫々示
す。 出願人 日本電信電話公社 出願人 日本電気株式金社
タの基礎となる絶縁ゲート製電界効果トランジスタを示
す路線的平面図、第2図はそのn−m5上の断面図、第
6図は本発明による絶縁ゲートII!電界効果トランジ
スタの一例を示す路線約平面図、第4図はそのIV−I
V融上の断面図である。 図中3は半導体基板、4は主面、zlはチャンネル形成
用領域としての半導体領域、Z2は半導体領域Z1にて
順回まれた半導体領域、z3はソース領域としての半導
体領域、Z4はチャンネルの形成される半導体領域、5
はゲート絶縁層としての絶縁層、21は絶縁層、Mlは
ソース電極としての導電性層、M2はゲート電極として
の導電性層、MSは導電性層、M4はドレイン電極とし
ての導電性層、M6はバックゲート電極としての導電性
層、41番ま導電性層M7に設けられた切除部を夫々示
す。 出願人 日本電信電話公社 出願人 日本電気株式金社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 第1の導電型を有するドレイン領域としての半導体基板
内にその主面側より第1の導電型とは逆の第2の導電型
を有するチャンネル形成用領域としての纂1の半導体領
域が、上記半導体基板の主面側に当該第1の半導体領域
にて取卸された上記半導体基板による第2の半導体領域
が形成されるべく形成され、上記第1の半導体領域内に
その上記主面側の面側より第1の導電型を有するソース
領域としての第6の半導体領域が、上記fiPJ1の半
導体領域の上記主面側の面側に当該@Sの半導体領域に
て取囲まれた上記第1の半導体領域による第4の半導体
領域が形成されるべく形成され、上記第3の半導体領域
の上記主面側の面上にソース電極としての第1の導電性
層が附され、上記第4の半導体領域の上記主面側の向上
にゲート絶縁層としての絶縁層を介してゲート電極とし
ての第2の導電性層が配され、上記m2の半導体領域の
上記主面側の面上に絶縁層を介して上記JR2の導電性
層と連接することなしに制御用電極としての第5の導電
性層が配され、上記第1及び第3の導電性層が上記#!
2の導電性層上にこれと連接することなしに対向延長せ
る第4の導電性層にて互に連結されてなる絶縁ゲート1
1i電界効果トランジスタに於て、 上記銀4の導電性層か上記第2の導電性層の全域に亘っ
て対向延長していない事をq#黴とする絶縁ゲート型電
界効果トランジスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56197091A JPS5897866A (ja) | 1981-12-08 | 1981-12-08 | 絶縁ゲ−ト型電界効果トランジスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56197091A JPS5897866A (ja) | 1981-12-08 | 1981-12-08 | 絶縁ゲ−ト型電界効果トランジスタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5897866A true JPS5897866A (ja) | 1983-06-10 |
Family
ID=16368572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56197091A Pending JPS5897866A (ja) | 1981-12-08 | 1981-12-08 | 絶縁ゲ−ト型電界効果トランジスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5897866A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4782372A (en) * | 1984-05-30 | 1988-11-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Lateral conductivity modulated MOSFET |
| US4980743A (en) * | 1987-02-26 | 1990-12-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Conductivity-modulation metal oxide semiconductor field effect transistor |
| US5105243A (en) * | 1987-02-26 | 1992-04-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Conductivity-modulation metal oxide field effect transistor with single gate structure |
| US5237186A (en) * | 1987-02-26 | 1993-08-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Conductivity-modulation metal oxide field effect transistor with single gate structure |
-
1981
- 1981-12-08 JP JP56197091A patent/JPS5897866A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4782372A (en) * | 1984-05-30 | 1988-11-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Lateral conductivity modulated MOSFET |
| US4881120A (en) * | 1984-05-30 | 1989-11-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Conductive modulated MOSFET |
| US5093701A (en) * | 1984-05-30 | 1992-03-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Conductivity modulated mosfet |
| US4980743A (en) * | 1987-02-26 | 1990-12-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Conductivity-modulation metal oxide semiconductor field effect transistor |
| US5105243A (en) * | 1987-02-26 | 1992-04-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Conductivity-modulation metal oxide field effect transistor with single gate structure |
| US5237186A (en) * | 1987-02-26 | 1993-08-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Conductivity-modulation metal oxide field effect transistor with single gate structure |
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