JPS589894A - 単結晶の育成方法 - Google Patents
単結晶の育成方法Info
- Publication number
- JPS589894A JPS589894A JP56105473A JP10547381A JPS589894A JP S589894 A JPS589894 A JP S589894A JP 56105473 A JP56105473 A JP 56105473A JP 10547381 A JP10547381 A JP 10547381A JP S589894 A JPS589894 A JP S589894A
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- JP
- Japan
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- crystal
- single crystal
- melt
- temperature
- final
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- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/16—Oxides
- C30B29/22—Complex oxides
- C30B29/30—Niobates; Vanadates; Tantalates
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は単結晶例えとリチウムエオペー)(L4NbO
,)中リチウムタンタレート、 (h1チー畠)の育成
方法4:関す、bo前記単結晶を育成する方法は前記単
結晶材料を貴金属等のルツボ6二人れ、間接又は直接加
熱6;よ〉単結晶の溶解を行ない、最終、結晶の組成元
素の近似的な化学量論的の出発成分からなる溶融物とし
て、溶融物中1一種結晶を浸し引上けながら単結晶を育
成するものである・第fillはこの単結晶育成操作を
育成操作時間と相対温度で表わし九育威操作プログラム
である・従来の単結晶育成方法では図6:示すよう6:
プーグラムムで単結晶材料を加熱して温度上昇し、Bで
6担結晶の融点を越える温度(融点の102〜104−
> (線1で示す)壕で昇温して溶融し、次6;C″e
鑞【融点近くまで降温してから種結晶を用いて結晶を引
上げ、最後−二りで降温し育成を終了する。最近になっ
て酸化物単結晶も大量化される様C二なると同時(二単
結晶喀;気泡が混入する現象が着しくな)、特に全面4
:気泡の発生が見られる現象も多発する(10〜数10
−)様6;なつ九◎この気泡の発生は、従来の考、えで
紘Nb、8i等の不純物の混入、又は引上ス麟−ドが早
いことが原因であると考えられてい九〇しかし、この考
え方仁基いて気泡発生品を化学分析し九結果からは、表
の様に正常晶との有意差が見られなかつ九。
,)中リチウムタンタレート、 (h1チー畠)の育成
方法4:関す、bo前記単結晶を育成する方法は前記単
結晶材料を貴金属等のルツボ6二人れ、間接又は直接加
熱6;よ〉単結晶の溶解を行ない、最終、結晶の組成元
素の近似的な化学量論的の出発成分からなる溶融物とし
て、溶融物中1一種結晶を浸し引上けながら単結晶を育
成するものである・第fillはこの単結晶育成操作を
育成操作時間と相対温度で表わし九育威操作プログラム
である・従来の単結晶育成方法では図6:示すよう6:
プーグラムムで単結晶材料を加熱して温度上昇し、Bで
6担結晶の融点を越える温度(融点の102〜104−
> (線1で示す)壕で昇温して溶融し、次6;C″e
鑞【融点近くまで降温してから種結晶を用いて結晶を引
上げ、最後−二りで降温し育成を終了する。最近になっ
て酸化物単結晶も大量化される様C二なると同時(二単
結晶喀;気泡が混入する現象が着しくな)、特に全面4
:気泡の発生が見られる現象も多発する(10〜数10
−)様6;なつ九◎この気泡の発生は、従来の考、えで
紘Nb、8i等の不純物の混入、又は引上ス麟−ドが早
いことが原因であると考えられてい九〇しかし、この考
え方仁基いて気泡発生品を化学分析し九結果からは、表
の様に正常晶との有意差が見られなかつ九。
表
第2図はLiTa0.の育成単結晶の気泡混入を示し九
断面図であり、3はシードホルダー、4はシード、器は
単結晶を表わし、6は気泡を示す。この気泡を2次電子
像観察した結果、完全な空孔であることが判明しえ。I
FMA 4二よる不純物分析でも特6;不純物を中心に
した空孔ではなかった。また不純物の淡縮や単結晶の底
部にはセル成長の発生も見られなかった◎発明者等はさ
ら舊:検討を進め九結果、これら気泡の原因は、単結晶
の育成操作プログラムと関係するものと考え、単結晶材
料昇温速度、溶融時間、結晶引上げ温度等番二ついて種
々実験を行う中で、溶融物の温度と気泡発生との間C二
特に大きな相関があることを発見し、本発明を完成した
。
断面図であり、3はシードホルダー、4はシード、器は
単結晶を表わし、6は気泡を示す。この気泡を2次電子
像観察した結果、完全な空孔であることが判明しえ。I
FMA 4二よる不純物分析でも特6;不純物を中心に
した空孔ではなかった。また不純物の淡縮や単結晶の底
部にはセル成長の発生も見られなかった◎発明者等はさ
ら舊:検討を進め九結果、これら気泡の原因は、単結晶
の育成操作プログラムと関係するものと考え、単結晶材
料昇温速度、溶融時間、結晶引上げ温度等番二ついて種
々実験を行う中で、溶融物の温度と気泡発生との間C二
特に大きな相関があることを発見し、本発明を完成した
。
すなわち本発明の単結晶の育成方法は、最終結晶の組成
元素の近似的な化学量論的出発成分からなる溶融物から
種結晶を用いて引上けることによ)成長させる単結晶の
育成方法嘔=おいて、前記種結晶を引上げる前(二前記
滴融物の温度を前記最終結晶の融点の105−以上にす
ることを特徴とするものである。
元素の近似的な化学量論的出発成分からなる溶融物から
種結晶を用いて引上けることによ)成長させる単結晶の
育成方法嘔=おいて、前記種結晶を引上げる前(二前記
滴融物の温度を前記最終結晶の融点の105−以上にす
ることを特徴とするものである。
本発明による単結晶育成プログラムは第1図6二示す通
シ、種結晶を引上げる前の結晶材料の溶融領域B(=お
いて、破線2で示すよう6二従来の溶融温度よシもわず
かに高い点が特徴で、その他は従来と何ら変わるとζろ
がない・ 第3図はLi’raO,単結晶を育成する場合の単結晶
引上は前の溶融物の温度と気泡が結晶中から消失するま
での時間との関係を示す図である・結晶の融点を100
91とするとき、第4図、かられかるように気泡が残ら
ない丸めの溶融温度は10B−以上である。この傾向は
LiNb0.の場合でも殆んど同じである◎ 一4図は目Tm01単結晶を育成する場合の単−晶引上
if麺の溶融物の温度と引上゛ぜられた結晶の気泡発生
率との関係を示す□図である。尚溶融温度(;保持する
時間辻各40分である。
シ、種結晶を引上げる前の結晶材料の溶融領域B(=お
いて、破線2で示すよう6二従来の溶融温度よシもわず
かに高い点が特徴で、その他は従来と何ら変わるとζろ
がない・ 第3図はLi’raO,単結晶を育成する場合の単結晶
引上は前の溶融物の温度と気泡が結晶中から消失するま
での時間との関係を示す図である・結晶の融点を100
91とするとき、第4図、かられかるように気泡が残ら
ない丸めの溶融温度は10B−以上である。この傾向は
LiNb0.の場合でも殆んど同じである◎ 一4図は目Tm01単結晶を育成する場合の単−晶引上
if麺の溶融物の温度と引上゛ぜられた結晶の気泡発生
率との関係を示す□図である。尚溶融温度(;保持する
時間辻各40分である。
図かられかるように、溶融温度10811以上で杜気泡
尭生率が数−以下゛になる。゛この傾向もLINbO。
尭生率が数−以下゛になる。゛この傾向もLINbO。
の場合も殆ん′ど同じである。 □第
511はLITaO,溶解温度とPi−Rhルツボ使用
回数を示し1850℃以上ではルツボの変□彫が著しく
なることがかわった。さら6二第6図はLiNbO5単
結晶のPi ルックの使用回数と溶解温度を示す・13
□7S℃゛以上ではルツボの賓形が着しくなった。
511はLITaO,溶解温度とPi−Rhルツボ使用
回数を示し1850℃以上ではルツボの変□彫が著しく
なることがかわった。さら6二第6図はLiNbO5単
結晶のPi ルックの使用回数と溶解温度を示す・13
□7S℃゛以上ではルツボの賓形が着しくなった。
本発□明を実施することにより気泡C二よる損失結晶−
さは従来の数10から数参以下6;まで・飛躍的6;減
少せしめる事が出来、歩留〕良く、高品質大口径単結晶
の育成が出来る様(二な〉、ウニ/1−の貴意化を可能
とすることができる。
さは従来の数10から数参以下6;まで・飛躍的6;減
少せしめる事が出来、歩留〕良く、高品質大口径単結晶
の育成が出来る様(二な〉、ウニ/1−の貴意化を可能
とすることができる。
第1図は単結晶育成の育成プログラムを示す図、第2図
はLiTa01単結晶中の気泡を説明する図、第3図線
気泡消失時間と結晶材料の溶融温度との関係を示す図、
[411は気泡発生率と溶−一度との関係を示す・第s
aiはLiTa0.の−□融一度とPi−Rh□ルツゼ
便用回数を示す図、第6固状Lu5bo、め溶融1度と
Pt ルツボ使用@−を示す図セある。 3・・・シードホルダー 4・・・シード
”6・・・単結晶 6・・・気泡(7317
) 代理人弁理士 則 返電 佑 (ほか1名)♂ □1 第 1m 調闇(イ1ξ 峙 1占] 第2m1 113 図 第4図
はLiTa01単結晶中の気泡を説明する図、第3図線
気泡消失時間と結晶材料の溶融温度との関係を示す図、
[411は気泡発生率と溶−一度との関係を示す・第s
aiはLiTa0.の−□融一度とPi−Rh□ルツゼ
便用回数を示す図、第6固状Lu5bo、め溶融1度と
Pt ルツボ使用@−を示す図セある。 3・・・シードホルダー 4・・・シード
”6・・・単結晶 6・・・気泡(7317
) 代理人弁理士 則 返電 佑 (ほか1名)♂ □1 第 1m 調闇(イ1ξ 峙 1占] 第2m1 113 図 第4図
Claims (3)
- (1) 最終結晶の組成元素の近似的な化学量論的の
出発成分からなる溶−物から種結晶を用いて引上げるこ
と6二よ〕成長させる単結晶の育成方法f:おいて、 前記種結晶を引上ける前6二前記溶融物の温度を、前記
最終結晶の融点の1OS−以上にすることを特徴とする
単結晶の育成方法。 - (2) 単結晶がリチウムニオベートであることを特
徴とする特許請求の範囲第1現記−の単結晶の育成方法
。 - (3) 単結晶がリチウムタンタレートであるζトを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の単結晶の育成方
法・
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56105473A JPS589894A (ja) | 1981-07-08 | 1981-07-08 | 単結晶の育成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56105473A JPS589894A (ja) | 1981-07-08 | 1981-07-08 | 単結晶の育成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS589894A true JPS589894A (ja) | 1983-01-20 |
Family
ID=14408558
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56105473A Pending JPS589894A (ja) | 1981-07-08 | 1981-07-08 | 単結晶の育成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS589894A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5253800A (en) * | 1975-10-29 | 1977-04-30 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Preparation of single crystals of linbo3 litao3 |
-
1981
- 1981-07-08 JP JP56105473A patent/JPS589894A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5253800A (en) * | 1975-10-29 | 1977-04-30 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Preparation of single crystals of linbo3 litao3 |
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