JPS589894A - 単結晶の育成方法 - Google Patents

単結晶の育成方法

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Publication number
JPS589894A
JPS589894A JP56105473A JP10547381A JPS589894A JP S589894 A JPS589894 A JP S589894A JP 56105473 A JP56105473 A JP 56105473A JP 10547381 A JP10547381 A JP 10547381A JP S589894 A JPS589894 A JP S589894A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
crystal
single crystal
melt
temperature
final
Prior art date
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Pending
Application number
JP56105473A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadao Komi
小見 忠雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP56105473A priority Critical patent/JPS589894A/ja
Publication of JPS589894A publication Critical patent/JPS589894A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/10Inorganic compounds or compositions
    • C30B29/16Oxides
    • C30B29/22Complex oxides
    • C30B29/30Niobates; Vanadates; Tantalates

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は単結晶例えとリチウムエオペー)(L4NbO
,)中リチウムタンタレート、 (h1チー畠)の育成
方法4:関す、bo前記単結晶を育成する方法は前記単
結晶材料を貴金属等のルツボ6二人れ、間接又は直接加
熱6;よ〉単結晶の溶解を行ない、最終、結晶の組成元
素の近似的な化学量論的の出発成分からなる溶融物とし
て、溶融物中1一種結晶を浸し引上けながら単結晶を育
成するものである・第fillはこの単結晶育成操作を
育成操作時間と相対温度で表わし九育威操作プログラム
である・従来の単結晶育成方法では図6:示すよう6:
プーグラムムで単結晶材料を加熱して温度上昇し、Bで
6担結晶の融点を越える温度(融点の102〜104−
> (線1で示す)壕で昇温して溶融し、次6;C″e
鑞【融点近くまで降温してから種結晶を用いて結晶を引
上げ、最後−二りで降温し育成を終了する。最近になっ
て酸化物単結晶も大量化される様C二なると同時(二単
結晶喀;気泡が混入する現象が着しくな)、特に全面4
:気泡の発生が見られる現象も多発する(10〜数10
−)様6;なつ九◎この気泡の発生は、従来の考、えで
紘Nb、8i等の不純物の混入、又は引上ス麟−ドが早
いことが原因であると考えられてい九〇しかし、この考
え方仁基いて気泡発生品を化学分析し九結果からは、表
の様に正常晶との有意差が見られなかつ九。
表 第2図はLiTa0.の育成単結晶の気泡混入を示し九
断面図であり、3はシードホルダー、4はシード、器は
単結晶を表わし、6は気泡を示す。この気泡を2次電子
像観察した結果、完全な空孔であることが判明しえ。I
FMA 4二よる不純物分析でも特6;不純物を中心に
した空孔ではなかった。また不純物の淡縮や単結晶の底
部にはセル成長の発生も見られなかった◎発明者等はさ
ら舊:検討を進め九結果、これら気泡の原因は、単結晶
の育成操作プログラムと関係するものと考え、単結晶材
料昇温速度、溶融時間、結晶引上げ温度等番二ついて種
々実験を行う中で、溶融物の温度と気泡発生との間C二
特に大きな相関があることを発見し、本発明を完成した
すなわち本発明の単結晶の育成方法は、最終結晶の組成
元素の近似的な化学量論的出発成分からなる溶融物から
種結晶を用いて引上けることによ)成長させる単結晶の
育成方法嘔=おいて、前記種結晶を引上げる前(二前記
滴融物の温度を前記最終結晶の融点の105−以上にす
ることを特徴とするものである。
本発明による単結晶育成プログラムは第1図6二示す通
シ、種結晶を引上げる前の結晶材料の溶融領域B(=お
いて、破線2で示すよう6二従来の溶融温度よシもわず
かに高い点が特徴で、その他は従来と何ら変わるとζろ
がない・ 第3図はLi’raO,単結晶を育成する場合の単結晶
引上は前の溶融物の温度と気泡が結晶中から消失するま
での時間との関係を示す図である・結晶の融点を100
91とするとき、第4図、かられかるように気泡が残ら
ない丸めの溶融温度は10B−以上である。この傾向は
LiNb0.の場合でも殆んど同じである◎ 一4図は目Tm01単結晶を育成する場合の単−晶引上
if麺の溶融物の温度と引上゛ぜられた結晶の気泡発生
率との関係を示す□図である。尚溶融温度(;保持する
時間辻各40分である。
図かられかるように、溶融温度10811以上で杜気泡
尭生率が数−以下゛になる。゛この傾向もLINbO。
の場合も殆ん′ど同じである。         □第
511はLITaO,溶解温度とPi−Rhルツボ使用
回数を示し1850℃以上ではルツボの変□彫が著しく
なることがかわった。さら6二第6図はLiNbO5単
結晶のPi ルックの使用回数と溶解温度を示す・13
□7S℃゛以上ではルツボの賓形が着しくなった。
本発□明を実施することにより気泡C二よる損失結晶−
さは従来の数10から数参以下6;まで・飛躍的6;減
少せしめる事が出来、歩留〕良く、高品質大口径単結晶
の育成が出来る様(二な〉、ウニ/1−の貴意化を可能
とすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は単結晶育成の育成プログラムを示す図、第2図
はLiTa01単結晶中の気泡を説明する図、第3図線
気泡消失時間と結晶材料の溶融温度との関係を示す図、
[411は気泡発生率と溶−一度との関係を示す・第s
aiはLiTa0.の−□融一度とPi−Rh□ルツゼ
便用回数を示す図、第6固状Lu5bo、め溶融1度と
Pt ルツボ使用@−を示す図セある。 3・・・シードホルダー   4・・・シード    
 ”6・・・単結晶     6・・・気泡(7317
)  代理人弁理士 則 返電 佑 (ほか1名)♂ □1 第  1m 調闇(イ1ξ 峙 1占] 第2m1 113  図 第4図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  最終結晶の組成元素の近似的な化学量論的の
    出発成分からなる溶−物から種結晶を用いて引上げるこ
    と6二よ〕成長させる単結晶の育成方法f:おいて、 前記種結晶を引上ける前6二前記溶融物の温度を、前記
    最終結晶の融点の1OS−以上にすることを特徴とする
    単結晶の育成方法。
  2. (2)  単結晶がリチウムニオベートであることを特
    徴とする特許請求の範囲第1現記−の単結晶の育成方法
  3. (3)  単結晶がリチウムタンタレートであるζトを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の単結晶の育成方
    法・
JP56105473A 1981-07-08 1981-07-08 単結晶の育成方法 Pending JPS589894A (ja)

Priority Applications (1)

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JP56105473A JPS589894A (ja) 1981-07-08 1981-07-08 単結晶の育成方法

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JP56105473A JPS589894A (ja) 1981-07-08 1981-07-08 単結晶の育成方法

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Publication Number Publication Date
JPS589894A true JPS589894A (ja) 1983-01-20

Family

ID=14408558

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JP56105473A Pending JPS589894A (ja) 1981-07-08 1981-07-08 単結晶の育成方法

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JP (1) JPS589894A (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5253800A (en) * 1975-10-29 1977-04-30 Sumitomo Electric Ind Ltd Preparation of single crystals of linbo3 litao3

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5253800A (en) * 1975-10-29 1977-04-30 Sumitomo Electric Ind Ltd Preparation of single crystals of linbo3 litao3

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