JPS59104182A - 太陽電池のフインガ−電極構造製造方法 - Google Patents
太陽電池のフインガ−電極構造製造方法Info
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- JPS59104182A JPS59104182A JP58217046A JP21704683A JPS59104182A JP S59104182 A JPS59104182 A JP S59104182A JP 58217046 A JP58217046 A JP 58217046A JP 21704683 A JP21704683 A JP 21704683A JP S59104182 A JPS59104182 A JP S59104182A
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- H10F77/211—Electrodes for devices having potential barriers for photovoltaic cells
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-
- H—ELECTRICITY
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- H10F10/10—Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells having potential barriers
- H10F10/17—Photovoltaic cells having only PIN junction potential barriers
-
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- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は非晶質シリコン層からなる太陽電池の表面にマ
スクを使用して金属層を蒸着し、太陽電池の電気接触体
としてのフィンガー電極構造を製造するための方法に関
する。
スクを使用して金属層を蒸着し、太陽電池の電気接触体
としてのフィンガー電極構造を製造するための方法に関
する。
従来技術
従来非晶JCCクリン(−a −Sl、 )および単結
晶シリコンからなる太陽電池のフィンガー電極構造は、
約1μmの厚さの銀層の蒸着によって作られてきた。そ
のような方法は、例えばドイツ連邦共和国特許出願公告
第2411690号明細書により単結晶シリコンから々
る太陽電池に対して公知である。
晶シリコンからなる太陽電池のフィンガー電極構造は、
約1μmの厚さの銀層の蒸着によって作られてきた。そ
のような方法は、例えばドイツ連邦共和国特許出願公告
第2411690号明細書により単結晶シリコンから々
る太陽電池に対して公知である。
単結晶シリコンからなる太陽電池は比較的高価はほとん
ど問題にならない。一方、太陽電池の半導体材料として
非晶質シリコンを用いろことによって、特に低価格の薄
膜太陽電池を製造する可能性が与えられている。しかし
ながらこの場合は、電流導出に使用するフィンガー電極
の価格が大きな比重を占めることになり、それに銀を使
用することは価格上問題がある。
ど問題にならない。一方、太陽電池の半導体材料として
非晶質シリコンを用いろことによって、特に低価格の薄
膜太陽電池を製造する可能性が与えられている。しかし
ながらこの場合は、電流導出に使用するフィンガー電極
の価格が大きな比重を占めることになり、それに銀を使
用することは価格上問題がある。
発明の目的
本発明の目的は、非晶質シリコンからなる太陽電池のフ
ィンガー電極構造をできるだけ低抵抗に、かつできるだ
け低価格で作ることにある。ざらに本発明の目的は、p
1n/■TO(インジウム・スズ・酸化物)型の太陽電
池において、電気接触体を作っている間に、反射防止膜
として役立つITO層に損傷が生じず、太陽電池素子に
熱的負荷がかかることのないようにすることにある。
ィンガー電極構造をできるだけ低抵抗に、かつできるだ
け低価格で作ることにある。ざらに本発明の目的は、p
1n/■TO(インジウム・スズ・酸化物)型の太陽電
池において、電気接触体を作っている間に、反射防止膜
として役立つITO層に損傷が生じず、太陽電池素子に
熱的負荷がかかることのないようにすることにある。
発明の構成
この目的は本発明によれば、以下の工程によって達成さ
れる。
れる。
a)クロム・ニレケル層の蒸着、
h)純ニッケル層の蒸着、
C)蒸着マスクの除去、
d)弱活性化コロフオニウム溶剤中への太陽電池の浸漬
、 e)210ないし230℃において融解しているスズ合
金中への浸漬。
、 e)210ないし230℃において融解しているスズ合
金中への浸漬。
本発明の一実施態様においては、浸漬スズ被覆のために
3=2の割合のスズおよび鉛からなり2係の分量の銀を
加えた融体が用いられ、スズ被覆の際の温度は220℃
に調整される。
3=2の割合のスズおよび鉛からなり2係の分量の銀を
加えた融体が用いられ、スズ被覆の際の温度は220℃
に調整される。
銀による公知の蒸着方法と比較して、スズ被覆のだめの
基層としてニッケル・クロム/ニッケル層を用いる本発
明による浸漬スズ被覆法は、原価の基準および低抵抗性
の規準に関して技術的に進歩している。付着の媒介のた
めに、20:80の組成を有するクロム・ニッケル層を
膜厚100μmないし200℃m、望ましくは17 (
l n mの厚さの二゛ツケル層を蒸着すると有利であ
る。
基層としてニッケル・クロム/ニッケル層を用いる本発
明による浸漬スズ被覆法は、原価の基準および低抵抗性
の規準に関して技術的に進歩している。付着の媒介のた
めに、20:80の組成を有するクロム・ニッケル層を
膜厚100μmないし200℃m、望ましくは17 (
l n mの厚さの二゛ツケル層を蒸着すると有利であ
る。
ニッケル層の酸化を防ぐために、特に有効な実施態様に
よれば]、 00 n mのjqさの銀層を付加的に蒸
着することができる。
よれば]、 00 n mのjqさの銀層を付加的に蒸
着することができる。
浸漬スズ被覆の際の11値厚(は0.01ないし0.5
顧に調整すると有利である。
顧に調整すると有利である。
弱活性化コロフオニウム溶剤として、特にpin/■T
O型太陽電池に対しマルチコア(Multic−Orθ
) 538 ]、 (マルチコア社(Multicor
e TJtcl、)製)が用rられる。より強く活性化
された溶剤(は110層を腐食させ、活性化されない溶
剤はニッケル層の十分な濡れをもたらさない。
O型太陽電池に対しマルチコア(Multic−Orθ
) 538 ]、 (マルチコア社(Multicor
e TJtcl、)製)が用rられる。より強く活性化
された溶剤(は110層を腐食させ、活性化されない溶
剤はニッケル層の十分な濡れをもたらさない。
本発明の利点はフィンガー電極を低価格で作ることがで
きるとともに、電気的特性値を最適値にできることにあ
る。結果として生じた抵抗は20nの長さで0.1ない
しく)、2δの幅の枝部で1オーム、2ないし4Uの幅
の中央幹部で90ミリオーられた値のほぼ3分の1に相
当する。
きるとともに、電気的特性値を最適値にできることにあ
る。結果として生じた抵抗は20nの長さで0.1ない
しく)、2δの幅の枝部で1オーム、2ないし4Uの幅
の中央幹部で90ミリオーられた値のほぼ3分の1に相
当する。
発明の実施例
次に第1図ないし第3図を引用して本発明をさらに詳し
く説明する。
く説明する。
第1図は浸漬スズ被覆の電気接触体系(フィンガー電極
構造)を有する大面積のpjn太陽電池の斜視図、第2
図は本発明による方法を有利に用することができる太陽
電池(p jn / T T O型電池)の構造の断面
図、第3図は太陽電池の特性曲線図を示す。第:1図お
よび第2図におhで同じ要素には同じ符号が用いられて
いる。
構造)を有する大面積のpjn太陽電池の斜視図、第2
図は本発明による方法を有利に用することができる太陽
電池(p jn / T T O型電池)の構造の断面
図、第3図は太陽電池の特性曲線図を示す。第:1図お
よび第2図におhで同じ要素には同じ符号が用いられて
いる。
第1図に示されるフィンガー電極パターンに従った蒸着
層の構造化は、蒸着マスクを用いて作られる。スズ被覆
(層32)(d:太陽電池11を59係のスズ、39%
の鉛、2%の銀の組成の融体中に220℃の温度におい
て浸漬することにより行われる。p i n / I
T O型太陽電池(11)はそのために予め弱活性化コ
ロフォニウム溶剤中に浸漬された。
層の構造化は、蒸着マスクを用いて作られる。スズ被覆
(層32)(d:太陽電池11を59係のスズ、39%
の鉛、2%の銀の組成の融体中に220℃の温度におい
て浸漬することにより行われる。p i n / I
T O型太陽電池(11)はそのために予め弱活性化コ
ロフォニウム溶剤中に浸漬された。
第2図において各符号は次のとおりである。
1=例えばガラスからなる基板、
2;アルミニウム/シリコンないしアルミニウム/シリ
コン/チタンからなる背面接触層(750n m ) 3−非晶質シリコン層(p形、20 n m )4−非
晶質シリコン層(真性、5+1 (l n m )5−
非晶質シリコン層(n形、1 (l n m )6−イ
ンジウム・スズ・酸化物層(ITO層二反射防止膜、7
11 n m )、 7−ニッケル・クロム−ニッケル(27Of1m)およ
びg (100n m )からなるフィンガー電極構造
。
コン/チタンからなる背面接触層(750n m ) 3−非晶質シリコン層(p形、20 n m )4−非
晶質シリコン層(真性、5+1 (l n m )5−
非晶質シリコン層(n形、1 (l n m )6−イ
ンジウム・スズ・酸化物層(ITO層二反射防止膜、7
11 n m )、 7−ニッケル・クロム−ニッケル(27Of1m)およ
びg (100n m )からなるフィンガー電極構造
。
第3図、は本発明による方法によって製作された太陽電
池のAMI照射(ソーラシεユレータ使用)の下での特
性曲線を示す。その太陽電池(曲線11)は短絡なしく
弱い照射における開放電圧のわずかな減少に対応)であ
り、平行ではあるが電極構造なしに製作された小さい面
積上の太陽電池(曲線■参照、6us2)と同じ効率を
示す。そのことから電極構造中での出力損失は無視でき
るほど小さいという結果が生ずる。電極格子、中央梁お
よびITO層の抵抗が関与する出力損失が計算され、蒸
着された銀層(1μm)による電極構造から得られる値
と対照された。その結果を次の表1に示す。
池のAMI照射(ソーラシεユレータ使用)の下での特
性曲線を示す。その太陽電池(曲線11)は短絡なしく
弱い照射における開放電圧のわずかな減少に対応)であ
り、平行ではあるが電極構造なしに製作された小さい面
積上の太陽電池(曲線■参照、6us2)と同じ効率を
示す。そのことから電極構造中での出力損失は無視でき
るほど小さいという結果が生ずる。電極格子、中央梁お
よびITO層の抵抗が関与する出力損失が計算され、蒸
着された銀層(1μm)による電極構造から得られる値
と対照された。その結果を次の表1に示す。
表 1
a ) 0.2 :vl、m Sn浸漬7破覆電ID
]、33% 0.1% 0.7% 2.4%b)
] 111mA5+蒸着電極 1,3% 08%3
% 5.1チこれから、4倍の電池面積の場合に(は中
央梁の寄与が倍増する、すなわち全出力損失がa)およ
びb)において3%もしくは8%に増大する、それ故a
)の場合に有利に推移するであろうことが明らかになり
、そのことは浸漬スズ被覆接触体の使用をなお重要にす
る。
]、33% 0.1% 0.7% 2.4%b)
] 111mA5+蒸着電極 1,3% 08%3
% 5.1チこれから、4倍の電池面積の場合に(は中
央梁の寄与が倍増する、すなわち全出力損失がa)およ
びb)において3%もしくは8%に増大する、それ故a
)の場合に有利に推移するであろうことが明らかになり
、そのことは浸漬スズ被覆接触体の使用をなお重要にす
る。
表2は第3図の特性曲線Iおよび11に属する効ベース
ファクタFFに対する値を示す。
ファクタFFに対する値を示す。
表2
η 7715 %
vOC839800mV
工sc I 3.78 1 og mfi
、7cm2F7” s/157 % 発明の効果 本発明によれば、従来フィンガー電極に使用してbた銀
を使用する必要がなく、フィンガー電極に要する費用を
低減できるとともに、電極の抵抗を最適値に調整するこ
とができ、安価で能率のよい太陽電池の製作に大きく寄
与するものである。
、7cm2F7” s/157 % 発明の効果 本発明によれば、従来フィンガー電極に使用してbた銀
を使用する必要がなく、フィンガー電極に要する費用を
低減できるとともに、電極の抵抗を最適値に調整するこ
とができ、安価で能率のよい太陽電池の製作に大きく寄
与するものである。
第1図、および第2図は、それぞれ本発明方法によるフ
ィンガー電極をゼする太陽電池の斜視図および側面図、
第3図は本発明方法による太陽電池の電圧−電流特性曲
線崗である。 リコン層、5”’n形非晶質シリコン層、6・・・IT
O層、7・・・フィンガー電極構造、11・・・非晶質
シリコン太陽電池、12・・・スズ被覆層。
ィンガー電極をゼする太陽電池の斜視図および側面図、
第3図は本発明方法による太陽電池の電圧−電流特性曲
線崗である。 リコン層、5”’n形非晶質シリコン層、6・・・IT
O層、7・・・フィンガー電極構造、11・・・非晶質
シリコン太陽電池、12・・・スズ被覆層。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)非晶質ンリコン層からなる太陽電池の表面にマスク
を使用して金属層を蒸着し、太陽電池の電気接触体とし
てのフィンガー電極構造を製造するための方法において
、 a)クロム・ニッケル層の蒸着 b)純ニッケル層の蒸着 C)蒸着マスクの除去 d)弱活性化コロフオニウム溶剤中への太陽電池の浸漬 e)210な贋し230Cにおいて融解しているスズ合
金中への浸漬 の各工程からなることを特徴とする太陽電池のフィンガ
ー電極構造製造方法。 2)スズ板物のために3:2の割合のスズおよ用い、温
度を220℃に調整することを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の製造方法。 3)工程a)において20 : 8 (lの組成を有す
るクロム・ニッケル層を用い、膜厚を1100n[調整
することを特徴とする特許請求の範囲第1項または第2
項記載の製造方法。 4)工程b)において純ニッケル層の厚さを15()な
いし200℃m(/i:調整することを特徴とする特許
請求の範囲第1項ないし第3項のいずれかに記載の製造
方法。 5)工程1))に続いて銀島を1 (10n mの膜厚
に蒸着することを特徴とする特許請求の範囲第1項ない
し第4項のいずれかに記載の製造方法。 6)工程θ)による浸漬スズ被覆の際の膜厚を0、(1
1ないしC)、5朋に調整することを特徴とする特許請
求の範囲第1項ないし第5項のいずれかに記載の製造方
法。 らなる反射防止膜を有するpin型の非晶質シリコン太
陽電池の製造に使用することを特徴とする特許請求の範
囲第1項ないし第6項のいずれかに記載の製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19823242791 DE3242791A1 (de) | 1982-11-19 | 1982-11-19 | Verfahren zum herstellen von elektrische kontakte bildende fingerelektrodenstrukturen an amorphen silizium-solarzellen |
| DE32427913 | 1982-11-19 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59104182A true JPS59104182A (ja) | 1984-06-15 |
Family
ID=6178499
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58217046A Pending JPS59104182A (ja) | 1982-11-19 | 1983-11-17 | 太陽電池のフインガ−電極構造製造方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4543443A (ja) |
| EP (1) | EP0111749B1 (ja) |
| JP (1) | JPS59104182A (ja) |
| DE (2) | DE3242791A1 (ja) |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4878097A (en) * | 1984-05-15 | 1989-10-31 | Eastman Kodak Company | Semiconductor photoelectric conversion device and method for making same |
| US4950614A (en) * | 1984-05-15 | 1990-08-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of making a tandem type semiconductor photoelectric conversion device |
| DE8423469U1 (de) * | 1984-08-07 | 1986-01-30 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Solarzelle mit einem aus amorphem Silizium bestehenden Halbleiterkörper der Schichtenfolge pin |
| AU583423B2 (en) * | 1985-09-21 | 1989-04-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co. Ltd. | Semiconductor device free from the electrical shortage through a semiconductor layer and method for manufacturing same |
| US4847210A (en) * | 1988-08-05 | 1989-07-11 | Motorola Inc. | Integrated pin photo-detector method |
| US5130775A (en) * | 1988-11-16 | 1992-07-14 | Yamatake-Honeywell Co., Ltd. | Amorphous photo-detecting element with spatial filter |
| JPH02186636A (ja) * | 1989-01-12 | 1990-07-20 | Seiko Epson Corp | 集積回路装置の配線法 |
| US7216423B2 (en) * | 2003-11-26 | 2007-05-15 | General Electric Company | Manufacturing process for smaller active areas in flat panel X-ray detectors |
| EP1555695B1 (en) * | 2004-01-13 | 2011-05-04 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Photovoltaic device |
| US7048800B2 (en) | 2004-02-17 | 2006-05-23 | Asml Holding N.V. | Semiconductor substrate processing apparatus |
| US20080128020A1 (en) * | 2006-11-30 | 2008-06-05 | First Solar, Inc. | Photovoltaic devices including a metal stack |
| US20090229667A1 (en) * | 2008-03-14 | 2009-09-17 | Solarmer Energy, Inc. | Translucent solar cell |
| US8367798B2 (en) * | 2008-09-29 | 2013-02-05 | The Regents Of The University Of California | Active materials for photoelectric devices and devices that use the materials |
| US8368654B2 (en) * | 2008-09-30 | 2013-02-05 | Apple Inc. | Integrated touch sensor and solar assembly |
| US20100276071A1 (en) * | 2009-04-29 | 2010-11-04 | Solarmer Energy, Inc. | Tandem solar cell |
| US8440496B2 (en) * | 2009-07-08 | 2013-05-14 | Solarmer Energy, Inc. | Solar cell with conductive material embedded substrate |
| US8372945B2 (en) | 2009-07-24 | 2013-02-12 | Solarmer Energy, Inc. | Conjugated polymers with carbonyl substituted thieno[3,4-B]thiophene units for polymer solar cell active layer materials |
| US8399889B2 (en) | 2009-11-09 | 2013-03-19 | Solarmer Energy, Inc. | Organic light emitting diode and organic solar cell stack |
| CN115832071B (zh) * | 2022-12-02 | 2026-07-24 | 陕西众森电能科技有限公司 | 用于tco表面的电极结构及其制备方法 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1283975B (de) * | 1965-03-26 | 1968-11-28 | Siemens Ag | Verfahren zur sperrfreien Kontaktierung von p-leitendem Galliumarsenid |
| US3846258A (en) * | 1971-12-30 | 1974-11-05 | Communications Satellite Corp | Process for solder coating silicon solar cells |
| US4171989A (en) * | 1976-01-27 | 1979-10-23 | Motorola, Inc. | Contact for solar cells |
| GB1497741A (en) * | 1976-02-02 | 1978-01-12 | Ferranti Ltd | Formation of contacts for semiconductor devices |
| DE3001463C2 (de) * | 1980-01-17 | 1984-06-20 | Asahi Kasei Kogyo K.K., Osaka | Halbleiterphotoelement |
| CA1164734A (en) * | 1980-07-11 | 1984-04-03 | Michael Schneider | Method for applying an anti-reflection coating to a solar cell |
| US4417092A (en) * | 1981-03-16 | 1983-11-22 | Exxon Research And Engineering Co. | Sputtered pin amorphous silicon semi-conductor device and method therefor |
| DE3237391A1 (de) * | 1981-10-09 | 1983-04-28 | Exxon Research and Engineering Co., 07932 Florham Park, N.J. | Solarzellenanordnung und verfahren zur herstellung derselben |
| US4387116A (en) * | 1981-12-28 | 1983-06-07 | Exxon Research And Engineering Co. | Conditioner for adherence of nickel to a tin oxide surface |
-
1982
- 1982-11-19 DE DE19823242791 patent/DE3242791A1/de not_active Withdrawn
-
1983
- 1983-08-16 US US06/523,597 patent/US4543443A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-11-14 EP EP83111369A patent/EP0111749B1/de not_active Expired
- 1983-11-14 DE DE8383111369T patent/DE3379303D1/de not_active Expired
- 1983-11-17 JP JP58217046A patent/JPS59104182A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4543443A (en) | 1985-09-24 |
| DE3379303D1 (en) | 1989-04-06 |
| EP0111749A2 (de) | 1984-06-27 |
| EP0111749A3 (en) | 1986-12-03 |
| DE3242791A1 (de) | 1984-05-24 |
| EP0111749B1 (de) | 1989-03-01 |
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