JPS5912617A - 温度に比例したゲート電流を使用するスイングを減少させたラッチ回路 - Google Patents

温度に比例したゲート電流を使用するスイングを減少させたラッチ回路

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JPS5912617A
JPS5912617A JP58021387A JP2138783A JPS5912617A JP S5912617 A JPS5912617 A JP S5912617A JP 58021387 A JP58021387 A JP 58021387A JP 2138783 A JP2138783 A JP 2138783A JP S5912617 A JPS5912617 A JP S5912617A
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    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/023—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of differential amplifiers or comparators, with internal or external positive feedback

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ディジタル部用!回路に関し、特にエミッタ
結合の論理回路を使用して温度に実質的に比例する大き
さを有する出力信号スウィングを生じる高速ディジタル
ラッチ回路に関する。
多重ビットのディジタル信号を対応するアナログ電圧に
変換するためのディジタル/アナログ・コンバータ回路
は当技術に46いて公知である。バイポーラ・トランジ
スタの集稍回路技術を用いてモノリシック基板上に形成
された高速ディジタル/アナログ・コンバータは広く使
用されている。
しかし、このようなモノリシックの高速ディジタル/ア
ナログ・コンバータは、コンバータにより処理されるべ
き入力信号を記憶するための手段を通當欠いている。コ
ンバータの応答時間の遅れを避けるため、このような記
憶装置は必然的に早いスイッチング速度を持たなければ
なら7よい。更に、このような記憶装置は、コンバータ
がその上に形成されるモノリシック基板のサイズの大幅
な増加なmけるため、またこのようブZコンバータの製
造の歩留まりの対応する低下を避けるために比較的コン
ノξクトでなければならない。
このようなコンバータに対して与えられるディジタル入
力信号はしばし、ばTTL論理回路により生成されるた
め、1°TL回路を使用するこのような記憶装置の構成
は明らかに代替的なものとなり、このため記憶装置にt
はディジタル入力信号のソースに関して入力的にコンパ
チブルとブ、cろ。しかし、従来のTTL回路は典型的
にバイア1トーラ・コンバータ回路よりも遅く、従って
受入れカ1(いイt)号の遅延を生じる結果となる。ト
ランジスタにおける金ドーピングの如き技術およびショ
ットキー・ダイオードの使用は従来のTTL回路の速度
を増加するものとして公知であり、このような技術は一
般に高速ディジタル/アナログ・コンバータ回路の提供
のため使用される処理方法とコンパチビリティを持たな
い。更に、特にディジタル入力信号内のビット数が、従
ってこのようなラッチ回路敬が比較的大きい場合には、
TTLのクロックされたデータ・ラッチの構成のため必
要な比較的多数のトランジスタはコンバータが形成され
る基板のサイズを著しく増加させることにブjる。
コンバータ基板上にクロックされたデータ・ラッチを形
成するためのTTL回路の使用に代る方法として、当技
術においては周知である直列ゲート作用を用いる比較的
高速のエミッタ結合のロジック構造を用いてこのような
りロック・データ・ラッチを形成するものである。−例
として、ゲート作用ラッチおよびクロックされるDタイ
プ・フリップフロップを形成するエミッタ機能のロジッ
ク構造が、1976年10月の「工EEE Jou、r
nalof F3oハcl 5tate C1rcLL
its J  第5G−8巻、第5号、656〜361
頁の5kokαル著[LsIのためのエミッタ機能ロジ
ック・ロジック・ファミリー]において示されている。
電流モート8・ロジックを使用するラッチ回路およびマ
スター/スレーブ・フリップフロップ回路は、1980
年7月のIEEE Transactions on、
Gircu、itsαndSyrtems」第GAS−
27巻第7号、626〜665頁のCooperman
著1’−LSIのための高速% 流モード・・ロジック
」において示されている。
このようなエミッタ結合型ロジック構造は一般に高速の
コンバータ回路の形成のため使用される処理方法とコン
パチビリティを有し、コンバータに対するディジタル入
力信号の提供において大きな遅れを避けるため充分なス
イッチング速度を有する。
典型的には、このようなエミッタ結合型の直タIIゲー
ト作用ラッチ回路は、閾値または基準電圧に接続された
ば一ス・ターミナルと、最も高いjl−の状態の電源(
通常は接地電位)に対してS′i荷抵抗抵抗り結合さね
たコレクタ・ターミナルとを有する更に高レベル・バイ
アスのトランジスタを含んでいる。このバイアス・トラ
ンジスタは、略々接地電圧の高レベルと約0.8ボルト
以丁の接地電位の低レベルとの間で切換る入力信号を受
取るイース・ターミナルを有する入カトラyジスクに対
しエミッタ結合されている。ゲート電i)1シおよび負
荷抵抗は一般に、負荷抵抗の両端に約08ボルトの電圧
スイングを生じるように選定される。基1%1%/、l
j圧は、入力信号のスイング、即ち約0.4ボルト以下
の接地電位の中間になるように選択される。入力データ
をラッチするためには、第2のエミッタ結合されたトラ
ンジスタ対が提供される。この第2のエミッタ結合きれ
たトランジスタ対はしばしば、ダブル・エミッタ素子と
して前述のバイアス・トランジスタを構成し、かつ第2
のかかるエミッタをフィードバック・トランジスタのエ
ミッタ・ターミナルに結合することによって形成される
。
このフィート9バツク・トランジスタのベース・ターミ
ナルはバイアス・トランジスタのコレクタに対して結合
され、このためラッチのフィートノ之ツク部分は所謂シ
ングル・エンドのフィードバック信号により駆動される
。クロックされた更に低いレベルのエミッタ結合ゲート
は、入力およびフィードバック・エミッタ結合トランジ
スタ対間で、それぞれ最初はラッチ入力におけるデータ
を取得し然る後このデータをフィードバック段内でラッ
チするため、取得モードとラッチ・モード間にラッチ構
造を選択的に切換えるためのゲート構造の比較的高いし
はル内でゲート電流を切換えるのである。
前述の一般的なタイプのエミッタ結合ラッチ回路は、そ
の性能をやや拘束する種々の制約を受ける。例えば、こ
のような直列ゲート構造内のゲート電流は典型的に増加
する温度を低下させる。従って、このようなラッチ回路
における負荷抵抗の両端に生じたロジックのスイングは
、温度が上昇するに伴ってその大きさが決定する。対間
的に、オンのトランジスタにより導通される電流とオフ
・トランジスタにより導通される電流間のある比率を確
保するためエミッタ結合トランジスタ対のベース・ター
ミナルに対して必然的に与えられなければならない電圧
差は、上昇する温度と共に実際に増加する。その結果、
このような回路は、このような温度におけるON電流と
OFF電流の充分な比率を確保するため比較的高い温度
において少なくとも予め定めた電圧スイングを維持する
ように典型的に構成されている。その結果は、公称温度
において、負荷抵抗の両端の電圧スイングがエミッタ結
合トランジスタ内のON電流対OFF電流の同じ比率を
維持するため実際に必要なものより遥かに大きくなるこ
とである。しかし、公称温度における比較的大きなスイ
ングは、ラッチのスイッチング時間が、使用された小さ
な電圧スイングを得た以上に増加する結果となる。
更に、このような回路が切換え速度に悪影響を及ぼすこ
となく作動する最高温度は、バイアス・トランジスタの
ば−ス/コレクタ接合部の飽和によって制限される。こ
のバイアス・トランジスタがONになると、そのコレク
タにおける電圧は接地電圧より0.8ボルト以上低くな
るが、そのベースは接地電圧より約0.4ボルト低くな
る。その結果、このバイアス・トランジスタのベース/
コレクタの接合部は0.4ボルト以上順方向にバイアス
される。トランジスタ自体の内部抵抗を勘定に入れると
、このトランジスタのベース/コレクタ接合部の両端の
実際のI+1方向のバイアスは更に大きくなる。充分に
高い温度においては、このバイアス・トランジスタは飽
和モート8で作動し、これによりスイッチング速度を低
下させるのである。
従来技術のエミッタ結合ラッチ回路のこの他の制約は、
取得モードからラッチされたモードへの切換えに使用さ
れるクロック信号の最低縁部速度に関する。回路の性格
およびクロック信号の縁部速度に従って、取得モードに
おけるノミイアス・トランジスタのコレクタにおいて得
られる低い電圧は、低いレベルのクロック・ゲートが充
分な電流をラッチ回路のフィートバツク段階に切換えて
低い出力レベルを再び得る前に、接地電位に向けて上昇
し始める。この場合、増得モードにおいて得たデータは
、ラッチ回路が完全にラッチされた操作モードに切換え
られる前に失われる。
かかる従来技術のエミッタ結合ラッチ回路の更に別の制
約は、このような回路の入力部分をトランジスタ/トラ
ンジスタ・ロジック(TTL)の如き他のディジタル・
ロジック・ファミリーに対してインターフェースする際
に生じる比較的困難な問題である。このようなラッチ回
路の比較的高いレベル以内のバイアス・トランジスタに
対して与えられた閾値即ち基準電圧は一般に、最も大き
な正の電源電圧より僅かに0.4ボルトしか低くない。
このようなエミッタ結合回路は必然的に、TTL回路に
より与えられる形式の入力信号に対する応答の困難を有
する。
同様に、出力信号の比較的小さな大きさ、ならびに接地
電位(または他の正の電源電圧)に対して出力信号を即
金させる必要の故に、このような従来技術のラッチ回路
の出力を他のタイプのディジタル、・ロジックの入力部
分にインターフェースすることがしばしば@3雛となる
。同様な理由により、このようなエミッタ結合ラッチ回
路は高速のディジタル/アナログ・コンバータの入力の
スイッチング段を駆動するためには充分適合しない。
最後に、このような従来技術のエミッタ結合ラッチ構造
は制約されたファンアウト、即ち同じタイプのロジック
・ファミリーである他のゲートを駆動する容量を有する
。例えば、5kokα°ルの特許に記載されたEFLタ
イプのラッチ回路は、これにより駆動される余分の各ゲ
ートに対して出力トランジスタ内の余分なエミッタ拡散
を必要とする。
Goopermanの特許に開示されたCMLラッチ回
路は、負荷抵抗のサイズが縮小され、これが更にゲート
電流および全体の消費電力を増加することがなければ、
やや制限された出力駆動容量を有する。
従って、本発明の目的は、高速のモノリシック・ディジ
タル/アナログ・コンバータの製造方法および作動速度
とコンパチビリティを有し、こねと同じ基板上に比較的
コンパフナ構造として形成することができるクロック・
データ・ラッチ回路の提供にある。
本発明の別の目的は、これKより公称出力電圧スイング
の大きさが、ラッチ回路のスイッチング速度を必要以上
に増加させる程大きくならずにそのフィードバック部分
の範囲内にON電流対OFF電流の充分な比率を維持す
るに充分な大きさであるエミッタ結合トランジスタを使
用する高速ラッチ回路の提供にある。
本発明の他の目的は、温度の変化にも拘らず、これによ
り駆動される類似の回路におけるON電流対OFF電流
の予め定めた比率を綺持するため、出力電圧スイングの
大きさが上昇する温度と共に増加するエミッタ結合ラッ
チ回路の枦俳にある。
本発明の更に他の目的は、速度に悪影響を及ぼすことな
く比較的高い温度において作動できるこのようなエミッ
タ結合ラッチ回路の提供にある。
本発明の更に別の目的は、ラッチ回路がラッチされた操
作モードに切換えられる時取得したデータを失う傾向が
減少する如きエミッタ結合ラッチ回路の提供にある。
本発明の更に仙、の目的は、TTL回路ならびに他のロ
ジック・ファミリーと入力的にコンパチビリティを有す
る如きエミッタ結合ラッチ回路の提供にある。
本発明の更に他の目的は、ラッチ回路自体のフィードバ
ック段以内にデータの条件を保持するため使用されたも
のを大幅に超える電圧スイングを有する出力信号を提供
することができ、史に容易に他のタイプのスイッチング
回路を駆動する如きエミッタ結合ラッチ回路の提供にあ
る。
本発明の更に他の目的は、ラッチ回路のファンアウト容
量が最小限の付加的な構成要素および電力により大幅に
増加回部な如きエミッタ結合ラッチ回路の提供にある。
本発明の更に他の目的は、閾値レベル即ち基準電圧が温
度の変化にわたる出力信号のスイングを追跡して出力電
圧スイング内で略々中心を維持する如きエミッタ結合ラ
ッチ回路のためのバイアス回路の提供にある。
本発明の上i己および他の目的については、本発明の言
己述が進むにつれて当技術に習熟する者には明らかにな
るであろう。
本発明の一実施態様に従って要約すれば、本発明は、温
度と実質的に比例する大きさ、ならびに温度と実質的に
比例する出力信号スイングを生じるための抵抗9荷を有
する調整されたゲート電流を提供するゲート電流ソース
を含むエミッタ結合直列ゲート構造を含むラッチ回路に
関する。ダブル・エミッタ型ノ2イアス・トランジスタ
は、第1のエミッタを入力トランジスタのエミッタと結
合させ、第2のエミッタをフィート9バツク・l・ラン
ジスタのエミッタと結合させている。入力トランジスタ
のベース・ターミナルは直接または入力ノミツファ回路
を介して入力データ信号を受取る。バイアス・トランジ
スタのベース・ターミナルは、関連するバイアス回路に
よって生成される第1の基準電圧と結合されている。フ
ィードバック・トランジスタのベース・ターミナルは、
取得操作モードの間に得たデータの状態をラッチするた
めバイアス・トランジスタのコレクタ・ターミナルと結
合される。エミッタ結合されたトランジスタ対、即ち電
流操作回路は、ラッチ回路をその取得操作モート9とラ
ッチ操作モードとの間で切換えるため、ゲート電流ソー
スをバイアス・トランジスタの第1または第2のエミッ
タ・ターミナルに選択的に結合する。負荷はバイアス・
トランジスタのコレクタと、バイアス回路により生成さ
れた第2の基準電圧との間に結合され、この第2の基準
電圧は広い公称電圧の範囲内で選択することができる。
本発明の望ましい一実施態様においては、ラッチ回路の
負荷は、バイアス・トランジスタのコレクタと、バイア
ス回路により生成された前記の第2の基準電圧との間で
負荷抵抗と直列に結合された半導体のP−N接合点によ
り形成される。この負荷内の半導体のP−Ni2合はダ
イオード9でよいが、この半導体のP−N接合は、第2
の基準電圧を生成するノミイ′アス回路からの電流のビ
レーンを最小にするため、負荷トランジスタのベース/
エミッタの接合により形成されることが望ましい。
ゲート電流および負荷抵抗は約300 ミIJボルトの
公称出力スイングを生じるように選択されるが、ラッチ
回路のフィード;リフ部分から絶縁された第2の出力信
号を生成するため、比較的大きな値の抵抗を負荷トラン
ジスタのコレクタと最も大きな正の霜′、圧電源の導体
との間に挿入することができ、この第、2の出力信号は
ラッチ自体の前記の600ミリボルトの公称スイングを
大幅に超える公称の大きさを有する。従って、この第2
の出力信号は更に大きな入力信号スイングを必要とする
他のタイプのスイッチング回路を駆動するため有利に使
用することができ−るのである。
前述の如きラッチ回路の負荷内の半導体のp−N接合の
使用の結押、この負荷により生じた電流における変化の
故に接合小の両端の電圧における変化により出力信号の
スイングの一部が生じる。
この接合点の電圧におけるこのようなシフトは、ラッチ
回路のフィードバック部分のスイッチング特性における
オフセット分を生じる。このオフセットの部分的成分ま
たは全成分は、これと共和結合された入力トランジスタ
およびフィート9バツク・トランジスタのエミッタ領域
よりも大きなバイアス・トランジスタの第1と第2のエ
ミッタのエミッタ領域を形成することにより達成するこ
とができる。更に、バイアス・トランジスタ内のエミッ
タのサイズを増加することは、バイア冬・トランジスタ
の全体サイズをこれと対応して増加させ、かつこれと関
連するコレクタの内部抵抗を減少させ、従って、そのコ
レクタ/ベース接合点を順方向にバイアスしようとする
バイアス・トランジスタの内部抵抗成分における電圧降
下は減少する。
更に、バイアス・トランジスタの比較的大きな全体的サ
イズはこれと関連する内部キャパシタンスをやや増加さ
せて、取得モート9とラッチ・モード間の切換えの比較
的長い期間にわたってラッチ回路がデータの状態を保持
することを可能にするのである。
本発明の望ましい実施態様においては、ラッチ回路と関
連するバイアス回路は、第1の基準電圧が与えられる第
1のターミナルと、第2の基準電圧が与えられる第2の
基準ターミナルの間に直列に結合されたノ々イアス抵抗
とP−N半導体接合を含んでいる。このバイデス回路は
更に、バイアス回路内の前記バイアス抵抗と半導体のI
) −N接合内に温度に比例する電流を流すため、ラッ
チ回路内に含まれた電流ソースと類似の電流ソースを含
んでいる。バイアス抵抗の大きさをラッチ回路の負荷抵
抗の半分になるように選択することにより、バイアス抵
抗の両端の電圧は、バイアス・トランジスタが導通状態
になる時、ラッチ回路の負荷抵抗の両端の電圧降下の丁
度半分に保持される。第1の基準電圧とラッチ回路の出
力信号は共に第2の基準電圧に照合されるため、温度の
変化により生じた第2の基準電圧は第1の基迩雷圧およ
びラッチ回路の出力信号に等しく影響を及ぼす。このた
め、第1の基準電圧は、温度の変化の如何に拘らず、ラ
ッチ回路の出力電圧借景のスイング内で略々その中心に
紐持される。紀2の基準電圧の実際の公称電圧し×ルは
、ラッチ回路の入力を他のskのロジック・ファミリー
とコンパチビリティを輛たせるように比較的広い範囲の
電圧から遣択することができる。
本発明の高いファンアウトを有する実施態様においては
、半導体のP−N接合がラッチ回路の力荷内から排除さ
れ、狛荷抵抗がバイアス・トランジスタのコレクタと第
2の基準電圧との間に直接結合される。この高いファン
アウトの実施態様はその代り、そのば−ス・ターミナル
をバイアス・トランジスタのコレクタに結合しかつその
エミッタ・ターミナルをフィート9バツク・トランジス
タのベースに結合した後置トランジスタを含んでいる。
この後置トランジスタのエミッタは、類似の回路におけ
る比較的多数の入力段を駆動するため使用可能な低いイ
ンピーダンスのラッチの出力信号ソースとして作用する
ものである。
第1図は、本発明の教示内容に従って構成することがで
きる汎用タイプの12ビツトの2段型ラッチ回路を示し
ている。第1図に示されたこの2段型ラッチ回路の第1
段、即ち入力段は6つの4ビツトのD型ラッチ10.1
2.14に区分される。各々のラッチ10.12および
14は、12ビツトのデータ入力ワード904ビット部
分(即ち、ニブル)を受取るため4つの入力ターミナル
を含んでいる。ラッチ10はニブルAを受取るための入
力ターミナル15.16.17および18、即ち入力デ
ータ・ワードの4つの最上位ビットを有する。ラッチ1
2はニブルBを受取るための入力ターミ゛ナル19.2
0,21および22.即ち入力データ・ワードの中間の
4ビツトを有する。同様に、ラッチ14はニブルCを受
取るための入力ターミナル、即ち入力データ・ワードの
最下位の4ビツトを有する。ラッチ10は、第1図の矢
印27で示される4ビツト巾の出力を生じる。同様に、
ラッチ12と14は各々、第1図においてそれぞれ矢印
28.29により示された4ビツト巾の出力を生じるの
である。
導線30は、取得モート9とラッチされたモーrとの間
でラッチ10を切換えるため、クラック信号をラッチ1
0に接続する。取得モート9においては、ラッチ100
入力ターミナル15〜18により受取られた入力信号は
その4ビツト巾の出力27に対して通過することを許さ
れる。しかし、ラッチされたモーPにおいては、ラッチ
10は4ビツトl]の出力27を入力ターミナル15〜
18により後で受取られるデータ信号を表わす予め定め
た条件で保持する。ラッチ10がラッチ・モードにある
時このラッチにより保持される予め定めた条件は、取得
モードからラッチされたモードへの遷移に応答するクロ
ック信号の状態における変化の直前に入力信号の状態と
対応する。導線31゜62は、それぞれラッチ12と1
4に対して類似するが独立的なりロック信号を与える。
再び第1図のラッチ10について見れば、導線60によ
り送られるクロック信号はORゲート34の出力側に生
成される。同様に、導線61と62によってラッチ12
と14に対して送られたクロック信号はそれぞれORゲ
ート36と68によって生成される。ゲートろ4.36
および68の各々の第1のターミナルは導線40とWR
ITEターミナル42に対して結合される。ゲート34
の第2の入力はnターミナル44に対して結合される。
同様に、ゲート66の第2の入力はNBnターミナル4
5結合され、ゲート38の第2の入力はNGターミナル
46と結合されている。ラッチ10は、導線60により
送られるクロック信号がローのレベル、即ち論理値「0
」にある時、取得モードにおいて作動する。対慶的に、
導線60により送られるクロック信号がノ・イのレベル
、即ち論理値「1」にある時は、ランチ10はラッチさ
れたモーrにおいて作動し、このモーPにおいては4ビ
ツト巾の出力27は入力ターミナル15〜18によって
受取られたデータ・ビットの状態に応答しない。導線6
oにより送られたクロック信号は、ORゲート34に対
する両人力が論理値「0」のレベルにある時のみ、論理
値「o」のレベルをとる。このように、WRITEター
1−ル42およびNAターミナル44が共に論理値「0
」レベルにある時、ラッチ10は取得モードにあるが、
もしWRITEターミナル42またはNAターミナル4
4のいずれかが論理値「1」にある場合は、ランチ10
がラッチされたモードをとる。同様に、WRITEター
ミナル42とNBターミナル45の双方が論理値「0」
のレベルにある時のみラッチ12は取得モードにあり、
WRI T Eターミナル42とNGターミナル46が
共に論理値「0」のしはルにある時にのみラッチ12は
取得モードにあるのである。
第1図に示された2段型ラッチは、第2段即ち12ビツ
トのラッチ48により形成された出力段を有する。ラン
チ48はそれぞれランチ10.12および14により与
えられた出力信号27.28および29を受取るための
入力ターミナルを有し、更に、ラッチ48は番号49で
示された12ビツト巾の出力を生じる。ラッチ48の出
力49は、アナログ信号への変換のためディジタル/ア
ナ口/・コンバータ(図示せず)の入力切換え回路網に
結合することができる。
再び第1図においては、WRITEターミナル42はま
たORゲート50の第1の入力仰1に対して導線40に
より結合されている。ORゲート50の第2の入力はC
0NVターミナル52に対し結合されている。ORゲー
ト50の出力は、クロック信号を与えるため、導m、5
4によりランチ48の1つのターミナルに対して結合さ
れている。
導線54により与えられたクロック信号がロー・レベル
即ち論理値rOJにある時、ラッチ48は、12ビツト
出力49が直接出力信号27.28および29から受取
ったデータの12ビツトに対して直接応答する取得モー
ドにある。しかし、導線54により与えられるクロック
信号がノ・イのレベル(論理値「1」)である時は、ラ
ッチ48は出力信号49が出力信号27.28および2
9の状態に応答しないラッチされたモート9にある。ラ
ンチ48がこのラッチ・モードにある時、導線54から
受取ったクロック信号がロー・レベルからノ・イ・レベ
ルに変化する直前に、出力信号49は出力信号27.2
8および29かも受取ったデータの状態を反映する。導
線54により与えられたクロック信号は、両方のWRI
TEターミナル42とC0NV  ターミナル52が論
理値「O」のレベルにある時は論理値「0」にあり、ま
たさもなければ論理値「1」にある。
第1図に示された2段のラッチの作用については、第2
図に示されたタイミング図を照合することKより最もよ
く理解できよう。第2図においては、DATAとして示
された波形は、入力ターミナル15〜2601つにより
受取られた入力データの状態と対応する。NXで示され
た波形は、それぞれπズ、■およびNOターミナル44
.45および46の1つ以上の状態を示している。
C0NVおよびWRITEで丞された波形は、それぞれ
C0Nv ターミナル52およびWRITEターミナル
42によって受取られた信号と対応する。
波形Z1 は、出力信号27.28および29の1ビツ
トの状態と対応する。例えば、もしDATAの波形がデ
ィジタル入力(入力ターミナル15により受取られた)
の最上位ビットを表わすならば、波形Z は出力信号2
7の最上位ビットを表わす。
zK、より示された波形は、出力信号49内の1つのビ
ットを表わす。例えば、もし波形Z1が出力信号27内
の最上ビットを表わすならば、波形2 は出力信号49
内の最上位出力ビットを表わず。本例によれば、この最
上位ビットがニブルA内にあるため、波形NXは信号N
Aを表わすことになる。
再び第2図においては点線Iにより示される時点におい
て、信号Hはノ1イ・しばルからロー・しばルへの遷移
状態を経由するが、点線■により示される時点において
は入力データの状態は変化する。しかし、出力信号z1
 は時点■にお(・てを1変化しないが、これはWRI
TEがノ\イ・レベルに保持されてラッチ10.12.
14をラッチ・モードに維持するためである。点線■に
より示される時点においては、WRITEはハイ・しば
ルからロー・レベルへの遷移状態を経由し、ラッチ10
.12.14が取得モードをとることを許容する。
従って、時点■においては、出力信号z1 は入力デー
タ信号の状態を反映するよう状態を変化する。
しかし、出力信号z2は、C0NV  がハイ・レベル
に保持されるため変化しない状態を維持するのである。
第2図に示される時点■においては、NXおよびWRI
TEの両方はロー・レベルかラノ蔦イ・レベルへの遷移
状態を経由してラッチ10.12および14をラッチ・
モードをとるように強制する。
時点V<おいては、入力データの状態は再び変化するが
、ラッチ10.12および14がラッチ・モート9にあ
るため、出力信号z1 は入力データの状態における変
化の影響を受けない。時点■においては、信号C0NV
がノ・イ・レベルからロー・し−ニルの遷移状態にある
。それにも拘らず出力信号Z2 は変化しないが、これ
は4iWRITEがノ・イのしはルに保持されることに
よりランチ48をラッチ・モードに維持するためである
。時点■においては、信号WRITEはハイからローの
レベルへの遷移状態にあり、ラッチ48が取得モードに
おいて作動することを許容し、従って、出力信号2 は
出力信号z1 の状態を反映するよう状態を変化する。
#後に、時点■においては、信号C0NVおよびWRI
TEは共にロー・レベルからハイ・レベルへの遷移状態
にあって、ラッチ48に再びラッチされた操作モードを
とらせるのである。
第1図には示さないが、第1図に示された2段ラッチ回
路はデータの流れに対し完全に透過性を有するように構
成することができる。例えば、もしC0Nv ターミナ
ル52、WRITEp−ミftv42、NAターミナル
44、NBターミナル45および「百ターミナル46が
全て回時九ロー・しばル即ち論理値「0」に駆動される
ならば、ラッチ10.12.14および18は全て同時
に取得モードで作動させられ、従って、入力ターミナル
15〜26に、対して与えら治るデータにおける変化は
ラッチ48により生成される出力信号49の即時の変化
を生じるのである。
第1図に示さhる2段ラッチの構成のため使用される回
路は第6図および第4図に示されるが、第3図は所要の
ロジック機能を実施して12ビット信号の1つのビット
をラッチする回路の構成要素を示し、第4図は第3図に
示されたラッチ回路が必要とする種々の基準電圧を生成
するため使用されるバイアス回路を示している。静初に
第3図においては、データ入力ターミナル56が2進数
デ一タ進号な受取り、第1図に示された入力ターミナル
15〜26の一方と対応する。入力ターミナル56はP
NP )ランジスタ58のは−ス・ターミナルと結合さ
れ、そのコレクタは最も大きな負の電源電圧を伝達する
ため電源の導線60に対して結合されている。バッファ
・トランジスタ58のエミッタは第1の抵抗62によっ
て節点64と結合されている。第2の抵抗66は節点6
4と、以下において詳細に説明する基準電圧vC′  
を導通する導線68との間に結合されている。
抵抗62と66は共にデータ入力ターミナル56に生じ
てvCoの導線68に対して照合される入力市9圧から
得た節点64における電比を生成するための回路網を分
割する電圧を形成する。入力ターミナル56に対して与
えられた電圧が電圧vC′ と略々等しいかあるいはこ
れよりも正の値が大きい場合には、節点64は略々VG
’ の基準電圧に保持される。あるいはまた、抵抗66
は、最も大きな電源電圧からの固定された電流を与える
ための電流ソースにより置換することもできる。
バッファ・トランジスタ58、抵抗62およヒ抵抗66
は共に、入力ターミナル56により受取られた2進数信
号を節点64に対して与えるための入力装置を形成する
。ノよツファ・トランジスタ58のエミッタ・ターミナ
ルは抵抗62により節点64に対して結合される如くに
示されるが、抵抗62は短絡結線により、あるいは1つ
以上のダイオードの接合点により置換することができる
。
いすわの場合でも、抵抗62、または短絡結妻またはこ
れに置換した1つ以上のダイオードがバッファ・トラン
ジスタ5Bのエミッタ・ターミナルを節点64と結合す
るための装置として作用する。
加えて、PNP )ランジスタとして示されるが、メツ
ファ・トランジスタはそのベース・ターミナルをデータ
入力ターミナル56と結合し、そのエミッタ・ターミナ
ルを直接あるいは抵抗または1つ以上のダイオードを介
して節点64に対して結合したNPN)ランジスタとし
て形成することもできる。
再び第6図において、節点64は入力トランジスタ70
のベース・ターミナルに結合されている。
トランジスタ70のコレクタ・ターミナルは、最も大き
な正の電漉電圧を導通するため電源の導線72と結合さ
れている。トランジスタ70のエミッタ・ターミナルは
、ダブル・エミッタのノミイアス・トランジスタ76の
第1のエミッタ・ターミナル74と結合される。トラン
ジスタ76のコレクタは節点78および出力ターミナル
80と結合されている。出力ターミナル80に生じた出
力信号はzlで示され、例えば、第1図のラッチ10に
より与えられる4つの出力信号27の内の1つに対応す
る。
出力ターミナル80に与えられる出力信号は抵抗82お
よびトランジスタ84により構成される負荷の両端に生
じる。抵抗82は節点78と、負荷トランジスタ84の
エミッタターミナルとの間に結合され、このトランジス
タのコレクタ・ターミナルは雪、源の導線72と結合さ
れ、また七〇R−ス・ターミナルはVC電圧の基準電圧
導線86と結合されている。このように、ノZイアス・
トランジスタ76に、対するや荷は、節点7Bと基準電
圧導線86との間でトランジスタ84のエミッタ/ベー
スの接合点と直列に結合された抵抗82により構成され
る。トランジスタ84により生じる増巾作用のため、こ
れにより取られるVCの導線86からのば一ス電流は、
このトランジスタのエミッタ・ターミナルにより導通さ
れる電流のごく一部に過ぎない。それにも拘らず、本発
明の別の実施態様はまたトランジスタ84の代りにダイ
オードで置換すること釦より提出されるが、この場合ダ
イオ−rのアノ−白まvOの導線86と結合され、この
ダイオードのカソードは節点78の反対側の抵抗82の
端部と結合されている。
節点78はまたフィードバック・トランジスタ88のベ
ース・ターミナルと結合されている。本発明の望ましい
本実施態様においては、フィードバック・トランジスタ
88はダブル・エミッタ型素子であり、その第1のエミ
ッタ90はバイアス・トランジスタ76の第2のエミッ
タ・ターミナル92と結合され、フィードバック・トラ
ンジスタ88のコレクタ・ターミナルは電源の導線72
と結合されている。バイアス・トランジスタ76のベー
ス・ターミナルは、基準電圧■1 を導通する基準電圧
の導線94に対して結合されている。
トランジスタ70とバイアス・トランジスタ76の第1
のエミッタ74とは節小78において出力信号を生じる
ためラッチ回路の入力部分を形成し、このラッチ回路は
取得モードにおいて作動させられる。フィードバック・
トランジスタ88のエミッタ90とバイアス・トランジ
スタ76の第2のエミッタ92とは、ラッチ回路がその
取得モート9かもラッチ・°モードに切換えられた後、
節点78に生じる出力信号の状態を保持するだめのラッ
チ回路のフィーピノ2ツク部分を形成する。当業者は、
ダブル・エミッタ型のバイアス・トランジスタ76が共
通のコレクタおよび共通のベースを有する2つの個々の
シングル・エミッタ型トランジスタにより置換すること
ができ、いずれの場合でも、ダブル・エミッタ型トラン
ジスタまたは2個のシングル・エミッタ型トランジスタ
をバイアス・トランジスタ装置と呼ぶことができる。
再び第6図によれば、2段型ラッチ回路の第1段をその
取得モート9とラッチ・モート9の間に切換えるため、
トランジスタ96と98を含む電流操作用のエミッタ結
合スイッチが設けられている。
トランジスタ96のコレクタはトランジスタ70のエミ
ッタおよびバイアス・トランジスタ76のエミッタ74
と結合さ灼ている。トランジスタ98のコレクタは、バ
イアス・トランジスタ76のエミッタ92およびフィー
ドバック・トランジスタ88のエミッタ90と結合され
でいる。トランジスタ96と98のエミッタ・ターミナ
ルは各々、電流ソースのトランジスタ100のコレクタ
と結合されている。トランジスタ100のエミッタ・タ
ーミナルは、抵抗102により電源の導線60と結合さ
れている。トランジスタ1000ベース・ターミナルは
、バイアス回路によって生じた調整されたVR電圧を導
通する基準電圧の導線104と結合されている。以下に
おいて更にこ詳細に述イるよ5に、基準電圧VBは、ト
ランジスタ100のコレクタにより導通される電流を温
度と略々比例させるように調整されるのである。
トランジスタ98のベース・ターミナルは、ラッチ回路
の第1段をその取得モート9とラッチ・モードの間に切
換えるため使用されるクロック信号を受取るため導線1
06と結合されている。例えば、もしデータ入力ターミ
ナル56が第1図の入力ターミナル15と対応するなら
ば、導#1o6は第1図に示されたクロック(@月の導
線3oと対応する。トランジスタ96のベース・ターミ
ナルは、バイアス回路により生じる基準電圧■2 を導
通させる基準電圧導#10Bと結合される。導線106
における電圧が基準電圧■2Iより著しく高い時、トラ
ンジスタ9Bは電流ソースのトランジスタ100により
与えられる電流をエミッタ90と92に対して伝達し、
これによりラッチ回路の第1段をラッチ・モードに保持
する。反対に、導線106における電圧が基準電圧V2
  よりも大幅に低い時は、ラッチ回路の第1段を取得
モードで作動させるため、トランジスタ96は電流ソー
ス・トランジスタ100により与えられる電流をエミッ
タ74およびトランジスタ70のエミッタに対して導通
させるのである。
第6図はまた、ORゲート34.66および68(第1
図)が各々導&210乙に対してクロック信号を与える
ように形成することができる方法を示している。入力タ
ーミナル110は、第1図に示された制御信−*NA、
NBおよびNoのいずれかを一般的に示す制御信号NX
を受取る。制御ターミナル110はPNP )ランジス
タ112のば一スと結合され、そのコレクタは最も大き
な負の電源の導線60° と結合され、そのエミッタ・
ターミナルは節点114と結合される。抵抗116は、
節点114と、基準電圧V 、 +を伝達する基準電圧
導線118との間に結合される。以下において更に詳細
に説明するように、基準電圧17%は導線94により伝
達される基準電圧v1  と略々等しい。節点114は
またエミッタ後置型トランジスタ120の×−ス・ター
ミナルと結合され、そのコレクタ・ターミナルは最も大
きな正の電源導線72と結合される。トランジスタ12
0のエミッタ・ターミナルは節点122において導線1
06と結合されている。抵抗124は節点122と電源
導線60’ の間に存在する。
同様に、WRITE入力ターミナ/I/126はPNP
トランジスタ128のベース・ターミナルと結合され、
そのコレクタ・ターミナルは電源の導線609 と結合
されている。トランジスタ128のエミッタ・ターミナ
ルは節点160と結合され、抵抗162は節点160と
■1tの導線118との間に存在する。ダゾル・エミッ
タ後置型トランジスタ164はそのベース・ターミナル
を誦j点130と結合させ、そのコレクタ・ターミナル
な電源の導線72と結合させている。トランジスタ16
4の第1のエミッタ・ターミナル166は節点122と
結合されている。
エミッタ166とトランジスタ120のエミッタ間の接
続は、第1図の論理状態64.66および68の各々に
より記号的に表わしたOH2理機能を有効に提供する。
NXターミナル110が基準電圧V、 tよりも著しく
低い電圧により駆動されるものとすると、節点114は
ターミナル1100ベース/エミツタの一接合点内に引
張られる。
もしWRITEターミナル126もまた基準電圧v□′
よりも著しく低い電圧により駆動されるならば、節点1
60はターミナル126の1つのに−ス/エミッタ接合
点内に引張られることになる。
この場合、後置のトランジスタ120と164は節点1
22においてローのしばル(即ち、論理値「0」の状態
)を確保する。トランジスタ98はこれにより非導通状
態に保持さね、2模型ラッチ回路の第1段はその取得モ
ードで作動させられる。
一方、NXターミナル110またはWRITEターミナ
ル126が基準電圧v11またはこねより高い電圧に駆
動される場合には、節点114または節点160はそれ
ぞれ基糸電圧v11と略々等しい電圧をとり、節点12
2はこれにより基準電1圧v11ヨF) 低イ1つのば
−ス/エミッタ接合点電圧である電圧が確保される。以
下において更に詳糾に示ずように、布1圧v1゛は基準
電圧v2 よりも高い1つのベース/エミッタ接合点の
電圧以上の電圧である。従って、NXターミナル110
またはWRITEターミナル126は基準電圧■、+ま
たはこれより高い電圧となる時、節点122における電
圧は基準電圧v2 よりも更に大きな正値となって、ト
ランジスタ98が電流をラッチの第1段のフィート9バ
ツク部分に対して伝達することを再伸にするのである。
第6図はまた、第1図に示された12ビツトの第2段の
ラッチ48の1つのビットを検出する回路を示している
。第2段のラッチ回路は、ラッチ回路の第1段に関して
前に述べたものと類似の方法で作動する。このラッチ回
路の第2段は、それぞれラッチ回路の第1段のバイアス
・トランジスタ76と類似する第1と第2の工Sツタ1
40と142を有するダブル・エミッタ型バイアス・ト
ランジスタ168を有する。このバイアス・トランジス
タ138のコレクタは節点144と結合されている。負
荷抵抗146は、節点144を負荷トランジスタ14B
のエミッタ・ターミナルに対して結合する。9荷トラン
ジスタ148のベース・ターミナルはVCの導線86と
結合される。負荷トラ、ンジスタ148のコレクタは節
点150および出力ターミナル152 (VO)に対し
て結合されている。節点150は、第2の負葡抵抗15
4によって電曽の導線72に対して結合されている。
ラッチ回路の第1段に関して前に述ばたフィードバック
・トランジスタ8Bは、直列ゲート構造の比較的低いレ
ベル内にあるノミイアス・トランジスタ13Bのエミッ
タ・ターミナル140および基準トランジスタ158の
コレクタ・ターミナルに対して結合された第2のエミッ
タ156を含んでいる。フィードバック・トランジスタ
88.特にエミッタ・ターミナル156は、ラッチ回路
の第1段にある入力トランジスタ70の機能を有効に複
写し、出力ターミナル80に対して与えられた出力信号
は2模型ラッチ回路の第2段に対する入力信号として作
用する。
バイアス・トランジスタ138のエミッタ・ターミナル
142は、直列ゲート構造の比較的低〜・しはル内にあ
るフィードノミツク・トランジスタ160のエミッタ・
ターミナルおよび電流スイッチング・トランジスタ16
2のコレクタ・ターミナルに対して結合されている。電
流カートランジスタ158からトランジスタ162に対
して切換えられる時節点144において生じた信号の状
態をラッチするため、節点144をフィードバック・ト
ランジスタ1600は−ス・ターミナルに対し結合する
ことKよりフィードバック経路が確保される。節点14
4はまた、ラッチ回路の第2段により得られたデータお
よび(または)ラッチされたデータと対応する出力信号
を提供するため、出力ターミナル164(Z2)K一対
して結合される。
フィードバック・トランジスタ160のコレクタは電源
の導線72に対して結合される。
次に、第6図に示されたラッチ回路の第2段の比較的低
いレベル以内にある電流スイッチについて述にれば、ト
ランジスタ158と162のエミッタ・ターミナルは共
に電流ソース・トランジスタ166のコレクタと結合さ
れている。トランジスタ166のエミッタ・ターミナル
は抵抗16Bによって電踪の導線60と結合される。電
流ソース・トランジスタ1660ベース・ターミナルは
、このトランジスタ166のコレクタにより与えられる
電流を温度と略り比例するよう保持するため調整される
VR導線104と結合される。トランジスタ162のは
−ス・ターミナルは、第1図に示された導線54により
伝達されるクロック信号と対応するクロック信号を受則
るため導線170と結合されている。トランジスタ15
8のベース・ターミナルは、クロック化上が対比される
バイアス回路からの基準電圧を受取るためV2の導線1
08と結合されズいる。
第1図について簡単に述イれば、導#54により伝ラッ
チ回路の第2段に対して伝達されるクロック信号がGO
NV  およびWRITE信号のOR機能であることが
想起されよう。再び第6図において、このようなOR機
能は節点172において形成される。節点172 +?
−後置トランジスタ164の第2のエミッタ・ターミナ
ル174と、別の後置トランジスタ176のエミッタと
結合され、また抵抗178を介して電源の導m60’ 
 と結合されている。後置トランジスタ176のコレク
タは、最も大きな正値の電源導線72と結合され、その
ば−ス・ターミナルは節点180と結合されている。節
点180はPNP)ランジスタ182のエミッタと結合
され、更に抵抗184を介してV1の導線118と結合
されている。トランジスタ182のコレクタ・ターミナ
ルは電源導線60’と結合されるが、そのベース@ター
ミナルはC0NVターミナル186と結合されている。
もしWRITEタ−ミfyv126ttAicoNVタ
ーミナル186のいずれか一方がハイ・し/</L/に
あるならば、節点130または節点180のいずれかが
それぞれ基準電圧V=と略々等しい電圧を有し、導線1
70はこれにより基準電圧■ より高い電圧に確保され
、ラッチ回路の第2段にラッチ・モードをとらせる。一
方、もしWRITEターミナ# 126 ト0ONVタ
ー ミfル186カ共にローのしばルに保持されるなら
ば、導線170上で確保された電圧は基準電圧v2 よ
り但く、従ってラッチ回路の第2段は取得モードにおい
て作動させられるのである。
次に第4図に示されたバイアス回路においては、第6図
に関して既に説明したものと共通の電源導線および基準
電圧導線は対応する照合番号を付す。
前述の如く、基準電圧導線104において確保された電
圧VRは、ラッチ回路内の電流ソースに温度と略々比例
する電流を生じさせるように調整される。このため、点
線のブロック188により示された電流ソースは、温度
と略々比例する調整された基準電流を確保するため電源
導線60と節点190との間に結合される。このような
調整された電流ソースを構成する方法は当技術において
は周知であり、ある抵抗の両端の差電圧がある固定され
た比に維持される各電流密度を有する2つ以上の半導体
接合漬のベース/エミッタ接合点における差と対応する
、前記の抵抗の両端の差電圧の付加を実質的に含むもの
である。例えば、このような1つの回路については米国
特許第3,930,172号に開示されている。
節点190は、ダイオードと結合されたPNP型トラン
ジスタ1920ベースおよびコレクタ、ならびにPNP
型トランジスタ1940ベース・ターミナルに対して結
合されている。トランジスタ192と194のエミッタ
・ターミナルは、それぞれ抵抗196と198を介して
節点200と結合されている。節点200は更に、PN
P型トランジスタ202のベース・ターミナルならびに
その第1のコレクタ・ターミナル204と結合さ牙1て
いる。トランジスタ202のエミッタ・ターミナルは電
源導線72と結合されている。PNP型トランジスタ1
92と194は同じ作動特性を有するように同じ方法で
形成された整合素子である。
同様に、抵抗196と198もまた相互に整合されてい
る。従って、トランジスタ194はトランジスタ192
内の電流を反映し、電流ソース188により生じる濡序
に比例する電流と略々同じコレクタ電流のソースとなる
。トランジスタ194のコレクタ・ターミナルは、トラ
ンジスタ2o6のコレクタ・ターミナルおよび後置トラ
ンジスタのベース・ターきナルに対して結合されている
。トランジスタ208のコレクタ・り〜ミナルは電源導
線72と結合され、そのエミッタ・ターミナル!1抗2
10を介してトランジスタ2060に一ス・ターミナル
およびVR導線104と結合されている。トランジスタ
206のエミッタ・ターミナルは、抵抗212を介して
電源導線60と結合されている。トランジスタ20Bの
β値が比較的高いため、またこねにより生じろエミッタ
電流が比較的小さいため、トランジスタ208のベース
・ターミナルを通る電流はトランジスタ194のコレク
タ・ターミナルをソースとする電流に比して重要ではな
い。従って、トランジスタ194のコレクタをソースと
する電流σ)はとんど全てがトランジスタ206のコレ
クタを通るのである。トランジスタ208は、トランジ
スタ206をしてそのコレクタ・ターミナルに対して与
えられる電流を導通させるに充分な電圧でVB導線10
4をバイアスする。
更に第4図において、複数の電流ソースは調整された温
度に比例する電流を生じろためVR導線1041Cより
バイアスされろ。トランジスタ214.216.218
.220および222の各々は、そのば−ス・ターミナ
ルがVR導俳104に結合させ、エミッタ・ターミナル
が抵抗224.226.228.260および262を
介してそれぞれ電源導線60と結合されている。トラン
ジスタ214〜222は各々トランジスタ206と整合
され、抵抗224〜232け各々抵抗212と整合され
る。従って、このような各電流ソースはトランジスタ2
06のコレクタ・ターミナルにより導通されるものと等
しいコレクタ電流を引き、この軍1流は温度と比例する
のである。第6図について簡単に見れば、電流ソース・
トランジスター00と166もまたトランジスタ206
と整合され、抵抗102と168もまた抵抗212と整
合され、このため、電流ソース・トランジスター00と
166のコレクタ・ターミナルにより引5長られろ電流
もまた温度と比例する調整された電流であり、大きさに
おいて電流ソース188により生じるものと等しくなる
。
再び第4図について、基準電圧VC1■1 およびV 
が生成される方法について以下に説明する。
トランジスタ202は、第2のコレクタ・ターミナル2
64を節点266およびエミッタ後置型トランジスタ2
68の×−ス・ターミナルと結合させ、そのコレクタ・
ターミナルは電源導線72と結合きねている。節点26
6もまた、点線240により示された回路網によって電
源導線60と結合されている。以下に第5いて更に詳細
に説明するように、回路網240は節点236において
確保される鴇称電圧ならびにその温度追跡特性を決定す
る。後置トランジスタ26Bは、節点244およびVC
導線68に対して結合された第1のエミッタ・ターミナ
ル242を有する。節点248は電流ソース・トランジ
スタ214のコレクタ、・ターミナルと結合されている
。以下において更に詳細に説明する導通経路もまた、節
点244と電流ソース・トランジスタ216のコレクタ
・ターミナルとの間で確保される。従って、エミッタ・
ターミナル242および246はj誤方向にバイアスさ
れ、VC導線86およびVCI導紳導線において生じる
電圧は各々節点236における電圧より低い1つのば一
ス/エミッタ接合A雷、圧である。
第6図について簡単に述イれば、VCI導線68は抵抗
66、抵抗62およびトランジスタ5Bにより形成され
る入力バッファ回路網に対する市1流をソースし、この
電流は入力ターミナル56において受取るデータ入力信
号の状態に略々依存して変化する。対間的に、VC導線
86から比較的かれた電流は負荷トランジスタ84およ
び148により引張られる比較的小さなば−スミ流に過
ぎない。このように、VC4線86およびVC・導線6
8において確保される電圧は略々等しいが、導線68に
おける大きな電流の遷移状態は導線86から隔離されて
いる。
第6図について簡単に見れば、導線94により伝達され
る基準電圧v1 が直列ゲートされるラッチ構造の比較
的高いレベル内のスイッチング閾値を確保する。再び第
4図においては、vl 導線94が電流ソース・トラン
ジスタ220のコレクタおよび後置トランジスタ250
の第1のエミッタ249に対して結合され、このトラン
ジスタのコレクタ・ターミナルは電源導線72と結合さ
れている。トランジスタ2500イース・ターミナルは
ダイオードと結合されたトランジスタ2520は−ス・
ターミナルとコレクタ・ターミナルと結合され、また抵
抗254を介して節点244と結合されている。トラン
ジスタ252のエミッタ・ターミナルは抵抗256を介
して節点258に結合さね、この節点は更に電流ソース
・トランジスタ216のコレクタ・ターミナルならびに
仕置トランジスタ260のば一ス・ターミナルに対して
結合されている。トランジスタ260のコレクタ・ター
ミナルは電源導線72と結合され、そのエミッタ・ター
ミナルは電流ソース・トランジスタ222のコレクタ・
ターミナルならびに■2基準電圧導線108と結合さJ
lている。トランジスタ250の第2のエミッタ262
は電流ソース・トランジスタ218のコレクタ・ターミ
ナルおよびv11導線118と結合されている。
第4図においては、移置トランジスタ250と260に
より引張られるベース電流は、電流ソース・トランジス
タ216のコレクタ・ターミナルにより引張られる電流
に比してそれ程重要ではない。従って、抵抗254によ
り生じる電流は、トランジスタ216によりソースされ
た温度と比例する電流と略々等しい。本発明の望ましい
実施態様においては、抵抗254の大きさは、第6図に
示されたラッチ回路の第1段および第2段におけるや荷
抵抗82と146の大きさの半分である。
従って、バイアス回路内の抵抗2540両端に生じる電
圧降下は、それぞわ電流ソース・トランジスター00と
166によって生じろ電流のため9荷抵抗82と146
の両端における市1圧降下の半分となる。導線94上に
生じた電圧■1 は、VC導線86における電圧から抵
抗2550両端の電。
圧降下および仕置トランジスタ250のエミッタ249
と関連するベース/エミッタ接合点の電圧降下を差引い
たものに等しい。同様に、導線118に生じたV゛電圧
VC電圧から抵抗2540両端の電圧降下およびトラン
ジスタ250のエミッタ262と関連するエミッタ/は
−ス接合点の電圧降下を差引いたものである。
再び第6図において、配憶ターミナル80において確保
された電圧はハイのレベルとローのレベルの間で切換わ
る。出力ターミナル80におけるハイ・レベルの電圧は
、VC導線86における電圧VCから負荷トランジスタ
84のエミッタ/ベース接合点の電圧およびフィードバ
ック・トランジスタ8Elより引張られるば一ス電流に
よるや荷抵抗820両端における小さな電圧降下を差引
いたものに等しい。出力ターミナル80において確保さ
れたこのロー・レベルの電圧は、基準電圧VCからトラ
ンジスタ84のエミッタ/は−ス接合点電圧および電i
N1ソーストランジスタ100のコレクタ・ターミナル
がソースとなる温度に比例する電流による抵抗820両
端の電圧降下を差引いたものに等しい。従って、出力信
号と関連する雷1圧のスイング、即ちノ・イ・レベルの
出力電圧とロー・レベルの出力電圧間の差が、電流ソー
ス・トランジスタ100により与えられるゲート電流に
抵抗82の抵抗値を掛け、トランジスタ84により生じ
た電流における変化のためのこのトランジスタのエミッ
タ/ベース接合点電圧における差を加えたものである。
この出力電圧スイングの中間点゛ま基準電圧VCからト
ランジスタ84と関連する平均エミッタ/ベース接合点
電圧および抵抗82の抵抗値を掛けた調整ゲート電流の
半分を差引いたものに等しい。抵抗254(第4図参服
)と関連する電圧降下は調整されたゲート電流による抵
抗820両端において降下した電圧の半分であるため、
バイアス電圧■1 は出力電圧スイングの中間点の略々
付近である。更に、抵抗254(第4図)における電、
流およびラッチにおける調整されたゲート電流の大きさ
が常に同じであるため、バイアス電1圧V□は温度の変
化の如何に拘らず出力電圧のスイングの中間点に略々維
持される。
当業者には、最小限度のノイズ・イミユニティを維持す
るため、エミッタに結合された電流スイッチはONに切
換えられるトランジスタのエミッタとOFFに切換えら
れるトランジスタのエミッタにおける電流の少なくとも
最小の予め定めた比率を維持することができるものでな
ければならな斤゛ いととは周知である。このような電流の比率は、I  
:/■    として表わすことができる。各ON  
    OFF 電流がこの比島に保持される時、ONの状態のトランジ
スタとOFFの状態のトランジスタのは−ス/エミッタ
電圧は下式として表わすことができる。即ち、 vBE(ON)=・kT/q[λrL(IoN/Io)
〕;■BE(OFF)=kT/q[jル(IoFF/I
o)〕但し、kはボルトマンの定数、Tは温度、qは1
%′、子の電荷量、10 はエミッタ/ベース接合点と
関連する静止状態の少数キャリア電流である。
従って、ON[流対OF’ F’ TK流の所要の比率
の維持に必要なONおよびOFF )ランジスタのベー
ス/エミッタ接合点電圧における差は下式の如く表わ一
′1−ことができる。即ち、 Δ Δv” vBE(ON) −”BE(OFF)=kT/
q[ハ(IoN/Io)〕−1rL(■oFF、/■o
)〕−kVqC1?L(IoN/1oFF)〕従って、
工きツタ結合されたトランジスタの対のベース・ターミ
ナルに対して与えられた電圧における差が温度に比例す
る限り、OFF電流に対するON電流のある比高は温度
における変動の如何に拘らず維持することができるので
おる。
再び第6図において、出力ターミナル8oに生じる出力
電圧のスイングの大きさが温度と略々比例するため、ま
た基漁電圧v1 は出力電圧スイングの略々中間点にお
いて維持されるため、フィート9バツク・トランジスタ
88のベース・ターミナルおよびバイアス・トランジス
タ760ベース・ターミナルに対して与えられる電圧の
差もまた温度に比例することになる。従って、トランジ
スタ88のエミッタ90とトランジスタ76のエミッタ
92の間における如きON電川用OFF%圧の比率は温
度の変動に拘らず略々一定となる。このため、出力ター
ミナル80と関連する公称出力電圧は、従来技術のラッ
チ回路に比較してやや小さく(例えば、600乃至40
0ミリボルト)なるように選択することができるのであ
る。
公称出力電圧スイングのサイズを減少すると、いくつか
の理由からラッチ回路の高速操作を容易にする。第1に
、高い出力レベルと低い出力レベルとの間の遷移量が決
定させられて、ラッチ回路を迅速に高い出力しばルと低
い出力レベルとの間に切換えることを可能にする。第2
に、出力電圧スイングにおける減少は、こわ、と対応し
、てノ笥アス・トランジスタ7乙の111方向にノミイ
アスされたベース/コレクタ接合点が飽和操作モードに
入るよつ充分に順方向にバースト状態になる可能性ヲ低
下させる。
出力ターミナル80において石(f保されたノミイアス
ミ圧V と高像の出力しはル間の電圧の差の前述の分析
においては、や荷トランジスタ84と関連スルエミッタ
/ベース接合点電圧における変化を無視する。実際に、
このエミッタ/ベース接合点の電圧におけろ変化は、妥
当に高いβ値をとる公称温度における1 00 S I
Jボルトより充分に高くなる。負荷トランジスタのエミ
ッタ/ベース接合点の電圧における前述の変化は、出力
電圧スイッチングの実際の中間点から僅かに外れるよう
にバイアス・し×ルv1 をスキューさせようとする。
本発明の望ましい実施態様においては、このスキュー作
用は、バイアス・トランジスタ76のエミッタ74と9
2のエミッタ領域をトランジスタ70のエミッタおよび
フィート9バツク・トランジスタ8Bのエミッタ90よ
り大きくす4)ことにより補償される。同様に、バイア
ス・トランジスタ168のエミッタ領域140と142
は、トランジスタ88のエミッタ156とトランジスタ
160のエミッタよりも大きく形成されるのである。
バイアス・トランジスタと関連するこの増加するエミッ
タ面積が如何にしてf1荷トランジスタのエミッタ/ベ
ース電圧における変化により生じるスキュー効果を補償
しようとするかについての例示として、バイアス・トラ
ンジスタ76のエミッタ92がフィート9バツク・トラ
ンジスタ8Bのエミッタ90のエミッタ面積の2倍であ
ると仮定しよう。また関連するエミッタ/ベース接合点
の温度が室温(即ち、600°K)であるとしよう。最
後に、エミッタ結合スイッチにおけるOFF電iに対す
るON電流の最小比率が100:1と仮定しよう。
最初にバイアス・トランジスタがONとなりフィードバ
ック・トランジスタがOFFとなる場合において、バイ
アス電圧v1  と出力ターミナル80に確保された低
い出力レベルとの間の所要の潜在的な電圧は、 Δv−kT/q〔QrL(JBIA8/JFB)〕テ表
わすれる。但し、JBIASはバイアス・トランジスタ
における電流密度と対応し、JFBはフィードバック・
トランジスタにおける電流密度と対応する。前記バイア
ス・トランジスタにおける電流密度はある量の′電流に
対するフィート9バツク・トランジスタにおける電流密
度の半分であるため、上式は下記の如く書き直すことが
できる。
即ち、 Δ■=kT/q〔lrL雪lB1A3/IFB)〕Δ■
について解を求めると、 ΔV=C26ミリボルト) irL[:(IA) (1
oO/1 ) )= 102ミリボルト 従って、出力ターミナル80において確保される低いレ
ベルの出力は所要か電流比率を維持するためにバイアス
電圧v1  より102ミリボルト低ければよい。一方
、フィードバック・トランジスタ88がONであり76
がOFFであるとすると、出力ターミナル80において
確保されるハイ・しばルの出力と■1 のバイアス電圧
との間の所要の電圧差は下式で表わされろ。即ち、 Δ■=kT/q[JrL(JFB/JBIA8)〕= 
kT/q[1n(IFV騒131.、))= (26ミ
リボルト)i′ル((2)(100/1)= 168ミ
リボ化ト 従って、出力ターミナル80における高レベルの出力は
、所要の最小電流比率を維持するためにはバイアス電l
′Ev1  よりも168ミリボルトだけ正値で大きく
なければならない。対照的に、低出力しばルと■ バイ
アス電圧との間の所要の電圧差は102ミリボルトでし
かなかった。従って、当業者には、バイアス・トランジ
スタ7乙のエミッタ領域を入力トランジスタ70のエミ
ッタおよびフィードバック・トランジスタ8Bのエミッ
タ90よりも大きくすることにより、トランジスタ84
のエミッタ/ば−スミ圧における変動により生じる出力
レベルにおけろスキュー効果を部分的に、あるいは完、
全に補償することができることが明らかであろう。更に
、バイアス・トランジスタ7E1138のエミッタ領域
のサイズを増加させてこれら素子と[ツ]達する固有の
コレクタ抵抗を減少させ、これによりこわらトランジス
タが比較的高い温度において飽和状態になろ回部性を更
に低減させるのである。
再び第6図において、エミッタのサイズ、従ってバイア
ス・トランジスタ76の全体的な素子サイズを増加する
ことの分析の利点は、データ入力信号がデータの状態を
失うことなく低い麟にラッチ回路が取得モードからラッ
チ・モードへ切換えることができる能力と関連している
。例えば、導線106(第3図)により伝達されるクロ
ック信号がラッチ回路の第1段が取得モードをとること
を許容するため低いレベルにあるものとし、またデータ
入力信号が低いしばルにあるものとすると、節点78に
低い出力しはルを確保するためゲート電流はトランジス
タ96を流れ、バイアス・トランジスタ76のエミッタ
74を流れる。導線106により伝達されるクロック信
号が高レイルに切換えられる時、トランジスタ98はト
ランジスタ96により前に導通されたゲート電流を導通
し、バイアス・トランジスタ76のエミッタ74はもは
や節点78を低レベルに保持するため必要な電流を導通
することができない。その結果、少なくとも節点78に
おいて低レイルを補強するため充分な量の電流バイアス
・トランジスタ76のエミッタ92が導通″′4−るま
で、節点78における電圧は一時的に正の方向に移動す
ることができる。
しかし、もし充分な量のキャパシタンスがトランジスタ
88のエミッタ90、バイアス・トランジスタ76のエ
ミッタ92およびトランジスタ98のコレクタと関連さ
せられるならば、トランジスタ98により導通されるコ
レクタ電流は最初散逸状態になって、バイアス・トラン
ジスタ76のエミッタ92を導通状態にさせる前にこの
キャパシタンスを放電させる。この場合、節点78にお
ける電圧は、エミッタ92が完全に導通状態になる前に
バイアス電圧v1付近もしくはこれよりも高く上昇する
ことができ、その結果取得モードにおいて節点78に確
保された低い電圧しくルは消尽し得る。データの脱落に
関する前述の問題は、公称出力電圧スイングの大きさが
比較的小さく構成される侍史に大きな問題となる。しか
し、エミッタ74と92のエミッタ・サイズの故にバイ
アス・トランジスタ76の全体的な素子サイズを増加す
ることにより、節点78と関連するキャパシタンスは増
加させられ、これにより節点78における電圧が上昇す
る割合を低下させるのである。
再び第6図において、抵抗154は節点144において
生じた出力信号から隔離されフィート9パツク・トラン
ジスタ160と結合されたターεナル152において出
力信号を生成するため、電、源導線72と負荷トランジ
スタ148のコレクタとの間に結合されることが判るで
あろう。負荷抵抗82と146はバイアス・トランジス
タ76と168の飽和を避けるため制限された公称スイ
ッチングit(例えば、300 ミIJボルト)を生じ
るように選択されるが、抵抗154は800ミリボルト
以上を有する出力電圧スイングを生じるように選択する
ことができる。このように、出方ターミナル152に生
成された出方信−らは、他のタイプのスイッチング回路
を有利に駆動するためには比較的大きくてよい。
再び第6図においては、導線118により伝達される基
憩電圧■1′が導線94により伝達される基準電圧■1
 を照合するため略々等しいことが想起されよう。抵抗
116と抵抗162をvl ’4線118に対し終端さ
せることにより、節点122における最も大きな正値の
電圧が基準電圧v1.より低い1つのエミッタ/ベース
接合点電圧に限定される。これに対応して、スイッチン
グ・トランジスタ98のコレクタ・ターミナルに加えら
れる、最も大きな負の電圧は基準電圧■1  より低い
1つのエミッタ/ベース接合点電圧となる。従って、ト
ランジスタ98のエミッタ/ベース接合点は決して充分
に1順方向にバイアスされた状態にはならず、このため
トランジスタ98の飽和状態が阻止される。同様な理由
により、ラッチ回路の第2段におけるトランジスタ16
2の飽和状態もまた阻止されるのである。
トランジスタ98のベース・ターミナルにより受取られ
るクロック信号の最も大きな正(即ち、高レベル)の電
圧は、略々基準電圧v1#より低い1つのエミッタ/ベ
ース接合点電圧となる。バイアス電圧v2は、高レイル
および低レベルのクロック信号を識別するためこのよう
な高レベルより低い数百ミリボルトでなければならない
。第4図においては、基準電圧v2は、基準電圧■1か
ら抵抗256の両端の電圧降下および1つのエミッタ/
ベース接合点電圧を差引いたものと略々等しい。従って
、基準電圧v2は、抵抗2560両端における電圧降下
の程度において高レベルのクロック信号より更に大きな
負の値となる。抵抗256により伝達される電流は温度
と比例するため、バイアス電圧v2 とトランジスタ9
8のベース・ターミナルに与えられる高レイルのクロッ
ク信号トの間の電圧差もまた温度と比例的に増加し、こ
れによりトランジスタ9乙におけるOFF電流に対する
トランジスタ98のON電流の比率はその温度範囲にわ
たって維持されることが保証されるのである。
本発明の別の長所は、ラッチ回路の入力仙ターミナルが
、TTL論理回路の如き他のロジック・ファミリーによ
り生じる出力信号とコンパチビリティを有するようにす
ることが容易であることである。基準電圧VC,■ お
よび■2は、比較的広い範囲の公称電圧内で確保するこ
とができる。
更に、このような基準電1圧の温度係数もまた広い範囲
にわたって選択することかできる。その結果、それぞれ
直列ゲート構造の高いレベルと低いレイル内のデータ入
力信号およびクロック信号に対するスイッチング閾値電
圧レベルが容易に入力信号スイングの中心内に設定する
ことができるのである。特に、第4図の回路網240は
vlおよびv2バイアス電圧を、Dn入力ターミナル5
6、およびNXター1fル’+ 10、WRITEター
ミナル126およびC0NVターミナル186と関連す
るスイッチング閾値をTTLスイッチング領塚、の中心
にそれぞれ近づけるレベルに対して設定するように選択
することができる。中に、基準l:圧v0および■2の
温度係数は、ラッチ回路の入力を広い温度範囲にわたっ
てTTLコンパチビリティを持たせるように構成するこ
とができる。
第4図においては、回路網240内に示された特定の構
成要素は、得々のデータ入力ターミナルおよびクロック
信号人力ターミナルをTTL回路に対してインターフェ
ースするために適することが判った。第4図に示される
ように、回路網240は、節点236と節点268の間
に接続された6つの直列のダイオードと接続されたトラ
ンジスタ262.264.266のチェーンを含む。節
点268もまたトランジスタ270のコレクタ・ターミ
ナルおよび抵抗272の第1の端部に対して接続され、
この抵抗の他端部はトランジスタ270のば−ス・ター
ミナルと接続されている。トランジスタ270のエミッ
タ・ターミナルは節点274と結合され、抵抗276は
節応274とトランジスタ2700ベース・ターミナル
と結合されている。当業者は、トランジスタ270ど抵
抗272と抵抗276とが所謂VB8乗算器として構成
され、この乗算器においては抵抗2720両端の電圧降
下は抵抗276に対する抵抗272の比率を掛けたトラ
ンジスタ270のエミッタ/は−ス接合点電圧と等しく
なる。節点274が抵抗278により電源導線260に
対して接続されている。
TTL論理信号に対するラッチ回路の入力ターミナルの
コンパチビリティを容易化するため回路網240におけ
る成分をどのようにして選択することができるかを示す
一例として、以下の仮定をしよう。トランジスタ202
のコレクタ2ろ4と関連するコレクタ領域は、コレクタ
・ターミナル264がソースとする電流を調整された電
流ソース188により引張られる電流中と等しくさせる
ためには、コレクタ204の領域の半分であると仮定し
よう。トランジスタ268のベース・ターミナルが節点
2ろ6から少量の電流を引出すため、回路網240によ
り通される電流は電流Iと略々等しい。このため、回路
網240が通す電流は、電流ソ′−ス・トランジスタ2
16のコレクタ・ターミナルにより与えられる電流lと
等しい。また、トランジスタ262.264.266.
270.268.252および260が全である電流お
よび温度において等しいエミッタ/ベース接合点電圧(
vB8)を有する整合された電流であるものとしよう。
更に、トランジスタ254がラッチ回路における9荷抵
抗82と146(第6図参腺)の大きさの半分の大きさ
を有すること、また抵抗256が負荷抵抗82と146
の大きさの半分の大きさを有することを仮定する。以上
の仮定に、より、導線60により送られる電飾電圧に対
する基準電圧v2 について下記の如き関係式を書くこ
とができる。即ち ■=1・R278+■BE(27o)・〔1+R272
/R276〕+vBE(266)+VBE(264)+
VBE(262)−vBE(238)−”R”54−”
BE(252)−”R256−vBE (260) 上記の仮定による上式を簡単にすると、下記の如くにな
る。即ち、 V2=I−R278+VB]li、−[1+R272/
R276]−I−RL・(1,5)但し、RLは負荷抵
抗82と146の値を示す。
もし抵抗278の大きさが下式の如く表わされるならば
、 R278=(k+1.5)RL また、もし定数ルが式(1+R272/R276) を
表わすものとすれば、v20式は下R己の如く招き直す
ことができる。即ち、 ■2=k(工、RL)+n(Vユ) 温度範囲に対する電圧■2 の追跡の割合は、従って下
記の如く表わすことができる。即ち、Δv2/ΔT=k
〔Δ(1,RL)/ΔT〕+が〔Δ■BF、/′ΔT〕
kおよびルの値について上式を解くため、更に公称電圧
■BEが700ミリボルトであること、またvBEの温
度係数が1℃由り一2ミリボルトであるものとしよう。
また史に、■・RLの公称値は300ミリボルト(公称
出力電圧スイング)とし、量I、/RLの温度係数は1
℃当り+1ミリボルトとする。値ル= 1.192およ
びに=2.385を代入すれば、その結果最も大きな負
の電源電圧より1.55ボルト高い電圧v2 と略々零
の■2 に対する温度係数を生じる。対応するvl の
バイアス・しはルは通常最も大きな負の値の電源電圧よ
り2.55ボルト高くなる。値V およびv2 に対す
す るこれら電圧は、最も大きな負の電源電圧に綴金される
高レイルおよび低レイルのTTL入力信号を識別するた
め好適であり、これと関連する小さな温度係数はこれら
が温度範囲にわたって大きく変動しないことを保証する
。更に、その結果得た電圧v2は、ラッチ回路における
電流ソーストランジスター00と166(第6図参照)
の飽和状態を避けるため充分に最も大きな負の電源電圧
より高くなるのである。
次に第5図においては、第6図に関して説明したタイプ
のラッチ回路が示されるが、この回路とは高いファンア
ウト能力を与えることにより同じタイプのロジック・フ
ァミリーの他の複数のゲートを駆動する点で異なってい
る。第6図に示されたラッチ回路の第1段に関して前に
記述したものと対応する第5図に示された導線および素
子の構成要素は対応する間合番号を付しである。
第5図に示されるように、ラッチ回路の高いファンアウ
トを有する実施態様は、負荷トランジスタ84を排除し
、負荷トランジスタ82を調整された節点78とVC導
線86の間に結合する。更に、後置トランジスタ280
を節点78とフィードバック・トランジスタ88のベー
ス・ターミナルとの間のフィート9バツク経路内に挿置
する。トランジスタ280はそのベース・ターミナルを
節点78と結合させ、そのコレクタ・ターミナルを電源
導線72に対し、またそのエミッタ・ターミナルを節点
282と結合させ、この節点は更にフィードバック・ト
ランジスタ88のは−ス・ターミナルおよび出力ターミ
ナル80に対して結合されている。節点282もまた電
流ソース・トランジスタ284のコレクタ・ターミナル
と結合され、このトランジスタのベース・ターミナルは
VR導線104と結合され、またそのエミッタ・ターミ
ナルは抵抗286を介して電源導線60と結合されてい
る。後置トランジスタ280は、フィードバック経路内
の1つのエミッタ/べ御名接合点電圧によって節点78
に形成された電圧を更に太きな負値に変化させるよう作
用し、出力ターミナル80において出力信号の低いイン
ピーダンスのソースを確保する。電流ソース・トランジ
スタ284は、後置トランジスタ280を導通状態に維
持するため駆動電流を提供する。
第5図に示された基準電圧VC1■ および■2は、第
6図に示されたラッチ回路内におけると同じ相互関係を
有する。更に、トランジスター00のコレクタ・ターミ
ナルをソースとする温度に比例するゲート電流により負
荷抵抗820両端に生じた電圧降下は再び略々300 
ミIJボルトとなる。
加えて、第5図に示された高いファンアウトを有するラ
ッチ回路に対する負荷はエミッタ/ベース接合点を含ま
ないため、エミッタ/ベース接合点電圧における変化に
よる前述のオフセット状態はもはや存在しない。従って
、バースト・トランジスタ76のエミッタ74とエミッ
タ92はトランジスタ70のエミッタおよびフィートノ
之ツク・トランジスタ88のエミッタ90と同じサイズ
となる。
第6図に関して説明したラッチ回路の場合におけるよう
に、p荷抵抗820両端に生じる電圧スイングが第5図
に示されたゲートにおける温度と比例する電流は温度と
比例して増加することを保証し、また前に説明したバイ
アス回路はバイアス電圧v0が出力ターミナル80にお
いて生じる出力電圧スイングの中間点に維持されること
を保証する。このため、バイアス・トランジスタ76お
よびフィードバック・トランジスタ88のベース・ター
ミナル間に確保される電圧差は温度と比例して増加して
、トランジスタ76と88におけるOFF電流に対する
ON電流の所要の比が温度の全範囲にわたって維持され
ることを保証するものである。
再び第5図においては本発明の別の実施態様が示される
が、これにおいては電流操作トランジスタ96と98が
単純な終端ではなく様々に駆動される。この別の実施態
様においては、トランジスタ96のベース・ターミナル
が第5図における点線で示されるようにバイアス電圧■
2に対してではなく、ターミナル106に対して与えら
れるCLOCK信号の相補関係にあるCLOGK信号を
受取るため、ターミナル106I と結合される。
当業者には、以下において、比較的少数の構成要素を使
用しながら高速度のモノリシック型のディジタル/アナ
ログ・コンバータを形成するため使用される処理方法と
も共に適用可能である改善された高速度のラッチ回路に
ついて記述するものであることが判るであろう。ラッチ
回路のフィート9バツク部分における比較的小さな電圧
スイングを用いることができることは、高温度における
飽和によるスイッチング連間の低下の可能性を著しく減
少させるものである。この減少した電圧スイングもまた
公称温度における早い切換え時間をもたらす結果となる
。それにも拘らず、温度における変化に対するこれまで
述べたラッチ回路の特性が、充分なON電流対OFF電
流の比が各々のエミッタ結合型トランジスタ・スイッチ
内で保持されて充分なノイズ・イミユニティを提供する
ものである。単に別の負荷抵抗を負荷トランジスタのコ
レクタ内に装入するだけで大きくなった出力信号スイン
グを提供することができるため、ラッチ回路自体の飽和
の危険を招くことなくラッチ回路をして他のタイプのス
イッチング回路を有効に駆動することを可能にするもの
である。更に、広い範囲にわたってスイッチング閾値し
ばルに対する電圧しはルおよび対応する温度係数を選択
することができることは、本文に述べたラッチ回路の入
力ターミナルを直接広い範囲のロジック・ゲートに対し
てインターフェースすることを可能にするものである。
本発明についてはその望ましい実施態様に関して記述し
たが、本文の記述は例示の目的のために過ぎず、本発明
の範囲を限定するものと解釈すkきものではない。当業
者によれば、頭書の特許請求の範囲に規定される如き本
発明の主旨および範囲から逸脱することなく種々の変更
が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は120入力データ・ビットが4ビツトのグルー
プに個々にラッチすることができる2段の12ビツトの
データのラッチを示すプロ、ツク図、第2図は第1図内
に示されたラッチ回路に対するラッチの入力データ信号
、クロック信号および出力信号と対応する波形を示すタ
イミング図、第6図は第1図内に示された回路の1ビツ
トのスライスと対応するエミッタ結合、直列ゲート型の
ラッチ回路を示す回路図、第4図は第6図に示されたラ
ッチ回路により使用される種々の基準電圧を生成するた
め使用されるバイアス回路を示す回路図、および第5図
は第6図に示されたラッチ回路の1つの高いファンアウ
トの段の一実施例を示す回路図である。 10・・・ラッチ、12.14・・・ラッチ、15〜2
2・・・入力ターミナル、60.61.62・・・導線
、64.66.3B・・・ORゲート、40・・・WR
ITEターミナル、44・・・NAターミナル、45・
・・NBターミナル、46・・・NOターミナル、48
・・・ラッチ、50・・・ORゲート、52−、、C0
NVターミナル、54・・・導線、56・・・データ入
力ターミナル、58・・・PNP )ランジスタ、60
・・・電飾導線、62・・・抵抗、64・・・節点、6
6・・・抵抗、68・・・VC・ 導線、70・・・入
力トランジスタ、72・・・電源導線、74・・・エミ
ッタ・ターミナル、76・・・バイアス・トランジスタ
、78・・・節点、80・・・出力ターミナル、82・
・・抵抗、84・・・トランジスタ、86・・・vc導
i、88・・・フィードバック・トランジスタ、90.
92・・・エミッタ・ターミナル、94・・・導線、9
6.98.100・・・トランジスタ、104.106
.108・・・導線、110・・・入力ターミナル、1
12・・・PNP )ランジスタ、114・・・節点、
116・・・抵抗、118・・・導線、120・・・エ
ミッタ後置型トランジスタ、122・・・節点、124
・・・抵抗、126・・・VRITE入カターミナル、
128・・・PNP)ランジスタ、130・・・節点、
162・・・抵抗、164・・・ダブル・エミッタ後置
型トランジスタ、136・・・エミッタ・ターミナル、
168・・・ダブル・エミッタ型バイアス・トランジス
タ、140.142・・・エミッタ・ターミナル、14
4・・・節点、146・・・負荷抵抗、148・・・負
荷トランジスタ、150・・・節点、152・・・出力
ターミナル、154・・・負荷抵抗、156・・・エミ
ッタ・ターミナル、158・・・基準トランジスタ、1
60・・・フィードバック・トランジスタ、162・・
・電流スイッチング・トランジスタ、164・・・出力
ターミナル、166・・・電流ツース・トランジスタ、
170・・・導線、172・・・節点、174・・・エ
ミッタ・ターミナル、176・・・後置トランジスタ、
180・・・節点、182・・・PNP型トランジスタ
、184・・・抵抗、186、−、C0NVターミナル
、188・・・ブロック、190・・・節点、192.
194・・・PNP型トランジスタ、196.198・
・・抵抗、200・・・節点、202・・・PNP型ト
ランジスタ、204・・・コレクタ・ターミナル、20
6.208・・・トランジスタ、210.212・・・
抵抗、214.216.218.220.222・・・
トランジスタ、224.226.228.260.23
2・・・抵抗、234・・・コレクタ・ターミナル、2
66・・・節点、268・・・後置トランジスタ、24
0・・・回路網、242・・・エミッタ・ターミナル、
244.248・・・節点、249・・・エミッタ・タ
ーミナル、250・・・後置トランジスタ、252・・
・トランジスタ、254.256・・・抵抗、258・
・・節点、260・・・抵抗、262・・・エミッタ・
ターミナル。 特許出願人 バー・ブラウン・リサーチ・(外4名) ’I=xr;、、4 TI凸−5

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)2進数デ一タ信号を受取り、9増った2進数デ一
    タ信号を選択的に記憶するためのラッチ回路において、 (a)少なくとも1つのコレクタ・ターミナルと、ベー
    ス・ターミナルと、第1と第2のエミッタ・ターミナル
    を有するバイアス・トランジスタ装置と、 (A+  第1の電源電圧を通電する第1の電源導体と
    、 IC+  エミッタと、ベースと、コレクタ・ターミナ
    ルを有する入力トランジスタを設け、該入力トランジス
    タのコレクタ・ターミナルは前記第1の電源導体と結合
    され、前記入力トランジスタのエミッタ・ターミナルは
    前記)ぞイアス・トランジスタ装置の第1のエミッタ・
    ターミナルと結合され、 (d)2進数デ一タ信号を前記入力トランジスタのベー
    ス・ターミナルに対して与えるスカ装置と、 161  エミッタと、ベースと、コレクタ・ターミナ
    ルを有するフィードバック・トランジスタとを設け、該
    フィート9バツク・トランジスタのエミッタ・ターミナ
    ルは前記バイアス・トランジスタ装置の第1のエミッタ
    ・ターミナルに対して結合され、前Fフィードバック・
    トランジスタのベース・ターミナルは前記バ(7ス・ト
    ランジスタのコレクタ・ターミナルに対して結合され、
    前記フィート8バツク・トランジスタのコレクタ・ター
    ミナルは前記第1の電源導体に対して結合され、 σ1 第2の電源の電圧を通電する第2の電源導体と、 (91前記第2の電源と結合され、前記ラッチ回路の温
    度に実質的妊比例する大きさを有する調整されたゲート
    電流を与える記憶ターミナルを有するゲート電流ソース
    と、 (A+  第1と、第2と、第60■5流を導通するタ
    ーミナルを有する電流操作装置とを設け、該第1と第2
    の電流導通ターミナルはそれぞれ前記バイアストランジ
    スタ装置の第1および第2のエミッタ・ターミナルと結
    合され、前記第3の電流導通ターミナルは前記の直接さ
    れたゲート電流を受ニレるため前記ゲート電流ソースの
    出力ターミナルと結合され、前記型、流扮作装置は、前
    記第1または第2の電流導通ターミナルに対して前記の
    調整されたゲート電流を選択的に導通ずるため、制御信
    号を受取りかつこの制御信号に対応する制御装置を含み
    、 +i+  前記第1と第2の電海湧体間に結合され、前
    記バイアス・トランジスタのベース・ターミナルに対し
    て第1の基準電圧を与えるための第1の基準ターミナル
    と、前記基準電圧を与えるための第2の基準ターミナル
    とを有する);イアス回路と、 0)前記バイアス回路の第2の基準ターミナルと前記バ
    イアス・トランジスタ装置のコレクタ・ターミナルどの
    間に結合されて前記バイアス・トランジスタ装置のコレ
    クタ・ターミナルにおいて第1の出力信号を生成する第
    1の抵抗を含む負荷装置とを設け、該第1の抵抗は、前
    記第1の出力信号に温度と実質的に比例する関連する電
    圧信号を含ませるため前記の調整されたゲート電流を選
    択的に導通することを特徴とするラッチ回路。
  2. (2)  前記負荷装填口ま半導体のP−N接合を有し
    、前記第1の抵抗と前記半導体のP−N接合は前記バイ
    アス・トランジスタ装部のコレクタ・ターミナルにおい
    て前記第1の出力信号を生成するため前記バイアス回路
    の第2の基準ターミナルと前記バイアス・トランジスタ
    装置1Yi″のコレクタ・ターミナルとの間に直列に結
    合さ1]ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    のラッチ回路。
  3. (3)前記バイアス・トランジスタ装置はそれぞれ前記
    第1と第2のエミッタ・ターミナルに結合された第1と
    第2のエミッタ領域を有し、前記入力トランジスタと前
    記フィートノζツク・トランジスタはそれぞれその各々
    のエミッタ・ターミナルと結合されたエミッタ領域を有
    し、前記バイアス・トランジスタ装(Ktの第1と第2
    のエミッタ領域はそれぞれ前記入力トランジスタと前記
    フィードバック・トランジスタのエミッタ領域の各々に
    より形成された対応するエミッタ/ば−ス接合域よりも
    実質的に大きなエミッタ/ベース接合切を形成して、導
    通状態と非導通状態どの間で切換えられる前記バイアス
    ・トランジスタにより生じる前記半導体のP−N接合の
    両端におけZ)1ル圧の変化を補償することを特徴とす
    る特許請求の範囲第2珀記載のラッチ回路。
  4. (4)前記負荷装置はエミッタと、ベースと、コレクタ
    ・ターミナルを有する負荷トランジスタを含み、該負荷
    トランジスタのエミッタ・ターミナルは前記第1の抵抗
    と結合され、前記負荷トランジスタのベース・ターミナ
    ルは前記バイアス回路の第2の基準ターミナルと結合さ
    れ、前記第1の抵抗と前記負荷トランジスタのエミッタ
    /ば−ス接合点は前記バイアス・トランジスタのコレク
    タ・ターミナルと前記バイアス回路の第2の基準ターミ
    ナル間に直列に結合され、前記負荷装置は更に前記負荷
    トランジスタのコレクタ・ターミナルと前記第1の電飾
    導体との間に結合された第2の抵抗を有し、該第2の抵
    抗は前記負荷トランジスタのコレクタにおいて第2の出
    力信号を生成することを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載のラッチ回路。
  5. (5)前記負荷装置16におけろ前記第2の抵抗は、前
    記第2の出力信号と間挿する信号スイングを1iI記第
    1の出力信号と関連する信号スイングよりも太きくさせ
    ろため、前記第1の抵抗よりも大きな値を有することを
    特徴とする特fl’請求の範囲第4項記載のラッチ回路
    。
  6. (6)前記バイアス回路は前記第1の基準ターミナルと
    前記第2の基準ターミナルとの間に直列に結合されたノ
    ζイアス抵抗と半導体のP−N接合を含み、前記バイア
    ス回路もまた調整されたバイアス電流を前記の直列に結
    合された半導体P−N接合と前記バイアス回路のバイア
    ス抵抗とに流れさせるバイアス回路の電流ソースを含み
    、前記の調整されたバイアス電流は前記ラッチ回路の温
    度と実質的に比例する大きさを有することを特徴とする
    特許請求の範囲第1頂妃載のラッチ回路。
  7. (7)前記の調整されたバイアス電流1流が前記の調整
    されたゲート電流と等しく、前記バイアス抵抗が前記負
    荷装置における前記第1の抵抗の略々半分の値を有する
    ことを特徴とする特許請求の範囲第6項記載のラッチ回
    路。
  8. (8)前記バイアス回路により与えられる前記第1の基
    準電圧は、それぞれ前記第1と第2の電源電圧により接
    近するハイとローの論理レベルを有する2進数デ一タ信
    号に対して前記ラッチ回路にコンパチビリティを持たせ
    るため前記第1と第2の電源電圧の略々中間付近にある
    ことな特徴とする特許請求の範囲第1項記載のラッチ回
    路。
  9. (9)前記入力装僅か、 (al  少なくともエミッタ・ターミナルとベース・
    ターミナルな翁するバッファ・トランジスタを有し、該
    バッファ・トランジスタの(−ス・ターミナルは2進数
    データ信−JF+を受J(Qす、(hl  前記バッフ
    ァ・トランジスタのエミッタ・ターミナルを前記入力ト
    ランジスタのベース・ターミナルに対して結合する結合
    装置t4f:を有することを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載のラッチ回路。 (1υ)少な(ともエミッタ・ターミナルとベース・タ
    ーミナルとを:f=iする後置トランジスタを設け、該
    後置トランジスタのば−ス・ターミナルは前    ゛
    記バイアス・トランジスタ装置のコレクタ・ターミナル
    と結合され、前記後′@l・ランジスタのエミッタ・タ
    ーミナルは前記フィードバック・トランジスタのば一ス
    ・ターミナルと結合され、A+7記後置トランジスタは
    そのエミッタ・ターミナルにおいて前記第1の出力信号
    から得た低インピーダンスのレベルをシフトした出力信
    号を与えることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    のラッチ回路。 (印 (al  前記制御装置が受取った制御信号は差
    の制御信号であり、 (hl  前記電流操作装置は各々がエミッタと、ば−
    スと、コレクタ・ターミナルとを有する第1と第2の電
    流操作トランジスタを含み、前記第1と第2の電流操作
    トランジスタのエミッタ・ターミナルは各々前記第3の
    電流導通ターミナルに対して結合され、前記第1と第2
    の電流操作トランジスタのコレクタ・ターミナルはそれ
    ぞれ前記の第1と第2の電流操作ターミナルに対して結
    合され、前記制御装置は前記第1と第2の電流操作トラ
    ンジスタの一方を通るように前記の調整されたゲート電
    流を選択的に切換えるため差の制御信号を与えるため前
    記第1と第2の電流操作トランジスタのベース・ターミ
    ナルに対して結合されることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載のラッチ回路。 α2)  tlZl  前記バイアス回路が第6の基準
    11を圧を提供し、 fil  前記電流操作装置は各々がエミッタ・ベース
    およびコレクタ・ターミナルを有する第1と第2の電流
    操作トランジスタを含み、該tK電流操作トランジスタ
    エミッタ・ターミナルが各々前記第6の電流導通ターミ
    ナルと結合され、前記第1と第2の電流操作トランジス
    タのコレクタ・ターミナルが前記第1と第2の?lj流
    導逆導通ターミナルれぞれ結合され、前記制御装置は前
    記第1と第2の電流操作トランジスタの一方のベース・
    ターミナルと結合され、前ML第1と第2の電流操作ト
    ランジスタの他方のベース・ターミナルは、第1と第2
    の電流操作トランジスタの一方に流れるように前記の調
    整されたゲート電流を選択的に切換えろため、前記制御
    信号が比較される第6の基準を圧を受取るように前記バ
    イアス回路と結合されることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載のラッチ回路。
JP58021387A 1982-07-01 1983-02-10 温度に比例したゲート電流を使用するスイングを減少させたラッチ回路 Granted JPS5912617A (ja)

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JPH0257733B2 JPH0257733B2 (ja) 1990-12-05

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