JPS59128652A - デイスプレイ装置を用いたプログラム検査方式 - Google Patents

デイスプレイ装置を用いたプログラム検査方式

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JPS59128652A
JPS59128652A JP58004748A JP474883A JPS59128652A JP S59128652 A JPS59128652 A JP S59128652A JP 58004748 A JP58004748 A JP 58004748A JP 474883 A JP474883 A JP 474883A JP S59128652 A JPS59128652 A JP S59128652A
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JP
Japan
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program
display
contents
keyboard
test
Prior art date
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Pending
Application number
JP58004748A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaaki Nishimura
西村 正昭
Kensaku Ihara
井原 健策
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Fuji Facom Corp
Original Assignee
Fuji Facom Corp
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Publication date
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Publication of JPS59128652A publication Critical patent/JPS59128652A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/28—Error detection; Error correction; Monitoring by checking the correct order of processing

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Digital Computer Display Output (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、ディスプレイ装置を用いたプログラム検査
方式に関する。
プログラム開発作成したプログラムのデバッグに対する
従来の方式としては、第1図に示す如く、デバッグ用の
コンソールパネル1に設けられた各種のエン) IJ−
キースイッチ群2のキーを選択的に設定して、スタート
キースイッチ6及びストップキースイッチ4を、オず操
作する。そして、アドレスデータ表示部6におけるL 
E D群6aの点灯状況と、アドレスセット内容表示部
50セツトアドレスとを確認することにより行なうとい
うものである。具体的には、スタートキースイッチ3を
操作して、あるアドレスからあるアドレスまでのプログ
ラムを実行させて、ストップキースイッチ4とエントリ
ーキースイッチ′2とを操作して、その停止したアドレ
ス位置での内部レジスタ、および内部メモリ等の内容を
アドレスデータ表示部6に表示して、これを調べ、プロ
グラムのコンパイルリストあるいはアッセンブルリスト
と、この内容とをつき合せて行なう。
この方式では、コンパイルリストあるいはアッセンブル
リストを終始つき合せながらエントリーキーにアドレス
をセットしなければならない上、ストップしたアドレス
位置でのレジスタ及びメモリ内容の確認もエン) IJ
−キーをその都度操作して行なわなければならない。し
たがって、操作が繁雑で能率が良くないという欠点があ
る。
しかも、この方式では、デバッグ記録も残し難く、プロ
グラム全体の繋がシを見ながらデバッグすることができ
ないという問題点がある。
この発明は、このような従来技術の欠点乃至問題点にか
んがみてなされたものであって、このような欠点及び問
題点を除去するとともに、能率的に開発プログラムのデ
バッグができるディスプレイ装置を用いたプログラム検
査方式を提供することを特徴とする 特に、ここで提供するプログラム検査方式は、プログラ
ムステップ数が比較的小さい、小規模プログラムの開発
に適するものである。
しかして、上記目的を達成するための構成上から見るこ
の発明の特徴は、いわゆる、CRTディスプレイを具え
るディスプレイ装置を用いて行なうものであって、プロ
グラムをデバッグする際に検出される各種のスタブにつ
いて、定義を行なったテストプログラムを備えていて、
テスト対象のコンパイルリスト又はそのアッセンブルリ
ストをCRTディスプレイの画面上に表示し、かつ、キ
ーボードから入力された実行番地指定信号及び起動信号
に応じて、前記テストプログラムのもとに、指定された
実行番地の範囲で前記テスト対象プログラムを実行して
、その実行過程における各実行アドレスと実行状態を示
す情報とテストの結果得られる前記スタブに対応する情
報とを、それぞれ前記画面上の対応する表示エリアに表
示するか、又はこれとは独立の画面上に表示する検査方
式にある。
このように構成すれば、キーボードの操作と、これに対
応するCRTディスプレイの表示とにより、求めるデー
タが簡単に視覚情報として得られ、同時に、コンパイル
リスト又はアッセンブルリス 3− トが表示されているので、そのつき合せも容易に行える
。その結果として、プログラムのデバッグ効率の向上を
図ることができる。しかも、CRTディスプレイ上のデ
ータは、必要に応じて、各画面対応にプリントアウトで
きるので、デバッグ履歴を残すことができることにもな
る。
次に、この発明の実施例について、図面を用いて詳細に
説明する。
第2図は、この発明を適用した一実施例のディスプレイ
装置を用いたプログラム検査装置の外観。
図であシ、第3図は、そのプログラム検査方式のブロッ
ク図、そして、第4図、第5図は、CRTディスプレイ
の画面の表示状態を、それぞれ示す説明図である。
ここで、第2図に見る如く、プログラム検査装置10は
、いわゆる、ディスプレイ装置であって、CRTディス
プレイ11とキーボード12とから構成されている。
CRTディスプレイ11の画面上には、それぞれコンパ
イルリスト又はアッセンブルリストのプ 4− ログラムステートメントを表示するエリア16と、メモ
リ・レジスタの内容変化表示エリア14、アドレス位置
表示エリア15、そして、プログラムのテストの結果得
られるスタブに対応する情報等を表示するメツセージエ
リア16とがある。なお、17は、カーソル位置を示す
もので、プログラムの実行に応じて、その実行に対応す
るステートメントの位置に移動する。
一方、キーボード12には、テストプログラムの制御下
において、テスト対象プログラムに起動をかけるスター
トキー等のファンクションキーと、アドレス等を設定す
るテン・キー及びファンクションキーとを具えるほか、
画面等をスクロールするなどの、ディスプレイ装置一般
に、具えている各種のファンクションキ一群を具えてい
る。
ここで、CRTディスプレイ11の内部には、CRTデ
ィスプレイに対する各種回路を含めて、第3図に示すプ
ログラム検査システム20が内蔵されている。
第3図に見る如く、この検査システム20は、マイクロ
プロセッサを主体とした演算処理部21がバス22によ
り、入出力インタフェース25を介して、キーボード1
2からの入力信号を受けるとともに、CRTディスプレ
イ11には出力信号を送出する。さらに、バス22を介
しC1メインメモリ26に記憶されているCRT表示プ
ログラム群23nと、テストプログラム24と、テスト
対象プログラム24aとを読み出して、実行する。
ここで、表示プログラム23aは、第2図に示すCRT
ディスプレイ11の画面を形成するプログラムであり、
表示プログラム23bは、第4図に示すメインメモリの
内容を表示するための画面を形成するプログラムである
。この他、第5図に示す画面を形成する表示プログラム
等、各種の表示プログラムが、表示プログラム群23n
として設けられているものである。
ここで、演算処理部21は、プログラム実行指示部21
aとプログラム実行制御部21bと、キーボード12か
らの指令信号の内容を記憶する指令情報記憶部21cと
を有している。ここに1プログラム実行指示部21aは
、指令情報記憶部21cの内容とテストプログラム24
の実行結果に応じて、メインメモリ23に記憶されてい
る各種プログラムの中から実行すべきプログラムを選定
して、起動要求ブロックを作り出す。
生成した起動要求ブロックは、プログラム実行制御部2
1bに渡され、プログラム実行制御部21bは、テスト
プログラム240制御下で、この起動要求ブロックに応
じて、所定のプログラムを実行する。ここで、実行プロ
グラム中に、指令情報記憶部21cのデータ参照命令が
あると、この命令からインタフェース回路25を介して
、割込み信号を受けると、キーボード12からの信号を
受けて、これをデコードし、指令情報記憶部21cに、
所定の情報として、記憶するものである。
さて、テストプログラム24の構成例としては、O8提
供の標準サブルーチンと、例えば、プロセス制御のプロ
グラムを検査する場合には、プロセ−7= ス制御用の標準サブルーチンに、それぞれ標準スタブ(
stab:  プログラムにおける傷)定義を行なった
標準テストシステムを設けることになる。
ここで、ソフトウェアとしてのモジュール未登録のもの
、ハードウェアとして未実装のブロックについては、ス
タブ定義によシ処理し、テストの際に、システムの内部
にアクセスのかかるととを防止する。
なお、デバッグ対象となるテスト対象プログラムは、す
でに、文法上の誤りがないものであって、デバッグ対象
のプログラムが使用するファイル。
テーブル等は、標準化されたものを使用し、そのインタ
フェースも統一されたものであると仮定する。
また、第3図には、特別に図示していないが、メインメ
モリ23には、CRTディスプレイ12の一般的な制御
プログラムも、当然具備しているものである。
次に、第3図に示す検査システムについて、全体的な動
作を説明する。
−8= まず、キーボード12よシ、ファンクションキーを押下
して、テストプログラム24に起動をかける。そして、
メインメモリ23上の表示プログラム23aに基づき、
第2図に示す如き画面をCRTディスプレイ上に表示さ
せる。
ここで、カーソルを移動して、例えば、アドレス位置表
示エリア15に位置付けして、ストップすべきプログラ
ムの相対アドレスをキーインするか、又はカーソルを実
行すべきステートメントの位置まで移動して、スタート
キーを入力する(このとき同時にアドレス位置表示エリ
ア15に内容が表示される)と、これらの信号は、イン
タフェース回路25を介して、演算処理部21に送出さ
れ、指令情報記憶部21cに、入力信号に応じた情報が
セットされる。そして、このセット情報をプログラム実
行指示部21aが参照して、プログラム実行制御部21
bに、所定の起動プログラム情報を送出して、デバッグ
対象プログラムであるプログラム24aが起動されて、
指定された番地までの処理が実行される。
このとき、キーボード上の7アンクシヨンキ一操作で一
般のディスプレイ装置と同様に、各表示エリアに表示さ
れる情報を、順次ステップ表示することができる。しか
し、このようなキー操作をしないときには、一定の速度
で表示が進行して、画面上のアドレス位置表示エリア1
5に示されたストップすべきアドレス位置まで、自動的
に画面がスクロールアップされ、最終結果状態が、各表
示エリアである、プログラムステートメント表示エリア
13.メモリ・レジスタの内容変化表示エリア14.ア
ドレス位置表示エリア15に、それぞれ表示される。
なお、ここで、一定のステップごと自動的に実行させて
、順次、結果を表示して、スクロールして行くようにし
て、ブレイクキーの押下信号による特定位置で、この自
動ステップを停止させるように構成してもよい。
ここに、スクロールアップする速度は、人の目で判る程
度に設定することによシ、デバッグ能率を向上させるこ
とができる。
ところで、自動スクロールモードにするか、オフライン
で、順次、キーボード12からの入力信号によシ、各実
行ステップを表示させるかは、デバッグする際に、あら
かじめ所定のファンクションキーをキーボード12から
入力することにょシ、定められるように構成する。この
ようなキーボード12からの入力情報は、すべて、指令
情報記憶部21cに記憶される。
ここで、キーボード12から、メモリ及びレジスタの内
容表示のファンクションキー情報が入力されると、その
指令情報が記憶部21cに記憶されて、これを受けて、
プログラム実行指示部21aが、こんどは、表示プログ
ラム23bを起動させる信号を発生して、表示プログラ
ム23bに基づいて、第4図に示すような画面60を形
成する。
第4図は、テーブルとして、各メモリ、レジスタの内容
を対応表示するものであって、第1のエリア31は、メ
モリ上のアドレス位置を示すもので、第2のエリア32
は、アドレス位置に対応して、そのメモリ上のデータを
表示するものであり、−11− 第3のエリア33は、内部レジスタの各内容を表示する
ものである。
さらに、メインメモリ23における、テスト対象プログ
ラムの内容を、直接参照したいときには、対応するファ
ンクションキーを押すことにより、対応する表示プログ
ラムが起動されて、第5図に示すテーブルの形式で、画
面66として形成する。
なお、第5図において、34は、アドレス表示エリアを
示すものであり、35は、メインメモリ23の対応領域
のデータそのものを表示するエリアである。
ところで、これら表示データの表示形式は、16進で表
示するものであるが、直接、2進のXX1 //。
気0〃情報で表示してもよく、また、10進表示であっ
てもよい。ここに、データの表示形式は、問うものでは
ない。
ここで、テスト対象プログラム24aが実行されている
ステートメントに対しては、カーソルが順次移動して、
これを表示するとともに、その部分の色表示を変更する
ことにより、他の部分と分−12− けて、明示するようにすることが好ましい。
以上の如き、動作において、デバッグ対象であるテスト
対象プログラム24aに誤りが発見されたり、コンパイ
ル過程に誤シがあった場合には、その場において、表示
状態をストップさせて、カーソルを修正したい情報エリ
アに合せて、キーボード12上から新しいデータを入力
することになる。このことにより、直ちに、修正するも
のである。ここで、修正した情報は、キーボード12上
にあるリターンキー等の割込みキーを押下することによ
シ、演算処理部21に送出されて、プログラムの修正が
なされる。このとき、メモリ・レジスタの内容変化表示
エリア14には、修正前のものと修正後のものがI O
LD 、 NEW Jという表示の下に対比され、表示
される。ところで、デバッグプログラムのテスト中にお
いてスタブがあると、これは、メツセージエリア16に
表示されて、プログラム24aの実行は、中断されるこ
とになる。
また、プログラムチェック異常とか、ループ現象などの
異常が発生した時には、異常発生箇所を色替えし、例え
ば、赤色表示にして、フリッカさせる。そ!〜で、この
異常原因を、前記メツセージエリア16に表示するよう
にする。この時、ループ発生の場合は、アドレス対アド
レスを、併せて、メツセージ情報として表示するもので
ある。
デパック履歴を残す場合は、必要に応じて、CRTディ
スプレイ11上の画面データをプリンタに打ち出すこと
によシ可能である。
また、実77+i例では、テスト対象プログラムのコン
パイルリスト又はアッセンブルリストを表示して、デパ
ックを行なうようにしているが、これらと同時に、同−
画面又は別画面に、ソースプログラムを表示して、ソー
スプログラム自体のデノぐラグを行なうようにすること
もできるものである。
以上、詳述して来たが、この発明にあっては、CRTの
画面上に、コンパイルリスト又は、アッセンブルリスト
を表示するとともに、各実行アドレスと内部メモリ又は
内部レジスタの内容を実行状態を示す情報として表示で
きるエリアを画面上に設け、さらには、スタブに対応す
る情報を表示するメツセージエリアを設けているので、
視覚的にデバッグができ、プログラム全体の繋がりを見
ながらデバッグでき、デバッグ作業の効率の向上とソフ
トウェア生産性の向上を図ることができる。
まだ、スタブ機能を利用しているので、精度のよいデバ
ッグが回部であり、ノ・−トコビーを活用することによ
り、デバッグの記録を採ることができる。さらに、メモ
リ及びレジスタの内容及び内容変化を順次追跡調査がで
き、しかも、モジュールごとに、これが可能となる、い
わゆるモジュールトレースをすることができるものであ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来のプログラムデバッグ用コンソール図、
第2図は、この発明を適用したプログラム検査装置の外
観図、第3図は、そのプログラム検査方式のブロック図
、第4図及び第5図は、それぞれ、CRTディスプレイ
の画面の表示状態の説明図である。 10・・プログラム検査装置、11・・・CRTディス
プレイ、12・・・キーボード、16・・・プログラム
ステートメント表示エリア、14・・・メモリ・レジス
タの内容変化表示エリア、15・・・アドレス位置表示
エリア、21・・・演算処理部、21a・・・プログラ
ム実行指示部、21b・・・プログラム実行制御部、2
1c・・・指令情報記憶部、24・・・テストプログラ
ム

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 計算機とキーボード付きのCRTディスプレイ装置を接
    続して成り、テスト対象のプログラムを前記計算機で遂
    行時に検出される各種のスタブに対応したテストプログ
    ラムを備え、前記テスト対象のプログラムに対するコン
    パイルリスト又はアッセンブルリストを前記CRTディ
    スプレイの画面上に表示し、かつ、キーボードから入力
    された実行番地指定信号及び起動信号に応じて、前記テ
    ストプログラムのもとに、指定された実行番地の範囲で
    前記テスト対象のプログラムを実行して、その実行過程
    における各実行アドレスと、実行状態を示す情報と、テ
    ストの結果得られる前記スタブに対応する情報とを、前
    記画面上又はこれとは独立の画面上に表示することを特
    徴とするディスプレイ装置を用いたプログラム検査方式
    。
JP58004748A 1983-01-14 1983-01-14 デイスプレイ装置を用いたプログラム検査方式 Pending JPS59128652A (ja)

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JPS59128652A true JPS59128652A (ja) 1984-07-24

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ID=11592528

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JP58004748A Pending JPS59128652A (ja) 1983-01-14 1983-01-14 デイスプレイ装置を用いたプログラム検査方式

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62214447A (ja) * 1986-03-10 1987-09-21 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション 対話的なシステム・プログラムの性能試験システム
JPS63640A (ja) * 1986-06-19 1988-01-05 Fujitsu Ltd デ−タフロ−の部分ユニツト実行制御方式
JPH0322040A (ja) * 1989-06-19 1991-01-30 Fuji Electric Co Ltd プログラムデバッグ支援方法
JPH04132058U (ja) * 1991-05-21 1992-12-07 東海アルミ箔株式会社 食品包装・保存袋用複合材

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62214447A (ja) * 1986-03-10 1987-09-21 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション 対話的なシステム・プログラムの性能試験システム
JPS63640A (ja) * 1986-06-19 1988-01-05 Fujitsu Ltd デ−タフロ−の部分ユニツト実行制御方式
JPH0322040A (ja) * 1989-06-19 1991-01-30 Fuji Electric Co Ltd プログラムデバッグ支援方法
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