JPS5914076A - 円形パタ−ンの中心位置検出装置 - Google Patents
円形パタ−ンの中心位置検出装置Info
- Publication number
- JPS5914076A JPS5914076A JP57121214A JP12121482A JPS5914076A JP S5914076 A JPS5914076 A JP S5914076A JP 57121214 A JP57121214 A JP 57121214A JP 12121482 A JP12121482 A JP 12121482A JP S5914076 A JPS5914076 A JP S5914076A
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- Japan
- Prior art keywords
- axis direction
- coordinate
- center position
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、工業用テレビジョンカメラ(ITVカメラ
)等によって撮像される対象物の撮像パターンが、特に
所定の大きさの突起部をもつ円形パターンとなるような
場合の、該円形パターンの中心位置を検出するだめの検
出装置に関する。
)等によって撮像される対象物の撮像パターンが、特に
所定の大きさの突起部をもつ円形パターンとなるような
場合の、該円形パターンの中心位置を検出するだめの検
出装置に関する。
第1図はITVカメラ等の撮像デバイスによって撮像さ
れた対象物の撮像パターンを示す説明図である。
れた対象物の撮像パターンを示す説明図である。
すなわち、第1図CA)に示されるような突起のない円
形パターンの中心座標(Xc t Yc )は、X軸方
向の最大、最小値(Xx r Xn )およびY軸方向
の最大、最小値(Yx、Yユ)から次式の如き演算をす
ることによって求めることができる。
形パターンの中心座標(Xc t Yc )は、X軸方
向の最大、最小値(Xx r Xn )およびY軸方向
の最大、最小値(Yx、Yユ)から次式の如き演算をす
ることによって求めることができる。
Xc ” (Xx 十Xn ) /2
Y6=(YX十Y。)/2
・・・・・・・・・・・・(1)
しかし、第1図(13)の如き突起りがある場合には、
X軸方向の最大値が大きくなるために、上記(1)式で
算出される中心座標はX方向にずれることがわかる(0
→0′、Xo−+Xo′)。したがって、円形パターン
自体、つまり突起を除いた円形パターンの中心を求める
ためには、このずれを修正する必要があるが、このため
の修正は簡単かつ迅速に行なわれることが望ましい。
X軸方向の最大値が大きくなるために、上記(1)式で
算出される中心座標はX方向にずれることがわかる(0
→0′、Xo−+Xo′)。したがって、円形パターン
自体、つまり突起を除いた円形パターンの中心を求める
ためには、このずれを修正する必要があるが、このため
の修正は簡単かつ迅速に行なわれることが望ましい。
ところで、従来、完全な円形でないパターンの中心位置
を検出する方法としては、面積中心を演算によって求め
る方法または円の輪郭を追う方法等が知られている。し
かし、面積中心を求める方法では該突起によって中心位
置がずれるため、高精度の検出ができないという欠点を
有している。
を検出する方法としては、面積中心を演算によって求め
る方法または円の輪郭を追う方法等が知られている。し
かし、面積中心を求める方法では該突起によって中心位
置がずれるため、高精度の検出ができないという欠点を
有している。
一方、円の輪郭を追う方法では突起の検出、除去のため
に大量のデータ処理が必要とされるばかシでなく長時間
を要し、さらには装置が大規模で高価になるという欠点
を有している。
に大量のデータ処理が必要とされるばかシでなく長時間
を要し、さらには装置が大規模で高価になるという欠点
を有している。
この発明は、かかる点に鑑みてなされたもので、小突起
をもつ円形対象物パターンの中心位置を高速かつ高精度
に検出することができ、しかも安価な検出装置を提供す
ることを目的とする。
をもつ円形対象物パターンの中心位置を高速かつ高精度
に検出することができ、しかも安価な検出装置を提供す
ることを目的とする。
その特徴は、対象物をラスク走査して得られる撮像出力
を所定のしきい値レベルで2値化し、該2値化されたデ
ータから対象物の座標データを抽出し、該抽出された座
標データにもとづいて次の如き演算をすることによシ、
所定の大きさの突起部をもつ円形パターンの円形部の中
心位置を検出するようにした点にある。
を所定のしきい値レベルで2値化し、該2値化されたデ
ータから対象物の座標データを抽出し、該抽出された座
標データにもとづいて次の如き演算をすることによシ、
所定の大きさの突起部をもつ円形パターンの円形部の中
心位置を検出するようにした点にある。
(イ)前記座標情報から少なくともX、Y軸方向の最大
、最小値をそれぞれ抽出するとともに、X軸方向の最大
値と最小値との差で表わされるX軸方向の直径と、Y軸
方向の最大値と最小値との差で表わされるY軸方向の直
径とを比較し、これらが互いに等しいものと判定された
ときは各軸方向の最大値と最小値との平均値をもって各
軸方向の中心位置を決定する。
、最小値をそれぞれ抽出するとともに、X軸方向の最大
値と最小値との差で表わされるX軸方向の直径と、Y軸
方向の最大値と最小値との差で表わされるY軸方向の直
径とを比較し、これらが互いに等しいものと判定された
ときは各軸方向の最大値と最小値との平均値をもって各
軸方向の中心位置を決定する。
(ロ)X(Y)軸方向の直径がy (x)軸方向のそれ
よυも大きいときは、y (x)軸方向の各成分は正し
いものとしてその最大値と最小値との平均値をもってy
(x)軸方向の中心位置を決定すゐとともに、前記y
(x)軸方向の直径の半分に和尚する値、すなわち半
径を算出する。
よυも大きいときは、y (x)軸方向の各成分は正し
いものとしてその最大値と最小値との平均値をもってy
(x)軸方向の中心位置を決定すゐとともに、前記y
(x)軸方向の直径の半分に和尚する値、すなわち半
径を算出する。
(ハ)前記x (y)座標の最小値に半径を加算してx
(y)軸上の第1の仮想中心座標とする一方、X(Y
)座標の最大値から半径を減算してx (y)軸上の第
2の仮想中心座標とし、該第1.第2の仮想中心座標に
おけるy (x)座標の最大値、最小値が既に求められ
ているy (x)座標に一致したときの第1または第2
の仮想中心座標のいずれかをx (y)軸方向の中心位
置と決定する。なお、どの場合の突起は1つだけであっ
て、その大きさは第1図(C’)の斜線部S内に入る大
きさとする。すなわち、突起がどの方向にあっても、X
、Y軸方向のいずれか一方の投影長(Ax tを)のみ
が変わシ、その両方がともに変わるような突起は、ここ
では考えていない。これは、以下の説明からも明らかな
ように、いずれか一方の軸の座標情報は正しいものと仮
定してその中心を決定するためである。
(y)軸上の第1の仮想中心座標とする一方、X(Y
)座標の最大値から半径を減算してx (y)軸上の第
2の仮想中心座標とし、該第1.第2の仮想中心座標に
おけるy (x)座標の最大値、最小値が既に求められ
ているy (x)座標に一致したときの第1または第2
の仮想中心座標のいずれかをx (y)軸方向の中心位
置と決定する。なお、どの場合の突起は1つだけであっ
て、その大きさは第1図(C’)の斜線部S内に入る大
きさとする。すなわち、突起がどの方向にあっても、X
、Y軸方向のいずれか一方の投影長(Ax tを)のみ
が変わシ、その両方がともに変わるような突起は、ここ
では考えていない。これは、以下の説明からも明らかな
ように、いずれか一方の軸の座標情報は正しいものと仮
定してその中心を決定するためである。
以下、この発明の実施例を図面を参照して説明する。
第2図はこの発明の実施例を示す構成図、第3図は中心
位置検出のための手順を示すフローチャート、第4図は
円形パターンの中心を求める手法を説明する説明図であ
る。
位置検出のための手順を示すフローチャート、第4図は
円形パターンの中心を求める手法を説明する説明図であ
る。
第2図において、1は検査対象物、2は撮像デバイス(
ITVカメラ)、3は2値化回路、4は特徴抽出回路、
5は)tAM(ランダムアクセスメモリ)等の記憶回路
、6はデータ処理装置である。
ITVカメラ)、3は2値化回路、4は特徴抽出回路、
5は)tAM(ランダムアクセスメモリ)等の記憶回路
、6はデータ処理装置である。
すなわち、小突起のある円形の対象物1は撮像デバイス
2によシラフタ走査して読み取られる。撮像デバイス2
からの撮像出力は2値化回路3において例えば0”、′
1”の2値付号に変換される。特徴抽出回路4では、#
2値信号のat O”がら1”または“1#から“0”
への変化点の座標位置を抽出し、記憶回路5は該座標位
置データを記憶する。データ処理装置6は該記憶された
データにもとづいて次の如き演算を行なう。
2によシラフタ走査して読み取られる。撮像デバイス2
からの撮像出力は2値化回路3において例えば0”、′
1”の2値付号に変換される。特徴抽出回路4では、#
2値信号のat O”がら1”または“1#から“0”
への変化点の座標位置を抽出し、記憶回路5は該座標位
置データを記憶する。データ処理装置6は該記憶された
データにもとづいて次の如き演算を行なう。
以下、演算の手順について第3図を参照して説明する。
動作が開始されると(■)、まず記憶されたデータから
X軸方向の最大、最小値X工、X0およびY軸方向の最
大、最小値YX、Y!1が抽出される(O)。次いで、
(Xx −Xn ) + (Yx Yn )を算出す
ルトとモニ、これらを互いに比較する(θ)。その結果
X、−Xユ=Yx−Ynであれば、先の(1)式によっ
て中心座標を算出しく0)、動作を終了する(0)。上
記θにおける比較の結果、Xx Xn > Yx −
Ynであれば、(1)式からY軸方向の中心位置Y0を
決定するとともに、L=−i−(YX−Yn)なる演算
をして円の半径りを求め(の)、該半径を用いて次の如
き演算を行ない、仮想の中心位置X。1.x02を求め
る。
X軸方向の最大、最小値X工、X0およびY軸方向の最
大、最小値YX、Y!1が抽出される(O)。次いで、
(Xx −Xn ) + (Yx Yn )を算出す
ルトとモニ、これらを互いに比較する(θ)。その結果
X、−Xユ=Yx−Ynであれば、先の(1)式によっ
て中心座標を算出しく0)、動作を終了する(0)。上
記θにおける比較の結果、Xx Xn > Yx −
Ynであれば、(1)式からY軸方向の中心位置Y0を
決定するとともに、L=−i−(YX−Yn)なる演算
をして円の半径りを求め(の)、該半径を用いて次の如
き演算を行ない、仮想の中心位置X。1.x02を求め
る。
Xo1=Xヨ+L
Xo2=Xx−L
そして、x= Xcl 、 x=xc2のそれぞれにお
けるYx。
けるYx。
Yn、つまj5 Yxl 、 Yn、 、 YX2 、
Yn2を求める(0)。すなわち、突起による中心の
ずれは一方向にしかない場合を想定しているので、仮想
の中心位置X。1゜Xo2のいずれか一方は必ず正しい
中心位置座標であり、該正しい中心位置座標におけるY
軸方向の最大、最小値Y工、Ynは既に抽出されている
YX。
Yn2を求める(0)。すなわち、突起による中心の
ずれは一方向にしかない場合を想定しているので、仮想
の中心位置X。1゜Xo2のいずれか一方は必ず正しい
中心位置座標であり、該正しい中心位置座標におけるY
軸方向の最大、最小値Y工、Ynは既に抽出されている
YX。
Ynの値と一致する筈である。したがって、XaltX
c2におけるYXl、YnlまたはYX2.Yn2のう
ち、最初に得られたYx、Ynと一致する方をX。と決
定する。
c2におけるYXl、YnlまたはYX2.Yn2のう
ち、最初に得られたYx、Ynと一致する方をX。と決
定する。
なお、フロー上はのの如< Ynl = Yn、かつY
xl −7− Y工であるか否かを判断し、YESならばX。1をX。
xl −7− Y工であるか否かを判断し、YESならばX。1をX。
とじ(の)、NoならばXo2をXoとして(■)、一
連の動作を終了する(■)。上記(θ)において、(X
x−Xn)< (Yx Yn )となる場合は、X軸
方向の成分を基準としてY軸方向の中心位置を求める場
合であるから、上記動作またはフローにおいてX、!:
Yとを入れ替えるだけで(フローの■からのを参照され
たい。)、上記と全く同様に説明できるものである。
連の動作を終了する(■)。上記(θ)において、(X
x−Xn)< (Yx Yn )となる場合は、X軸
方向の成分を基準としてY軸方向の中心位置を求める場
合であるから、上記動作またはフローにおいてX、!:
Yとを入れ替えるだけで(フローの■からのを参照され
たい。)、上記と全く同様に説明できるものである。
第4図は円形パターンの中心を求める手法を図式的に示
したもので、第4図(A) 、 (B)は第3図のにお
いて等号が成立する場合であシ、また第4図(C) t
(D)は第3図においてθからの、θへと進む場合で
ある。
したもので、第4図(A) 、 (B)は第3図のにお
いて等号が成立する場合であシ、また第4図(C) t
(D)は第3図においてθからの、θへと進む場合で
ある。
以上のように、この発明によれば、第2図で示される如
き簡単な装置と第3図の如き簡単な手法とによシ小突起
をもつ円形パターンの中心座標を精度よく、しかも高速
に検出することが可能となるものである。
き簡単な装置と第3図の如き簡単な手法とによシ小突起
をもつ円形パターンの中心座標を精度よく、しかも高速
に検出することが可能となるものである。
なお、この発明は、ランダムに配置されたロー8−
タシャフトの中心にマンドリル(心棒)を入れ、これを
持ち上げて搬送するロボット装置において、該ロータシ
ャフトの中心を検出する場合に適用することかできる。
持ち上げて搬送するロボット装置において、該ロータシ
ャフトの中心を検出する場合に適用することかできる。
なお、この場合の撮像画像が第1図または第4図に示さ
れる如くなるものである。
れる如くなるものである。
また、この発明は、ロボット装置におけるロータシャフ
トと同様に、円形の部分にキー溝のついたもの、アイス
クリームのフタまたは容器のキャップシールなど、円形
に一部突起があるもの〜円形部の中心検出が必要なもの
一般に適用することができる。
トと同様に、円形の部分にキー溝のついたもの、アイス
クリームのフタまたは容器のキャップシールなど、円形
に一部突起があるもの〜円形部の中心検出が必要なもの
一般に適用することができる。
第1図は検査対象物の撮像パターンを説明するだめの説
明図、第2図はこの発明の実施例を示す構成図、第3図
は中心位置検出のための手順を示すフローチャート、第
4図は円形パターンの中心を求める手法を説明するため
の説明図である。 符号説明 1・・・・・・検査対象物、2・・・・・・撮像デバイ
ス(テレビカメラ)、3・・・・・・2値化回路、4・
・・・・・特徴抽出回路、訃・・・・・記憶回路、6・
・・・・・データ処理装置、D・・・・・・突起部、S
・・・・・・斜線部、O・・・・・・パターンの中心 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 11− 第12 (A)(B) 第 3 図 第 4 図 (A)(13) (C)(+:l)
明図、第2図はこの発明の実施例を示す構成図、第3図
は中心位置検出のための手順を示すフローチャート、第
4図は円形パターンの中心を求める手法を説明するため
の説明図である。 符号説明 1・・・・・・検査対象物、2・・・・・・撮像デバイ
ス(テレビカメラ)、3・・・・・・2値化回路、4・
・・・・・特徴抽出回路、訃・・・・・記憶回路、6・
・・・・・データ処理装置、D・・・・・・突起部、S
・・・・・・斜線部、O・・・・・・パターンの中心 代理人 弁理士 並 木 昭 夫 代理人 弁理士 松 崎 清 11− 第12 (A)(B) 第 3 図 第 4 図 (A)(13) (C)(+:l)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 水平(X)方向の走査を順次垂直(Y)方向に繰シ返す
ことにより対象物を撮像する撮像手段と、該撮像手段か
らの撮像出力を所定のしきい値レベルで2値化する2値
化手段と、該2値化された撮像出力から検査対象物の座
標情報を抽出する特徴抽出手段と、該抽出された座標情
報を記憶する記憶手段と、該記憶された座標情報にもと
づいて下記の如き演算を行なう演算手段とを備え、該演
算結果にもとづいて所定の大きさの突起を有する円形対
象物パターンの円形部の中心位置を検出するよ5にした
円形パターンの中心位置検出装置。 記 (イ)前記座標情報から少なくともX、Y軸方向の最大
、最小値をそれぞれ抽出するとともに、X軸方向の最大
値と最小値との差で表わされるX軸方向の直径成分と、
Y軸方向の最大値と最小値との差で表わされるY軸方向
の直径成分とを比較し、これらが互いに等しいものと判
定されたときけ各軸方向の最大値と最小値との平均値を
もって各軸方向の中心位置を決定する。 (ロ)X (Y)軸方向の直径成分がy (x)軸方向
のそれよりも大きいときは、y (x)軸方向の各成分
は正しいものとしてその最大値と最小値との平均値をも
ってy (x)軸方向の中心位置を決定するとともに、
前記Y(X)軸方向の直径成分の半分に和尚する値、す
なわち半径成分を算出する。 (ハ)前記x (y)座標の最小値に半径成分を加算し
てx (y)軸上の第1の仮想中心座標とする一方、X
(Y)座標の最大値から半径を減算してX (Y)軸上
の第2の仮想中心座標とし、該第1.第2の仮想中心座
標におけるy (x)座標の最大値、最小値が既に求め
られているy (x)座標に一致したときの第1または
第2の仮想中心座標のいずれかをX(Y)軸方向の中心
位置と決定する。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57121214A JPS5914076A (ja) | 1982-07-14 | 1982-07-14 | 円形パタ−ンの中心位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57121214A JPS5914076A (ja) | 1982-07-14 | 1982-07-14 | 円形パタ−ンの中心位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5914076A true JPS5914076A (ja) | 1984-01-24 |
Family
ID=14805696
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57121214A Pending JPS5914076A (ja) | 1982-07-14 | 1982-07-14 | 円形パタ−ンの中心位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5914076A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62208180A (ja) * | 1986-03-10 | 1987-09-12 | Yaskawa Electric Mfg Co Ltd | 不完全円の中心検出方法 |
-
1982
- 1982-07-14 JP JP57121214A patent/JPS5914076A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62208180A (ja) * | 1986-03-10 | 1987-09-12 | Yaskawa Electric Mfg Co Ltd | 不完全円の中心検出方法 |
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