JPS59154452A - 軟x線転写用マスク及びその製造法 - Google Patents

軟x線転写用マスク及びその製造法

Info

Publication number
JPS59154452A
JPS59154452A JP58027333A JP2733383A JPS59154452A JP S59154452 A JPS59154452 A JP S59154452A JP 58027333 A JP58027333 A JP 58027333A JP 2733383 A JP2733383 A JP 2733383A JP S59154452 A JPS59154452 A JP S59154452A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
soft
ray
silicon dioxide
mask
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP58027333A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0423819B2 (ja
Inventor
Yukio Iimura
飯村 幸夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP58027333A priority Critical patent/JPS59154452A/ja
Publication of JPS59154452A publication Critical patent/JPS59154452A/ja
Publication of JPH0423819B2 publication Critical patent/JPH0423819B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/22Masks or mask blanks for imaging by radiation of 100nm or shorter wavelength, e.g. X-ray masks, extreme ultraviolet [EUV] masks; Preparation thereof

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はLSi、超LSIの如へ集積回路等の製造の際
の軟X線露光に使用する軟X線転:Ij用マスクムびぞ
の製造法に関する。
軟X線1メ光では1:1の転写をj−jなうので、転写
パターンの寸法精度は、11.、(X線マスクの加工精
度に大きく依存する。しかるに欽Xiべ露光をどのよう
な方法で適用するかにより、軟X線マスクへの要求が異
なってくる。曵状でli!□+発が11(−められてい
る露光システムθつ1つとしてサブミク[1ンパターン
をイ〕する118L81回路等にiff用jるだめのス
テ、ブ・アンド・レビー1゛転写力戊があ(tらJする
。、−2の方式に用いるI睨写用マスクとしく−はグミ
クcrンバターンでアスペクト比Q>商い吸収パターン
をイ〕“3−る高粘度でかつ化較的小−リfズ(例えば
2’9i程度)のものが要求さノ1.ていて)。又、開
発中の他の露光システムとじ〜C従東、紫り1線、よた
は遠紫外線点光によっているl /rm匍r7’W f
史のパターンのものを中欠Xポ宝露光を用いて41!、
石し、より生産性の向上をねらった人面稍一括転写方式
があけらi”Lる。この方式は、秋X線が軽元素を主体
としたゴミを透過し号)い、′−と苓二イ”l用した、
この種の小さなゴミによる転′ljパターンの欠陥の減
少化、および閤感ル:の’fl)(X線用レンストを用
いての大面積一括I11ム写によイ)f冒イスルー フ
゛ット化をねらいとするものである。
t′1.:、 iiL’: 2力式は共に′市子線励起
、プラズマ励起、士人−はアーク放電1等により発生す
る拡散型の線(iy’、+、を用いるものであり、高い
層間位置合せ精度合一必修とj゛る場合はどうしても多
層レジストを用いねばならず、リソグラフィ一工程が複
・質化し生産性が悪くなる。
更に開発中の第3の露光方式としr、電子蓄(、j 積リングからの放QJ (S OR5ynchrotr
on 0rbitalR・a+li+it 1on)を
利用する方式があけられる。この方式′は放射光の高い
平行光性により用層レジス)・でも十分安解像庶が得ら
れ、−C1つ高輝度性により露光時間が短か<’+ニー
5いスフレープ、トが得られるという利点をイjする反
面、面輝度性のためj累光中のマスクおよびつ1バーの
熱変形が生じ易く、それに起因する位置合せの誤差が大
きくなってくる難点がある。それ故、この方式には熱変
形の小さいマスクが望ましい。
従来、軟X線転写用マスクの吸収パターン支持体として
は無機単層膜として13 doped Si、 A40
s。
1ゝ′ Si3N4. Si C,BN、 Ti々凱〜゛有機単
層膜としてポリ」、チレンテレソタレート、ポリイミド
、ポリパーfy A−v ’) L/ ydテコ畳gi
 (!: L、S l 5 N4 / 81 L12 
S+ 5 N4 / S+ Ox / S+ 5N4 
、  S 晩N4 / 5iON / 5i5N4 。
S I3 N4 /ボリパラキンリ レン、  13N
/ポリイ ミ ド。
T1/ポリイミド等がSi枠もしくはカラス枠上でヌン
グレン化されてきた。この゛)ち大口径のマスク(3′
φ以上のウィンドーを持つもの)は、自機’t’ Jd
 IIWではマイラー、ポリイミドと、無機fit層1
19では、′I″l、複合膜ではBN/ポリイミド。
’]”+ /ポリイミドのみであった。而して5.L−
肥大11 (:’I’:化マスクにぬ用可能な材料のう
ち有機単層膜は熱’rlL張率(例、ポリイミド: 4
 X I Q5/deg )が大きくピッチずれが生じ
易いという欠点があった。また1lli iE−は可視
光を通さないため、 i″I/I/ポリイミド膜ととも
に可視光透過26.Hq)アラ・fメントおよび検査は
下げt1しであるという欠点があった。またBN膜は非
7nにもろく破損し易いのと欠陥密度が高いのでポリイ
ミドITeとの複合体として用いられているが、熱11
彩張率がI X 1.0= / deg で、S i 
OH膜の4 X 10−7〜7 X 10−7/ +−
1eg  よりも大へいという欠点があった。
木発明者は上記のマスクH科の欠点を解消して、上に人
血41〜一括露光方式もしくは放射光利用の大面積一括
露光方式に適用し得る熱的安定1’lの高い人1」イ↑
の軟X 2H転写用マスクを開発すべく研究の結果、二
酸化珪累膜の成膜法とじてイJ′する二1ば化珪素膜を
組合わ+トで応力バランスを取りI全体で弱い引張り応
力を自する二酸化珪素複合膜を窒化珪素系膜に枯!ヴ1
1シて形成l〜5この二酸化珪素複合膜上に軟X線吸収
性パターンを形成し、更にその−1−にポリイミド、ポ
リパラキシリレン等の軟X線及び可視光に対して透過率
の高い透明高分子膜を被覆することにより、大口径化可
能な適度の緊張力と低熱膨張率をイ」し、しかも無機膜
の欠点である匹械的強度の弱さが解消された支持体を形
成する、二とができ、)jjに支持体を低熱膨張率を有
する石英ガラス製支持枠で支持さぜることによりマスク
全体の熱変形、及びピッチずれを少なくすることができ
ることを見出たし、かかる知見にもとづいて1すζX線
転写用マスクに係る発ψ」を完成したものである。
次に本発町者は上記の軟X5詠Ip、−1′Li用マス
クの製造法につき研究の結果、石英ガラス基板−Lに窒
化珪素糸膜、曲記二酸化珪素メ複合膜、軟X線(lψ収
性パ名−ン、及び透明層分子膜をJIKx ’6(設け
、次に石英ガラス基板の裏面側に石英ガラス製・シー持
枠を接〕^−し、(7,かる後に石英ガラス基板の[)
1]記支持枠内の空間部に相対する領域を食刻除去する
方〃、によれは支ト!i体をたるみなく繋張させ゛−C
支持忰にとりっ3ノることができることをμ出だし、か
かる知見にもとづいて軟X線転写用マスクの製造法に係
る発明を冗成したものである。
即ち、第1の発明の要旨は酸化窒化珪素及び窒化珪素か
らなる!!1.がら選択される窒化珪素系膜と、その上
に積層された高周波スパッタリング法により生成される
二酸化珪素膜の一層もしくは複数層とCVD法により生
成される二glf2化珪素脱の一層もしくは複数層とを
1111者と後者が交互に位置するように積層複合させ
゛た二酸化珪素複合膜と、その上に設けられた軟X線及
び石」視光に対して透過率の高い透明高分子膜とからな
る支持体と、前記二酸化珪素複合膜と透明高分子11り
の間に設けられた軟X線吸収性パターンど前記支持体の
窒化珪素系膜m1側に設けられた石英ガラス製支持伜と
か・らなることを特徴とする軟X線転写用マスクである
次に第2の発明の要旨は石英ガラス基板寸−に「後化窒
化坪系及び窒化珪素からなζ) tp+から選択される
窒化珪素糸膜を形成し、次にその一ト一に1イlパ」波
スパッタリング仏により生成される圧縮応力を冶する二
酸化珪5に股とCV I)法により生成されイ)引張り
応力をイ」ずろ二1・[夕化吐素11Zとを各々一層も
し7くは也数層交り一に+!!j層して二酸化珪素複合
膜を形成し、そのニーjρ化珪素複合膜の一層に軟X線
吸収物V(からなる軟X線吸収(l!thパターンを形
成し、次に該軟X線吸収性パターンを設けた二重化L1
素複合!模面上に軟X線及び可視光に対して透過率のi
U+い遮・明;:に+分子j14’;iを形成し、次い
で前記石英ガラス基板に石英ガラス製支持伜を接着し、
しかる後に前記石英ガラ”ス基板のAiJ記支持枠内の
空間部に相対する領域を食刻除去することを特イ六とす
る転X線中−ム写用マスクの製造法である。
以上、本発明(でつき区間を参i!<(しながら訂、2
畑に1悦明う゛る。
第1図(a)ないしくf+は本発明の製造法による軟X
線転写用マスクの製造過程を示し、第1図(旬(4′完
成した軟X線転写用マスクを示す。本発明の軟X線転ち
用マスクは酸化窒化珪素及び窒化丹素からなる群から選
択される材木−1を用いて、弱い引張り応力を有するよ
う女生成条件で生成I〜だ窒化珪素系膜(2)と、その
−」二に積層された高周波スパッタリングにより生成さ
れ〜る圧縮ij’、s力を有すイ)二酸化珪素膜の一層
もしくは塗り数層とCVD法により生成される引張り応
力を有する二酸化珪素膜の一層もしくは複数層とを前者
と後者が交互に位置するように積層複合させた全体とし
て弱い引張り応力を示す二酸化珪素複合膜(3)と、そ
の上に設けられたゼζX線及び11J視光に対して透過
率の晶いポリイミド、ポリパラギシリレン等の透+9J
高分子膜(5)とがらなイ)支持体(6)と、二酸化J
−L素複合膜(3)と透明高分子膜(5)の間に設けら
れた軟X線吸収性パターン(4)と支持体(6)の窒化
珪素系膜(2)面側に設けられた石英ガラス製支持枠(
7)とからなる。尚、図において(1)ば石英ガラス製
支持枠(7)と窒化珪素系膜(2)間に介在する石英ガ
ラス片(これは複連する方法で所要部分を食刻除去した
石英ガラス草根の残部である)、(8)は接着層である
以上のように本発明の軟X線転写用マスクは、支持体が
窒化珪素系膜と二酸化、1′−1−シモ複合膜とろり]
高分子lidとがらなり、人「」径I軟X線転写用マス
クを形成するのに適度の緊張力を有するのみならず無機
膜の欠点である機械的111・S撃に弱い点が透明高分
子1漢によって袖なゎれており、又、支持体に支持枠が
設けられているので、熱的に寸法変化が少なく、目っ機
械的衝撃に強い利点を4するものである。
次に本発明の軟X線転写用マスクは軟X線吸fiV性パ
ターンが透明高分子膜にょシ保護されているので、透明
高分子膜により軟X線露光時に発生する光電子やオージ
ェ電子が吸収され、X線レジストのカブリが減少せしめ
られる利点を子」する。
次に上記の本発明の秋X線転写用マスクの製造法につい
て説明する。
第1図(31の如き表面が平、骨で、熱11が張メキ<
の小さい、厚さ0.2〜1.2mの石英ガラス基板(1
)の上にIIA厚0.05〜0.1μmの酸化窒化工↑
素膜もしくは窒化珪素からなるi1イから選択される窒
化珪素糸膜(2)を形成する。これらの膜は緩衝旧“液
のエツチングレートが、いずれも小さいものである。こ
の窒化珪素糸膜は2(長路工程で石英゛がラス基板(]
)を緩飼■■F液で裏面上ッチングを41なう際の1−
/チング停止膜と・しての機能を一;↓ずものである。
この窒化珪素系ilI& f2+としては必−′パ■”
IS−半眼の膜厚でよい。いずれもCV J)法に内部
L1−1力が0.5 X 109〜1.5 X 1. 
O’ dyn /6Jの弱い引へり応力をf+’するよ
うな生成条14で成11をし、たもの4−用いる。酸化
望化珪素膜については、例えばSi H4−CO2−N
1−15  系ノカスを用い、温度を900〜J000
”cとし”’CSi、N4モル比カ0.07〜0.2に
〃るように 成膜することで所定の引弘り応力台二自す
るがG 、93 、税が得られる。一方窒化1投につい
ては、例えば5iH4−Nil、系のガスを用い、温度
が700〜800℃としてs r ty) Mtl 、
6比を0.5〜0.7になるようにすることで所定の引
張り応力を自する透明睦が得られる。
次に、窒化珪素糸膜(2)上に高周波スパッタリング法
により生成される二酸化珪素膜の一層もしくは複数層と
CV l)法により生成さILる一酸fヒ珪素11ぐの
一5層もt、 < &i裡数層とる: 1Uii−J<
ど後t1が交−41に位置するように積層復・1″¥さ
せた丁、酸化珪素複合膜(3)を形成する。この複合1
漢を構成する高周波スパッタリング法による二酸化珪素
11ζ(ばlXl09−2X109dyn/cJ  の
)下槽応力を合し、生成条件は使用支間により異なるが
1例えば石英をターゲット試料とし、krガス圧I X
 ]O−”〜5 X 10−”]、”oor、 高周波
パワー500〜1000W。
’ia 極間JjD ”413〜10 (’mを16j
用できる。−力’ CV I)法による酸化珪素膜は2
X109〜3 X H1’ dyn /湖の引張り応力
を41し、形成条件は、例えば5i02−O系のガスを
用い、温度40”0〜600°Cを適用できる。この際
、フ刈スフィン(円(5) モしくはシボラン(B2 
H6)  を少′J−1混合し7、P S G膜(Ph
ospho −Si l 1cate Glass膜、
リンガラス膜)もしくはB S G IJ (Boro
n−8ilicate CHass j%、  ボロン
ガラス膜)とI7て内部応カタ調節してもJ:い。
上記のようにし2て圧縮応力を有する高周波スパッタリ
ング5iOzliψとCVD−8IC%p、♂−゛1と
のH)・Δ厚比を61、’、l i’ii’iずイ)こ
とにより全体とし2て弱い引張り応力を11するような
二酸化珪素複合綬にする。
上記の二酸化f」4、複合膜は文持体の主要部を)j+
′+成し、支持体全体に適度の緊張力を付lっすると」
l、に、後記するように軟XMyi!%に数件パターン
を的接に支持する機能を果すものである。
次に第1図((コ)に示すが如く、二酸化珪素膜合+v
;: (3+の十に、At+、 Pi等から々イ)軟X
線吸収性パターン(4)を形成する。軟X線吸収性パタ
ーン(・1)の形成法としては、軟X線マスクの泄直法
で一般的に用いられている方法、例えば左1等合−蒸が
し次いでドライエツチングにより不要部をj−ッーノン
グ除去してパターンを形成する方法、リフトオフ性によ
りAu等のg着層をパターン状に設ける力η3、し、ゾ
・スト等の中間層パターンを形成し。
だ代Au等を宙、気メッギするJj法などを採用し得る
この段階で軟X線吸収性パターンが1μm(((“度以
上のものは従来のフォトマスクと同(カ・の方法で可視
光り今週型の欠陥検配、」・夕よびレーザーを利用した
パターン欠陥のイl−\W−が国都である。
次に第1図(diの如く、1ト、X線吸収性バク−ン(
4)を設けた酸化珪素複合膜(3)の上に、ポリイミド
、ポリパラキシリレン着の軟X線及び可視光に対して透
過率の、it7m <、−H一つinl熱性の、7らい
6明16分子i+9(5)を形成することによりun機
利と有機イ」の間に吸収パターン−にもった腹合材料の
支楯体(6)を貧する。
上記においてポリイミド樹脂はイミド結合7有し、−5
,良に溶剤に不治であるノこめ、二酸化珪ヌさ複合+1
1;、l上にポリイミド111ンを設けるためには、本
リアミック酸を後述する活剤に溶解し二酸化珪素複合1
11と上にの布し/こ後、加7隼処理により脱水閉璋し
7てイミド結合を1セ]たぜる方法が好ましい。
ポリアミノ多酸を二酸化珪・に複合膜上に塗布するには
、ポリアミノ多酸をジメヂルアセトアミド、N−メチル
−2−ピロリドン″・などの溶剤で希釈して適J1−な
粘度にし、スピンナー、浸消、スプレー等で塗布を行な
う。硬化条件は必要に1、こ、し’(1(1〜l Of
) ’C30分間の予イjjN j、’12 □E、ガ
し゛(f8剤を除去後、200〜300’C,30〜6
0分間Q)鵠処理をイーJない硬化さ2せる。−7j、
ポリバラキヅリレン11つの形成法は、 g的な方lん
としてj5°、I、″νb匁fi”/J’:を用い、ジ
バラギシリレンをJ111熱蒸′i1′、さく、s、熱
分解後室温でニー酸化耗素複合膜に付ン?′1−させる
ものである。
l記の晴ψl i9i」分子11つ1は軟X;ヌ5〈吸
収性パターンを1゛4゛護するどどもにX線露光中に発
化ずンb元霜4子伎びオーク、電子を吸収し、X線によ
るし7〉ストのカブリを少なくし、高解1ココのレジン
l−1すjj像をノヒ成する作用をするものである。
史に透明に;j分子Jjζ1ばii(哉股の欠(−1、
である様相に的jtJ撃に弱い点を袖なうものである。
次に第1図(elの如く5石英ガラス括イ、1y(1)
17.)−1−の軟X線吸収41Fパターン(4)を含
む文持体(6)と反itの面(?1面)にあらかじめ所
定の窓開けがなさI)だ71英力′ノス製支持枠(7)
を接着層(8)を介しで強固に]ビ着する。このlIR
の石英ガラス製支P1千PM71け厚さl 〜5+a、
大きさ4〜6インチの力。
型もし、くは11・、方形で、必要に応じて吸収パター
ンに影響しない範囲で補強用リブを窓内に設(Jること
も可能である。接着層(8)はカラスの接舊に一般に用
いられる接着剤4例えばアクリルイ01脂糸光硬化型接
着剤、またはx−:l?キノン脂糸4?j(硬化型接着
剤、ま、そD! 4. OO℃ν)、ドの低1.う:1
(点ガラスフリット等を接着ずべ@ [l′flのI−
1側もL <は両面に薄く均一に一へ4」シ、それぞれ
所定の硬化条件上たは熱融着条件で処uli L、形成
する3、次に石英力゛ラス基板(1)の受持枠内のrj
q 1jffi部に相対する領域栄石英ガラス基板(1
)の裏−1111側よりエツチング法により収り去る。
エッチ〉・ダ液としては1崗1■I”糸エツチング沼・
(例えば Ni1AF:01’=10:1)を用いるこ
とができ、また必要に応じてテフ[Jン冶具等により−
1−ツチングする必要のない部分を作置する。以−にの
如く石英ガラス基板(]、)に窓開けすることにより最
終的に第1図(月に示すよう女1本発明に係る熱的安定
性(・(製−れ、か一つ(友株的強度の強い尺(−1径
の軟X線転与用マスクが得ら、?]7る。
以下に実施例に、):り本発j力を説明する。
実施例1 第2図(31)に:、J<ず如く光学研肥・さt]だ大
きさ6゛\6 インチIM、tさ0.5躍の石英ガラス
X板(1)の−1−に酸化2.ν化珪累膜(2)をSi
 l+47 COl −N、L−(3糸の)jスを用い
た(〜ll)法に上り厚さo、tum形成しに−o コ
ツト@ ノ形、5!is −、□ 44ハ、?晶A 度
= 900 ”C。
2%Si I:(47H2,== 1. e /l11
in 、 C0z−L5 e /mir+。
NH,、二 〇。3 〜0.6  (:/min   
 で あ −ツフコ  。
次に第2図(0)図示の如くそのJ−に、石矢ターリ′
7トを用いた高周波スバ、タリングにより圧縮1,1\
、力]、、、 5 X I Q 9dyn /(qiを
打する厚さ0.411m、 C7X)7槽ll各化珪素
膜(9)を形成した。次にその上に、CV D iJ、
により引+1長り応力3 X 109d y ++ /
cyilを自する二酸化珪素膜(10)を厚さ1μm形
成し/コ、。ここにおいて形成条件は、温度= 450
’C,2条8i11.i/Nz −: 500 CC/
min 、 Oz = 200 (JZ/minであっ
た。
さらにその−1−に、前記と同条件のf28周波スノζ
)々リングにより圧縮応力1.5 X 109(lyn
/C滋を有する二酸化珪素r)r;p (11)を形成
することにより、弱い引張り応力を自する二酸化珪素複
合膜(3)をjl)だ。
次に第2図(c)に不す如くニー酸化珪木複@ lIt
;4 (:x)上ニ、密着性向上のだめのC,r層(0
,02/rm 1.i、A )ト睨電性付!’4. (
2)だめのAu Ea (0,05、am !?’、 
) !r IIIQ次スバ’/ 夕IJ :/ りによ
り井’g:、 f7! L−((’:r 、l(”iと
へ111$’iよりなる下弛層(12)を設けた。さら
G′rCそσ)−[二憾)−→トレジストAz−i35
oJ(ンソプレー札、(nソ、石炭酸ホルマリン横町に
キノン・ジアザイド類の分子をスルホン基を介して結合
したAZ糸り)フォトンじ・スト)を回転塗布し゛て)
′層さ1゜21tmのLi+間層(13)を設けた。
次に電子線ポジレジストPへi5〜IAを0.11m厚
(′こ・留nル(−1・燥後、電子線露光、及び」↓現
像(て、Lり第2図(d)図示のようが〒b:子線子線
レジントノーン(14,)を形成した。次いでその−に
からスノく、クリング法によりCr 111’jをQ、
15umll形成後、電子2♀1/ジストパダーン(1
4)を除去する、二とl/こより第2図(e)図示のよ
うに(づrパターン(15)を形成l、た。
次いでコノCr Aターン(15)’&−Jスッとして
t−11間層(13)を02ガス圧2X 10  To
rr 、 +%周波(J3)JlooWの条イ・′1下
で反応性スノくツタエ、ブーングを行なった後、C+パ
ターン(15)を−エツチング7夜(例オ、ば(へl−
14)2 Cc(iNOd6 ニア 0 ?る11C7
了Oル: 1120−165p : 43m1! : 
10100Oの配合比の−c 、チングi(1)で王、
f”ング除去することによ:つ第2図(Ti図、■<)
如<ニーAZL/、、zスbに」:るAu ) 、、〜
用レプリカパターン(16)を形成した。
次に電気メツキ法によりレプリカパターン(16)の部
分に八〇を厚さ0.8 /11nにメ、ギし、しかる後
中間層(13)を5φK(用水溶液で除去し、さらにそ
の下の1・′地層(12)のAu゛層、およびCr i
d、をスパッタエツチングすることにより、下地層(1
2)とへ11メッキ層(17)からなる11仄X線口及
収・11.パターン(4)を形成した。
次に透明分子;11)としてポリアミック該全ジメf 
/レア」りドアミドに溶角乍したものを回’ii ’あ
!1jシ、9 (+”c、 200″゛Cで各30分ず
つのベーキングにより第2図(11)のように厚さ47
imのボ゛す・fミド:Iyl(5)を形成し、11広
X線吸収性パターン(4)を・酸化窒化珪素膜(2)と
二1獲化珪素ネ(1合膜(3)の無]表IIQとポリイ
ミド嘆(5)の自機膜ではさんだ支持体(6)を形成し
た。
次に第2図(i)に示すit+::+ <、あらかじめ
所定の窓開けを何なっだ大きさ6 X 6 Wンチ、j
!♂さ0.09・fンチの石英ガラス製支持枠(7)を
エポキシ樹脂系接着剤(硬化条件二60°C,1時間)
を用いた接着層(8)を介してb英ガラス卑仮(1)の
裏面と接着させた。
最後に。矢面から石英カラス基板(1)の前記支持枠内
の空間部に相対する領域をエツチング液(40係NIL
41i’ : 49係up −= 1. O: ] )
によりエツチング除去することにより第2図0)に示す
如く。
本発明の軟X線転写用マスクを什また。
災施例2 第3図(a)に示す如く光学Q[磨された大きさ5×5
インチ厚J0.8yaの石英カラス基板(1)に、CV
 D法によりJ”f−さ005μmの窒化珪素1(に(
2)を形成した。ここにおいて形成条件は、温度−80
0°゛C2ヂS目14/N2 = 2 l /min 
、  NH5:10〜12 (n/n−印であった。
次にその一トに、第3図(1))図示の如<、cvl)
法により引張り応力2 X 109dyn/cJをイj
する厚さ1μmのI) S G膜(]9)を形成した。
ここにおいて形成条件は、温度−=450℃、2妬S+
H4/N2二450’L/fTl” + O2二200
 αユ/m1n、02% P]Is /””2二180
(z/minであった。さらにその−1−に、高周波ス
パッタリング法により圧縮1,75.、力1−.5 X
 109dyn/c4を有する厚さ0.5 itmの二
酸化珪素膜(9)を形成しトロfj (1,9) +I
Qと合せ、全体として弱い引張り応力を自ずく)ニー酸
化1素複合膜(3)とした。
次いで第3図(C)図示の如(、A、uパターンの密着
性を[込<するだめに厚さ0.02μmの′I″iの下
J+i2層(12)を蒸着法により形成し、さらに厚さ
0.5BInのAl1 蒸着膜(20)全形成した。
次に′電子線ネガレジストC0P(ミードケミカル社製
)0.4μmに塗布後、電子線露)しすることにより第
3図(dlに示す如く、般小線幅1μmnの電子線レジ
ストパターン(14)を形成した。さらにそ−のトから
′l゛1を厚さ0.21tmに蒸着後5電子線レジスト
パターン(14)を除去することによって第:3図(c
lに示すb((< 、Tiリフトオソパターン(15)
r、、 jヒ成した。
次に、T1 リフトオフパターン(15) kドライエ
ツチングのマスクとしてAu蒸着膜(20)を^rガス
IA: 2 X ] (−1−” Tarr−、高1;
J i支出カフoWの条(生でスパッタエツチングした
後、i’: )地層(12)と′1゛重リフトオフパタ
ーン(15)をCJパ4ガスノ上2Torr高周波出力
250Wの条件でブラスマエッチングすることにより第
、3図(flの如(、Ti−ド地層(12)とA−u蒸
着層(20)からなろ軟X線吸収性パターン(4)を形
成した。
次に第3図(g1図示の如く、その+、に′)も明高分
子111)’iとしてパリレンN(−コーニオン・カー
バイド社製、ポリパラギシリレン樹脂)ケ2 )tm厚
に蒸着し、その後所定の窓開Hを′4J々った大きさ5
×5インチ、厚さ0.09インPの石英ガラス製支持枠
(7)と、石英ガラス基板(1)の裏面を低融点ガラス
フリットを用いて、350”c 3o分熱処理すること
により接着層(8)を介して接着し、次いで石英カラス
)AO,仮(1)の1)IJ記支持枠内の空間部に相対
する領域を40φNH4F : 49循ILF二10:
1のエツチング液で工、チング除去することにより本発
明による軟X線転写用マスクを胃だ。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(flば、本発明の軟X線転写用マスク
の製造法の過程を示す!石1面図、第2区](a)〜(
j)は本発明の実施←111の製造法の過程を示ずtf
iiitu[シ]、第3図(a)〜(g)は本発明の実
施例2の製造法(”))ハt”+“を21<1断Iji
図である。 け)・・・・・・・・石・庭ガラスジと41又(2)・
・・・・窒化f−4素糸1.・ぷ(3)・・・・・・・
・・−酢化t+、+;掬合1]費(4)・・・・・・・
 すy(X\泉1文収を生パターン(5)・・・・・・
・・透明1’%分17膜(6)・・・・・・・・々:柿
体 (7)・・・・・・・・石乾力゛シス製支持+1シ(8
)・・・・・・・・・18 yif層粕許出1軸人 大
目木印Af+lJ株式会社代 理 人 弁理士小 西 
埠 芙 第3図 (0)  団==〒ゴr1

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)酸化゛)′、“化珪累及び窒化珪素からなろI(
    1から選択される窒化佳素膜と、その上に積層された品
    固波スバッタリソグ法によシ生成される二酸化珪素膜の
    一層もしくは複数層とCV D法により生成される二酸
    化珪素膜の一層もしくは複数層とを、前育と後者が交、
    互に位置するように積層複合させた二酸化珪素複合膜と
    、その−トに設けられた軟X保及び可視光に対して透過
    率の高い1!\明高分子IIQとからなる支持体と、I
    )″lI記二酸f)I Fiij素複合膜と透明高分子
    膜の間に設けられた軟X線吸収性パターンと前記支持体
    の窒化珪素糸膜[n1側に設けられた石英ガラス製支持
    枠とからなることを特徴とする軟X線転写用マスク。
  2. (2)石英ガラス基板上に酸化窒化珪素及び窒化珪素か
    らなる群から選択される窒化珪素系膜を形成し、次にそ
    のHに高周波スパッタリング法により生成され2る圧縮
    応力を有する二酸化珪素膜とCV L)法により生成さ
    れる引張り;心力をf]する二1俊化珪素膜とを各々一
    層も(〜くは複数層交互に積層してニー酸化珪素複合i
    艮を形成し、;Cの二酸化珪素複合膜の上に軟X線吸収
    物質からなる軟X線吸収性パターンを形成し、次に該軟
    X線吸収性パターンを設けた二酸化珪素複合膜面上に軟
    X Xa及び可視光に対し”(透過率の旨い透間高分子
    ij9を形成し、次いで+iiJ 占己石英カラス基板
    に石英ガラス製支持枠を接着し、しかる1χミに前記石
    英ガラス基板の[)IJ記支持’t’(I4内の空間部
    に相対する領域を食刻除去することを′44徴とする軟
    X線転写用マスクの製造法。
JP58027333A 1983-02-21 1983-02-21 軟x線転写用マスク及びその製造法 Granted JPS59154452A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58027333A JPS59154452A (ja) 1983-02-21 1983-02-21 軟x線転写用マスク及びその製造法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58027333A JPS59154452A (ja) 1983-02-21 1983-02-21 軟x線転写用マスク及びその製造法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59154452A true JPS59154452A (ja) 1984-09-03
JPH0423819B2 JPH0423819B2 (ja) 1992-04-23

Family

ID=12218136

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58027333A Granted JPS59154452A (ja) 1983-02-21 1983-02-21 軟x線転写用マスク及びその製造法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59154452A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6220310A (ja) * 1985-07-19 1987-01-28 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> X線マスク
US4712446A (en) * 1985-08-09 1987-12-15 Nissan Shatai Company, Limited Anti-vibration structure of a steering arrangement
EP1089128A3 (en) * 1999-09-30 2001-05-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Exposure mask, exposure mask manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method using exposure mask
WO2000075727A3 (en) * 1999-06-07 2001-05-17 Univ California Coatings on reflective mask substrates

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6220310A (ja) * 1985-07-19 1987-01-28 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> X線マスク
US4712446A (en) * 1985-08-09 1987-12-15 Nissan Shatai Company, Limited Anti-vibration structure of a steering arrangement
WO2000075727A3 (en) * 1999-06-07 2001-05-17 Univ California Coatings on reflective mask substrates
US6352803B1 (en) 1999-06-07 2002-03-05 The Regents Of The University Of California Coatings on reflective mask substrates
KR100805360B1 (ko) * 1999-06-07 2008-02-20 더 리전트 오브 더 유니버시티 오브 캘리포니아 코팅층을 갖는 반사 마스크 기판
EP1089128A3 (en) * 1999-09-30 2001-05-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Exposure mask, exposure mask manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method using exposure mask
US6381300B1 (en) 1999-09-30 2002-04-30 Kabushiki Kaisha Toshiba Exposure mask, exposure mask manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method using exposure mask

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0423819B2 (ja) 1992-04-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100529880C (zh) 形成光偏振膜的方法
JP4827223B2 (ja) 偏光制御素子
US4253029A (en) Mask structure for x-ray lithography
WO2000075727A3 (en) Coatings on reflective mask substrates
JPS5842003A (ja) 偏光板
JP4393077B2 (ja) 透明基板
JPS6197924A (ja) 保護カバ−
WO2019205031A1 (zh) 盖板、显示装置及盖板的制造方法
JPH0423819B2 (ja)
US20020004126A1 (en) Process for producing organic thin film
JP2748571B2 (ja) 近赤外線吸収接着剤
JPS5940645A (ja) 軟x線転写用マスク
CN113933922A (zh) 用于高分辨率成像的超薄复合材料衍射透镜及其制备方法
KR20040100869A (ko) 광 배향용 편광광 조사 장치
JPS5940644A (ja) 軟x線転写用マスク及びその製造法
JP2003098512A (ja) 反射型液晶表示素子用プラスチック基板。
JPH01138509A (ja) 高密度光導波路及びその製法
CN119360753A (zh) 一种有机发光二极管显示器及其圆偏光复合膜湿法工艺制备方法
JPS6041457B2 (ja) 軟x線リソグラフィ用マスクの製造法
JPS6025104A (ja) 透明導電性膜を有する基体及びその製造方法
JPS60122944A (ja) パタ−ン製造用マスクの製造方法
JP2013061447A (ja) 光学素子
JPS6370422A (ja) X線露光用マスク
JPH06260397A (ja) X線露光用マスクとその製造方法
JP2000329921A (ja) カラーフィルタとこれを用いた液晶素子、及びこれらの製造方法