JPS59154452A - 軟x線転写用マスク及びその製造法 - Google Patents
軟x線転写用マスク及びその製造法Info
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- JPS59154452A JPS59154452A JP58027333A JP2733383A JPS59154452A JP S59154452 A JPS59154452 A JP S59154452A JP 58027333 A JP58027333 A JP 58027333A JP 2733383 A JP2733383 A JP 2733383A JP S59154452 A JPS59154452 A JP S59154452A
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F1/00—Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
- G03F1/22—Masks or mask blanks for imaging by radiation of 100nm or shorter wavelength, e.g. X-ray masks, extreme ultraviolet [EUV] masks; Preparation thereof
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はLSi、超LSIの如へ集積回路等の製造の際
の軟X線露光に使用する軟X線転:Ij用マスクムびぞ
の製造法に関する。
の軟X線露光に使用する軟X線転:Ij用マスクムびぞ
の製造法に関する。
軟X線1メ光では1:1の転写をj−jなうので、転写
パターンの寸法精度は、11.、(X線マスクの加工精
度に大きく依存する。しかるに欽Xiべ露光をどのよう
な方法で適用するかにより、軟X線マスクへの要求が異
なってくる。曵状でli!□+発が11(−められてい
る露光システムθつ1つとしてサブミク[1ンパターン
をイ〕する118L81回路等にiff用jるだめのス
テ、ブ・アンド・レビー1゛転写力戊があ(tらJする
。、−2の方式に用いるI睨写用マスクとしく−はグミ
クcrンバターンでアスペクト比Q>商い吸収パターン
をイ〕“3−る高粘度でかつ化較的小−リfズ(例えば
2’9i程度)のものが要求さノ1.ていて)。又、開
発中の他の露光システムとじ〜C従東、紫り1線、よた
は遠紫外線点光によっているl /rm匍r7’W f
史のパターンのものを中欠Xポ宝露光を用いて41!、
石し、より生産性の向上をねらった人面稍一括転写方式
があけらi”Lる。この方式は、秋X線が軽元素を主体
としたゴミを透過し号)い、′−と苓二イ”l用した、
この種の小さなゴミによる転′ljパターンの欠陥の減
少化、および閤感ル:の’fl)(X線用レンストを用
いての大面積一括I11ム写によイ)f冒イスルー フ
゛ット化をねらいとするものである。
パターンの寸法精度は、11.、(X線マスクの加工精
度に大きく依存する。しかるに欽Xiべ露光をどのよう
な方法で適用するかにより、軟X線マスクへの要求が異
なってくる。曵状でli!□+発が11(−められてい
る露光システムθつ1つとしてサブミク[1ンパターン
をイ〕する118L81回路等にiff用jるだめのス
テ、ブ・アンド・レビー1゛転写力戊があ(tらJする
。、−2の方式に用いるI睨写用マスクとしく−はグミ
クcrンバターンでアスペクト比Q>商い吸収パターン
をイ〕“3−る高粘度でかつ化較的小−リfズ(例えば
2’9i程度)のものが要求さノ1.ていて)。又、開
発中の他の露光システムとじ〜C従東、紫り1線、よた
は遠紫外線点光によっているl /rm匍r7’W f
史のパターンのものを中欠Xポ宝露光を用いて41!、
石し、より生産性の向上をねらった人面稍一括転写方式
があけらi”Lる。この方式は、秋X線が軽元素を主体
としたゴミを透過し号)い、′−と苓二イ”l用した、
この種の小さなゴミによる転′ljパターンの欠陥の減
少化、および閤感ル:の’fl)(X線用レンストを用
いての大面積一括I11ム写によイ)f冒イスルー フ
゛ット化をねらいとするものである。
t′1.:、 iiL’: 2力式は共に′市子線励起
、プラズマ励起、士人−はアーク放電1等により発生す
る拡散型の線(iy’、+、を用いるものであり、高い
層間位置合せ精度合一必修とj゛る場合はどうしても多
層レジストを用いねばならず、リソグラフィ一工程が複
・質化し生産性が悪くなる。
、プラズマ励起、士人−はアーク放電1等により発生す
る拡散型の線(iy’、+、を用いるものであり、高い
層間位置合せ精度合一必修とj゛る場合はどうしても多
層レジストを用いねばならず、リソグラフィ一工程が複
・質化し生産性が悪くなる。
更に開発中の第3の露光方式としr、電子蓄(、j
積リングからの放QJ (S OR5ynchrotr
on 0rbitalR・a+li+it 1on)を
利用する方式があけられる。この方式′は放射光の高い
平行光性により用層レジス)・でも十分安解像庶が得ら
れ、−C1つ高輝度性により露光時間が短か<’+ニー
5いスフレープ、トが得られるという利点をイjする反
面、面輝度性のためj累光中のマスクおよびつ1バーの
熱変形が生じ易く、それに起因する位置合せの誤差が大
きくなってくる難点がある。それ故、この方式には熱変
形の小さいマスクが望ましい。
on 0rbitalR・a+li+it 1on)を
利用する方式があけられる。この方式′は放射光の高い
平行光性により用層レジス)・でも十分安解像庶が得ら
れ、−C1つ高輝度性により露光時間が短か<’+ニー
5いスフレープ、トが得られるという利点をイjする反
面、面輝度性のためj累光中のマスクおよびつ1バーの
熱変形が生じ易く、それに起因する位置合せの誤差が大
きくなってくる難点がある。それ故、この方式には熱変
形の小さいマスクが望ましい。
従来、軟X線転写用マスクの吸収パターン支持体として
は無機単層膜として13 doped Si、 A40
s。
は無機単層膜として13 doped Si、 A40
s。
1ゝ′
Si3N4. Si C,BN、 Ti々凱〜゛有機単
層膜としてポリ」、チレンテレソタレート、ポリイミド
、ポリパーfy A−v ’) L/ ydテコ畳gi
(!: L、S l 5 N4 / 81 L12
。
層膜としてポリ」、チレンテレソタレート、ポリイミド
、ポリパーfy A−v ’) L/ ydテコ畳gi
(!: L、S l 5 N4 / 81 L12
。
S+ 5 N4 / S+ Ox / S+ 5N4
、 S 晩N4 / 5iON / 5i5N4 。
、 S 晩N4 / 5iON / 5i5N4 。
S I3 N4 /ボリパラキンリ レン、 13N
/ポリイ ミ ド。
/ポリイ ミ ド。
T1/ポリイミド等がSi枠もしくはカラス枠上でヌン
グレン化されてきた。この゛)ち大口径のマスク(3′
φ以上のウィンドーを持つもの)は、自機’t’ Jd
IIWではマイラー、ポリイミドと、無機fit層1
19では、′I″l、複合膜ではBN/ポリイミド。
グレン化されてきた。この゛)ち大口径のマスク(3′
φ以上のウィンドーを持つもの)は、自機’t’ Jd
IIWではマイラー、ポリイミドと、無機fit層1
19では、′I″l、複合膜ではBN/ポリイミド。
’]”+ /ポリイミドのみであった。而して5.L−
肥大11 (:’I’:化マスクにぬ用可能な材料のう
ち有機単層膜は熱’rlL張率(例、ポリイミド: 4
X I Q5/deg )が大きくピッチずれが生じ
易いという欠点があった。また1lli iE−は可視
光を通さないため、 i″I/I/ポリイミド膜ととも
に可視光透過26.Hq)アラ・fメントおよび検査は
下げt1しであるという欠点があった。またBN膜は非
7nにもろく破損し易いのと欠陥密度が高いのでポリイ
ミドITeとの複合体として用いられているが、熱11
彩張率がI X 1.0= / deg で、S i
OH膜の4 X 10−7〜7 X 10−7/ +−
1eg よりも大へいという欠点があった。
肥大11 (:’I’:化マスクにぬ用可能な材料のう
ち有機単層膜は熱’rlL張率(例、ポリイミド: 4
X I Q5/deg )が大きくピッチずれが生じ
易いという欠点があった。また1lli iE−は可視
光を通さないため、 i″I/I/ポリイミド膜ととも
に可視光透過26.Hq)アラ・fメントおよび検査は
下げt1しであるという欠点があった。またBN膜は非
7nにもろく破損し易いのと欠陥密度が高いのでポリイ
ミドITeとの複合体として用いられているが、熱11
彩張率がI X 1.0= / deg で、S i
OH膜の4 X 10−7〜7 X 10−7/ +−
1eg よりも大へいという欠点があった。
木発明者は上記のマスクH科の欠点を解消して、上に人
血41〜一括露光方式もしくは放射光利用の大面積一括
露光方式に適用し得る熱的安定1’lの高い人1」イ↑
の軟X 2H転写用マスクを開発すべく研究の結果、二
酸化珪累膜の成膜法とじてイJ′する二1ば化珪素膜を
組合わ+トで応力バランスを取りI全体で弱い引張り応
力を自する二酸化珪素複合膜を窒化珪素系膜に枯!ヴ1
1シて形成l〜5この二酸化珪素複合膜上に軟X線吸収
性パターンを形成し、更にその−1−にポリイミド、ポ
リパラキシリレン等の軟X線及び可視光に対して透過率
の高い透明高分子膜を被覆することにより、大口径化可
能な適度の緊張力と低熱膨張率をイ」し、しかも無機膜
の欠点である匹械的強度の弱さが解消された支持体を形
成する、二とができ、)jjに支持体を低熱膨張率を有
する石英ガラス製支持枠で支持さぜることによりマスク
全体の熱変形、及びピッチずれを少なくすることができ
ることを見出たし、かかる知見にもとづいて1すζX線
転写用マスクに係る発ψ」を完成したものである。
血41〜一括露光方式もしくは放射光利用の大面積一括
露光方式に適用し得る熱的安定1’lの高い人1」イ↑
の軟X 2H転写用マスクを開発すべく研究の結果、二
酸化珪累膜の成膜法とじてイJ′する二1ば化珪素膜を
組合わ+トで応力バランスを取りI全体で弱い引張り応
力を自する二酸化珪素複合膜を窒化珪素系膜に枯!ヴ1
1シて形成l〜5この二酸化珪素複合膜上に軟X線吸収
性パターンを形成し、更にその−1−にポリイミド、ポ
リパラキシリレン等の軟X線及び可視光に対して透過率
の高い透明高分子膜を被覆することにより、大口径化可
能な適度の緊張力と低熱膨張率をイ」し、しかも無機膜
の欠点である匹械的強度の弱さが解消された支持体を形
成する、二とができ、)jjに支持体を低熱膨張率を有
する石英ガラス製支持枠で支持さぜることによりマスク
全体の熱変形、及びピッチずれを少なくすることができ
ることを見出たし、かかる知見にもとづいて1すζX線
転写用マスクに係る発ψ」を完成したものである。
次に本発町者は上記の軟X5詠Ip、−1′Li用マス
クの製造法につき研究の結果、石英ガラス基板−Lに窒
化珪素糸膜、曲記二酸化珪素メ複合膜、軟X線(lψ収
性パ名−ン、及び透明層分子膜をJIKx ’6(設け
、次に石英ガラス基板の裏面側に石英ガラス製・シー持
枠を接〕^−し、(7,かる後に石英ガラス基板の[)
1]記支持枠内の空間部に相対する領域を食刻除去する
方〃、によれは支ト!i体をたるみなく繋張させ゛−C
支持忰にとりっ3ノることができることをμ出だし、か
かる知見にもとづいて軟X線転写用マスクの製造法に係
る発明を冗成したものである。
クの製造法につき研究の結果、石英ガラス基板−Lに窒
化珪素糸膜、曲記二酸化珪素メ複合膜、軟X線(lψ収
性パ名−ン、及び透明層分子膜をJIKx ’6(設け
、次に石英ガラス基板の裏面側に石英ガラス製・シー持
枠を接〕^−し、(7,かる後に石英ガラス基板の[)
1]記支持枠内の空間部に相対する領域を食刻除去する
方〃、によれは支ト!i体をたるみなく繋張させ゛−C
支持忰にとりっ3ノることができることをμ出だし、か
かる知見にもとづいて軟X線転写用マスクの製造法に係
る発明を冗成したものである。
即ち、第1の発明の要旨は酸化窒化珪素及び窒化珪素か
らなる!!1.がら選択される窒化珪素系膜と、その上
に積層された高周波スパッタリング法により生成される
二酸化珪素膜の一層もしくは複数層とCVD法により生
成される二glf2化珪素脱の一層もしくは複数層とを
1111者と後者が交互に位置するように積層複合させ
゛た二酸化珪素複合膜と、その上に設けられた軟X線及
び石」視光に対して透過率の高い透明高分子膜とからな
る支持体と、前記二酸化珪素複合膜と透明高分子11り
の間に設けられた軟X線吸収性パターンど前記支持体の
窒化珪素系膜m1側に設けられた石英ガラス製支持伜と
か・らなることを特徴とする軟X線転写用マスクである
。
らなる!!1.がら選択される窒化珪素系膜と、その上
に積層された高周波スパッタリング法により生成される
二酸化珪素膜の一層もしくは複数層とCVD法により生
成される二glf2化珪素脱の一層もしくは複数層とを
1111者と後者が交互に位置するように積層複合させ
゛た二酸化珪素複合膜と、その上に設けられた軟X線及
び石」視光に対して透過率の高い透明高分子膜とからな
る支持体と、前記二酸化珪素複合膜と透明高分子11り
の間に設けられた軟X線吸収性パターンど前記支持体の
窒化珪素系膜m1側に設けられた石英ガラス製支持伜と
か・らなることを特徴とする軟X線転写用マスクである
。
次に第2の発明の要旨は石英ガラス基板寸−に「後化窒
化坪系及び窒化珪素からなζ) tp+から選択される
窒化珪素糸膜を形成し、次にその一ト一に1イlパ」波
スパッタリング仏により生成される圧縮応力を冶する二
酸化珪5に股とCV I)法により生成されイ)引張り
応力をイ」ずろ二1・[夕化吐素11Zとを各々一層も
し7くは也数層交り一に+!!j層して二酸化珪素複合
膜を形成し、そのニーjρ化珪素複合膜の一層に軟X線
吸収物V(からなる軟X線吸収(l!thパターンを形
成し、次に該軟X線吸収性パターンを設けた二重化L1
素複合!模面上に軟X線及び可視光に対して透過率のi
U+い遮・明;:に+分子j14’;iを形成し、次い
で前記石英ガラス基板に石英ガラス製支持伜を接着し、
しかる後に前記石英ガラ”ス基板のAiJ記支持枠内の
空間部に相対する領域を食刻除去することを特イ六とす
る転X線中−ム写用マスクの製造法である。
化坪系及び窒化珪素からなζ) tp+から選択される
窒化珪素糸膜を形成し、次にその一ト一に1イlパ」波
スパッタリング仏により生成される圧縮応力を冶する二
酸化珪5に股とCV I)法により生成されイ)引張り
応力をイ」ずろ二1・[夕化吐素11Zとを各々一層も
し7くは也数層交り一に+!!j層して二酸化珪素複合
膜を形成し、そのニーjρ化珪素複合膜の一層に軟X線
吸収物V(からなる軟X線吸収(l!thパターンを形
成し、次に該軟X線吸収性パターンを設けた二重化L1
素複合!模面上に軟X線及び可視光に対して透過率のi
U+い遮・明;:に+分子j14’;iを形成し、次い
で前記石英ガラス基板に石英ガラス製支持伜を接着し、
しかる後に前記石英ガラ”ス基板のAiJ記支持枠内の
空間部に相対する領域を食刻除去することを特イ六とす
る転X線中−ム写用マスクの製造法である。
以上、本発明(でつき区間を参i!<(しながら訂、2
畑に1悦明う゛る。
畑に1悦明う゛る。
第1図(a)ないしくf+は本発明の製造法による軟X
線転写用マスクの製造過程を示し、第1図(旬(4′完
成した軟X線転写用マスクを示す。本発明の軟X線転ち
用マスクは酸化窒化珪素及び窒化丹素からなる群から選
択される材木−1を用いて、弱い引張り応力を有するよ
う女生成条件で生成I〜だ窒化珪素系膜(2)と、その
−」二に積層された高周波スパッタリングにより生成さ
れ〜る圧縮ij’、s力を有すイ)二酸化珪素膜の一層
もしくは塗り数層とCVD法により生成される引張り応
力を有する二酸化珪素膜の一層もしくは複数層とを前者
と後者が交互に位置するように積層複合させた全体とし
て弱い引張り応力を示す二酸化珪素複合膜(3)と、そ
の上に設けられたゼζX線及び11J視光に対して透過
率の晶いポリイミド、ポリパラギシリレン等の透+9J
高分子膜(5)とがらなイ)支持体(6)と、二酸化J
−L素複合膜(3)と透明高分子膜(5)の間に設けら
れた軟X線吸収性パターン(4)と支持体(6)の窒化
珪素系膜(2)面側に設けられた石英ガラス製支持枠(
7)とからなる。尚、図において(1)ば石英ガラス製
支持枠(7)と窒化珪素系膜(2)間に介在する石英ガ
ラス片(これは複連する方法で所要部分を食刻除去した
石英ガラス草根の残部である)、(8)は接着層である
。
線転写用マスクの製造過程を示し、第1図(旬(4′完
成した軟X線転写用マスクを示す。本発明の軟X線転ち
用マスクは酸化窒化珪素及び窒化丹素からなる群から選
択される材木−1を用いて、弱い引張り応力を有するよ
う女生成条件で生成I〜だ窒化珪素系膜(2)と、その
−」二に積層された高周波スパッタリングにより生成さ
れ〜る圧縮ij’、s力を有すイ)二酸化珪素膜の一層
もしくは塗り数層とCVD法により生成される引張り応
力を有する二酸化珪素膜の一層もしくは複数層とを前者
と後者が交互に位置するように積層複合させた全体とし
て弱い引張り応力を示す二酸化珪素複合膜(3)と、そ
の上に設けられたゼζX線及び11J視光に対して透過
率の晶いポリイミド、ポリパラギシリレン等の透+9J
高分子膜(5)とがらなイ)支持体(6)と、二酸化J
−L素複合膜(3)と透明高分子膜(5)の間に設けら
れた軟X線吸収性パターン(4)と支持体(6)の窒化
珪素系膜(2)面側に設けられた石英ガラス製支持枠(
7)とからなる。尚、図において(1)ば石英ガラス製
支持枠(7)と窒化珪素系膜(2)間に介在する石英ガ
ラス片(これは複連する方法で所要部分を食刻除去した
石英ガラス草根の残部である)、(8)は接着層である
。
以上のように本発明の軟X線転写用マスクは、支持体が
窒化珪素系膜と二酸化、1′−1−シモ複合膜とろり]
高分子lidとがらなり、人「」径I軟X線転写用マス
クを形成するのに適度の緊張力を有するのみならず無機
膜の欠点である機械的111・S撃に弱い点が透明高分
子1漢によって袖なゎれており、又、支持体に支持枠が
設けられているので、熱的に寸法変化が少なく、目っ機
械的衝撃に強い利点を4するものである。
窒化珪素系膜と二酸化、1′−1−シモ複合膜とろり]
高分子lidとがらなり、人「」径I軟X線転写用マス
クを形成するのに適度の緊張力を有するのみならず無機
膜の欠点である機械的111・S撃に弱い点が透明高分
子1漢によって袖なゎれており、又、支持体に支持枠が
設けられているので、熱的に寸法変化が少なく、目っ機
械的衝撃に強い利点を4するものである。
次に本発明の軟X線転写用マスクは軟X線吸fiV性パ
ターンが透明高分子膜にょシ保護されているので、透明
高分子膜により軟X線露光時に発生する光電子やオージ
ェ電子が吸収され、X線レジストのカブリが減少せしめ
られる利点を子」する。
ターンが透明高分子膜にょシ保護されているので、透明
高分子膜により軟X線露光時に発生する光電子やオージ
ェ電子が吸収され、X線レジストのカブリが減少せしめ
られる利点を子」する。
次に上記の本発明の秋X線転写用マスクの製造法につい
て説明する。
て説明する。
第1図(31の如き表面が平、骨で、熱11が張メキ<
の小さい、厚さ0.2〜1.2mの石英ガラス基板(1
)の上にIIA厚0.05〜0.1μmの酸化窒化工↑
素膜もしくは窒化珪素からなるi1イから選択される窒
化珪素糸膜(2)を形成する。これらの膜は緩衝旧“液
のエツチングレートが、いずれも小さいものである。こ
の窒化珪素糸膜は2(長路工程で石英゛がラス基板(]
)を緩飼■■F液で裏面上ッチングを41なう際の1−
/チング停止膜と・しての機能を一;↓ずものである。
の小さい、厚さ0.2〜1.2mの石英ガラス基板(1
)の上にIIA厚0.05〜0.1μmの酸化窒化工↑
素膜もしくは窒化珪素からなるi1イから選択される窒
化珪素糸膜(2)を形成する。これらの膜は緩衝旧“液
のエツチングレートが、いずれも小さいものである。こ
の窒化珪素糸膜は2(長路工程で石英゛がラス基板(]
)を緩飼■■F液で裏面上ッチングを41なう際の1−
/チング停止膜と・しての機能を一;↓ずものである。
この窒化珪素系ilI& f2+としては必−′パ■”
IS−半眼の膜厚でよい。いずれもCV J)法に内部
L1−1力が0.5 X 109〜1.5 X 1.
O’ dyn /6Jの弱い引へり応力をf+’するよ
うな生成条14で成11をし、たもの4−用いる。酸化
望化珪素膜については、例えばSi H4−CO2−N
1−15 系ノカスを用い、温度を900〜J000
”cとし”’CSi、N4モル比カ0.07〜0.2に
〃るように 成膜することで所定の引弘り応力台二自す
るがG 、93 、税が得られる。一方窒化1投につい
ては、例えば5iH4−Nil、系のガスを用い、温度
が700〜800℃としてs r ty) Mtl 、
6比を0.5〜0.7になるようにすることで所定の引
張り応力を自する透明睦が得られる。
IS−半眼の膜厚でよい。いずれもCV J)法に内部
L1−1力が0.5 X 109〜1.5 X 1.
O’ dyn /6Jの弱い引へり応力をf+’するよ
うな生成条14で成11をし、たもの4−用いる。酸化
望化珪素膜については、例えばSi H4−CO2−N
1−15 系ノカスを用い、温度を900〜J000
”cとし”’CSi、N4モル比カ0.07〜0.2に
〃るように 成膜することで所定の引弘り応力台二自す
るがG 、93 、税が得られる。一方窒化1投につい
ては、例えば5iH4−Nil、系のガスを用い、温度
が700〜800℃としてs r ty) Mtl 、
6比を0.5〜0.7になるようにすることで所定の引
張り応力を自する透明睦が得られる。
次に、窒化珪素糸膜(2)上に高周波スパッタリング法
により生成される二酸化珪素膜の一層もしくは複数層と
CV l)法により生成さILる一酸fヒ珪素11ぐの
一5層もt、 < &i裡数層とる: 1Uii−J<
ど後t1が交−41に位置するように積層復・1″¥さ
せた丁、酸化珪素複合膜(3)を形成する。この複合1
漢を構成する高周波スパッタリング法による二酸化珪素
11ζ(ばlXl09−2X109dyn/cJ の
)下槽応力を合し、生成条件は使用支間により異なるが
1例えば石英をターゲット試料とし、krガス圧I X
]O−”〜5 X 10−”]、”oor、 高周波
パワー500〜1000W。
により生成される二酸化珪素膜の一層もしくは複数層と
CV l)法により生成さILる一酸fヒ珪素11ぐの
一5層もt、 < &i裡数層とる: 1Uii−J<
ど後t1が交−41に位置するように積層復・1″¥さ
せた丁、酸化珪素複合膜(3)を形成する。この複合1
漢を構成する高周波スパッタリング法による二酸化珪素
11ζ(ばlXl09−2X109dyn/cJ の
)下槽応力を合し、生成条件は使用支間により異なるが
1例えば石英をターゲット試料とし、krガス圧I X
]O−”〜5 X 10−”]、”oor、 高周波
パワー500〜1000W。
’ia 極間JjD ”413〜10 (’mを16j
用できる。−力’ CV I)法による酸化珪素膜は2
X109〜3 X H1’ dyn /湖の引張り応力
を41し、形成条件は、例えば5i02−O系のガスを
用い、温度40”0〜600°Cを適用できる。この際
、フ刈スフィン(円(5) モしくはシボラン(B2
H6) を少′J−1混合し7、P S G膜(Ph
ospho −Si l 1cate Glass膜、
リンガラス膜)もしくはB S G IJ (Boro
n−8ilicate CHass j%、 ボロン
ガラス膜)とI7て内部応カタ調節してもJ:い。
用できる。−力’ CV I)法による酸化珪素膜は2
X109〜3 X H1’ dyn /湖の引張り応力
を41し、形成条件は、例えば5i02−O系のガスを
用い、温度40”0〜600°Cを適用できる。この際
、フ刈スフィン(円(5) モしくはシボラン(B2
H6) を少′J−1混合し7、P S G膜(Ph
ospho −Si l 1cate Glass膜、
リンガラス膜)もしくはB S G IJ (Boro
n−8ilicate CHass j%、 ボロン
ガラス膜)とI7て内部応カタ調節してもJ:い。
上記のようにし2て圧縮応力を有する高周波スパッタリ
ング5iOzliψとCVD−8IC%p、♂−゛1と
のH)・Δ厚比を61、’、l i’ii’iずイ)こ
とにより全体とし2て弱い引張り応力を11するような
二酸化珪素複合綬にする。
ング5iOzliψとCVD−8IC%p、♂−゛1と
のH)・Δ厚比を61、’、l i’ii’iずイ)こ
とにより全体とし2て弱い引張り応力を11するような
二酸化珪素複合綬にする。
上記の二酸化f」4、複合膜は文持体の主要部を)j+
′+成し、支持体全体に適度の緊張力を付lっすると」
l、に、後記するように軟XMyi!%に数件パターン
を的接に支持する機能を果すものである。
′+成し、支持体全体に適度の緊張力を付lっすると」
l、に、後記するように軟XMyi!%に数件パターン
を的接に支持する機能を果すものである。
次に第1図((コ)に示すが如く、二酸化珪素膜合+v
;: (3+の十に、At+、 Pi等から々イ)軟X
線吸収性パターン(4)を形成する。軟X線吸収性パタ
ーン(・1)の形成法としては、軟X線マスクの泄直法
で一般的に用いられている方法、例えば左1等合−蒸が
し次いでドライエツチングにより不要部をj−ッーノン
グ除去してパターンを形成する方法、リフトオフ性によ
りAu等のg着層をパターン状に設ける力η3、し、ゾ
・スト等の中間層パターンを形成し。
;: (3+の十に、At+、 Pi等から々イ)軟X
線吸収性パターン(4)を形成する。軟X線吸収性パタ
ーン(・1)の形成法としては、軟X線マスクの泄直法
で一般的に用いられている方法、例えば左1等合−蒸が
し次いでドライエツチングにより不要部をj−ッーノン
グ除去してパターンを形成する方法、リフトオフ性によ
りAu等のg着層をパターン状に設ける力η3、し、ゾ
・スト等の中間層パターンを形成し。
だ代Au等を宙、気メッギするJj法などを採用し得る
。
。
この段階で軟X線吸収性パターンが1μm(((“度以
上のものは従来のフォトマスクと同(カ・の方法で可視
光り今週型の欠陥検配、」・夕よびレーザーを利用した
パターン欠陥のイl−\W−が国都である。
上のものは従来のフォトマスクと同(カ・の方法で可視
光り今週型の欠陥検配、」・夕よびレーザーを利用した
パターン欠陥のイl−\W−が国都である。
次に第1図(diの如く、1ト、X線吸収性バク−ン(
4)を設けた酸化珪素複合膜(3)の上に、ポリイミド
、ポリパラキシリレン着の軟X線及び可視光に対して透
過率の、it7m <、−H一つinl熱性の、7らい
6明16分子i+9(5)を形成することによりun機
利と有機イ」の間に吸収パターン−にもった腹合材料の
支楯体(6)を貧する。
4)を設けた酸化珪素複合膜(3)の上に、ポリイミド
、ポリパラキシリレン着の軟X線及び可視光に対して透
過率の、it7m <、−H一つinl熱性の、7らい
6明16分子i+9(5)を形成することによりun機
利と有機イ」の間に吸収パターン−にもった腹合材料の
支楯体(6)を貧する。
上記においてポリイミド樹脂はイミド結合7有し、−5
,良に溶剤に不治であるノこめ、二酸化珪ヌさ複合+1
1;、l上にポリイミド111ンを設けるためには、本
リアミック酸を後述する活剤に溶解し二酸化珪素複合1
11と上にの布し/こ後、加7隼処理により脱水閉璋し
7てイミド結合を1セ]たぜる方法が好ましい。
,良に溶剤に不治であるノこめ、二酸化珪ヌさ複合+1
1;、l上にポリイミド111ンを設けるためには、本
リアミック酸を後述する活剤に溶解し二酸化珪素複合1
11と上にの布し/こ後、加7隼処理により脱水閉璋し
7てイミド結合を1セ]たぜる方法が好ましい。
ポリアミノ多酸を二酸化珪・に複合膜上に塗布するには
、ポリアミノ多酸をジメヂルアセトアミド、N−メチル
−2−ピロリドン″・などの溶剤で希釈して適J1−な
粘度にし、スピンナー、浸消、スプレー等で塗布を行な
う。硬化条件は必要に1、こ、し’(1(1〜l Of
) ’C30分間の予イjjN j、’12 □E、ガ
し゛(f8剤を除去後、200〜300’C,30〜6
0分間Q)鵠処理をイーJない硬化さ2せる。−7j、
ポリバラキヅリレン11つの形成法は、 g的な方lん
としてj5°、I、″νb匁fi”/J’:を用い、ジ
バラギシリレンをJ111熱蒸′i1′、さく、s、熱
分解後室温でニー酸化耗素複合膜に付ン?′1−させる
ものである。
、ポリアミノ多酸をジメヂルアセトアミド、N−メチル
−2−ピロリドン″・などの溶剤で希釈して適J1−な
粘度にし、スピンナー、浸消、スプレー等で塗布を行な
う。硬化条件は必要に1、こ、し’(1(1〜l Of
) ’C30分間の予イjjN j、’12 □E、ガ
し゛(f8剤を除去後、200〜300’C,30〜6
0分間Q)鵠処理をイーJない硬化さ2せる。−7j、
ポリバラキヅリレン11つの形成法は、 g的な方lん
としてj5°、I、″νb匁fi”/J’:を用い、ジ
バラギシリレンをJ111熱蒸′i1′、さく、s、熱
分解後室温でニー酸化耗素複合膜に付ン?′1−させる
ものである。
l記の晴ψl i9i」分子11つ1は軟X;ヌ5〈吸
収性パターンを1゛4゛護するどどもにX線露光中に発
化ずンb元霜4子伎びオーク、電子を吸収し、X線によ
るし7〉ストのカブリを少なくし、高解1ココのレジン
l−1すjj像をノヒ成する作用をするものである。
収性パターンを1゛4゛護するどどもにX線露光中に発
化ずンb元霜4子伎びオーク、電子を吸収し、X線によ
るし7〉ストのカブリを少なくし、高解1ココのレジン
l−1すjj像をノヒ成する作用をするものである。
史に透明に;j分子Jjζ1ばii(哉股の欠(−1、
である様相に的jtJ撃に弱い点を袖なうものである。
である様相に的jtJ撃に弱い点を袖なうものである。
次に第1図(elの如く5石英ガラス括イ、1y(1)
17.)−1−の軟X線吸収41Fパターン(4)を含
む文持体(6)と反itの面(?1面)にあらかじめ所
定の窓開けがなさI)だ71英力′ノス製支持枠(7)
を接着層(8)を介しで強固に]ビ着する。このlIR
の石英ガラス製支P1千PM71け厚さl 〜5+a、
大きさ4〜6インチの力。
17.)−1−の軟X線吸収41Fパターン(4)を含
む文持体(6)と反itの面(?1面)にあらかじめ所
定の窓開けがなさI)だ71英力′ノス製支持枠(7)
を接着層(8)を介しで強固に]ビ着する。このlIR
の石英ガラス製支P1千PM71け厚さl 〜5+a、
大きさ4〜6インチの力。
型もし、くは11・、方形で、必要に応じて吸収パター
ンに影響しない範囲で補強用リブを窓内に設(Jること
も可能である。接着層(8)はカラスの接舊に一般に用
いられる接着剤4例えばアクリルイ01脂糸光硬化型接
着剤、またはx−:l?キノン脂糸4?j(硬化型接着
剤、ま、そD! 4. OO℃ν)、ドの低1.う:1
(点ガラスフリット等を接着ずべ@ [l′flのI−
1側もL <は両面に薄く均一に一へ4」シ、それぞれ
所定の硬化条件上たは熱融着条件で処uli L、形成
する3、次に石英力゛ラス基板(1)の受持枠内のrj
q 1jffi部に相対する領域栄石英ガラス基板(1
)の裏−1111側よりエツチング法により収り去る。
ンに影響しない範囲で補強用リブを窓内に設(Jること
も可能である。接着層(8)はカラスの接舊に一般に用
いられる接着剤4例えばアクリルイ01脂糸光硬化型接
着剤、またはx−:l?キノン脂糸4?j(硬化型接着
剤、ま、そD! 4. OO℃ν)、ドの低1.う:1
(点ガラスフリット等を接着ずべ@ [l′flのI−
1側もL <は両面に薄く均一に一へ4」シ、それぞれ
所定の硬化条件上たは熱融着条件で処uli L、形成
する3、次に石英力゛ラス基板(1)の受持枠内のrj
q 1jffi部に相対する領域栄石英ガラス基板(1
)の裏−1111側よりエツチング法により収り去る。
エッチ〉・ダ液としては1崗1■I”糸エツチング沼・
(例えば Ni1AF:01’=10:1)を用いるこ
とができ、また必要に応じてテフ[Jン冶具等により−
1−ツチングする必要のない部分を作置する。以−にの
如く石英ガラス基板(]、)に窓開けすることにより最
終的に第1図(月に示すよう女1本発明に係る熱的安定
性(・(製−れ、か一つ(友株的強度の強い尺(−1径
の軟X線転与用マスクが得ら、?]7る。
(例えば Ni1AF:01’=10:1)を用いるこ
とができ、また必要に応じてテフ[Jン冶具等により−
1−ツチングする必要のない部分を作置する。以−にの
如く石英ガラス基板(]、)に窓開けすることにより最
終的に第1図(月に示すよう女1本発明に係る熱的安定
性(・(製−れ、か一つ(友株的強度の強い尺(−1径
の軟X線転与用マスクが得ら、?]7る。
以下に実施例に、):り本発j力を説明する。
実施例1
第2図(31)に:、J<ず如く光学研肥・さt]だ大
きさ6゛\6 インチIM、tさ0.5躍の石英ガラス
X板(1)の−1−に酸化2.ν化珪累膜(2)をSi
l+47 COl −N、L−(3糸の)jスを用い
た(〜ll)法に上り厚さo、tum形成しに−o コ
ツト@ ノ形、5!is −、□ 44ハ、?晶A 度
= 900 ”C。
きさ6゛\6 インチIM、tさ0.5躍の石英ガラス
X板(1)の−1−に酸化2.ν化珪累膜(2)をSi
l+47 COl −N、L−(3糸の)jスを用い
た(〜ll)法に上り厚さo、tum形成しに−o コ
ツト@ ノ形、5!is −、□ 44ハ、?晶A 度
= 900 ”C。
2%Si I:(47H2,== 1. e /l11
in 、 C0z−L5 e /mir+。
in 、 C0z−L5 e /mir+。
NH,、二 〇。3 〜0.6 (:/min
で あ −ツフコ 。
で あ −ツフコ 。
次に第2図(0)図示の如くそのJ−に、石矢ターリ′
7トを用いた高周波スバ、タリングにより圧縮1,1\
、力]、、、 5 X I Q 9dyn /(qiを
打する厚さ0.411m、 C7X)7槽ll各化珪素
膜(9)を形成した。次にその上に、CV D iJ、
により引+1長り応力3 X 109d y ++ /
cyilを自する二酸化珪素膜(10)を厚さ1μm形
成し/コ、。ここにおいて形成条件は、温度= 450
’C,2条8i11.i/Nz −: 500 CC/
min 、 Oz = 200 (JZ/minであっ
た。
7トを用いた高周波スバ、タリングにより圧縮1,1\
、力]、、、 5 X I Q 9dyn /(qiを
打する厚さ0.411m、 C7X)7槽ll各化珪素
膜(9)を形成した。次にその上に、CV D iJ、
により引+1長り応力3 X 109d y ++ /
cyilを自する二酸化珪素膜(10)を厚さ1μm形
成し/コ、。ここにおいて形成条件は、温度= 450
’C,2条8i11.i/Nz −: 500 CC/
min 、 Oz = 200 (JZ/minであっ
た。
さらにその−1−に、前記と同条件のf28周波スノζ
)々リングにより圧縮応力1.5 X 109(lyn
/C滋を有する二酸化珪素r)r;p (11)を形成
することにより、弱い引張り応力を自する二酸化珪素複
合膜(3)をjl)だ。
)々リングにより圧縮応力1.5 X 109(lyn
/C滋を有する二酸化珪素r)r;p (11)を形成
することにより、弱い引張り応力を自する二酸化珪素複
合膜(3)をjl)だ。
次に第2図(c)に不す如くニー酸化珪木複@ lIt
;4 (:x)上ニ、密着性向上のだめのC,r層(0
,02/rm 1.i、A )ト睨電性付!’4. (
2)だめのAu Ea (0,05、am !?’、
) !r IIIQ次スバ’/ 夕IJ :/ りによ
り井’g:、 f7! L−((’:r 、l(”iと
へ111$’iよりなる下弛層(12)を設けた。さら
G′rCそσ)−[二憾)−→トレジストAz−i35
oJ(ンソプレー札、(nソ、石炭酸ホルマリン横町に
キノン・ジアザイド類の分子をスルホン基を介して結合
したAZ糸り)フォトンじ・スト)を回転塗布し゛て)
′層さ1゜21tmのLi+間層(13)を設けた。
;4 (:x)上ニ、密着性向上のだめのC,r層(0
,02/rm 1.i、A )ト睨電性付!’4. (
2)だめのAu Ea (0,05、am !?’、
) !r IIIQ次スバ’/ 夕IJ :/ りによ
り井’g:、 f7! L−((’:r 、l(”iと
へ111$’iよりなる下弛層(12)を設けた。さら
G′rCそσ)−[二憾)−→トレジストAz−i35
oJ(ンソプレー札、(nソ、石炭酸ホルマリン横町に
キノン・ジアザイド類の分子をスルホン基を介して結合
したAZ糸り)フォトンじ・スト)を回転塗布し゛て)
′層さ1゜21tmのLi+間層(13)を設けた。
次に電子線ポジレジストPへi5〜IAを0.11m厚
(′こ・留nル(−1・燥後、電子線露光、及び」↓現
像(て、Lり第2図(d)図示のようが〒b:子線子線
レジントノーン(14,)を形成した。次いでその−に
からスノく、クリング法によりCr 111’jをQ、
15umll形成後、電子2♀1/ジストパダーン(1
4)を除去する、二とl/こより第2図(e)図示のよ
うに(づrパターン(15)を形成l、た。
(′こ・留nル(−1・燥後、電子線露光、及び」↓現
像(て、Lり第2図(d)図示のようが〒b:子線子線
レジントノーン(14,)を形成した。次いでその−に
からスノく、クリング法によりCr 111’jをQ、
15umll形成後、電子2♀1/ジストパダーン(1
4)を除去する、二とl/こより第2図(e)図示のよ
うに(づrパターン(15)を形成l、た。
次いでコノCr Aターン(15)’&−Jスッとして
t−11間層(13)を02ガス圧2X 10 To
rr 、 +%周波(J3)JlooWの条イ・′1下
で反応性スノくツタエ、ブーングを行なった後、C+パ
ターン(15)を−エツチング7夜(例オ、ば(へl−
14)2 Cc(iNOd6 ニア 0 ?る11C7
了Oル: 1120−165p : 43m1! :
10100Oの配合比の−c 、チングi(1)で王、
f”ング除去することによ:つ第2図(Ti図、■<)
如<ニーAZL/、、zスbに」:るAu ) 、、〜
用レプリカパターン(16)を形成した。
t−11間層(13)を02ガス圧2X 10 To
rr 、 +%周波(J3)JlooWの条イ・′1下
で反応性スノくツタエ、ブーングを行なった後、C+パ
ターン(15)を−エツチング7夜(例オ、ば(へl−
14)2 Cc(iNOd6 ニア 0 ?る11C7
了Oル: 1120−165p : 43m1! :
10100Oの配合比の−c 、チングi(1)で王、
f”ング除去することによ:つ第2図(Ti図、■<)
如<ニーAZL/、、zスbに」:るAu ) 、、〜
用レプリカパターン(16)を形成した。
次に電気メツキ法によりレプリカパターン(16)の部
分に八〇を厚さ0.8 /11nにメ、ギし、しかる後
中間層(13)を5φK(用水溶液で除去し、さらにそ
の下の1・′地層(12)のAu゛層、およびCr i
d、をスパッタエツチングすることにより、下地層(1
2)とへ11メッキ層(17)からなる11仄X線口及
収・11.パターン(4)を形成した。
分に八〇を厚さ0.8 /11nにメ、ギし、しかる後
中間層(13)を5φK(用水溶液で除去し、さらにそ
の下の1・′地層(12)のAu゛層、およびCr i
d、をスパッタエツチングすることにより、下地層(1
2)とへ11メッキ層(17)からなる11仄X線口及
収・11.パターン(4)を形成した。
次に透明分子;11)としてポリアミック該全ジメf
/レア」りドアミドに溶角乍したものを回’ii ’あ
!1jシ、9 (+”c、 200″゛Cで各30分ず
つのベーキングにより第2図(11)のように厚さ47
imのボ゛す・fミド:Iyl(5)を形成し、11広
X線吸収性パターン(4)を・酸化窒化珪素膜(2)と
二1獲化珪素ネ(1合膜(3)の無]表IIQとポリイ
ミド嘆(5)の自機膜ではさんだ支持体(6)を形成し
た。
/レア」りドアミドに溶角乍したものを回’ii ’あ
!1jシ、9 (+”c、 200″゛Cで各30分ず
つのベーキングにより第2図(11)のように厚さ47
imのボ゛す・fミド:Iyl(5)を形成し、11広
X線吸収性パターン(4)を・酸化窒化珪素膜(2)と
二1獲化珪素ネ(1合膜(3)の無]表IIQとポリイ
ミド嘆(5)の自機膜ではさんだ支持体(6)を形成し
た。
次に第2図(i)に示すit+::+ <、あらかじめ
所定の窓開けを何なっだ大きさ6 X 6 Wンチ、j
!♂さ0.09・fンチの石英ガラス製支持枠(7)を
エポキシ樹脂系接着剤(硬化条件二60°C,1時間)
を用いた接着層(8)を介してb英ガラス卑仮(1)の
裏面と接着させた。
所定の窓開けを何なっだ大きさ6 X 6 Wンチ、j
!♂さ0.09・fンチの石英ガラス製支持枠(7)を
エポキシ樹脂系接着剤(硬化条件二60°C,1時間)
を用いた接着層(8)を介してb英ガラス卑仮(1)の
裏面と接着させた。
最後に。矢面から石英カラス基板(1)の前記支持枠内
の空間部に相対する領域をエツチング液(40係NIL
41i’ : 49係up −= 1. O: ] )
によりエツチング除去することにより第2図0)に示す
如く。
の空間部に相対する領域をエツチング液(40係NIL
41i’ : 49係up −= 1. O: ] )
によりエツチング除去することにより第2図0)に示す
如く。
本発明の軟X線転写用マスクを什また。
災施例2
第3図(a)に示す如く光学Q[磨された大きさ5×5
インチ厚J0.8yaの石英カラス基板(1)に、CV
D法によりJ”f−さ005μmの窒化珪素1(に(
2)を形成した。ここにおいて形成条件は、温度−80
0°゛C2ヂS目14/N2 = 2 l /min
、 NH5:10〜12 (n/n−印であった。
インチ厚J0.8yaの石英カラス基板(1)に、CV
D法によりJ”f−さ005μmの窒化珪素1(に(
2)を形成した。ここにおいて形成条件は、温度−80
0°゛C2ヂS目14/N2 = 2 l /min
、 NH5:10〜12 (n/n−印であった。
次にその一トに、第3図(1))図示の如<、cvl)
法により引張り応力2 X 109dyn/cJをイj
する厚さ1μmのI) S G膜(]9)を形成した。
法により引張り応力2 X 109dyn/cJをイj
する厚さ1μmのI) S G膜(]9)を形成した。
ここにおいて形成条件は、温度−=450℃、2妬S+
H4/N2二450’L/fTl” + O2二200
αユ/m1n、02% P]Is /””2二180
(z/minであった。さらにその−1−に、高周波ス
パッタリング法により圧縮1,75.、力1−.5 X
109dyn/c4を有する厚さ0.5 itmの二
酸化珪素膜(9)を形成しトロfj (1,9) +I
Qと合せ、全体として弱い引張り応力を自ずく)ニー酸
化1素複合膜(3)とした。
H4/N2二450’L/fTl” + O2二200
αユ/m1n、02% P]Is /””2二180
(z/minであった。さらにその−1−に、高周波ス
パッタリング法により圧縮1,75.、力1−.5 X
109dyn/c4を有する厚さ0.5 itmの二
酸化珪素膜(9)を形成しトロfj (1,9) +I
Qと合せ、全体として弱い引張り応力を自ずく)ニー酸
化1素複合膜(3)とした。
次いで第3図(C)図示の如(、A、uパターンの密着
性を[込<するだめに厚さ0.02μmの′I″iの下
J+i2層(12)を蒸着法により形成し、さらに厚さ
0.5BInのAl1 蒸着膜(20)全形成した。
性を[込<するだめに厚さ0.02μmの′I″iの下
J+i2層(12)を蒸着法により形成し、さらに厚さ
0.5BInのAl1 蒸着膜(20)全形成した。
次に′電子線ネガレジストC0P(ミードケミカル社製
)0.4μmに塗布後、電子線露)しすることにより第
3図(dlに示す如く、般小線幅1μmnの電子線レジ
ストパターン(14)を形成した。さらにそ−のトから
′l゛1を厚さ0.21tmに蒸着後5電子線レジスト
パターン(14)を除去することによって第:3図(c
lに示すb((< 、Tiリフトオソパターン(15)
r、、 jヒ成した。
)0.4μmに塗布後、電子線露)しすることにより第
3図(dlに示す如く、般小線幅1μmnの電子線レジ
ストパターン(14)を形成した。さらにそ−のトから
′l゛1を厚さ0.21tmに蒸着後5電子線レジスト
パターン(14)を除去することによって第:3図(c
lに示すb((< 、Tiリフトオソパターン(15)
r、、 jヒ成した。
次に、T1 リフトオフパターン(15) kドライエ
ツチングのマスクとしてAu蒸着膜(20)を^rガス
IA: 2 X ] (−1−” Tarr−、高1;
J i支出カフoWの条(生でスパッタエツチングした
後、i’: )地層(12)と′1゛重リフトオフパタ
ーン(15)をCJパ4ガスノ上2Torr高周波出力
250Wの条件でブラスマエッチングすることにより第
、3図(flの如(、Ti−ド地層(12)とA−u蒸
着層(20)からなろ軟X線吸収性パターン(4)を形
成した。
ツチングのマスクとしてAu蒸着膜(20)を^rガス
IA: 2 X ] (−1−” Tarr−、高1;
J i支出カフoWの条(生でスパッタエツチングした
後、i’: )地層(12)と′1゛重リフトオフパタ
ーン(15)をCJパ4ガスノ上2Torr高周波出力
250Wの条件でブラスマエッチングすることにより第
、3図(flの如(、Ti−ド地層(12)とA−u蒸
着層(20)からなろ軟X線吸収性パターン(4)を形
成した。
次に第3図(g1図示の如く、その+、に′)も明高分
子111)’iとしてパリレンN(−コーニオン・カー
バイド社製、ポリパラギシリレン樹脂)ケ2 )tm厚
に蒸着し、その後所定の窓開Hを′4J々った大きさ5
×5インチ、厚さ0.09インPの石英ガラス製支持枠
(7)と、石英ガラス基板(1)の裏面を低融点ガラス
フリットを用いて、350”c 3o分熱処理すること
により接着層(8)を介して接着し、次いで石英カラス
)AO,仮(1)の1)IJ記支持枠内の空間部に相対
する領域を40φNH4F : 49循ILF二10:
1のエツチング液で工、チング除去することにより本発
明による軟X線転写用マスクを胃だ。
子111)’iとしてパリレンN(−コーニオン・カー
バイド社製、ポリパラギシリレン樹脂)ケ2 )tm厚
に蒸着し、その後所定の窓開Hを′4J々った大きさ5
×5インチ、厚さ0.09インPの石英ガラス製支持枠
(7)と、石英ガラス基板(1)の裏面を低融点ガラス
フリットを用いて、350”c 3o分熱処理すること
により接着層(8)を介して接着し、次いで石英カラス
)AO,仮(1)の1)IJ記支持枠内の空間部に相対
する領域を40φNH4F : 49循ILF二10:
1のエツチング液で工、チング除去することにより本発
明による軟X線転写用マスクを胃だ。
第1図(a)〜(flば、本発明の軟X線転写用マスク
の製造法の過程を示す!石1面図、第2区](a)〜(
j)は本発明の実施←111の製造法の過程を示ずtf
iiitu[シ]、第3図(a)〜(g)は本発明の実
施例2の製造法(”))ハt”+“を21<1断Iji
図である。 け)・・・・・・・・石・庭ガラスジと41又(2)・
・・・・窒化f−4素糸1.・ぷ(3)・・・・・・・
・・−酢化t+、+;掬合1]費(4)・・・・・・・
すy(X\泉1文収を生パターン(5)・・・・・・
・・透明1’%分17膜(6)・・・・・・・・々:柿
体 (7)・・・・・・・・石乾力゛シス製支持+1シ(8
)・・・・・・・・・18 yif層粕許出1軸人 大
目木印Af+lJ株式会社代 理 人 弁理士小 西
埠 芙 第3図 (0) 団==〒ゴr1
の製造法の過程を示す!石1面図、第2区](a)〜(
j)は本発明の実施←111の製造法の過程を示ずtf
iiitu[シ]、第3図(a)〜(g)は本発明の実
施例2の製造法(”))ハt”+“を21<1断Iji
図である。 け)・・・・・・・・石・庭ガラスジと41又(2)・
・・・・窒化f−4素糸1.・ぷ(3)・・・・・・・
・・−酢化t+、+;掬合1]費(4)・・・・・・・
すy(X\泉1文収を生パターン(5)・・・・・・
・・透明1’%分17膜(6)・・・・・・・・々:柿
体 (7)・・・・・・・・石乾力゛シス製支持+1シ(8
)・・・・・・・・・18 yif層粕許出1軸人 大
目木印Af+lJ株式会社代 理 人 弁理士小 西
埠 芙 第3図 (0) 団==〒ゴr1
Claims (2)
- (1)酸化゛)′、“化珪累及び窒化珪素からなろI(
1から選択される窒化佳素膜と、その上に積層された品
固波スバッタリソグ法によシ生成される二酸化珪素膜の
一層もしくは複数層とCV D法により生成される二酸
化珪素膜の一層もしくは複数層とを、前育と後者が交、
互に位置するように積層複合させた二酸化珪素複合膜と
、その−トに設けられた軟X保及び可視光に対して透過
率の高い1!\明高分子IIQとからなる支持体と、I
)″lI記二酸f)I Fiij素複合膜と透明高分子
膜の間に設けられた軟X線吸収性パターンと前記支持体
の窒化珪素糸膜[n1側に設けられた石英ガラス製支持
枠とからなることを特徴とする軟X線転写用マスク。 - (2)石英ガラス基板上に酸化窒化珪素及び窒化珪素か
らなる群から選択される窒化珪素系膜を形成し、次にそ
のHに高周波スパッタリング法により生成され2る圧縮
応力を有する二酸化珪素膜とCV L)法により生成さ
れる引張り;心力をf]する二1俊化珪素膜とを各々一
層も(〜くは複数層交互に積層してニー酸化珪素複合i
艮を形成し、;Cの二酸化珪素複合膜の上に軟X線吸収
物質からなる軟X線吸収性パターンを形成し、次に該軟
X線吸収性パターンを設けた二酸化珪素複合膜面上に軟
X Xa及び可視光に対し”(透過率の旨い透間高分子
ij9を形成し、次いで+iiJ 占己石英カラス基板
に石英ガラス製支持枠を接着し、しかる1χミに前記石
英ガラス基板の[)IJ記支持’t’(I4内の空間部
に相対する領域を食刻除去することを′44徴とする軟
X線転写用マスクの製造法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58027333A JPS59154452A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 軟x線転写用マスク及びその製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58027333A JPS59154452A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 軟x線転写用マスク及びその製造法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59154452A true JPS59154452A (ja) | 1984-09-03 |
| JPH0423819B2 JPH0423819B2 (ja) | 1992-04-23 |
Family
ID=12218136
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58027333A Granted JPS59154452A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 軟x線転写用マスク及びその製造法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59154452A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6220310A (ja) * | 1985-07-19 | 1987-01-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | X線マスク |
| US4712446A (en) * | 1985-08-09 | 1987-12-15 | Nissan Shatai Company, Limited | Anti-vibration structure of a steering arrangement |
| EP1089128A3 (en) * | 1999-09-30 | 2001-05-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Exposure mask, exposure mask manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method using exposure mask |
| WO2000075727A3 (en) * | 1999-06-07 | 2001-05-17 | Univ California | Coatings on reflective mask substrates |
-
1983
- 1983-02-21 JP JP58027333A patent/JPS59154452A/ja active Granted
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6220310A (ja) * | 1985-07-19 | 1987-01-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | X線マスク |
| US4712446A (en) * | 1985-08-09 | 1987-12-15 | Nissan Shatai Company, Limited | Anti-vibration structure of a steering arrangement |
| WO2000075727A3 (en) * | 1999-06-07 | 2001-05-17 | Univ California | Coatings on reflective mask substrates |
| US6352803B1 (en) | 1999-06-07 | 2002-03-05 | The Regents Of The University Of California | Coatings on reflective mask substrates |
| KR100805360B1 (ko) * | 1999-06-07 | 2008-02-20 | 더 리전트 오브 더 유니버시티 오브 캘리포니아 | 코팅층을 갖는 반사 마스크 기판 |
| EP1089128A3 (en) * | 1999-09-30 | 2001-05-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Exposure mask, exposure mask manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method using exposure mask |
| US6381300B1 (en) | 1999-09-30 | 2002-04-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Exposure mask, exposure mask manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method using exposure mask |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0423819B2 (ja) | 1992-04-23 |
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