JPS59160887A - 半導体メモリ - Google Patents

半導体メモリ

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Publication number
JPS59160887A
JPS59160887A JP59033813A JP3381384A JPS59160887A JP S59160887 A JPS59160887 A JP S59160887A JP 59033813 A JP59033813 A JP 59033813A JP 3381384 A JP3381384 A JP 3381384A JP S59160887 A JPS59160887 A JP S59160887A
Authority
JP
Japan
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memory cell
line
transistor
intersection
potential
Prior art date
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Application number
JP59033813A
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JPH0250554B2 (ja
Inventor
Kunihiko Yamaguchi
邦彦 山口
Noriyuki Honma
本間 紀之
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS59160887A publication Critical patent/JPS59160887A/ja
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体メモリのディジット線駆動回路に関し、
特に動作の安定化を図り、メモリ情報の消失等のおそれ
をなくすこと目的としたものである。 半導体メモリセ
ルにおけるディジット線駆動回路は第1図に示すように
(ただし、鎖線部分は本発明の第1の実施例を示す)構
成され、例えばメモリセルAを選択する場合はデコーダ
(図示せず)から加えられた読み出し入力V1NAによ
り読み出し電流I、Aと玩A°、およびディジット線駆
動回路1.Aを制御して選択されるディジット線群に電
流を流すようにし、−人モリセルの選択が行なわれる。
一般に大記憶容量の半導体記憶素子の場合、消費電力の
軽減を図るため、読出し用の電流源は各ディジット線群
ごとに設けずに、同図に示すように1対の読出し用電流
源1.2を1没け、デコーダからの読出し入力V、、 
A 、  VI、 Bにより選択されたデイジッ(・線
対にのみ読出し電流を流す構成の回路が用いられる。
ここで、例えばメモリセルA、BのうちAを選択する場
合は、そのディジット線駆動入力すなわちY耐入力信号
VX、 Aに他のY県人力信号v1NBより高い電位が
加わり、読出し電流はメモリセルAに接続されたティジ
ット線対より流れる。次いで、メモリセルAのフリップ
フロップを構成するトランジスタ3,4のベース電位と
セル参照電圧Vyal i 、Vvef2とが比較され
、メモリセルの記憶情報に応じたデータ出力信号が読出
される。このとき、ディジット線電流源5も読出し電流
R1゜2と同様にY県人力信号V、NA 、  V、、
 Bにより切り換えられ、I・ランジスタロと7および
抵抗8よりなるクランプ回路9の接続点10のベース電
位vYAは、メモリセルAのトランジスタ3.4の両ペ
ース電位よりも低くなり、上記読出し動作に関係しない
次に、メモリセルAからBに選択状態を移行させるには
、Y県人力信号V1. BをV、、4Aより高くして読
出し電流はI、Aと燥A′の代りにIえBと1.8’、
およびティグ・ント線電流はIYAの代りにIYBが流
れるようにすれぼよい。この遷移時において、クランプ
回路の動作は、 (1)メモリセルA系のディジット線対の読出し電流が
減少し始めた[14F点で直ちにメモリ七)υA系のデ
ィジット線11.12の゛電位を非選択電位にするため
に、クランプ回路のベース電位vYAは急速にメモリセ
ルAのトランジスタ3,4のベース電位より高くなるこ
と、 (2)メモリセルB系のティジット線13゜14の電位
が選択電位に低下するとき、ディジット線電位がB系の
クランプ回路のベース電位V、Bで決まるようにするこ
と、 の2条件がメモリセルの動作を安定にする上から要求さ
れる。
換−Jすれば、読出し電流か遷移状態にあるとさ・、メ
モリセルA、Bの各クランプ電圧V、A。
vYBが非選択状態、すなわち高電位にあるならば、各
ディジット線群に個別に読出し′電流源を設けた従来の
回路と同様な回路動作が行なわれ、読出し゛屯流広ミを
集中させたことによるメモリセルの動作裕度の減少、す
なわちメモリセルの記憶情報か消失する等のおそれはな
い。
・般に用いられている読出し電流集中回路方式の場合、
上記(1)(2)の要求のうち、曲名は容易に満たし得
るが、後渚はタイミング設定が難かしく、メモリセルB
が選択状態に向かうとき、vYBか急速に選択電位にな
り、ディジット線電位かメモリセルBのトランジスタ1
5,16のベース1L位により決まるようになる。この
ため、メモリセルBのフリップフロップを構成するトラ
ンジスタ15.16より読出し電流ツク流れ、フリップ
フロ・ンプ動作を保つのに必要なベース間電位差がすく
ナリ、メモリセルBの安定動作を保ち得なくなる。
本発明においてはこれを防止するため、第1図に鎖線で
71<シたようにトランジスタ17を設けてY系人力に
対し参照電圧vBBをしきい値電圧としてデ・fジット
線に加え、1iij、4クランプ回路の条件(1)(2
)を容易に満たし得るようにしたものである。この参照
電圧vBEを第2図に示すように、Y系人力VXNA 
、  V、、 Bが切り換わる交点Hより高電位側に設
定することにより、クランプ市圧V、Aは従来は実線の
ように動作していたものが、Y県人力信号V、、 Aと
参照電圧vBBとの交点Pより決められて破線で示すよ
うに立下りを早められ、クランプ電圧V、Bは従来は実
線のように動作していたものがV、、4Bとv9.の交
点Qより決められて鎖線のように遅く動作するようにな
り、V、AとV、Bが共にある期間高電位になる。この
ように、交点P、!:Qの位相差を利用して前記読出し
電流が遷移状jEにあるとき、メモリセルの安定動作に
必要な、クランプ電圧VイA、VYBがともに高゛屯位
(非選択電位)になるようにすることが容易となる。
次に、本発明の第2の実施例を第3図について説明する
。本実施例は、前記クランプ回路の2つの条件(1)(
2)のうち特に(2)を満足させるものであり、このた
め同図に示すようにディジット線駆動回路に、例えばA
系について説明すれば、I・ラノジスタ18と電流源1
9とを新たに設け、クランプ回路のベースの共通接続点
10の電位VYAの立トリ蒔間を電流源19の電流値に
よって決まるようにし、ディジット線11.12の電位
変化かベース接続点10の電位vYAで決まることを容
易にしたものである。
この場合、第4図に示す動作波形において、Y耐入力信
号V、NA 、  V、NBが図示のように変化した場
合、メモリセルAのクランプ回路のベース共通接続点1
0の電位vYAは従来は実線のように変化したのに対し
、本実施例においては立下り速度か遅くなって破線のよ
うになり、電流@j19の電流値によりVYAの立下り
時間をメモリ動作上問題のない値に決めることがきる。
なおトランジスタ18はエミンタフォロワとして動作す
るため、このl・ランジスタ18を付加したことによる
vYAの)′/“」、り時間の増大は0.5nsec以
下であり、なんら動作速度が遅くなる等の問題はない。
【図面の簡単な説明】
第1図およびお第2図は本発明の第1の実施例を示す回
路図およびタイムチャー1・、第3図および第4図は同
じく本発明の第2の実施例を示す回路図および、タイム
チャートである。 A、B・・・メモリセル、6,7,17.1’8・・・
トランジスタ、11,12,13.14・・・ディジッ
ト 線。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体メモリ装置において、各それぞれメモリセルごと
    に設けたメモリセル選択用の第1.第2のティジット線
    と、上記第1.第2のディジット線の1L位を制御する
    第1.第2のトランジスタと、上記第1および第2のト
    ランジスタの両ベース゛1に位を制御する第3のトラン
    ジスタとを具備し、上記メモリセルの非選択→選択に際
    し上記第3のトランジスタのベース電位の遷移時間を長
    くするようにし、あるいは上記第3のトランジスタのベ
    ース電位にしきい値を設け、上記制御用トランジスタの
    ベース電位が上記しきい値に達したとき、上記第1.第
    2のトランジスタの共通ベース電位が遷移しはじめ、か
    つ非選択→選択となるメモリセルのL記制御用トランジ
    スタのベース電位か一]−記しきい値に達したとき、上
    記共通ベース電イ1°tが丑移しはじめることを特徴と
    する半導体メモリ。
JP59033813A 1984-02-24 1984-02-24 半導体メモリ Granted JPS59160887A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59033813A JPS59160887A (ja) 1984-02-24 1984-02-24 半導体メモリ

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JP59033813A JPS59160887A (ja) 1984-02-24 1984-02-24 半導体メモリ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59160887A true JPS59160887A (ja) 1984-09-11
JPH0250554B2 JPH0250554B2 (ja) 1990-11-02

Family

ID=12396914

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JP59033813A Granted JPS59160887A (ja) 1984-02-24 1984-02-24 半導体メモリ

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JP (1) JPS59160887A (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55101186A (en) * 1979-01-29 1980-08-01 Fairchild Camera Instr Co Memory ordering

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55101186A (en) * 1979-01-29 1980-08-01 Fairchild Camera Instr Co Memory ordering

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JPH0250554B2 (ja) 1990-11-02

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