JPS5916352A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPS5916352A JPS5916352A JP57125001A JP12500182A JPS5916352A JP S5916352 A JPS5916352 A JP S5916352A JP 57125001 A JP57125001 A JP 57125001A JP 12500182 A JP12500182 A JP 12500182A JP S5916352 A JPS5916352 A JP S5916352A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- alloy
- lead part
- thermal expansion
- coefficient
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の技術分野)
本発明はリード部に低N5−pg金合金使用した半導体
装置に関する。
装置に関する。
特に各種I O、L S Iなどのリードフレーム材に
考察を加え、これらに新規な材料を使用した半導体装置
に関する。
考察を加え、これらに新規な材料を使用した半導体装置
に関する。
(発明の技術的背景とその問題点)
各種の半導体装置の発展はおどろくべき進歩ですすんで
いる。
いる。
その中核となるIC,LSIなとのリードフレーム材と
しては従来42アロイと呼ばれるニッケル42%−F
、合金がその主流であった。これは42アロイは熱膨張
係数が小さくシリコンあるいは封止部にカラスを使う場
合のガラスと、熱膨張係数が近似していることが最大の
理由であるが、このことに加えて機械的強度、メッキ性
、ハンダ性も優れているからである。しかし、現在にお
いてはシリコンとの熱膨張係数の相違による障害は接合
技術の進歩により解消されつつあり、また封止も大量が
プラスチックモールドに変っていることから熱膨張係数
が小さいことはそれほど大きな要因ではなくなっている
。
しては従来42アロイと呼ばれるニッケル42%−F
、合金がその主流であった。これは42アロイは熱膨張
係数が小さくシリコンあるいは封止部にカラスを使う場
合のガラスと、熱膨張係数が近似していることが最大の
理由であるが、このことに加えて機械的強度、メッキ性
、ハンダ性も優れているからである。しかし、現在にお
いてはシリコンとの熱膨張係数の相違による障害は接合
技術の進歩により解消されつつあり、また封止も大量が
プラスチックモールドに変っていることから熱膨張係数
が小さいことはそれほど大きな要因ではなくなっている
。
しかし、それでもなお高価な42アロイがかなりの需要
を有している理由は、機械的強度メッキ性、ハンダ性な
どで総合的に優れていると考えられているからである。
を有している理由は、機械的強度メッキ性、ハンダ性な
どで総合的に優れていると考えられているからである。
例えば銅はハンダ性はよいが機械的強度が弱く、ステン
レスは機械的強度は大きいがメッキ性が悪いからである
。しかし、なから、42アロイの場合、モールドしたプ
ラスチック部分に微少なりラックが生ずることもある。
レスは機械的強度は大きいがメッキ性が悪いからである
。しかし、なから、42アロイの場合、モールドしたプ
ラスチック部分に微少なりラックが生ずることもある。
肴排す千古る。
したがって、機械的強度等を損ねないでモールド部のク
ラックを有しない半導体装置が要望されている。
ラックを有しない半導体装置が要望されている。
(発明の目的)
本発明はこうした状況をあらためて見直して、従来の難
点を解消するために低NL−F、合金をリード部に用い
ること番こより安価で信頼性の高い半導体装置を供給す
ることを目的とする。
点を解消するために低NL−F、合金をリード部に用い
ること番こより安価で信頼性の高い半導体装置を供給す
ることを目的とする。
(発明の概要)
本発明リード部に従来使用されていなかつたNL5%〜
40%、好ましくは20〜36%、さらに好ましくはN
i 28%〜34%、残部peより実質的になる合金を
適用した半導体装置である。この半導体装置は、リード
部の機械的強度等の特性を損ねないで、IJ−ド部の熱
膨張係数を大きくしモールド部でのクラックの発生を防
止するものである。
40%、好ましくは20〜36%、さらに好ましくはN
i 28%〜34%、残部peより実質的になる合金を
適用した半導体装置である。この半導体装置は、リード
部の機械的強度等の特性を損ねないで、IJ−ド部の熱
膨張係数を大きくしモールド部でのクラックの発生を防
止するものである。
リード部合金のNLが5%未満では耐食性が悪く40%
以上では本発明のもう一つの主旨であるNi低減の目的
に合致しない。Niの好ましい範囲はNi 20〜36
%、特に好ましくはN928%〜34%である。
以上では本発明のもう一つの主旨であるNi低減の目的
に合致しない。Niの好ましい範囲はNi 20〜36
%、特に好ましくはN928%〜34%である。
熱膨張係数は金属に比べはるかに高いプラスチックに無
理がかからないように8X10 ’/℃以上がよい。
理がかからないように8X10 ’/℃以上がよい。
またこのリード部合金の耐食性と強度を増すために上記
条件をはずれない範囲でCa +M o 、 W 、
N b 、 A 1. T i 、 S iを5%以下
添加することは有効である。
条件をはずれない範囲でCa +M o 、 W 、
N b 、 A 1. T i 、 S iを5%以下
添加することは有効である。
(発明の実施例)
代表的組成である31%N i −F を合金lこつい
て比較材と同様に16ピンのリードフレームに加工し、
ICを組立てた後各種特性を比較した。その結果を表1
に示す。
て比較材と同様に16ピンのリードフレームに加工し、
ICを組立てた後各種特性を比較した。その結果を表1
に示す。
表1
このように本発明のものは熱膨張係数が大きくプラスチ
ックモールド時の障害はなかった。
ックモールド時の障害はなかった。
又、熱膨張係数を除いては31%Ni −p eは42
アロイにほぼ同等の性質を有する。
アロイにほぼ同等の性質を有する。
(発明の効果)
本発明半導体装置は従来の考え方にとられれず、実使用
特性に注目して低N L −F e合金でリード部を構
成することにより、従来の難点を解消するとともに貴重
な資源であるNtを相当量低減できる点でも工業的価値
は高い。
特性に注目して低N L −F e合金でリード部を構
成することにより、従来の難点を解消するとともに貴重
な資源であるNtを相当量低減できる点でも工業的価値
は高い。
Claims (3)
- (1) 実質的にニッケル5〜40重量%、残部鉄から
なる合金でリード部を構成してなる半導体装置。 - (2) ニッケルが20〜360〜36重量特許請求
の範囲第1項に記載の半導体装置。 - (3)ニッケルが28%〜34重量%である特許請求の
範囲第2項に記載の半導体装置。 !4130℃から300℃までの熱膨張係数が、8X1
0 ’/’C以上である特許請求の範囲第1項から第
3項のいすR2記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57125001A JPS5916352A (ja) | 1982-07-20 | 1982-07-20 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57125001A JPS5916352A (ja) | 1982-07-20 | 1982-07-20 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5916352A true JPS5916352A (ja) | 1984-01-27 |
Family
ID=14899420
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57125001A Pending JPS5916352A (ja) | 1982-07-20 | 1982-07-20 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5916352A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6235548A (ja) * | 1985-08-08 | 1987-02-16 | Sumitomo Electric Ind Ltd | リ−ドフレ−ム |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5210818A (en) * | 1976-07-16 | 1977-01-27 | Nisshin Steel Co Ltd | High ni-fe alloy of good productivity |
| JPS565948A (en) * | 1979-06-27 | 1981-01-22 | Sumitomo Special Metals Co Ltd | Fe-ni alloy with superior stress corrosion crack resistance |
| JPS5644749A (en) * | 1979-09-21 | 1981-04-24 | Kawasaki Steel Corp | Fe-ni invar alloy of low thermal expansion having excellent resistance to weld high temperature crack |
-
1982
- 1982-07-20 JP JP57125001A patent/JPS5916352A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5210818A (en) * | 1976-07-16 | 1977-01-27 | Nisshin Steel Co Ltd | High ni-fe alloy of good productivity |
| JPS565948A (en) * | 1979-06-27 | 1981-01-22 | Sumitomo Special Metals Co Ltd | Fe-ni alloy with superior stress corrosion crack resistance |
| JPS5644749A (en) * | 1979-09-21 | 1981-04-24 | Kawasaki Steel Corp | Fe-ni invar alloy of low thermal expansion having excellent resistance to weld high temperature crack |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6235548A (ja) * | 1985-08-08 | 1987-02-16 | Sumitomo Electric Ind Ltd | リ−ドフレ−ム |
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