JPS59200907A - 光学式外寸測定方法 - Google Patents
光学式外寸測定方法Info
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- JPS59200907A JPS59200907A JP7599283A JP7599283A JPS59200907A JP S59200907 A JPS59200907 A JP S59200907A JP 7599283 A JP7599283 A JP 7599283A JP 7599283 A JP7599283 A JP 7599283A JP S59200907 A JPS59200907 A JP S59200907A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- parallel
- measurement
- photosensitive
- ccds
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- Granted
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 28
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 5
- 238000001444 catalytic combustion detection Methods 0.000 abstract description 19
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 abstract 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 abstract 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 241000276457 Gadidae Species 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/08—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、受光素子に照射する光束中に被測定物を配
置させ、被測定物の光束遮蔽量によって被測定物の寸法
を測定する光学式外寸測定方法に関する。
置させ、被測定物の光束遮蔽量によって被測定物の寸法
を測定する光学式外寸測定方法に関する。
光学式外寸測定方法には、通常、平行光束を受光する受
光部の受光素子として電荷結合素子(以下、CODとい
う。)が用いられ、このCODの感光領域が被測定物測
定範囲となる。したがって、従来、この感光領域を越え
る被測定物の外寸を測定する場合には、第1図に示すよ
うに直線状の感光領域1a、2aを延長する方向に同一
のCCD1,2を直線的に配置して測定していた。とこ
ろが第2図に示すようにCCD1.2のそれぞれの感光
領域1a、 2aの長さρ1は、CCDのパッケージ
の全長p2よりも短いため、CCDI。
光部の受光素子として電荷結合素子(以下、CODとい
う。)が用いられ、このCODの感光領域が被測定物測
定範囲となる。したがって、従来、この感光領域を越え
る被測定物の外寸を測定する場合には、第1図に示すよ
うに直線状の感光領域1a、2aを延長する方向に同一
のCCD1,2を直線的に配置して測定していた。とこ
ろが第2図に示すようにCCD1.2のそれぞれの感光
領域1a、 2aの長さρ1は、CCDのパッケージ
の全長p2よりも短いため、CCDI。
2の互いの端面を接触させて接合させても平行光束φを
感知できない不感領域1b、2bが存在する。第1図に
示すように大径の被測定物3が不感領域1b、2bを覆
うように配置されたときは、平行光束φを不感領域1b
、2bで感知する゛必要が生じないため大径の被測定物
3の外径は演算処理によって測定可能であるが、第3図
の一点鎖線で示すような小径の被測定物3aが不感領域
1b、2b中に配置されたときは測定不能となる。
感知できない不感領域1b、2bが存在する。第1図に
示すように大径の被測定物3が不感領域1b、2bを覆
うように配置されたときは、平行光束φを不感領域1b
、2bで感知する゛必要が生じないため大径の被測定物
3の外径は演算処理によって測定可能であるが、第3図
の一点鎖線で示すような小径の被測定物3aが不感領域
1b、2b中に配置されたときは測定不能となる。
このときは一点鎖線で示す被測定物3aをCCD1.2
のいずれか一方の感光領域に移動してやらなければなら
ず、第3図ではCGDIの感光領域laの範囲内である
位置に実線で示す被測定物3aのように移動して配置し
、CCD 1のみの測定5. 方式にレンジを切換えて
測定していた。
のいずれか一方の感光領域に移動してやらなければなら
ず、第3図ではCGDIの感光領域laの範囲内である
位置に実線で示す被測定物3aのように移動して配置し
、CCD 1のみの測定5. 方式にレンジを切換えて
測定していた。
しかしながら以上のように複数のCODの互いの端面を
単に接合させて感光領域を延長させた従来の測定方法で
は、不感領域が存在するため、被測定物(ケーブル、ポ
ース等)が振動を伴って押し出されてくる状態から被測
定物を配置する場合には被測定物の測定端縁が不感領域
に位置するおそれがあったり、小径の被測定物は両方の
CCDを使用する測定レンジで測定できない不都合があ
った。
単に接合させて感光領域を延長させた従来の測定方法で
は、不感領域が存在するため、被測定物(ケーブル、ポ
ース等)が振動を伴って押し出されてくる状態から被測
定物を配置する場合には被測定物の測定端縁が不感領域
に位置するおそれがあったり、小径の被測定物は両方の
CCDを使用する測定レンジで測定できない不都合があ
った。
この発明は上記の欠点に鑑みなされたもので、被測定物
の測定長さ方向に連続した感光領域を構成して、その範
囲内であれば小径の被測定物から大径の被測定物まで配
置位置を移動することなく直接測定できるようにした光
学式外寸測定方法の提供を目的とする。
の測定長さ方向に連続した感光領域を構成して、その範
囲内であれば小径の被測定物から大径の被測定物まで配
置位置を移動することなく直接測定できるようにした光
学式外寸測定方法の提供を目的とする。
この発明は要約すれば、複数の電荷結合素子をそれぞれ
の直線状感光領域が被測定物の測定長さ方向に連続する
ようにずらせた位置に配置し、平行光束を複数方向から
照射して被測定物の測定点で交差させたことを特徴とす
る。
の直線状感光領域が被測定物の測定長さ方向に連続する
ようにずらせた位置に配置し、平行光束を複数方向から
照射して被測定物の測定点で交差させたことを特徴とす
る。
以下、図面を参照してこの発明の実施例について説明す
る。
る。
第4図はこの発明の光学式外寸測定方法を実施する測定
装置の模式図、第5図はその上面図、第6図はその側面
図を示す。
装置の模式図、第5図はその上面図、第6図はその側面
図を示す。
受光部4は、一平面上の二個所に直線状の感光領域を有
する同一のCCDI、2を、互いに平行配置となるよう
にずらせた位置で底面を固着して構成されている。
する同一のCCDI、2を、互いに平行配置となるよう
にずらせた位置で底面を固着して構成されている。
第6図の側面図から明らかなように、被測定物3の測定
長さ方向には、CCD’lの不感領域1bはCCDの感
光領域2aの一部に、CCD2の不感領域2bはCCD
、 1の感光領域1aの一部によっ°ζカバーできるよ
うに配置されている。すなわち、直線状の二つの感光領
域1a、2aが被測定物3の測定長さ方向に連続するよ
うに、CCDI。
長さ方向には、CCD’lの不感領域1bはCCDの感
光領域2aの一部に、CCD2の不感領域2bはCCD
、 1の感光領域1aの一部によっ°ζカバーできるよ
うに配置されている。すなわち、直線状の二つの感光領
域1a、2aが被測定物3の測定長さ方向に連続するよ
うに、CCDI。
2は配置されている。したがって、CoDl個のときと
比べて略2倍に延長された感光領域は、被測定物3を任
意に配置できる許容範囲であり、測定できる被測定物3
の最大径である。
比べて略2倍に延長された感光領域は、被測定物3を任
意に配置できる許容範囲であり、測定できる被測定物3
の最大径である。
この実施例では二つの光路系を有しており、CCDI、
’2のそれぞれの感光領域1a、2aに向けて照射され
る平行光束φ1.φ2は、第5図。
’2のそれぞれの感光領域1a、2aに向けて照射され
る平行光束φ1.φ2は、第5図。
第6図の上面図および側面図で示すように、被測定物3
の測定長さの投影方向から見た場合互いに平行となり、
且つ、被測定物3の測定点でθの角度(0°〈θ〈18
0°)を有して交差するように設定されている。
の測定長さの投影方向から見た場合互いに平行となり、
且つ、被測定物3の測定点でθの角度(0°〈θ〈18
0°)を有して交差するように設定されている。
以上のようにして構成された装置において、第4図で示
すような円柱形状の被測定物3が配置された場合、第5
図に示すように平行光束φl、φ2の測定長さ方向の感
光領域の長さをρ3とすれ−ば、CCDI、2に計測さ
れる受光長さはU4゜交5となり、結局被測定物3の直
径りは、L=93−94−、Q5 として求められる。そして、被測定物3はCoDl個の
単独の場合と比べて略2倍の大きさまで測定できるとと
もに、第1図で示した従来の測定方法と異なって不感領
域がカバーされているので、被測定物3は測定長さ方向
に連続する両感光領域1a、2aの範囲内であればどこ
でも任意に配置して測定できる。また、従来の測定方法
では、不感領域1b、2bが大径の被測定物3の測定長
さの一部として演算処理されるようにセットしであるの
で、第3図に示したように小径の被測定物3aを測定す
るときは測定器のレンジを切換えてCCD1のみを応当
させて測定する必要があったが、この装置では小径の被
測定物3aでも不感領域がないため同一レンジで直接測
定できる。しかも、この装置では測定点でθの角度を有
して交差゛する二基の平行光束φl、φ2を用いている
ため、被測定物が測定長さ方向に頭いてもその光束の交
差する部分の測定長さの変動は少ないため、測定誤差を
減少させることができる。
すような円柱形状の被測定物3が配置された場合、第5
図に示すように平行光束φl、φ2の測定長さ方向の感
光領域の長さをρ3とすれ−ば、CCDI、2に計測さ
れる受光長さはU4゜交5となり、結局被測定物3の直
径りは、L=93−94−、Q5 として求められる。そして、被測定物3はCoDl個の
単独の場合と比べて略2倍の大きさまで測定できるとと
もに、第1図で示した従来の測定方法と異なって不感領
域がカバーされているので、被測定物3は測定長さ方向
に連続する両感光領域1a、2aの範囲内であればどこ
でも任意に配置して測定できる。また、従来の測定方法
では、不感領域1b、2bが大径の被測定物3の測定長
さの一部として演算処理されるようにセットしであるの
で、第3図に示したように小径の被測定物3aを測定す
るときは測定器のレンジを切換えてCCD1のみを応当
させて測定する必要があったが、この装置では小径の被
測定物3aでも不感領域がないため同一レンジで直接測
定できる。しかも、この装置では測定点でθの角度を有
して交差゛する二基の平行光束φl、φ2を用いている
ため、被測定物が測定長さ方向に頭いてもその光束の交
差する部分の測定長さの変動は少ないため、測定誤差を
減少させることができる。
なお、以上の装置では受光部4に配置する2個のCCD
I、2を一平面上に配置したが、CCD1.2の受光感
度を向上さセるため、第7図に示すように平行光束ψl
、φ2を垂直に受光する角度にi”Aけても良い。また
、測定点で交差する平行光束を二方向から2個のCCD
に向けて照射したが、CODを増設して第8図、第9図
に示すように3方向から測定点で交差する平行光束を照
射してやれば、被測定物の傾きや捩れに起因する測定誤
差をより一層減少させることができる。すなわち第8図
に示すように3個のC0DIO〜12を交互にずらせた
状態で平行配置し、まずCCD 10.11の受光長さ
を測定してその平均値を求め゛、次にその平均値とCC
D12の受光長さとから被測定物3の外寸を測定するよ
うにすれば、上記平均値がCCD12に連続する仮想C
CD13によって測定した受光長さに略等しくなるため
、被測定物3が傾いているときには2個のCCDl0.
12または11.12によって測定するよりも外寸測定
精度はさらに向上する。
I、2を一平面上に配置したが、CCD1.2の受光感
度を向上さセるため、第7図に示すように平行光束ψl
、φ2を垂直に受光する角度にi”Aけても良い。また
、測定点で交差する平行光束を二方向から2個のCCD
に向けて照射したが、CODを増設して第8図、第9図
に示すように3方向から測定点で交差する平行光束を照
射してやれば、被測定物の傾きや捩れに起因する測定誤
差をより一層減少させることができる。すなわち第8図
に示すように3個のC0DIO〜12を交互にずらせた
状態で平行配置し、まずCCD 10.11の受光長さ
を測定してその平均値を求め゛、次にその平均値とCC
D12の受光長さとから被測定物3の外寸を測定するよ
うにすれば、上記平均値がCCD12に連続する仮想C
CD13によって測定した受光長さに略等しくなるため
、被測定物3が傾いているときには2個のCCDl0.
12または11.12によって測定するよりも外寸測定
精度はさらに向上する。
以上のようにこの発明によれば、複数のCODをそれぞ
れの直線状の感光領域が被測定物の測定長さ方向に連続
するようずらせた位置に配置し、平行光束を複数方向か
ら照射して被測定物の測定点で交差させたので、連続し
た感光領域内であれば小径の被測定物から大径の被測定
物まで配置位置を移動することなく同一の測定レンジで
直接測定できるため、絶対値比較は一目瞭然となるとと
もに測定器本体の演算回路を大幅に簡略化できる利点を
有する。また平行光束を被測定物の測定点で交差させた
状態で測定するようにしたため、被測定物が傾いていて
もあるいは捩れていても測定誤差を小さくすることがで
きる。
れの直線状の感光領域が被測定物の測定長さ方向に連続
するようずらせた位置に配置し、平行光束を複数方向か
ら照射して被測定物の測定点で交差させたので、連続し
た感光領域内であれば小径の被測定物から大径の被測定
物まで配置位置を移動することなく同一の測定レンジで
直接測定できるため、絶対値比較は一目瞭然となるとと
もに測定器本体の演算回路を大幅に簡略化できる利点を
有する。また平行光束を被測定物の測定点で交差させた
状態で測定するようにしたため、被測定物が傾いていて
もあるいは捩れていても測定誤差を小さくすることがで
きる。
第1図、第3図はそれぞれ従来の光学式外寸測定方法を
説明する図、第2図はCCDの上面図を示す。第4図は
この発明の測定方法を実施した装置の概略斜視図、第5
図はその上面図、第6図はその側面図を示す。第7図は
受光感度を向上するためのCCDの配置例を示す図であ
る。また第8図、第9図は測定精度を向上するためのC
CDの配置例を示し、第8図は正面配置図、第9図は上
面配置図である。 1.2−CCD(電荷結合素子)、 la、2a−感光領域、lb、2b−不感領域、3.3
a−被測定物、4〜受素子、 ψ、φl、ψ2−平行光束。 出願人 リード電機株式会社 代理人 弁理士 小森久夫 杭1図 ′3 煩21χ1 ゛−121
説明する図、第2図はCCDの上面図を示す。第4図は
この発明の測定方法を実施した装置の概略斜視図、第5
図はその上面図、第6図はその側面図を示す。第7図は
受光感度を向上するためのCCDの配置例を示す図であ
る。また第8図、第9図は測定精度を向上するためのC
CDの配置例を示し、第8図は正面配置図、第9図は上
面配置図である。 1.2−CCD(電荷結合素子)、 la、2a−感光領域、lb、2b−不感領域、3.3
a−被測定物、4〜受素子、 ψ、φl、ψ2−平行光束。 出願人 リード電機株式会社 代理人 弁理士 小森久夫 杭1図 ′3 煩21χ1 ゛−121
Claims (2)
- (1)直線状の感光領域を有する複数の電荷結合素子を
併設した受光部の前方に被測定物を配置した状態で、そ
の前方から被測定物に対して平行光束を照射して前記複
数の電荷結合素子の受光長さから被測定物の寸法を測定
する光学式外寸測定方法において、前記複数の電荷結合
素子をそれぞれの直線状の感光領域が被測定物の測定長
さ方向に連続するようにずらせた位置に配置し、前記平
行光束を複数方向から照射して前記被測定物の測定点で
交差させたことを特徴とする光学式外寸測定方法。 - (2)前記複数の電荷結合素子を、複数方向から照射さ
れる前記平行光束を垂直に受光する角度に領番ノた特許
請求の範囲第1項記載の光学式外寸測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7599283A JPS59200907A (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | 光学式外寸測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7599283A JPS59200907A (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | 光学式外寸測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59200907A true JPS59200907A (ja) | 1984-11-14 |
| JPH0160765B2 JPH0160765B2 (ja) | 1989-12-25 |
Family
ID=13592275
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7599283A Granted JPS59200907A (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | 光学式外寸測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59200907A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH027507U (ja) * | 1988-06-28 | 1990-01-18 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5302936B2 (ja) * | 2010-06-30 | 2013-10-02 | ユニオンツール株式会社 | 測定装置 |
-
1983
- 1983-04-28 JP JP7599283A patent/JPS59200907A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH027507U (ja) * | 1988-06-28 | 1990-01-18 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0160765B2 (ja) | 1989-12-25 |
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