JPS59201432A - 半導体装置及びその製造方法 - Google Patents
半導体装置及びその製造方法Info
- Publication number
- JPS59201432A JPS59201432A JP58076533A JP7653383A JPS59201432A JP S59201432 A JPS59201432 A JP S59201432A JP 58076533 A JP58076533 A JP 58076533A JP 7653383 A JP7653383 A JP 7653383A JP S59201432 A JPS59201432 A JP S59201432A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- adhesive
- pellet
- stage
- bonding agent
- semiconductor chip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/01—Manufacture or treatment
- H10W72/013—Manufacture or treatment of die-attach connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/01—Manufacture or treatment
- H10W72/011—Apparatus therefor
- H10W72/0113—Apparatus for manufacturing die-attach connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/073—Connecting or disconnecting of die-attach connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/073—Connecting or disconnecting of die-attach connectors
- H10W72/07331—Connecting techniques
- H10W72/07337—Connecting techniques using a polymer adhesive, e.g. an adhesive based on silicone or epoxy
-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W72/30—Die-attach connectors
- H10W72/351—Materials of die-attach connectors
- H10W72/353—Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics
- H10W72/354—Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics comprising polymers
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(a)発明の技術分野
本発明はセラミック基板又はリードフレーム等のダイス
テージに半導体チップを接着固定するダイボンデング方
法に関する7 (b)技術の背景 通常ダイボンデにより半導体テップを固定するには導電
性金属例えi−金(Au)、銀(Ag)・銅(Cu)
等の金卿微粉末勿バインダー溶解したものが用いられ
る。バインダー材は使用法によりエポキシ系又はポリイ
ミド系等の樹脂が一般的に用いられ、有機溶剤(醋酸ブ
チル、f’)ガール等)に溶解させる。接着剤は高い粘
性があり、塗布方法として接着剤を充填したシリンジ容
器内を圧気供給調節機((接続して、圧気により一定量
の接着剤を吐出させるディスペンス方式が一般的で主流
をなしている1、 (c)従来技術と問題点 第1図はディスペンス方式のダイポンチング装置を示す
構成図、第2図+d l)−ドフレームのダイステージ
上に接着剤を塗布した縦来例を示す平面図、第3図id
l)−上フレーム上に半導体チップを接着固定した従
来例を示す断面図である。図において接着剤2を充填し
たンリンジ容器3をパイプ4を介して圧気供給調節機5
に接続し、一定圧のエアをシリンジ容器3内に送圧して
接着剤2の液面を加圧し、一定圧の溶液をシリンジ容器
2の先端に取1寸け、化ノスル6より吐出させるタ゛イ
ボンテング装置1でるって、第2図に示すリード7レー
l、7・乞)ダイステージ8上に吐出させるものである
グイステージ8上の接着剤2は高粘性のため図のよう;
・、二もり上る。この接着溶液上(・て半導体チップ9
を加圧しフクラプしてS液を十坦化きぜ、第3図に示す
よう11ζ均一な膜厚となるよう半固定し、常温1便化
又1d加熱俊化eてより固定する し刀・しこの方法は
接着剤2の膜厚?均一化し、また吐出量のコン;・ロー
ルが容易でなく、接着域から溶液がはみ出したり、半導
体チップ9の側面まて付′着することがある。一般に用
いられるエポキシ系接着剤は冷凍久存し、使用時常温に
戻して使用するためこれに伴う設備及び保管管理が必要
である。
テージに半導体チップを接着固定するダイボンデング方
法に関する7 (b)技術の背景 通常ダイボンデにより半導体テップを固定するには導電
性金属例えi−金(Au)、銀(Ag)・銅(Cu)
等の金卿微粉末勿バインダー溶解したものが用いられ
る。バインダー材は使用法によりエポキシ系又はポリイ
ミド系等の樹脂が一般的に用いられ、有機溶剤(醋酸ブ
チル、f’)ガール等)に溶解させる。接着剤は高い粘
性があり、塗布方法として接着剤を充填したシリンジ容
器内を圧気供給調節機((接続して、圧気により一定量
の接着剤を吐出させるディスペンス方式が一般的で主流
をなしている1、 (c)従来技術と問題点 第1図はディスペンス方式のダイポンチング装置を示す
構成図、第2図+d l)−ドフレームのダイステージ
上に接着剤を塗布した縦来例を示す平面図、第3図id
l)−上フレーム上に半導体チップを接着固定した従
来例を示す断面図である。図において接着剤2を充填し
たンリンジ容器3をパイプ4を介して圧気供給調節機5
に接続し、一定圧のエアをシリンジ容器3内に送圧して
接着剤2の液面を加圧し、一定圧の溶液をシリンジ容器
2の先端に取1寸け、化ノスル6より吐出させるタ゛イ
ボンテング装置1でるって、第2図に示すリード7レー
l、7・乞)ダイステージ8上に吐出させるものである
グイステージ8上の接着剤2は高粘性のため図のよう;
・、二もり上る。この接着溶液上(・て半導体チップ9
を加圧しフクラプしてS液を十坦化きぜ、第3図に示す
よう11ζ均一な膜厚となるよう半固定し、常温1便化
又1d加熱俊化eてより固定する し刀・しこの方法は
接着剤2の膜厚?均一化し、また吐出量のコン;・ロー
ルが容易でなく、接着域から溶液がはみ出したり、半導
体チップ9の側面まて付′着することがある。一般に用
いられるエポキシ系接着剤は冷凍久存し、使用時常温に
戻して使用するためこれに伴う設備及び保管管理が必要
である。
(d)発明の目的
不発8Elは上記の点に鑑み、仮硬化によりべVット状
lこ形成する接着剤を用いて接着固定する固定手段?提
供し、ダイポツプフグ処理の効率化を計ることを目的と
する。。
lこ形成する接着剤を用いて接着固定する固定手段?提
供し、ダイポツプフグ処理の効率化を計ることを目的と
する。。
(e) 発明の構成
上記目的は本発明によれは半導体チンプマウント用接着
剤を仮硬化してペレット状どし、該ペレット状の接着剤
をステージ上に配置し、該接着剤上に半導体チップを載
置して加圧すると共に、該接着剤を本硬化させて該ステ
ージに接着固定することによって達せられる。
剤を仮硬化してペレット状どし、該ペレット状の接着剤
をステージ上に配置し、該接着剤上に半導体チップを載
置して加圧すると共に、該接着剤を本硬化させて該ステ
ージに接着固定することによって達せられる。
+f> 発明の実施例
以下本発明の実施例を図面により詳述する。第4図は本
発明の一実施例であるペレット状に形成する接着剤を示
す斜視図、第5図はチップ毎に分離して形成されるペレ
ットを示す平面図、第6図はペレット状の接着剤をダイ
ステージ上に配した平面図である。粘性のるる導電性接
着剤の溶液を上面が開口する容器内に充填し、仮硬化さ
せて固形化し、ベレン)11状に個々に切断分離する。
発明の一実施例であるペレット状に形成する接着剤を示
す斜視図、第5図はチップ毎に分離して形成されるペレ
ットを示す平面図、第6図はペレット状の接着剤をダイ
ステージ上に配した平面図である。粘性のるる導電性接
着剤の溶液を上面が開口する容器内に充填し、仮硬化さ
せて固形化し、ベレン)11状に個々に切断分離する。
導電性接着剤の組成は生成分(約80チ)をなす導電性
金属微粉末をバインダー材に溶解して得られる。バイン
ダー材としてエポキシ、ポリイミド及び変性ポリイミド
があり、溶剤として醋酸ブチル、トリオール等を用いこ
れ等を組合せて使用条件に合せて構成することにより常
温硬化、又は加熱硬化する接着溶剤が倚られる。加熱硬
化する接着溶剤のうち、高温硬化性の組成を選び例えは
ポリイミド系は300’〜350 ’0 エポキシ系
は150゜〜200 ’0等に添加剤を加え、仮硬化温
度をポリイミド系では150’O前後、エポキシ系では
700前後で固形化しく第4図)更に第5図に示すよう
に切離してペレット11を形成する。この寸法形状は任
意に求めることができしかも常温保存が可能である。ベ
レy ) 11’7第7図で示すダイステージ12上に
載置し、加熱し本硬化させると共に半導体チップ全加圧
し接着固定するものである。
金属微粉末をバインダー材に溶解して得られる。バイン
ダー材としてエポキシ、ポリイミド及び変性ポリイミド
があり、溶剤として醋酸ブチル、トリオール等を用いこ
れ等を組合せて使用条件に合せて構成することにより常
温硬化、又は加熱硬化する接着溶剤が倚られる。加熱硬
化する接着溶剤のうち、高温硬化性の組成を選び例えは
ポリイミド系は300’〜350 ’0 エポキシ系
は150゜〜200 ’0等に添加剤を加え、仮硬化温
度をポリイミド系では150’O前後、エポキシ系では
700前後で固形化しく第4図)更に第5図に示すよう
に切離してペレット11を形成する。この寸法形状は任
意に求めることができしかも常温保存が可能である。ベ
レy ) 11’7第7図で示すダイステージ12上に
載置し、加熱し本硬化させると共に半導体チップ全加圧
し接着固定するものである。
その具体例を第7図に示す。
第7図は本発明の一実施例であるリードフレーム上に接
着固定する半導体チップを示す断面図である。リードフ
レーム14のステージ12にペレット11を載置し、こ
のペレット11上に半導体チップ13を加圧し、背面よ
りヒートグロック15等で加熱し本硬化させる。しかる
後、半導体チップを封脂蘂で封止する。これにより一定
量に形成されたベレッ)11により均一な膜厚でマウン
トされる。これにより従来のダイポンチング装置による
塗布工程(は不要となり簡素化される。またペレットの
寸法形状は任意に求められるから形状サイズの異なる半
導体チップにも適応でき膜厚コントロールも容易である
。
着固定する半導体チップを示す断面図である。リードフ
レーム14のステージ12にペレット11を載置し、こ
のペレット11上に半導体チップ13を加圧し、背面よ
りヒートグロック15等で加熱し本硬化させる。しかる
後、半導体チップを封脂蘂で封止する。これにより一定
量に形成されたベレッ)11により均一な膜厚でマウン
トされる。これにより従来のダイポンチング装置による
塗布工程(は不要となり簡素化される。またペレットの
寸法形状は任意に求められるから形状サイズの異なる半
導体チップにも適応でき膜厚コントロールも容易である
。
拘、上記の説明ではリードフレームを用いる半導体装置
を例にとって説明したが、これに限らすパッケージ基体
に半導体ナツプを直接固定する場合にも本発明は適用し
うろことはいうまでもない。
を例にとって説明したが、これに限らすパッケージ基体
に半導体ナツプを直接固定する場合にも本発明は適用し
うろことはいうまでもない。
(→)発明の効果
以上詳細に説明したように本発明のペレット状とした接
着剤を用いることにより塗布工程は不要となり簡素化さ
れ、膜厚は均一となり信頼性は向上する等大きな効果が
ある。
着剤を用いることにより塗布工程は不要となり簡素化さ
れ、膜厚は均一となり信頼性は向上する等大きな効果が
ある。
第1図はディスペンス方式のダイボンデング装置を示す
構成図、第2図はリードフレームのグイステージ上に接
着剤を塗布した従来例を示す平面図、第3図はり一ド7
レーム上に半導体チップを接着面5riL、7ζ従来例
を示う断面図、第4図は本発明の一実施例であるベレッ
ト状に形成する接着剤を示す斜視図、第5図はチップ毎
に分離して形成いオしるベレットをポラ一平面図、第6
図t;1、ペレット状の接着剤を・ダイスデージ上VC
配した平面図、第7図は本発明の一実施例でりゐリード
フレーム上に接着固定する半導体チップ缶水す断面図で
ある。 図中1はダイポンチング装置、2は接着剤、3はノリン
ジ各器、4はパイプ、5は圧気供給調節機6idノズル
、7,14はリードフレーム、8,12はダイステージ
、9,13は半導体チップ、11はペレット(接着剤)
、15はヒートブロックを示す。 第1図 第3図 翻(も52
構成図、第2図はリードフレームのグイステージ上に接
着剤を塗布した従来例を示す平面図、第3図はり一ド7
レーム上に半導体チップを接着面5riL、7ζ従来例
を示う断面図、第4図は本発明の一実施例であるベレッ
ト状に形成する接着剤を示す斜視図、第5図はチップ毎
に分離して形成いオしるベレットをポラ一平面図、第6
図t;1、ペレット状の接着剤を・ダイスデージ上VC
配した平面図、第7図は本発明の一実施例でりゐリード
フレーム上に接着固定する半導体チップ缶水す断面図で
ある。 図中1はダイポンチング装置、2は接着剤、3はノリン
ジ各器、4はパイプ、5は圧気供給調節機6idノズル
、7,14はリードフレーム、8,12はダイステージ
、9,13は半導体チップ、11はペレット(接着剤)
、15はヒートブロックを示す。 第1図 第3図 翻(も52
Claims (2)
- (1)半導体チップがステージ上にペレット状のマウン
ト用接着剤によって固定されていることを特徴とする半
導体装置。 - (2)半導体チップマウント用接着剤を仮硬化し7てペ
レット状とし、上記ペレット状の接着剤疋ステージ上に
配催し、該接着剤上に上記半導体チップを載置して加圧
すると共に、該接着剤を本硬化させて該ステージに一接
着固定する工程を含むことを特徴とする半導体装置の製
造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58076533A JPS59201432A (ja) | 1983-04-30 | 1983-04-30 | 半導体装置及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58076533A JPS59201432A (ja) | 1983-04-30 | 1983-04-30 | 半導体装置及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59201432A true JPS59201432A (ja) | 1984-11-15 |
Family
ID=13607910
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58076533A Pending JPS59201432A (ja) | 1983-04-30 | 1983-04-30 | 半導体装置及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59201432A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55130134A (en) * | 1979-03-30 | 1980-10-08 | Hitachi Ltd | Bonding method of semiconductor pellet |
-
1983
- 1983-04-30 JP JP58076533A patent/JPS59201432A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55130134A (en) * | 1979-03-30 | 1980-10-08 | Hitachi Ltd | Bonding method of semiconductor pellet |
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