JPS5922433A - 温度補償用回路 - Google Patents
温度補償用回路Info
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- JPS5922433A JPS5922433A JP57131242A JP13124282A JPS5922433A JP S5922433 A JPS5922433 A JP S5922433A JP 57131242 A JP57131242 A JP 57131242A JP 13124282 A JP13124282 A JP 13124282A JP S5922433 A JPS5922433 A JP S5922433A
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/26—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of bipolar transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/28—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of bipolar transistors with internal or external positive feedback using means other than a transformer for feedback
- H03K3/281—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of bipolar transistors with internal or external positive feedback using means other than a transformer for feedback using at least two transistors so coupled that the input of one is derived from the output of another, e.g. multivibrator
- H03K3/282—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of bipolar transistors with internal or external positive feedback using means other than a transformer for feedback using at least two transistors so coupled that the input of one is derived from the output of another, e.g. multivibrator astable
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- H03K3/2821—Emitters connected to one another by using a capacitor
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC
- G05F1/462—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC as a function of the requirements of the load, e.g. delay, temperature, specific voltage/current characteristic
- G05F1/463—Sources providing an output which depends on temperature
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is DC
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
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- Control Of Electrical Variables (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
し発明の技術分野〕
本発明は、例えばエミッタ結合形弁安定マルチバイブレ
ータ等の、トランジスタ回路の温度ドリフトを補償する
温度補償用バイアス回路に関する。
ータ等の、トランジスタ回路の温度ドリフトを補償する
温度補償用バイアス回路に関する。
し発明の技術的背景とその問題点〕
一般に、トランジスタ回路の動作特性は、周囲温度の変
化に伴ない変動してしまう。従来より、この温度ドリフ
ト(二よる動作特性の変動を防ぐために、何らかの温度
補償手段をトランジスタ回路(mmじることが行われて
いた。例えばエミッタ結合形弁安定マルチバイブレータ
の発振周波数は、温度ドリフトを有する。この温度ドリ
フトを補償するだめには通常、マルチバイブレータの発
振周波数を決定するバイアス電圧自体にも温度ドリフト
をもたせている。すなわち、バイアス回路が設足し、ト
ランジスタ回路に印加されるバイアス電圧に温度依存性
をもたせ、マルチバイブレータ自体の温度ドリフトを相
殺するのである。
化に伴ない変動してしまう。従来より、この温度ドリフ
ト(二よる動作特性の変動を防ぐために、何らかの温度
補償手段をトランジスタ回路(mmじることが行われて
いた。例えばエミッタ結合形弁安定マルチバイブレータ
の発振周波数は、温度ドリフトを有する。この温度ドリ
フトを補償するだめには通常、マルチバイブレータの発
振周波数を決定するバイアス電圧自体にも温度ドリフト
をもたせている。すなわち、バイアス回路が設足し、ト
ランジスタ回路に印加されるバイアス電圧に温度依存性
をもたせ、マルチバイブレータ自体の温度ドリフトを相
殺するのである。
第1図(二従来の温度補償用バイアス回路(60)の回
路構成図を示す。バイアス回路交りは、ダイオードの順
抵抗が温度上昇に伴ない減少することを利用して温度補
償を行うバイアス回路であり、直列回路を構成する抵抗
(14) 、 (+51および順バイアスに接続される
11個のダイオード(51)・・・より成る。直列回路
の一端である抵抗04)には電源電圧VCCが接続され
ており、他端のダイオード(51)は接地されている。
路構成図を示す。バイアス回路交りは、ダイオードの順
抵抗が温度上昇に伴ない減少することを利用して温度補
償を行うバイアス回路であり、直列回路を構成する抵抗
(14) 、 (+51および順バイアスに接続される
11個のダイオード(51)・・・より成る。直列回路
の一端である抵抗04)には電源電圧VCCが接続され
ており、他端のダイオード(51)は接地されている。
また、抵抗θaに印加されている電圧をバイアス電圧V
、として取り出すため、出力端子(社)が抵抗αi、u
s間に設けられている。この出力端子(ロ)は、温度補
償をするべきトランジスタ回路(図示せず)のバイアス
電圧入力端子に接続される。
、として取り出すため、出力端子(社)が抵抗αi、u
s間に設けられている。この出力端子(ロ)は、温度補
償をするべきトランジスタ回路(図示せず)のバイアス
電圧入力端子に接続される。
この従来の温度補正用バイアス回路(6o)が設定する
バイアス電圧V、は次式で与えられる。
バイアス電圧V、は次式で与えられる。
ここで”+41 FLIfi はそれぞれ抵抗(14
) 、 (15+の抵抗値を示し、VDはダイオード(
51)の順方向電圧を示す。
) 、 (15+の抵抗値を示し、VDはダイオード(
51)の順方向電圧を示す。
このとき、バイアス電圧V、の温度Tに対する変化δV
率1ぜは、
と表わされる。
上記第2)式より、バイアス回路(60)により設定さ
れるバイアス電圧V、が温度ドリフトを有することが分
る。
れるバイアス電圧V、が温度ドリフトを有することが分
る。
先にも述べたように、温度に従いバイアス電圧v1を変
化させることにより、このバイアス電圧V。
化させることにより、このバイアス電圧V。
によジ決定されるトランジスタの動作特性の温度ドリフ
トを補償するのであるが、後に詳述するように、温度補
償を適正に行う(二は、バイアス回路(ロ))が接続さ
れるトランジスタ回路に応じて、バある特定の値に一致
させなくてはならない。ずなすることができるものでな
くてはならないのである。
トを補償するのであるが、後に詳述するように、温度補
償を適正に行う(二は、バイアス回路(ロ))が接続さ
れるトランジスタ回路に応じて、バある特定の値に一致
させなくてはならない。ずなすることができるものでな
くてはならないのである。
抗値”+41 ”+5を適当に選んだ後、ダイオード(
51)の個数nを操作することにより設定するのである
が、nは整数値であるだめ、温度係数は連続する値を取
ることができず、離散的な値を取らざるを得ない。この
ため、従来の温度補償用バイアス回路(60)では、バ
イアス電圧V、の有する温度係数を所望の値に一致させ
るのが困難であり、近似する値に設定せざるを得なかっ
た。したがって、完全な温度補償を果すことができず、
バイアス回路(ロ)が接続されるトランジスタ回路の温
度ドリフトを解消するには至らなかった。そのため、温
度補償用バイアス回路Uの接続されたトランジスタ回路
を実際に使用するに当っては、その動作特性がいまだ温
度ドリフトを有しているため、得られる特性を適正なも
のとする補正手段を新たに設けなければならなかった。
51)の個数nを操作することにより設定するのである
が、nは整数値であるだめ、温度係数は連続する値を取
ることができず、離散的な値を取らざるを得ない。この
ため、従来の温度補償用バイアス回路(60)では、バ
イアス電圧V、の有する温度係数を所望の値に一致させ
るのが困難であり、近似する値に設定せざるを得なかっ
た。したがって、完全な温度補償を果すことができず、
バイアス回路(ロ)が接続されるトランジスタ回路の温
度ドリフトを解消するには至らなかった。そのため、温
度補償用バイアス回路Uの接続されたトランジスタ回路
を実際に使用するに当っては、その動作特性がいまだ温
度ドリフトを有しているため、得られる特性を適正なも
のとする補正手段を新たに設けなければならなかった。
これは、回路規模の増大とコスト高を招集するものであ
り、甚だ問題であった。
り、甚だ問題であった。
し発明の目的〕
本発明の目的は、従来の温度補償用バイアス回路では果
すことのできなかった完全な温度補償を行い得る温度補
償用バイアス回路を提供することにある。
すことのできなかった完全な温度補償を行い得る温度補
償用バイアス回路を提供することにある。
し発明の概要〕
本発明は、温度補償のためのダイオードを複数順バイア
ス方向に直列接続したものを、複数並列に接続した構成
の温度補償用バイアス回路である。
ス方向に直列接続したものを、複数並列に接続した構成
の温度補償用バイアス回路である。
し発明の実施例〕
第2図は、本発明の一実施例である温度補償用バイアス
回路量の回路構成図である。温度補償用バイアス回路(
70)は、第1図に示した従来の温度補償用バイアス回
路(60)に抵抗(53)とm個のダイオード(52)
・・・かうなる直列回路を並列に付加した如き構成とな
っている。すなわら、抵抗(15)にn個のダイオード
(51)・・・を直列に接続してなる直列回路と、抵抗
(53)とm個ダイオード(52)・・・を直列に接続
してなる直列回路とを、″電圧が印加された場合に、順
バイアスとなるようにダイオード(51)。
回路量の回路構成図である。温度補償用バイアス回路(
70)は、第1図に示した従来の温度補償用バイアス回
路(60)に抵抗(53)とm個のダイオード(52)
・・・かうなる直列回路を並列に付加した如き構成とな
っている。すなわら、抵抗(15)にn個のダイオード
(51)・・・を直列に接続してなる直列回路と、抵抗
(53)とm個ダイオード(52)・・・を直列に接続
してなる直列回路とを、″電圧が印加された場合に、順
バイアスとなるようにダイオード(51)。
(52)の方向を揃え、並列に接続する。こうして得ら
れる並列回路(8のの一端に抵抗Oaを直列に接続し、
他端は接地する。抵抗(14)には電源電圧Vccを接
続し、バイアス電圧V!の出力端子(2力は、抵抗α優
と並列回路(80)の中間点(50)に設ける。
れる並列回路(8のの一端に抵抗Oaを直列に接続し、
他端は接地する。抵抗(14)には電源電圧Vccを接
続し、バイアス電圧V!の出力端子(2力は、抵抗α優
と並列回路(80)の中間点(50)に設ける。
上記の構成による温度補償用バイアス回路(70)が設
定するバイアス電圧Vtは、中間点(50)の電位をv
2? とすると、 ■! −vCC−v27
− 3)と表わされる
。また、 の関係があるため、バイアス電圧V、はと求まる。よっ
てバイアス電圧■、の温度Tに対すv る変化率ゴーは、 となる。
定するバイアス電圧Vtは、中間点(50)の電位をv
2? とすると、 ■! −vCC−v27
− 3)と表わされる
。また、 の関係があるため、バイアス電圧V、はと求まる。よっ
てバイアス電圧■、の温度Tに対すv る変化率ゴーは、 となる。
上記第(61式より、バイアス電圧V、の有する温度係
数αは、 であることが分る。したがって、抵抗値R14j ’I
11 +几、3を適当な値に定め、ダイオード(51)
、(52)のそれぞれの個数n、mを操作することによ
り、温度係数αは所望の値(ニ一致させることができる
。これにより、バイアス回路りが接続されるトランジス
タ回路の温度補償を完全(二行うことができる。
数αは、 であることが分る。したがって、抵抗値R14j ’I
11 +几、3を適当な値に定め、ダイオード(51)
、(52)のそれぞれの個数n、mを操作することによ
り、温度係数αは所望の値(ニ一致させることができる
。これにより、バイアス回路りが接続されるトランジス
タ回路の温度補償を完全(二行うことができる。
以下、本発明の一実施例である温度補償用〕くイアス回
路(70)の具体的な使用例を挙げ、詳述する。
路(70)の具体的な使用例を挙げ、詳述する。
バイアス回路(70)が接続されるトランジスタ回路と
しては、v’raのFM変調器に使用されるエミッタ結
合形弁安定マルチバイブレータを例とすることにする。
しては、v’raのFM変調器に使用されるエミッタ結
合形弁安定マルチバイブレータを例とすることにする。
第5図は、本発明による温度補償用バイアス回路(70
) k使用していない、エミッタ結合形弁安定マルチバ
イブレータ(9Q)の回路構成図である。なお、破線で
囲まれている部分は、バイアス回路時を示すものである
。このバイアス回路時は温度補償を行わないバイアス回
路であり、抵抗H、(151を直列に接続してなる直列
回路より構成されている。
) k使用していない、エミッタ結合形弁安定マルチバ
イブレータ(9Q)の回路構成図である。なお、破線で
囲まれている部分は、バイアス回路時を示すものである
。このバイアス回路時は温度補償を行わないバイアス回
路であり、抵抗H、(151を直列に接続してなる直列
回路より構成されている。
抵抗+141は電源電圧VCCに接続され、抵抗(15
)は接地されている。また、バイアス電圧出力端子(2
7)は、抵抗(141、(151の中間点に設けられて
いる。
)は接地されている。また、バイアス電圧出力端子(2
7)は、抵抗(141、(151の中間点に設けられて
いる。
以下に、マルチバイブレータ旦の回路構成を説明する。
1対のトランジスタ(1) 、 t2)のコレクタは、
それぞれトランジスタ(3)、(4)のエミッタに接続
されている。また、トランジスタ(1)の同じくコレク
タは抵抗Q21を介し、トランジスタ(2)のコレクタ
は抵抗0階を介して共にトランジスタ(5)のエミッタ
に接続されている。さらに、またトランジスタ(1)の
コレクタは、トランジスタ(6)のベース・エミッタ結
合を介してトランジスタ(2)のベースに接続されると
共に、トランジスタ(8)のベースにも接続されており
、トランジスタ(2)のコレクタは、トランジスタ(7
)のベース・エミッタ結合を介してトランジスタ(1)
のベースに接続されると共(−、トランジスタ(9)の
ベース(二も接続されている。
それぞれトランジスタ(3)、(4)のエミッタに接続
されている。また、トランジスタ(1)の同じくコレク
タは抵抗Q21を介し、トランジスタ(2)のコレクタ
は抵抗0階を介して共にトランジスタ(5)のエミッタ
に接続されている。さらに、またトランジスタ(1)の
コレクタは、トランジスタ(6)のベース・エミッタ結
合を介してトランジスタ(2)のベースに接続されると
共に、トランジスタ(8)のベースにも接続されており
、トランジスタ(2)のコレクタは、トランジスタ(7
)のベース・エミッタ結合を介してトランジスタ(1)
のベースに接続されると共(−、トランジスタ(9)の
ベース(二も接続されている。
前記トランジスタ+31 、 (4)のベースは共(二
、バイアス回路I219の出力端子(27)に接続され
ており、コレクタは電源電圧VCCに接続されている。
、バイアス回路I219の出力端子(27)に接続され
ており、コレクタは電源電圧VCCに接続されている。
また、前記トランジスタ(5)のベースおよびコレクタ
ならびにトランジスタ+61.(力、 (8) 、 (
91のコレクタも電源電圧vcc l二接線されている
。なお、トランジスタ(6)のエミッタは、先(=述べ
たようにトランジスタ(2)のベースに接続されている
が、分岐され、抵抗(24)を介し接地もされている。
ならびにトランジスタ+61.(力、 (8) 、 (
91のコレクタも電源電圧vcc l二接線されている
。なお、トランジスタ(6)のエミッタは、先(=述べ
たようにトランジスタ(2)のベースに接続されている
が、分岐され、抵抗(24)を介し接地もされている。
同様にトランジスタ(力のエミッタも、分岐され抵抗ω
5)を介して接地されている。また、トランジスタ(8
1、(91のエミッタは、それぞれ抵抗(2G、 (2
aを介して、それぞれトランジスタ00)、αυのベー
スに接続されている。このトランジスタ00)、■のベ
ースは、それぞれ抵抗(2]) 、(ハ)を介して接地
されており、エミッタは互いに結合され、電流源(17
)を通じて接地されている。また、トランジスタQQI
、 (11)のコレクタは、それぞれトランジスタf
1) 、 (2+のエミッタと接続されておす、トラン
ジスタ(11、(2)のエミッタは、コンデンサaeヲ
介して、相互に結合されている。
5)を介して接地されている。また、トランジスタ(8
1、(91のエミッタは、それぞれ抵抗(2G、 (2
aを介して、それぞれトランジスタ00)、αυのベー
スに接続されている。このトランジスタ00)、■のベ
ースは、それぞれ抵抗(2]) 、(ハ)を介して接地
されており、エミッタは互いに結合され、電流源(17
)を通じて接地されている。また、トランジスタQQI
、 (11)のコレクタは、それぞれトランジスタf
1) 、 (2+のエミッタと接続されておす、トラン
ジスタ(11、(2)のエミッタは、コンデンサaeヲ
介して、相互に結合されている。
さて、上記の構成によるマルチバイブレーク(90)の
動作説明を、第4図の信号波形図を参照しつつ行うこと
にする。以下においては、トランジスタ(1) 、 (
21のコレクタ′峨位VC1,VC2f’l ラヒlニ
ーr−ミツl;’電位vIII、vg2の時間変化を追
って行く。
動作説明を、第4図の信号波形図を参照しつつ行うこと
にする。以下においては、トランジスタ(1) 、 (
21のコレクタ′峨位VC1,VC2f’l ラヒlニ
ーr−ミツl;’電位vIII、vg2の時間変化を追
って行く。
マルチバイブレータ(90)の発振動作は、トランジス
タfl) 、 f2)が交互にON 、OFF’の反転
を操り返して行われるが、まず、時刻1.において、ト
ランジスタ(1)がONになり、トランジスタ(2)が
OFFになつた状態を想定する。このときトランジスタ
(3)もONになっているため、トランジスタ(1)の
コレクタ電位vo1は、バイアス回路轡の出力端子(2
7)の電位よpトランジスタ(3)のベース・エミッタ
間電圧v111111分低い電位となっている。出方端
子(27)と電源電圧をvoとすれば、出力端子■での
電位はvoo−v。
タfl) 、 f2)が交互にON 、OFF’の反転
を操り返して行われるが、まず、時刻1.において、ト
ランジスタ(1)がONになり、トランジスタ(2)が
OFFになつた状態を想定する。このときトランジスタ
(3)もONになっているため、トランジスタ(1)の
コレクタ電位vo1は、バイアス回路轡の出力端子(2
7)の電位よpトランジスタ(3)のベース・エミッタ
間電圧v111111分低い電位となっている。出方端
子(27)と電源電圧をvoとすれば、出力端子■での
電位はvoo−v。
であるから、時刻t、におけるトランジスタ(1)のコ
レクタ電位voXは、 VOl=VOO−VO−VBIIS (t、t、)とな
っている。また、トランジスタ(2)のコレクタ電位v
otは、トランジスタ(2ンがOF″Fになってし)る
ため、電源電圧vaoよりもトランジスタ(5)のベー
ス・エミッタ間電圧VPl、だけ低い電位となっており
、 vO!:v、00− ”111!1 (L−11)と
表わされる。
レクタ電位voXは、 VOl=VOO−VO−VBIIS (t、t、)とな
っている。また、トランジスタ(2)のコレクタ電位v
otは、トランジスタ(2ンがOF″Fになってし)る
ため、電源電圧vaoよりもトランジスタ(5)のベー
ス・エミッタ間電圧VPl、だけ低い電位となっており
、 vO!:v、00− ”111!1 (L−11)と
表わされる。
次に、時刻1.におけるトランジスタ(1)、(2)の
エミッタ電位vl1.v■を考える。ここでトランジス
タ(7)のベース・エミッタ間電圧をv!l■、 、
ON 状態のトランジスタ(1)のベース・エミッタ間
電圧をvBmlvll ”vO(1−vBill1−v
IIIS −Vllll (””1)となる。さて
、トランジスタ(1)はONになっているため、トラン
ジスタ(II)もONになり、第3図の実線の矢印で示
す如くコンデンサ(1(19には、定電流工0が流れる
。これにより、コンデンサ住eは、実線の矢印の方向の
極性に一定速度で充電され、これに伴ないトランジスタ
(2)のエミッタ電位vI2は、第4図(d)に示すよ
うに、時刻t1以後、一定速度で低下していく。そして
、エミッタ電位v幻 がこのまま減少していき、トラン
ジスタ(2)のベース・エミッタ電圧Vllltがある
値になると、トランジスタ(2)の状態はONからOF
F’に反転する。この反転を起こすエミッタ電圧vBl
lの値をvnut (ON)とし、反転する時刻をt、
とすれば、時刻t、l二おけるトランジスタ(2)のエ
ミッタ電位vI!は、V、、:V、、−VB、、 (O
N) (t、t2)となる。ここでVB、はトランジ
スタ(2)のペース磁位であり、vIllはトランジス
タ(1)のコレクタ電位voI よりもトランジスタ(
6)のベース・エミッタ間電圧VI16だけ低いため、 v、、 = vo、 + Villa ” voa VO−vBlll −v11116と表わ
され、結局、 Vlt ”’VOOvo−vnms−vIIIS ’
8112 (ON) (t”tりと求まる。
エミッタ電位vl1.v■を考える。ここでトランジス
タ(7)のベース・エミッタ間電圧をv!l■、 、
ON 状態のトランジスタ(1)のベース・エミッタ間
電圧をvBmlvll ”vO(1−vBill1−v
IIIS −Vllll (””1)となる。さて
、トランジスタ(1)はONになっているため、トラン
ジスタ(II)もONになり、第3図の実線の矢印で示
す如くコンデンサ(1(19には、定電流工0が流れる
。これにより、コンデンサ住eは、実線の矢印の方向の
極性に一定速度で充電され、これに伴ないトランジスタ
(2)のエミッタ電位vI2は、第4図(d)に示すよ
うに、時刻t1以後、一定速度で低下していく。そして
、エミッタ電位v幻 がこのまま減少していき、トラン
ジスタ(2)のベース・エミッタ電圧Vllltがある
値になると、トランジスタ(2)の状態はONからOF
F’に反転する。この反転を起こすエミッタ電圧vBl
lの値をvnut (ON)とし、反転する時刻をt、
とすれば、時刻t、l二おけるトランジスタ(2)のエ
ミッタ電位vI!は、V、、:V、、−VB、、 (O
N) (t、t2)となる。ここでVB、はトランジ
スタ(2)のペース磁位であり、vIllはトランジス
タ(1)のコレクタ電位voI よりもトランジスタ(
6)のベース・エミッタ間電圧VI16だけ低いため、 v、、 = vo、 + Villa ” voa VO−vBlll −v11116と表わ
され、結局、 Vlt ”’VOOvo−vnms−vIIIS ’
8112 (ON) (t”tりと求まる。
トランジスタ(2)がOFF’からONに反転すると、
トランジスタ(1)はONからOF’Fに反転する。し
だがって、今度はトランジスタ(1)のコレクタ電位V
。。
トランジスタ(1)はONからOF’Fに反転する。し
だがって、今度はトランジスタ(1)のコレクタ電位V
。。
が、
vOH=v(10−vll、!1 (t−tt)
となり、トランジスタ(2ンのコレクタ電位vo、は、
VO2=voo−vo−vBill4 (’−tz)
になる。そして、時刻t、にONとなったトランジスタ
(2)のエミッタ電位v幻 は、時刻t、のトランジス
タ(2)のエミッタ電位vII と同様に、−=Vao
−Vn勧%m−Vent (t−1t)となる。ここ
でVllllはON状態のトランジスタ(2)のベース
・エミッタ間電圧を表わす。
となり、トランジスタ(2ンのコレクタ電位vo、は、
VO2=voo−vo−vBill4 (’−tz)
になる。そして、時刻t、にONとなったトランジスタ
(2)のエミッタ電位v幻 は、時刻t、のトランジス
タ(2)のエミッタ電位vII と同様に、−=Vao
−Vn勧%m−Vent (t−1t)となる。ここ
でVllllはON状態のトランジスタ(2)のベース
・エミッタ間電圧を表わす。
さて、時刻tにおいてトランジスタ(2)のエミッタ磁
位vz、は、 Van Vo Vn++s−Vnma−Vlt (O
N)から vao VBIIS−VO16−v!I11!に至るま
で、差し引き vO−4−VBIII −VBIIS + Vlll!
! (ON) −VBII!増加している。ここでトラ
ンジスタ(3)がON状態のとき、トランジスタ(3)
とトランジスタ(5)のそれぞれのコレクタに流れる電
流が等しくなるように抵抗(12+が選ばれており、ト
ランジスタ(3)のベース・エミッタ間゛喧圧vBl’
+llとトランジスタ(5)のベース・エミッタ間電圧
vllIl!lは等しい。したがって、先程の時刻t、
におけるトランジスタ(2)のエミッタ電圧V幻の増加
分 vo + VIIIIs−vBill + Vllml
(ON) −VBM2は、 ■!! ” vBW5 であるから、 vO+vllN! (ON) ’aHtとなる。これ
より、時刻【!におけるトランジスタ(1)のエミッタ
電圧V、、、は、時刻1.依前におけるvoo”−■8
16− VBII −VBllから、上記の増加分だ
け高い電位となり、VBII”’VO(+−V11ml
l VBII7 ’B11+VO+Vi1ml(O
N) VBII(t−tt)となることが分る。
位vz、は、 Van Vo Vn++s−Vnma−Vlt (O
N)から vao VBIIS−VO16−v!I11!に至るま
で、差し引き vO−4−VBIII −VBIIS + Vlll!
! (ON) −VBII!増加している。ここでトラ
ンジスタ(3)がON状態のとき、トランジスタ(3)
とトランジスタ(5)のそれぞれのコレクタに流れる電
流が等しくなるように抵抗(12+が選ばれており、ト
ランジスタ(3)のベース・エミッタ間゛喧圧vBl’
+llとトランジスタ(5)のベース・エミッタ間電圧
vllIl!lは等しい。したがって、先程の時刻t、
におけるトランジスタ(2)のエミッタ電圧V幻の増加
分 vo + VIIIIs−vBill + Vllml
(ON) −VBM2は、 ■!! ” vBW5 であるから、 vO+vllN! (ON) ’aHtとなる。これ
より、時刻【!におけるトランジスタ(1)のエミッタ
電圧V、、、は、時刻1.依前におけるvoo”−■8
16− VBII −VBllから、上記の増加分だ
け高い電位となり、VBII”’VO(+−V11ml
l VBII7 ’B11+VO+Vi1ml(O
N) VBII(t−tt)となることが分る。
時刻1.以後、トランジスタ(1)がOFF、)ランジ
スタ(2)がONとなった状態では、第3図の破線の矢
印の方向に定電流loが流れるため、今度はトランジス
タ(1)のエミッタ電位vIIIが第4図(C)に示す
ように一定速度で低下していく。そして、トランジスタ
(1)がOFFからONになるのに必要なベース・エミ
ッタ間電圧をv、l、 (ON) とすれば、vBH
=vOO−vo−v1114 ’l1By−vflll
(oN)となった時点(時刻ts)で、再びトランジス
タ(1)がONになり、トランジスタ(2)がOFFと
なる。ON状態となったトランジスタ(1)のエミッタ
電圧V■。
スタ(2)がONとなった状態では、第3図の破線の矢
印の方向に定電流loが流れるため、今度はトランジス
タ(1)のエミッタ電位vIIIが第4図(C)に示す
ように一定速度で低下していく。そして、トランジスタ
(1)がOFFからONになるのに必要なベース・エミ
ッタ間電圧をv、l、 (ON) とすれば、vBH
=vOO−vo−v1114 ’l1By−vflll
(oN)となった時点(時刻ts)で、再びトランジス
タ(1)がONになり、トランジスタ(2)がOFFと
なる。ON状態となったトランジスタ(1)のエミッタ
電圧V■。
は、
v11=’0O−vllll Vl11!’F−Vl
lml (t−ts)に復帰し、時刻tにおけるvl
Iの増加分は、VO+VIl14 − Visa +
VBII (ON) −vsitである。先程と
同様に、トランジスタ(4)とトランジスタ(5)のベ
ース・エミッタ間電圧v1114 r vlmllは共
に等しくなるように、抵抗a3の値が選ばれているため
、結局、時刻tsl二おけるvlの増加分は、v0+
Velll (ON) ””’ Vllllとなる。こ
れより、時刻tIIl二おけるトランジスタ(2)のエ
ミッタ電圧v!l!は、時刻t3依前(=おけるvoo
+ Vllml8 ” Vllll −VIImWよ
りも、上記の増加分だけ高い、 vmt=van−VBII8−VB!la ’svt+
vo+vsms(ON) VBII (L−Ls)とな
る。
lml (t−ts)に復帰し、時刻tにおけるvl
Iの増加分は、VO+VIl14 − Visa +
VBII (ON) −vsitである。先程と
同様に、トランジスタ(4)とトランジスタ(5)のベ
ース・エミッタ間電圧v1114 r vlmllは共
に等しくなるように、抵抗a3の値が選ばれているため
、結局、時刻tsl二おけるvlの増加分は、v0+
Velll (ON) ””’ Vllllとなる。こ
れより、時刻tIIl二おけるトランジスタ(2)のエ
ミッタ電圧v!l!は、時刻t3依前(=おけるvoo
+ Vllml8 ” Vllll −VIImWよ
りも、上記の増加分だけ高い、 vmt=van−VBII8−VB!la ’svt+
vo+vsms(ON) VBII (L−Ls)とな
る。
以後、トランジスタ(1) 、 (2)のON、OFF
の反転が繰り返され、トランジスタ(1)のコレクタ電
位vo Iもしくはトランジスタ(2)のコレクタ電位
vO! は、それぞれ第4図(a) 、 (b)に示す
ように、一定の周期2Tで繰り返されるパルス波形とな
り、マルチバイブレータ(90)の発振出力が得られる
こと(=な°るのである。この場合、トランジスタ+1
)のコレクタ電位voIの期間1゛における変化より、
コンデンサαeの端子電圧は、期間T(二おいて、va
a + vO+ Vlll4 Vamt −
Vlll1 (ON)かう VOOvama Vamt−Vem++Vo+Vsmt
(ON)−VBIIまで、 2vo+Vi+m+ (ON)−VBII +vIIm
t (ON)−vantだけ変化する。ここでトランジ
スタ(1) 、 +2)を対称して選ぶこと(二より、 Vllml”VBII l’ Vlll(ON)”Vl
lml(ON)となるため、コンデンサQfjの印加電
圧の変化は2(VO+V!III(GJ) −Vamt
)となる。したがって、コンデンサaIlilの容量
をCとすれば C・2 (Vo +Viit(oN) −%1t)=
Io ・Tが成立し、よって、マルチパイプレーク(9
0)の発振周波数f。は、 と求まる。ここでvoはトランジスタ(1) 、 +2
)のON。
の反転が繰り返され、トランジスタ(1)のコレクタ電
位vo Iもしくはトランジスタ(2)のコレクタ電位
vO! は、それぞれ第4図(a) 、 (b)に示す
ように、一定の周期2Tで繰り返されるパルス波形とな
り、マルチバイブレータ(90)の発振出力が得られる
こと(=な°るのである。この場合、トランジスタ+1
)のコレクタ電位voIの期間1゛における変化より、
コンデンサαeの端子電圧は、期間T(二おいて、va
a + vO+ Vlll4 Vamt −
Vlll1 (ON)かう VOOvama Vamt−Vem++Vo+Vsmt
(ON)−VBIIまで、 2vo+Vi+m+ (ON)−VBII +vIIm
t (ON)−vantだけ変化する。ここでトランジ
スタ(1) 、 +2)を対称して選ぶこと(二より、 Vllml”VBII l’ Vlll(ON)”Vl
lml(ON)となるため、コンデンサQfjの印加電
圧の変化は2(VO+V!III(GJ) −Vamt
)となる。したがって、コンデンサaIlilの容量
をCとすれば C・2 (Vo +Viit(oN) −%1t)=
Io ・Tが成立し、よって、マルチパイプレーク(9
0)の発振周波数f。は、 と求まる。ここでvoはトランジスタ(1) 、 +2
)のON。
OFFが反転する際のコンデンサuQの端子電圧でVo
= Vo + VI!++*(ON) Vllml
−9)と表わされる。
= Vo + VI!++*(ON) Vllml
−9)と表わされる。
上記第8)式より、定電流工0を変化させることにより
、発振周波数foが変化することが分る。したがって、
映像信号を入力信号とし、この入力信号により定電流l
oを同相で変化させることにより、マルチバイブレータ
(90)をVTRにおけるFM変調器として用いること
ができる。
、発振周波数foが変化することが分る。したがって、
映像信号を入力信号とし、この入力信号により定電流l
oを同相で変化させることにより、マルチバイブレータ
(90)をVTRにおけるFM変調器として用いること
ができる。
さて、このエミッタ結合形弁安定マルチバイブレータ(
90)の発振周波数foは、温度ドリフトを有するので
あるが、以下これについて詳述する。
90)の発振周波数foは、温度ドリフトを有するので
あるが、以下これについて詳述する。
発振周波数foが温度ドリフトを有する原因は、上記第
9)式で示されるコンデンサaQの端子電圧v。
9)式で示されるコンデンサaQの端子電圧v。
が温度ドリフトを有するためである。すなわち、例、t
ばトランジスタ(2)がOFFからONに反転する時刻
tffl二おいて、トランジスタTI) 、 (2)の
コレクタ電流が実際には等しくはならず、そのため、時
刻t、におけるトランジスタ(1) 、 +2)のエミ
ッタ・ベース電圧であるVBy 1 、VBll *
(ON)の温度係数に和実が生じ、端子電圧vcが温度
ドリフトを有するに至るのである。
ばトランジスタ(2)がOFFからONに反転する時刻
tffl二おいて、トランジスタTI) 、 (2)の
コレクタ電流が実際には等しくはならず、そのため、時
刻t、におけるトランジスタ(1) 、 +2)のエミ
ッタ・ベース電圧であるVBy 1 、VBll *
(ON)の温度係数に和実が生じ、端子電圧vcが温度
ドリフトを有するに至るのである。
このことをさらに詳しく知るため(;、時刻tにおいて
トランジスタ(2)に流れるコレクタ電流Io。
トランジスタ(2)に流れるコレクタ電流Io。
(ON)を考えてみる。いま、時刻t、以前の、トラン
ジスタ(2)がOFFの状態ベニおいて、エミッタ電位
vII!がΔV減少したものとする。このとき抵抗a3
を流れる電流は、トランジスタ(2)の相互インダクタ
ンスを1m2とすると、ΔV−1imi増加する。これ
によす、トランジスタ(2)のコレクタ電位vo!は、
ΔV・9m2・all下がる。このコレクタ電位vo、
の変化は、トランジスタ(7)およびトランジスタ(1
)のベース・エミッタ接合、コンデンサαQを順次経て
、トランジスタ(2)自身のエミッタにそのま壕帰還さ
れる。
ジスタ(2)がOFFの状態ベニおいて、エミッタ電位
vII!がΔV減少したものとする。このとき抵抗a3
を流れる電流は、トランジスタ(2)の相互インダクタ
ンスを1m2とすると、ΔV−1imi増加する。これ
によす、トランジスタ(2)のコレクタ電位vo!は、
ΔV・9m2・all下がる。このコレクタ電位vo、
の変化は、トランジスタ(7)およびトランジスタ(1
)のベース・エミッタ接合、コンデンサαQを順次経て
、トランジスタ(2)自身のエミッタにそのま壕帰還さ
れる。
トランジスタ(2)がOFFからONi二反転する条件
は、このときのループゲインG、すなわち、。%ツ!ヨ
’1g=pm2.R,,,00,io)ΔV が1以上となることである。しだがって、G=1となっ
た瞬間(時刻tり(二、トランジスタ(2)はOFFか
らONに反転する。この瞬間のトランジスタ(2)のコ
レクタ電流がlat (ON)であり、相互インダクタ
ンス9m2は、 prnz = −・IQI(ON) −11)a
’r と表わされる。ここセ、Rはボルツマン定数、Tは絶対
温度、qは単位電荷をそれぞれ示す。上記第10)、1
1)式より、トランジスタ(2)の反転時におけるコレ
クタ電流Iot(ON)は、 T ■・・(ON) =7嘉 ・・・12)と求まる
。
は、このときのループゲインG、すなわち、。%ツ!ヨ
’1g=pm2.R,,,00,io)ΔV が1以上となることである。しだがって、G=1となっ
た瞬間(時刻tり(二、トランジスタ(2)はOFFか
らONに反転する。この瞬間のトランジスタ(2)のコ
レクタ電流がlat (ON)であり、相互インダクタ
ンス9m2は、 prnz = −・IQI(ON) −11)a
’r と表わされる。ここセ、Rはボルツマン定数、Tは絶対
温度、qは単位電荷をそれぞれ示す。上記第10)、1
1)式より、トランジスタ(2)の反転時におけるコレ
クタ電流Iot(ON)は、 T ■・・(ON) =7嘉 ・・・12)と求まる
。
さて、上記の如く、コレクタ電流I O,(ON)が求
まったことにより、反転時におけるトランジスタ(2)
のベース・エミッタ電圧vII■、(ON)は、トラン
ジスタ(1)および(2)の飽和電流値を工8とすると
、と求まる。壕だ、反転時におけるトランジスタ(1)
のベース・エミッタ電圧v1111は、トランジスタ(
1)のコレクタ電流工OIがIOと等しいため、と求ま
る。したがって、上記第13)式、14)式、ならびに
第9)式より、反転時のコンデンサtie(7)端子電
圧voは、 と求まる。これより、端子電圧vOが温度Tの関数とな
つそおり、負の温度ドリフトを有することカー明らかと
なった。したがって、第1)式で表わされる発振周波数
f、は正の温度ドリフトを有すること(二なる。
まったことにより、反転時におけるトランジスタ(2)
のベース・エミッタ電圧vII■、(ON)は、トラン
ジスタ(1)および(2)の飽和電流値を工8とすると
、と求まる。壕だ、反転時におけるトランジスタ(1)
のベース・エミッタ電圧v1111は、トランジスタ(
1)のコレクタ電流工OIがIOと等しいため、と求ま
る。したがって、上記第13)式、14)式、ならびに
第9)式より、反転時のコンデンサtie(7)端子電
圧voは、 と求まる。これより、端子電圧vOが温度Tの関数とな
つそおり、負の温度ドリフトを有することカー明らかと
なった。したがって、第1)式で表わされる発振周波数
f、は正の温度ドリフトを有すること(二なる。
さて、発振周波数fOの温度ドリフトは、コンデンサ(
1eの端子電圧vOが温度ドリフトを有すること書=起
因するものであることが明らかとなった。したがって、
発振周波数f。の温度ドリフトを補償するには、上記第
15)式で表わされる端子電圧Vaの温度ドリフトを補
償すればよい。そこで、第15)式中(=含まれる。バ
イアス電圧vOに温度ドリフトをもたせ、端子電圧vO
の温度ドリフトを相殺することが考えられる。第3図の
)(イアス回路轡を、第1図に示す従来のバイアス回路
(競り=置き換えると、バイアス電圧vOは第1)式じ
従うvlとなり、第15)式で表わされる端子電圧vO
は、θvO となる。ここでvoの温度Tに対する変化率1了を求め
ると、 す、貨は と求まる。温度ドリフトの解消とは、上記第tS)式の
値をOとすることである。しだがって、温度T=%とじ
、抵抗値R141”Illの値を定め、ダイオードθv
O (51)の個数nの値を操作することによ!’ 、−y
”。
1eの端子電圧vOが温度ドリフトを有すること書=起
因するものであることが明らかとなった。したがって、
発振周波数f。の温度ドリフトを補償するには、上記第
15)式で表わされる端子電圧Vaの温度ドリフトを補
償すればよい。そこで、第15)式中(=含まれる。バ
イアス電圧vOに温度ドリフトをもたせ、端子電圧vO
の温度ドリフトを相殺することが考えられる。第3図の
)(イアス回路轡を、第1図に示す従来のバイアス回路
(競り=置き換えると、バイアス電圧vOは第1)式じ
従うvlとなり、第15)式で表わされる端子電圧vO
は、θvO となる。ここでvoの温度Tに対する変化率1了を求め
ると、 す、貨は と求まる。温度ドリフトの解消とは、上記第tS)式の
値をOとすることである。しだがって、温度T=%とじ
、抵抗値R141”Illの値を定め、ダイオードθv
O (51)の個数nの値を操作することによ!’ 、−y
”。
とすることができれば、発振周波数foの温度ドリフト
は打ち消されることになるのである。しかしながら、既
に述べたように、nは整数値しか取り得す、一般には、
上記第18)式の4≠の値をOとすることが必ずしも可
能とは言えないのであった。
は打ち消されることになるのである。しかしながら、既
に述べたように、nは整数値しか取り得す、一般には、
上記第18)式の4≠の値をOとすることが必ずしも可
能とは言えないのであった。
そこで、第2図に示す本発明のバイアス回路(70)を
バイアス回路中に置き換えて用いれば、端子電圧V、は
、 几TqR+sI。
バイアス回路中に置き換えて用いれば、端子電圧V、は
、 几TqR+sI。
Va = V!−−in (−) (Vo−vt)
q RT vO となり、了は と求まる。前出の第6)式を上記第19)式に代入し、
が得られる。したがって、本発明によれば、抵抗値R,
,、R,、、Rfillを適当な値(=選び、その後、
ダイオード(51)の個数01ダイオード(52)の個
数mというふたつの変数を独立に操作することで、上記
第20)式(7)9の値を、任意の温度’1’oにおい
て、0とすることが可能となるのである。
q RT vO となり、了は と求まる。前出の第6)式を上記第19)式に代入し、
が得られる。したがって、本発明によれば、抵抗値R,
,、R,、、Rfillを適当な値(=選び、その後、
ダイオード(51)の個数01ダイオード(52)の個
数mというふたつの変数を独立に操作することで、上記
第20)式(7)9の値を、任意の温度’1’oにおい
て、0とすることが可能となるのである。
[発明の効果〕
次(二、本発明の効果を第5図により具体的に示す。第
5図は、マルチバイブレータ(ロ))の発振周波数の温
度特性図である。この特性は、マルチバイブレータ(9
0)を構成する抵抗等の値を下記のように選び得られて
ものである。
5図は、マルチバイブレータ(ロ))の発振周波数の温
度特性図である。この特性は、マルチバイブレータ(9
0)を構成する抵抗等の値を下記のように選び得られて
ものである。
抵抗IJ、2 、 (13−1,6Kn 、 抵抗(1
41−soon、抵抗a卜・・6にΩ、抵抗(4)、(
ハ)・・・5.3にΩ、抵抗(2υ、 (23)−6に
Ω、コンデンサ(16)−1209F 。
41−soon、抵抗a卜・・6にΩ、抵抗(4)、(
ハ)・・・5.3にΩ、抵抗(2υ、 (23)−6に
Ω、コンデンサ(16)−1209F 。
電流源惺η・・・720μA0
第5図中の(a)の特性は、バイアス回路として温度補
償効果を有しないバイアス回路中をマルチバイブレータ
(90)に接続した場合を示している。これを見ると明
らかなように、発振周波数は温度ドリフトを有しており
、θ″”G−100℃の温度範囲で発振周波数が175
KHz も変動している。
償効果を有しないバイアス回路中をマルチバイブレータ
(90)に接続した場合を示している。これを見ると明
らかなように、発振周波数は温度ドリフトを有しており
、θ″”G−100℃の温度範囲で発振周波数が175
KHz も変動している。
第5図中(b>の特性は、従来の温度補償用バイアス回
路(60)を用いた場合で、ダイオード(51)の個数
が1個のときであり、(C)の特性は同じく2個のとき
を示している。どちらの特性も、発振周波数の温度ドリ
フトが軽減されているのが分るが、いまだ(b)で51
3KHz 、 (c)で63KHz (7)変動がある
。また、両者の特性の変化は相反的であp、(b)は温
度上昇とともに発振周波数が増加しており、(C)は逆
に減少している。したがって、ダイオード(51)の最
も適当な個数はこの結果より、1個から2個の間にある
ことが分るが、個数としては整数値しか取り得す、従来
のバイアス回路(60)に用いる限り、これ以上の温度
補償を望むことはできないのである。
路(60)を用いた場合で、ダイオード(51)の個数
が1個のときであり、(C)の特性は同じく2個のとき
を示している。どちらの特性も、発振周波数の温度ドリ
フトが軽減されているのが分るが、いまだ(b)で51
3KHz 、 (c)で63KHz (7)変動がある
。また、両者の特性の変化は相反的であp、(b)は温
度上昇とともに発振周波数が増加しており、(C)は逆
に減少している。したがって、ダイオード(51)の最
も適当な個数はこの結果より、1個から2個の間にある
ことが分るが、個数としては整数値しか取り得す、従来
のバイアス回路(60)に用いる限り、これ以上の温度
補償を望むことはできないのである。
第5図中(d)の特性は、本発明のバイアス回路(70
)を用いた場合を示す。このとき、抵抗α41 、 <
Is 、 (53)はそれぞれ500fl 、 11.
3Kfl 、8.7KI”l l:選ばれている。また
、ダイオード(51)の個数nは2個であり、ダイオー
ド(52)の個数mは1個である。本発明の温度補償用
バイアス回路(70)を用いることにより、発振周波数
の温度依存性は殆んどなくな9、O′cJ〜100℃の
範囲で僅か15KHz程度の変動に押えられている。
)を用いた場合を示す。このとき、抵抗α41 、 <
Is 、 (53)はそれぞれ500fl 、 11.
3Kfl 、8.7KI”l l:選ばれている。また
、ダイオード(51)の個数nは2個であり、ダイオー
ド(52)の個数mは1個である。本発明の温度補償用
バイアス回路(70)を用いることにより、発振周波数
の温度依存性は殆んどなくな9、O′cJ〜100℃の
範囲で僅か15KHz程度の変動に押えられている。
以上のよう(二、本発明の温度補償用バイアス回路(7
0)は構成簡単にして、非常に大きな効果を有するもの
である。
0)は構成簡単にして、非常に大きな効果を有するもの
である。
第1図は従来の温度補償用バイアス回路の構成図、第2
図は本発明の温度補償用バイアス回路の構成図、第3図
は本発明の温度補償用バイアス回路が適用されるマルチ
バイブレータの構成図、第(14) 、(15) 、(
55)・・・抵抗 (st)、(s2)・・・ダイオー
ド(70)・・・温度補償用バイアス回路(7317)
代理人 弁理士 則 近 憲 佑 (ほか1名)第
1 図 第 2 間第
3図 第 4 図 −t、 f、、 f、 を4 第 5 図 mル<’c>
図は本発明の温度補償用バイアス回路の構成図、第3図
は本発明の温度補償用バイアス回路が適用されるマルチ
バイブレータの構成図、第(14) 、(15) 、(
55)・・・抵抗 (st)、(s2)・・・ダイオー
ド(70)・・・温度補償用バイアス回路(7317)
代理人 弁理士 則 近 憲 佑 (ほか1名)第
1 図 第 2 間第
3図 第 4 図 −t、 f、、 f、 を4 第 5 図 mル<’c>
Claims (1)
- 第1の抵抗にn個のダイオードを直列に接続して成る第
1の直列回路と第2の抵抗にm個のダイオードを直列に
接続して成る第2の直列回路とを、電圧が印加された場
合に順バイアスとなるようにそれぞれのダイオードの方
向を揃え、並列に接続し、得られる並列回路の一端に電
源電圧と接続する第3の抵抗を接続し、他端を接地し、
出力端子を前記第3の抵抗と並列回路の中間点(二設け
て成ることを特徴とする温度補償用バイアス回路。
Priority Applications (6)
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|---|---|---|---|
| JP57131242A JPS5922433A (ja) | 1982-07-29 | 1982-07-29 | 温度補償用回路 |
| US06/515,579 US4492914A (en) | 1982-07-29 | 1983-07-20 | Temperature-compensating bias circuit |
| GB08319774A GB2124444B (en) | 1982-07-29 | 1983-07-22 | Temperature-compensating bias circuit |
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| KR1019830003540A KR840005624A (ko) | 1982-07-29 | 1983-07-29 | 온도보상용 바이어스 회로 |
| KR2019860007920U KR860001638Y1 (ko) | 1982-07-29 | 1986-06-04 | 온도 보상용 바이어스 회로 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57131242A JPS5922433A (ja) | 1982-07-29 | 1982-07-29 | 温度補償用回路 |
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| JPH0324815B2 JPH0324815B2 (ja) | 1991-04-04 |
Family
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Country Status (5)
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| GB2124444A (en) | 1984-02-15 |
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