JPS592400A - 電子部品の試験方法 - Google Patents
電子部品の試験方法Info
- Publication number
- JPS592400A JPS592400A JP57111002A JP11100282A JPS592400A JP S592400 A JPS592400 A JP S592400A JP 57111002 A JP57111002 A JP 57111002A JP 11100282 A JP11100282 A JP 11100282A JP S592400 A JPS592400 A JP S592400A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- component
- head
- testing
- test
- electronic
- Prior art date
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- Pending
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（１）発明の技術分野
本発明は、ＩＣ１抵抗、コンデンサ等の電子部品の試験
方法に関する。
方法に関する。
■ 技術の背景
電子装置に完全な動作を行なわせるためには、当該電子
装置に実装される全ての電子部品について試験を行ない
、不良部品を除去することが望ましい。
装置に実装される全ての電子部品について試験を行ない
、不良部品を除去することが望ましい。
（３）従来技術と問題点
従来、電子部品の試験は、単独で行なわれてお多、従っ
て試験すべき部品数の増大は、直ちに試験所要時間の長
大化に繋がる。また、■Ｃ等の比較的単純で安価かつ大
量に使用される部品は全数試験が困難であり、抜き取シ
試験のみが行なわれていた。従って、実装される部品中
には必ず一定の割合いで不良部品が混入し、檜々の障害
を生じさせていた。
て試験すべき部品数の増大は、直ちに試験所要時間の長
大化に繋がる。また、■Ｃ等の比較的単純で安価かつ大
量に使用される部品は全数試験が困難であり、抜き取シ
試験のみが行なわれていた。従って、実装される部品中
には必ず一定の割合いで不良部品が混入し、檜々の障害
を生じさせていた。
（４）発明の目的
本発明は、前述の欠点全解消すべく、電子部、品の全数
試験を何ら特別な試験時間を設けることなく行ない得る
電子部品の試験方法を提供すること全目的とするもので
ある。
試験を何ら特別な試験時間を設けることなく行ない得る
電子部品の試験方法を提供すること全目的とするもので
ある。
（５） 発明の構成
即ち、本発明は、試験會、部品インサータが電子部品を
ヘッドに保持し、プリント基板上の所定の実装位置に実
装する間に、前記ヘッドを介して行なうようにして構成
される。
ヘッドに保持し、プリント基板上の所定の実装位置に実
装する間に、前記ヘッドを介して行なうようにして構成
される。
（６） 発明の実施例
以下、図面に基き、本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明が適用された部品インサータの一例を示
す図、第２図は第１図の部品インサータのヘッド部分の
拡大図である。
す図、第２図は第１図の部品インサータのヘッド部分の
拡大図である。
部品インサータ１は、第１図に示すように、テーブル２
を有しておシ、テーブル２土にはヘッド３が３次元方向
に移動駆動自在に設けられている。ヘッド３は、第２図
に示すように、爪３ａ、３ａがビｙ３ｃ、３ｃ’Ｔｈ中
心に矢印Ａ１Ｂ方向に開閉駆動自在に設けられておυ、
爪３ａ、３ａにはプリント基板上へ実装すべき電子部品
５のリード５ａの設置位置に対応した形でターミナル３
ｂが複数個形成されている。各ターミナル３ｂはワイヤ
６を介してテスタＴへ接続しており、テスタＩは制御装
ｆｆ９に接続している。制御装置９には基板上へ実装す
べき電子部品が種類別に収納された複数の部品ストッカ
１００部品放出ゲート１０ａが接続しておシ、ストッカ
１０はゲート１０ａを介して部品搬送路１１に接続して
いる。搬送路１１＆Ｃは圧Ｉｆｉ１空気１２が供給され
て幹り、圧締空気１２は搬送路１１中に投入された部品
５會搬送路１１の先端に設けられた部品受は口１１ａ上
に搬送することができる。
を有しておシ、テーブル２土にはヘッド３が３次元方向
に移動駆動自在に設けられている。ヘッド３は、第２図
に示すように、爪３ａ、３ａがビｙ３ｃ、３ｃ’Ｔｈ中
心に矢印Ａ１Ｂ方向に開閉駆動自在に設けられておυ、
爪３ａ、３ａにはプリント基板上へ実装すべき電子部品
５のリード５ａの設置位置に対応した形でターミナル３
ｂが複数個形成されている。各ターミナル３ｂはワイヤ
６を介してテスタＴへ接続しており、テスタＩは制御装
ｆｆ９に接続している。制御装置９には基板上へ実装す
べき電子部品が種類別に収納された複数の部品ストッカ
１００部品放出ゲート１０ａが接続しておシ、ストッカ
１０はゲート１０ａを介して部品搬送路１１に接続して
いる。搬送路１１＆Ｃは圧Ｉｆｉ１空気１２が供給され
て幹り、圧締空気１２は搬送路１１中に投入された部品
５會搬送路１１の先端に設けられた部品受は口１１ａ上
に搬送することができる。
部品インサータ１は、以上のような栴成會有するので、
プリント基板１３上へ電子部品５を実装する場合、まず
制御装置ｆｉ９は予め設定された実装プログラムに従っ
て、実装すべき部品５を決定し、ゲート開放指令Ｓ１に
より当該部品５が収納された部品ストッカ１０のゲート
１０ａを開く。すると部品５がストッカ１０から搬送路
１１中に落下し、圧Ｉｌｌ！空気１２によって部品受は
口１１＆に搬送される。制御鉄ｔｔｓｔ′ｉヘッド３を
移動制御して、ヘッド３を受は口１１ａ上の部品５に対
向させ、爪３ａｔ矢印Ａ方向に開き、部品５を爪３ａ、
３ａ間に挿入し、更に爪３ ａ ｆ Ｂ方向に閉じて、
部品５を爪３ａ、３ａ間に保持する。この状態で、制御
装ｆ１１９はヘッド３を部品５と共に、プリント基板１
３上の歯該部品５を実装すべき位置に移動させて部品５
の基板１３上への実装を行なうが、ヘッド３が部品５を
保持し、基板１３上へ実装する’Ｆ Ｓ０間を利用して
、テスタＩは当該部品５の試験を行なう。即ち、部品５
を保持すると、部品５の各リード５ａと各ターミナル３
ｂが接触導通する。一方で、制御装置９からは装置９が
実装することｔ決定した部品名ＮＡＭＥがゲート開放指
令Ｓ１の出力時にテスタＴへ出力される。テスタＴは入
力された部品名ＮＡＭｍから、へ？ド３に保持された部
品５′ｆｔ認識し、ゲスタフ中に格納された複数の試験
ノ（ターンから当該部品５に適合した試験パターン會選
択して、ワイヤ６會介して試験を行ガう。電子部品５の
試験に要する時間は通常、部品５の受は口１１ａから基
板１３上へ実装されるまでに要する時間に比して十分に
短かいので、部品５の試験は確実に行なうことができる
。なお、試験の結果、不良となったものは、制御装置９
に信号Ｓ２として通知され、装置９は不良部品を保持し
たヘッド２を所定の投棄位置まで移動させ、破棄する。
プリント基板１３上へ電子部品５を実装する場合、まず
制御装置ｆｉ９は予め設定された実装プログラムに従っ
て、実装すべき部品５を決定し、ゲート開放指令Ｓ１に
より当該部品５が収納された部品ストッカ１０のゲート
１０ａを開く。すると部品５がストッカ１０から搬送路
１１中に落下し、圧Ｉｌｌ！空気１２によって部品受は
口１１＆に搬送される。制御鉄ｔｔｓｔ′ｉヘッド３を
移動制御して、ヘッド３を受は口１１ａ上の部品５に対
向させ、爪３ａｔ矢印Ａ方向に開き、部品５を爪３ａ、
３ａ間に挿入し、更に爪３ ａ ｆ Ｂ方向に閉じて、
部品５を爪３ａ、３ａ間に保持する。この状態で、制御
装ｆ１１９はヘッド３を部品５と共に、プリント基板１
３上の歯該部品５を実装すべき位置に移動させて部品５
の基板１３上への実装を行なうが、ヘッド３が部品５を
保持し、基板１３上へ実装する’Ｆ Ｓ０間を利用して
、テスタＩは当該部品５の試験を行なう。即ち、部品５
を保持すると、部品５の各リード５ａと各ターミナル３
ｂが接触導通する。一方で、制御装置９からは装置９が
実装することｔ決定した部品名ＮＡＭＥがゲート開放指
令Ｓ１の出力時にテスタＴへ出力される。テスタＴは入
力された部品名ＮＡＭｍから、へ？ド３に保持された部
品５′ｆｔ認識し、ゲスタフ中に格納された複数の試験
ノ（ターンから当該部品５に適合した試験パターン會選
択して、ワイヤ６會介して試験を行ガう。電子部品５の
試験に要する時間は通常、部品５の受は口１１ａから基
板１３上へ実装されるまでに要する時間に比して十分に
短かいので、部品５の試験は確実に行なうことができる
。なお、試験の結果、不良となったものは、制御装置９
に信号Ｓ２として通知され、装置９は不良部品を保持し
たヘッド２を所定の投棄位置まで移動させ、破棄する。
（７） 発明の詳細
な説明したように、本発明によれば、部品インサータ１
が部品５を保持して基板１３上の所定の実装位置に実装
する壕での間に、ヘッド３を介して部品５の試験を行ガ
うようにしたので、基板１３上に実装される部品５の全
数試験が例ら特別な試験時間金膜けることなく可能とな
シ、不良部品の基板１３上への実装會確実に防止するこ
とができ、障害の発生軍ケ低下させることが可能となる
。特に、比較的安価で大量に使用される電子部品につい
ては有効である。
が部品５を保持して基板１３上の所定の実装位置に実装
する壕での間に、ヘッド３を介して部品５の試験を行ガ
うようにしたので、基板１３上に実装される部品５の全
数試験が例ら特別な試験時間金膜けることなく可能とな
シ、不良部品の基板１３上への実装會確実に防止するこ
とができ、障害の発生軍ケ低下させることが可能となる
。特に、比較的安価で大量に使用される電子部品につい
ては有効である。
第１図は本発明が適用された部品インサータの一例を示
す図、第２図は第１図の部品インサータのヘッド部分の
拡大図でおる。 １・・・・・・部品インサータ ３・・・・・・ヘッド ５・・・・・・電子部品 １３・・・・・・１リント基板
す図、第２図は第１図の部品インサータのヘッド部分の
拡大図でおる。 １・・・・・・部品インサータ ３・・・・・・ヘッド ５・・・・・・電子部品 １３・・・・・・１リント基板
Claims (1)
- 電子部品の試験において、試験を、部品インサータが電
子部品をヘッドに保持し、プリント基板上の所定の実装
位置に実装する間に、前記ヘッドを介して行なうように
した電子部品の試験方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57111002A JPS592400A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 電子部品の試験方法 |
| CA000432945A CA1201529A (en) | 1982-06-28 | 1983-07-21 | Superconducting read-only memories or programable logic arrays having the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57111002A JPS592400A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 電子部品の試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS592400A true JPS592400A (ja) | 1984-01-07 |
Family
ID=14549905
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57111002A Pending JPS592400A (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 電子部品の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS592400A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61208900A (ja) * | 1985-03-14 | 1986-09-17 | 三菱電機株式会社 | 自動插入機 |
| JPH0298761U (ja) * | 1989-01-24 | 1990-08-07 |
-
1982
- 1982-06-28 JP JP57111002A patent/JPS592400A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61208900A (ja) * | 1985-03-14 | 1986-09-17 | 三菱電機株式会社 | 自動插入機 |
| JPH0298761U (ja) * | 1989-01-24 | 1990-08-07 |
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