JPS5926124B2 - 位相同期回路 - Google Patents
位相同期回路Info
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- JPS5926124B2 JPS5926124B2 JP50113856A JP11385675A JPS5926124B2 JP S5926124 B2 JPS5926124 B2 JP S5926124B2 JP 50113856 A JP50113856 A JP 50113856A JP 11385675 A JP11385675 A JP 11385675A JP S5926124 B2 JPS5926124 B2 JP S5926124B2
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- Japan
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- sampling
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- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 title description 11
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 50
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は位相同期回路に関し、特にサンプリング回路を
含む位相同期回路に関する。
含む位相同期回路に関する。
従来のサンプル回路を含む位相同期回路は可変周波数発
振器と、入力信号と上記可変周波数発振器の出力信号と
の位相差を検出する位相比較器と、上記位相比較器の出
力を固定周期でサンプリングするサンプリング回路と、
上記可変周波数発振器に制御信号を供給するために上記
サンプリング回路に接続され上記サンプリング回路の出
力電圧を保持するホールド回路とにより連成されていた
。
振器と、入力信号と上記可変周波数発振器の出力信号と
の位相差を検出する位相比較器と、上記位相比較器の出
力を固定周期でサンプリングするサンプリング回路と、
上記可変周波数発振器に制御信号を供給するために上記
サンプリング回路に接続され上記サンプリング回路の出
力電圧を保持するホールド回路とにより連成されていた
。
しかしながら、この回路において、サンプリング回路の
サンプリング周期を短く設定した場合、基準となる入力
信号(以下基準信号と呼ぶ)によって同期系が捕捉され
るまでの時間(以下引き込み時間と呼ぶ)は短くなり、
制御速度も速くなる反面、雑音帯域の増大により同期系
のジッターは増大する。
サンプリング周期を短く設定した場合、基準となる入力
信号(以下基準信号と呼ぶ)によって同期系が捕捉され
るまでの時間(以下引き込み時間と呼ぶ)は短くなり、
制御速度も速くなる反面、雑音帯域の増大により同期系
のジッターは増大する。
それ故基準信号に重畳、混入された雑音や不要な妨害波
に対しても、また同期系内に発生する雑音に対しても、
信号に対すると同様に追随する欠点をもつ。
に対しても、また同期系内に発生する雑音に対しても、
信号に対すると同様に追随する欠点をもつ。
逆にサンプリング周期を長く設定した場合には、雑音や
ジッターによる影響を低く抑えられる反面、引き込み時
間は長くなり、同期引き込み範囲も狭くなる欠点を持つ
。
ジッターによる影響を低く抑えられる反面、引き込み時
間は長くなり、同期引き込み範囲も狭くなる欠点を持つ
。
したがって従来の様に固定したサンプリング周期をもつ
サンプリング回路を用いて構成されている位相同期回路
に於いて、短いサンプリング周期を持つサンプリング回
路によって得られる広い引き込み範囲と敏速な応答特性
と、長いサンプリング周期のサンプリング回路で得られ
る強い雑音除去特性とを共に満足する事は出来ず、必要
に応じて両者の間の妥協点にサンプリング周期を設定し
なければならない欠点があった。
サンプリング回路を用いて構成されている位相同期回路
に於いて、短いサンプリング周期を持つサンプリング回
路によって得られる広い引き込み範囲と敏速な応答特性
と、長いサンプリング周期のサンプリング回路で得られ
る強い雑音除去特性とを共に満足する事は出来ず、必要
に応じて両者の間の妥協点にサンプリング周期を設定し
なければならない欠点があった。
本発明の目的は、同期状態を監視し、同期系の同期状態
に応じてサンプリング回路のサンプリング周期を変化さ
せることにより、同期引き込み範囲の減少、並びに、制
御特性、応答特性の劣化を来す事なく雑音除去特性のよ
い位相同期回路を提供することにある。
に応じてサンプリング回路のサンプリング周期を変化さ
せることにより、同期引き込み範囲の減少、並びに、制
御特性、応答特性の劣化を来す事なく雑音除去特性のよ
い位相同期回路を提供することにある。
本発明によれば可変周波数発振器と、入力信号と上記可
変周波数発振器の出力信号との位相差を検出する位相比
較器と、上記位相比較器の出力をサンプリングするサン
プリング回路と、上記可変周波数発振器に制御信号を供
給するために上記すンプリング回路に接続され上記サン
プリング回路の出力電圧を保持するホールド回路とによ
り構成される位相同期回路に於て、上記位相同期回路の
同期状態を監視し、その監視結果に基づいて上記サンプ
リング回路のサンプリング周期を制御することを特徴と
する位相同期回路が得られる。
変周波数発振器の出力信号との位相差を検出する位相比
較器と、上記位相比較器の出力をサンプリングするサン
プリング回路と、上記可変周波数発振器に制御信号を供
給するために上記すンプリング回路に接続され上記サン
プリング回路の出力電圧を保持するホールド回路とによ
り構成される位相同期回路に於て、上記位相同期回路の
同期状態を監視し、その監視結果に基づいて上記サンプ
リング回路のサンプリング周期を制御することを特徴と
する位相同期回路が得られる。
以下図面を参照して本発明をより詳細に説明する。
第1図は従来の位相同期回路の原理図であって1は基準
信号入力端子、2は位相比較器、3は比較信号(電圧制
御発振器の出力信号のことであって以下同様とする。
信号入力端子、2は位相比較器、3は比較信号(電圧制
御発振器の出力信号のことであって以下同様とする。
)入力端子、4は電圧制御発振器、5はサンプリング回
路、6はホールド回路である。
路、6はホールド回路である。
基準信号入力端子1に基準信号が加えられると、位相比
較器2は、比較信号入力端子3に加わる電圧制御発振器
4の出力信号との位相差を検出し、その位相差に応じた
誤差信号をサンプリング回路5に供給する。
較器2は、比較信号入力端子3に加わる電圧制御発振器
4の出力信号との位相差を検出し、その位相差に応じた
誤差信号をサンプリング回路5に供給する。
この誤差信号は、サンプリング回路5によって周期的に
サンプリングされ、瞬時値のパルス列(サンプル値信号
)となってホールド回路6に送られ、ホールド回路6の
瞬時値保持作用により、連続信号となって、基準信号の
位相に比較信号の位相が一致するよう電圧制御発振器4
を制御する。
サンプリングされ、瞬時値のパルス列(サンプル値信号
)となってホールド回路6に送られ、ホールド回路6の
瞬時値保持作用により、連続信号となって、基準信号の
位相に比較信号の位相が一致するよう電圧制御発振器4
を制御する。
この場合サンプリング回路のサンプリング周期は固定で
あるため、強い雑音除去特性と敏速な応答特性を兼ね備
えることは出来ない。
あるため、強い雑音除去特性と敏速な応答特性を兼ね備
えることは出来ない。
第2図は本発明の実施例を示すブ田ンク図であって、第
1図の回路に於けるサンプリング回路5をサンプリング
周期可変サンプリング回路5′とし、更に同期監視器7
、制御器8を備えである。
1図の回路に於けるサンプリング回路5をサンプリング
周期可変サンプリング回路5′とし、更に同期監視器7
、制御器8を備えである。
第6図a = fおよび第7図a−fは第2図の実施例
の各部の波形を示したものであり、第6図a = fは
、位相同期ループが非同期状態の場合を、第7図a〜f
は同期状態の場合を示している。
の各部の波形を示したものであり、第6図a = fは
、位相同期ループが非同期状態の場合を、第7図a〜f
は同期状態の場合を示している。
なお、第7図の時間Tは第6図のそれより縮めて表示し
である。
である。
本同期系が同期はずれの状態にあるとき、第6図aの基
準信号と第6図すの電圧制御発振器4の出力の位相差が
位相比較器2で比較検出される。
準信号と第6図すの電圧制御発振器4の出力の位相差が
位相比較器2で比較検出される。
第6図Cのような位相比較器2の出力が速い速度で変化
すると、同期監視器7が動作し警報信号を制御器8に送
出し、制御器8ではサンプリング同期可変サンプリング
回路5′のサンプリング周期を第6図dに示す如く短く
する操作を行なうようにすると糸の応答速度は高められ
、基準信号と比較信号の位相は迅速な一致をみる。
すると、同期監視器7が動作し警報信号を制御器8に送
出し、制御器8ではサンプリング同期可変サンプリング
回路5′のサンプリング周期を第6図dに示す如く短く
する操作を行なうようにすると糸の応答速度は高められ
、基準信号と比較信号の位相は迅速な一致をみる。
同期系が同期状態すなわち基準信号(第7図a)と電圧
制御発振器4の出力(第7図b)の周波数が一致した状
態に至ると、位相比較器2の出力(第7図C)の変化は
無くなり、同期監視器7は動作を停止し、制御器8・\
の警報信号も停止されろためサンプリング周期可変サン
プリング回路5′のサンプリング第7図dに示す如く制
御器8によって長くされる。
制御発振器4の出力(第7図b)の周波数が一致した状
態に至ると、位相比較器2の出力(第7図C)の変化は
無くなり、同期監視器7は動作を停止し、制御器8・\
の警報信号も停止されろためサンプリング周期可変サン
プリング回路5′のサンプリング第7図dに示す如く制
御器8によって長くされる。
同期状態では電圧制御発振器4の周波数は一定に保たれ
ているため、サンプリング後の出力信号(第7図e)も
一定となり、ホールド回路6で積分した後の出力信号(
第7図f)もほとんど変化が無いため、サンプリング周
期を長くしようと短くしようとループの動作自体には影
響はない。
ているため、サンプリング後の出力信号(第7図e)も
一定となり、ホールド回路6で積分した後の出力信号(
第7図f)もほとんど変化が無いため、サンプリング周
期を長くしようと短くしようとループの動作自体には影
響はない。
このため同期状態ではサンプリング周期を長くすること
により位相同期ループの動作に影響を与えることなく外
乱に対する応答速度は低下し、結果として強い雑音除去
特性をもつことになる。
により位相同期ループの動作に影響を与えることなく外
乱に対する応答速度は低下し、結果として強い雑音除去
特性をもつことになる。
第3図は、第2図の具体的回路である。
同期監視器7は、一般に用いられるAM検波器であり位
相比較器2の誤差信号が同期はずれにより変動した場合
はグランド電位を、同期状態では正の電圧を制御器8に
供給する。
相比較器2の誤差信号が同期はずれにより変動した場合
はグランド電位を、同期状態では正の電圧を制御器8に
供給する。
制御器8は抵抗R1,R2、コンデンサC1およびダイ
オードD1 で構成されている。
オードD1 で構成されている。
グランド電位が制御器8に供給された場合、ダイオード
D1は導通し、コンデンサC1の電荷は直ちに放電され
、電圧制御マルチバイブレーク(VCM)9にはグラン
ド電位が供給され、周波数は直ちに上昇する。
D1は導通し、コンデンサC1の電荷は直ちに放電され
、電圧制御マルチバイブレーク(VCM)9にはグラン
ド電位が供給され、周波数は直ちに上昇する。
逆に制御器8に正の電圧が供給された場合には、ダイオ
ードD1は遮断状態となり、抵抗R1を通じてコンデン
サC1と抵抗R2で決定される時定数に従ってコンデン
サC1は正に充電されVCM9の周波数は漸次低下する
。
ードD1は遮断状態となり、抵抗R1を通じてコンデン
サC1と抵抗R2で決定される時定数に従ってコンデン
サC1は正に充電されVCM9の周波数は漸次低下する
。
VCM9の出力パルスは波形整形器10により、幅の狭
いパルスに変換される。
いパルスに変換される。
、この波形整形器10はNAND、ANハ回路、抵抗R
3およびコンデンサC2で構成されている。
3およびコンデンサC2で構成されている。
この波形整形器10の出力はアナログスイッチ11に加
えられ、アナログゲート11では、このパルスが加えら
れている間だけ導通し、位相比較器2の出力信号ホール
ド回路(コンデンサC3)6に送る。
えられ、アナログゲート11では、このパルスが加えら
れている間だけ導通し、位相比較器2の出力信号ホール
ド回路(コンデンサC3)6に送る。
このホールド回路6の出力により電圧制御発振器4を制
御する。
御する。
同期監視器7は電圧制御発振器4の出力信号と入力端子
1の信号の位相を比較する位相比較器でもよい。
1の信号の位相を比較する位相比較器でもよい。
この場合は制御器8を省いてもよい。なお、VCM9の
周波数は前述したように同期はずれの時には高くな・る
。
周波数は前述したように同期はずれの時には高くな・る
。
すなわち、サンプリングの周期は短かくなる。
従って、同期引き込み時間を短かくするためにこのサン
プリング周期を入力信号の周期より短かくするとよい。
プリング周期を入力信号の周期より短かくするとよい。
また、同期状態においては、VCM9の出力周波数、す
なわち、サンプリング周期は、雑音等の外乱によっても
ループを安定に維持するように選定され、一般に入力信
号の周期よりも相当長く選定される。
なわち、サンプリング周期は、雑音等の外乱によっても
ループを安定に維持するように選定され、一般に入力信
号の周期よりも相当長く選定される。
第4図は他の実施例のブロック図であって、サンプリン
グ周期可変サンプリング回路5′/に位相比較器の役割
も兼用させたものであり、さらに波形整形器12(これ
は除いてもよい)を備えている。
グ周期可変サンプリング回路5′/に位相比較器の役割
も兼用させたものであり、さらに波形整形器12(これ
は除いてもよい)を備えている。
基準信号はまず波形整形器12によって、三角波、又は
鋸歯状波、又は矩形波に変換されてサンプリング周期可
変サンプリング5″に加えられ、サンプリング周期可変
サンプリング回路5 I+では、この信号を電圧制御発
振器4の出力信号を分周した信号の周期でサンプリング
する。
鋸歯状波、又は矩形波に変換されてサンプリング周期可
変サンプリング5″に加えられ、サンプリング周期可変
サンプリング回路5 I+では、この信号を電圧制御発
振器4の出力信号を分周した信号の周期でサンプリング
する。
サンプリング周期の制御は分局比を変えることにより行
ない制御方法は前記実施例と同様である。
ない制御方法は前記実施例と同様である。
第5図は、第4図の具体例である。
波形変換器12は、一般に使用される積分器、ブートス
トラップ回路等であり(除くことも可能)基準信号は、
ここで三角波又は鋸歯状態、又は矩形波に変換され、ア
ナログスイッチ11に加えられる。
トラップ回路等であり(除くことも可能)基準信号は、
ここで三角波又は鋸歯状態、又は矩形波に変換され、ア
ナログスイッチ11に加えられる。
同期監視器7よりグランドレベルの電圧がダイオードD
2のカソード側に加えられると、ダイオードD2は導通
し、FF(1)〜FF(N)のクリア端子を直ちにグラ
ンドレベルに移行させ、OR(1)〜0R(N)回路を
通じて分周されない信号が出力され、これは波形整形器
10の回路で細い幅のパルスに変換され、アナログスイ
ッチ11のゲート端子に加えられる、逆に同期監視器7
より正の電圧がダイオードD2のカソードに加えられる
とダイオードD2は遮断され、抵抗R4を通じて抵抗R
5、コンデンサC3で決定される時定数に従って、コン
デンサC3は充電されるが、フリップ、フロップFF(
1)〜FF(N)の各時定数は、わずかづつずれて設定
されている為、同時に分周動作は開始せず、徐々に分周
比は上昇し、出力周波数も漸次低下する。
2のカソード側に加えられると、ダイオードD2は導通
し、FF(1)〜FF(N)のクリア端子を直ちにグラ
ンドレベルに移行させ、OR(1)〜0R(N)回路を
通じて分周されない信号が出力され、これは波形整形器
10の回路で細い幅のパルスに変換され、アナログスイ
ッチ11のゲート端子に加えられる、逆に同期監視器7
より正の電圧がダイオードD2のカソードに加えられる
とダイオードD2は遮断され、抵抗R4を通じて抵抗R
5、コンデンサC3で決定される時定数に従って、コン
デンサC3は充電されるが、フリップ、フロップFF(
1)〜FF(N)の各時定数は、わずかづつずれて設定
されている為、同時に分周動作は開始せず、徐々に分周
比は上昇し、出力周波数も漸次低下する。
以上説明した様に、雑音や不要な妨害波の含まれた基準
信号に比較信号の位相を一致させる場合、引き込み範囲
の減少、引き込み速度応答特性の劣化を来たすことなく
、かつ雑音等によって比較信号が受ける影響を低減する
ことが出来、一例として掲げれば、搬送波抑圧単側波帯
方式に於て、親局から送られる同期パイロットによって
子局局部発振器に位相同期をかけることが一般に行なわ
れるが、この場合、着信パイロット信号の状態、変化に
対して極力高速応答をすることと通常パイロット信号に
含まれている雑音や外乱による影響はできるだけ少ない
ことという2つの条件が要求されるが、本発明による同
期方式によれば、この条件を共に満たし、より安定な通
信を確保できる。
信号に比較信号の位相を一致させる場合、引き込み範囲
の減少、引き込み速度応答特性の劣化を来たすことなく
、かつ雑音等によって比較信号が受ける影響を低減する
ことが出来、一例として掲げれば、搬送波抑圧単側波帯
方式に於て、親局から送られる同期パイロットによって
子局局部発振器に位相同期をかけることが一般に行なわ
れるが、この場合、着信パイロット信号の状態、変化に
対して極力高速応答をすることと通常パイロット信号に
含まれている雑音や外乱による影響はできるだけ少ない
ことという2つの条件が要求されるが、本発明による同
期方式によれば、この条件を共に満たし、より安定な通
信を確保できる。
第1図は従来の回路のブロック図、第2図は本発時のブ
ロック図、第3図は第2図の具体例、第4図は本発明の
他の実施例、第5図は第4図の具体例第6図a −fは
第2図の回路の非同期状態の動作を説明するための各部
の波形のタイムチャート図、第7a−fは第2図の回路
の同期状態の動作を説明するための各部の波形のタイム
チャート図である。 1.1’、1′“・・・・・・基準信号入力端子、2・
・・・・・位相比較器、3・・・・・・比較信号入力端
子、4・・・・・・電圧制御発振器、5 、5’、 5
” ・・・・・・サンプリング回路、6・・・・・・ホ
ールド回路、7・・・・・・同期監視器、8・・・・・
・制御器、9・・・・・・電圧制御マルチバイブレーク
、10・・・・・・波形整形器、11・・・・・・アナ
ログスイッチ、12・・・・・・波形整形器。
ロック図、第3図は第2図の具体例、第4図は本発明の
他の実施例、第5図は第4図の具体例第6図a −fは
第2図の回路の非同期状態の動作を説明するための各部
の波形のタイムチャート図、第7a−fは第2図の回路
の同期状態の動作を説明するための各部の波形のタイム
チャート図である。 1.1’、1′“・・・・・・基準信号入力端子、2・
・・・・・位相比較器、3・・・・・・比較信号入力端
子、4・・・・・・電圧制御発振器、5 、5’、 5
” ・・・・・・サンプリング回路、6・・・・・・ホ
ールド回路、7・・・・・・同期監視器、8・・・・・
・制御器、9・・・・・・電圧制御マルチバイブレーク
、10・・・・・・波形整形器、11・・・・・・アナ
ログスイッチ、12・・・・・・波形整形器。
Claims (1)
- 1 可変周波数発振器と、入力信号と上記可変周波数発
振器の出力信号との位相差を検出する位相比較器と、上
記位相比較器の出力をサンプリングするサンプリング回
路と、上記可変周波数発振器に制御信号を供給するため
に上記サンプリング回路に接続され上記サンプリング回
路の出力電圧を保持するホールド回路とにより構成され
る位相同期回路に於て、上記位相同期回路の同期および
非同期状態を監視する第1の手段と、前記第1の手段の
出力に応答して上記サンプリング回路のサンプリング周
期を可変する第2の手段とを備えたたとを特徴とする位
相同期回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50113856A JPS5926124B2 (ja) | 1975-09-19 | 1975-09-19 | 位相同期回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50113856A JPS5926124B2 (ja) | 1975-09-19 | 1975-09-19 | 位相同期回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5237756A JPS5237756A (en) | 1977-03-23 |
| JPS5926124B2 true JPS5926124B2 (ja) | 1984-06-25 |
Family
ID=14622779
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50113856A Expired JPS5926124B2 (ja) | 1975-09-19 | 1975-09-19 | 位相同期回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5926124B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0538145U (ja) * | 1991-10-28 | 1993-05-25 | 三晃金属工業株式会社 | 受金具 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3211968A1 (de) * | 1982-03-31 | 1983-10-13 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Drucksensor |
| JPS5948970A (ja) * | 1982-09-13 | 1984-03-21 | Pioneer Electronic Corp | 磁電変換素子 |
| JP4488569B2 (ja) * | 1999-12-22 | 2010-06-23 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | 最短時間pll回路 |
-
1975
- 1975-09-19 JP JP50113856A patent/JPS5926124B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0538145U (ja) * | 1991-10-28 | 1993-05-25 | 三晃金属工業株式会社 | 受金具 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5237756A (en) | 1977-03-23 |
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