JPS5929333A - 電子顕微鏡用視野移動装置 - Google Patents
電子顕微鏡用視野移動装置Info
- Publication number
- JPS5929333A JPS5929333A JP57139324A JP13932482A JPS5929333A JP S5929333 A JPS5929333 A JP S5929333A JP 57139324 A JP57139324 A JP 57139324A JP 13932482 A JP13932482 A JP 13932482A JP S5929333 A JPS5929333 A JP S5929333A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
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- Granted
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/261—Details
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子顕微鏡にお【ノる顕微鏡像の視野移動を容
易に行うことを目的とするものCある。
易に行うことを目的とするものCある。
電子顕微鏡における顕rli鎮像の視野移動は酋通、光
軸と垂直な面内で試お1を機械的に移動さけることによ
って行われる。この視野移動の操作は螢光板上に表示さ
れる像を観察しながら行うが、試料の位置を同一方向へ
同一距離移動させても像イ8百参″が異なると螢光板上
の像の移動方向ど移#lI吊は同一にはならないため、
所望の視野を1qるまでには試行錯誤を何度も繰り返さ
なければなら41い欠r:、tがあった。。
軸と垂直な面内で試お1を機械的に移動さけることによ
って行われる。この視野移動の操作は螢光板上に表示さ
れる像を観察しながら行うが、試料の位置を同一方向へ
同一距離移動させても像イ8百参″が異なると螢光板上
の像の移動方向ど移#lI吊は同一にはならないため、
所望の視野を1qるまでには試行錯誤を何度も繰り返さ
なければなら41い欠r:、tがあった。。
本発明はこのような欠点を解決して視野移動の操作を容
易に行うことを目的とするもので、その構成は観察され
る試料位置を変化さUるため視野を2方向へ移Uノさせ
る視野移動機構と、該視野移。
易に行うことを目的とするもので、その構成は観察され
る試料位置を変化さUるため視野を2方向へ移Uノさせ
る視野移動機構と、該視野移。
動機構を電気信号にJ:って操作覆る駆動部と、試料へ
の電子線照Q=1に基づいて顕微鏡像を形成づる電子光
学系と、前記顕微鏡像に重ねて又は顕微鏡像の近傍にに
(=Jされ、方向と大きさを検知し得るマークと、該マ
ークによる表示内容と対応した複数のボタンを有覆る移
動信号回路と、該移動信号回路からの出力信号、前記電
子光学系から出力される顕微鏡像の倍率に関づる信号及
び前記光学系から出力される顕微鏡像の移動方向と試料
の移動方向との関係を表ねり信号に基づいて前記駆動部
への駆動信号を供給づるための中央制御回路を設()た
ことを特徴と覆るものである。
の電子線照Q=1に基づいて顕微鏡像を形成づる電子光
学系と、前記顕微鏡像に重ねて又は顕微鏡像の近傍にに
(=Jされ、方向と大きさを検知し得るマークと、該マ
ークによる表示内容と対応した複数のボタンを有覆る移
動信号回路と、該移動信号回路からの出力信号、前記電
子光学系から出力される顕微鏡像の倍率に関づる信号及
び前記光学系から出力される顕微鏡像の移動方向と試料
の移動方向との関係を表ねり信号に基づいて前記駆動部
への駆動信号を供給づるための中央制御回路を設()た
ことを特徴と覆るものである。
第1図は本発明の一実施例装置を示づ略図である。図中
、1は試料を現わしてJ3す、電子光学系の光軸Zに沿
って試料を黒錆づる電子線の一部が試料1を透過して対
物レンズ2、中間レンズ3゜投影レンズ/IW−からな
る電子光学系の結像レンズ部によって螢光板5上に顕微
lt像を結像づる。該顕微鏡像の倍率は結像レンズのレ
ンズ制御回路6を調整りることによって可変される。螢
光板上に表示される閣の視野を移動づるためには、通常
試料1を保持する試料移動機構7の水平移動杆を操作し
て行うが、図の装置においては中央制御回路9から駆動
信号が供給されるパルスニし−98X。
、1は試料を現わしてJ3す、電子光学系の光軸Zに沿
って試料を黒錆づる電子線の一部が試料1を透過して対
物レンズ2、中間レンズ3゜投影レンズ/IW−からな
る電子光学系の結像レンズ部によって螢光板5上に顕微
lt像を結像づる。該顕微鏡像の倍率は結像レンズのレ
ンズ制御回路6を調整りることによって可変される。螢
光板上に表示される閣の視野を移動づるためには、通常
試料1を保持する試料移動機構7の水平移動杆を操作し
て行うが、図の装置においては中央制御回路9から駆動
信号が供給されるパルスニし−98X。
8Yによって自動的に操作される。又、視野移動の別の
方法として結像レンズ系内に設けられた偏向]イル10
X、10Yどその偏向電源11X。
方法として結像レンズ系内に設けられた偏向]イル10
X、10Yどその偏向電源11X。
11Yによって電気的に行う方法すある。(訂細は例え
ば特公昭/l 8−33903号公報参照)第2図は第
1図の装置における螢光板5を光軸7方向から眺めた図
であり、光軸/を中心どづる円板状螢光板5の周囲には
リング状の部材12が配賄されており、その表面には光
軸Zに関して対称な位買に△、B、C,・・・、1」の
文字が刻設されて、13す、これらの文字と螢光板5の
中心を結ぶ線上には等間隔で゛十′印のマークが螢光板
上に刻設されている。、L記文字△、B、・・・、11
に対応りる操作ボタンが第1図の装置の操作パネル13
に設【ノられており、操作ボタンA、B、・・・、 1
1のいずれかを選択して所望の回数押圧づることにより
、中央制御回路9に視野移動のための信号が供給される
。
ば特公昭/l 8−33903号公報参照)第2図は第
1図の装置における螢光板5を光軸7方向から眺めた図
であり、光軸/を中心どづる円板状螢光板5の周囲には
リング状の部材12が配賄されており、その表面には光
軸Zに関して対称な位買に△、B、C,・・・、1」の
文字が刻設されて、13す、これらの文字と螢光板5の
中心を結ぶ線上には等間隔で゛十′印のマークが螢光板
上に刻設されている。、L記文字△、B、・・・、11
に対応りる操作ボタンが第1図の装置の操作パネル13
に設【ノられており、操作ボタンA、B、・・・、 1
1のいずれかを選択して所望の回数押圧づることにより
、中央制御回路9に視野移動のための信号が供給される
。
上記構成の装置によって視野移動を行う手順は以下のよ
うになる。
うになる。
初めにレンズ制御回路6を操作し−C視野捜しを行うの
に適した像倍率が得られるにうに調整づる。
に適した像倍率が得られるにうに調整づる。
次に螢光板5上に表示される顕微1!像を観察して観察
目的とづる視野例えば第2図中14で示す部分を捜し、
この部分を螢光板の中央に移動さUるJ、うに操作パネ
ル13の操作ボタン△を2回抑圧覆る。この操作によっ
て、部材12のマークΔから螢光板の中心Oに向かう第
2図の矢印15に示づ方向へ順を移動させる信号が中央
制御回路9に供給される。又、その指定する移動量は螢
光板上に刻設された゛十′マーク間隔の2目盛分となる
。
目的とづる視野例えば第2図中14で示す部分を捜し、
この部分を螢光板の中央に移動さUるJ、うに操作パネ
ル13の操作ボタン△を2回抑圧覆る。この操作によっ
て、部材12のマークΔから螢光板の中心Oに向かう第
2図の矢印15に示づ方向へ順を移動させる信号が中央
制御回路9に供給される。又、その指定する移動量は螢
光板上に刻設された゛十′マーク間隔の2目盛分となる
。
一方、中央制御回路9にはレンズ制御回路6から、像倍
率に関づる倍率信号Mとパルス七−夕による試わ1移動
方向と顕微鏡像の移動方向とのスレ、即t5像回転信号
Rが供給されており、前)ボした操作パネルのボタン操
作によって供給される移動信号Sと共にパルスモータ8
X、8Yへ供給する駆動信号が予め定められた関係式に
基づいて演算される。該演算においては移動信号Sの大
きさを表わ1部分にはイ8率信号Mに対応した係数が付
加され、移動信号Sの方向を表ねづ部分には前記回転信
号Rに対応した信号が加えられる。以上のj、うな手順
によってパルスモータ8X、8Yに駆動信号が供給され
ると試料1は光軸7に垂直な平面内を適切な方向へ適切
な市だけ移動し、螢光板5」ニには視野14が中央に表
示される。ここで像倍率を増加さければ目的とする視野
の訂細が観察11能と4する。
率に関づる倍率信号Mとパルス七−夕による試わ1移動
方向と顕微鏡像の移動方向とのスレ、即t5像回転信号
Rが供給されており、前)ボした操作パネルのボタン操
作によって供給される移動信号Sと共にパルスモータ8
X、8Yへ供給する駆動信号が予め定められた関係式に
基づいて演算される。該演算においては移動信号Sの大
きさを表わ1部分にはイ8率信号Mに対応した係数が付
加され、移動信号Sの方向を表ねづ部分には前記回転信
号Rに対応した信号が加えられる。以上のj、うな手順
によってパルスモータ8X、8Yに駆動信号が供給され
ると試料1は光軸7に垂直な平面内を適切な方向へ適切
な市だけ移動し、螢光板5」ニには視野14が中央に表
示される。ここで像倍率を増加さければ目的とする視野
の訂細が観察11能と4する。
所で、観察倍率が高くなるに従って機械的な試料の移動
による視野移動の精度が悪くなる傾向があり、このよう
な欠点を避けるIこめには第1図の装置にJ3りるパル
スモータ8X、8Yへ信号を供給する代わりに偏向電源
11X、11Yへ信号を供給し電気的な視野移動を行う
ように構成づることも容易である。
による視野移動の精度が悪くなる傾向があり、このよう
な欠点を避けるIこめには第1図の装置にJ3りるパル
スモータ8X、8Yへ信号を供給する代わりに偏向電源
11X、11Yへ信号を供給し電気的な視野移動を行う
ように構成づることも容易である。
尚、本光明は透過電子顕微鏡の視野移動装置のみに限定
されるものではなく、走査電子顕微鏡の視野移動装置ど
しても適用可能である。この場合には第3図に示す如く
、電子顕微鏡像を表示する陰極線管画面16の周囲にx
、y方向の目盛を描いた透明なアクリル板を設けると共
に、第4図に示づ様な前記目盛の方向に対応づる移動方
向を表わす操作ボタン”17a、17b、17c、17
dを右づる操作パネルを設け、これらの操作ボタンの選
択どその抑圧回数によって陰極線管両面内の視野を×又
はy方向へ何目盛移動さけたいかを電気信号に変換し、
該変換された移動信号に像倍率に基づく補正と試料移動
と視野移動方向のズレに基づく補正を行った後、試料移
動用のパルスモータ制御信号として用いればにい。
されるものではなく、走査電子顕微鏡の視野移動装置ど
しても適用可能である。この場合には第3図に示す如く
、電子顕微鏡像を表示する陰極線管画面16の周囲にx
、y方向の目盛を描いた透明なアクリル板を設けると共
に、第4図に示づ様な前記目盛の方向に対応づる移動方
向を表わす操作ボタン”17a、17b、17c、17
dを右づる操作パネルを設け、これらの操作ボタンの選
択どその抑圧回数によって陰極線管両面内の視野を×又
はy方向へ何目盛移動さけたいかを電気信号に変換し、
該変換された移動信号に像倍率に基づく補正と試料移動
と視野移動方向のズレに基づく補正を行った後、試料移
動用のパルスモータ制御信号として用いればにい。
以上のように本発明にJ、れば電子顕微鏡にJ3ける視
野移動の操作が迅速、確実に行われるので電子顕微鏡の
操作性向上に大きな効果が得られる。
野移動の操作が迅速、確実に行われるので電子顕微鏡の
操作性向上に大きな効果が得られる。
第1図は透過電子顕微鏡に本発明を適用しIC装胃を示
す略図、第2図はその部分拡大図、第3図及び第4図は
走査電子顕微鏡に本発明を適用した装置の主要部を示り
略図である。 1:試料、2:対物1ノンズ、3:中間レンズ、4:投
影レンズ、5:螢光板、6:レンズ制御回路、7:試料
移動奢幾横、8X、8Y:パルスモータ、9:中央制御
回路、10X、10Y:偏向−]イル、11X、11Y
:偏向電源、′12;リング状部材、13:操作パネル
、14 : rfl野、16:走査電子顕微鏡の陰極線
管。 特許出願人 日本電子株式会社 代表者 伊藤 −夫
す略図、第2図はその部分拡大図、第3図及び第4図は
走査電子顕微鏡に本発明を適用した装置の主要部を示り
略図である。 1:試料、2:対物1ノンズ、3:中間レンズ、4:投
影レンズ、5:螢光板、6:レンズ制御回路、7:試料
移動奢幾横、8X、8Y:パルスモータ、9:中央制御
回路、10X、10Y:偏向−]イル、11X、11Y
:偏向電源、′12;リング状部材、13:操作パネル
、14 : rfl野、16:走査電子顕微鏡の陰極線
管。 特許出願人 日本電子株式会社 代表者 伊藤 −夫
Claims (1)
- 観察8れる試料位置を変化させるためン児野を2方向へ
移動さける視野移動機構と、該視野移動機構を電気信号
にJ:っ−C操作する駆動部と、試料への電子線照射に
基づいて顕微鏡像を形成づる電子光学系と、前記顕微鏡
像に重ねて又は顕微鏡像の近傍に付され、方向と大きさ
を検知し得るマークと、該マークによる表示内容と対応
した複数のボタンを有りる移動信号回路と、該移動信号
回路からの出力イa号、前記電子光学系から出力される
顕微鏡像の倍率に関する信号及び前記電子光学系から出
力される顕微鏡像の移動方向と試Hの移動方向との回転
関係を表わす信号に基づいて前記駆動部への駆動信号を
供給す゛るための中央制御回路を設けたことを特徴とづ
る電子顕微鏡用視野移動装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57139324A JPS5929333A (ja) | 1982-08-11 | 1982-08-11 | 電子顕微鏡用視野移動装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57139324A JPS5929333A (ja) | 1982-08-11 | 1982-08-11 | 電子顕微鏡用視野移動装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5929333A true JPS5929333A (ja) | 1984-02-16 |
| JPH0234421B2 JPH0234421B2 (ja) | 1990-08-03 |
Family
ID=15242654
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57139324A Granted JPS5929333A (ja) | 1982-08-11 | 1982-08-11 | 電子顕微鏡用視野移動装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5929333A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0690474A1 (en) * | 1994-06-29 | 1996-01-03 | Hitachi, Ltd. | Bi-axial-tilting specimen fine motion device and method of correcting image shifting |
| JP2002216695A (ja) * | 2001-01-15 | 2002-08-02 | Topcon Denshi Beam Service:Kk | 分析透過型電子顕微鏡 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5478075A (en) * | 1977-12-05 | 1979-06-21 | Hitachi Ltd | Sample image display device |
-
1982
- 1982-08-11 JP JP57139324A patent/JPS5929333A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5478075A (en) * | 1977-12-05 | 1979-06-21 | Hitachi Ltd | Sample image display device |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0690474A1 (en) * | 1994-06-29 | 1996-01-03 | Hitachi, Ltd. | Bi-axial-tilting specimen fine motion device and method of correcting image shifting |
| JP2002216695A (ja) * | 2001-01-15 | 2002-08-02 | Topcon Denshi Beam Service:Kk | 分析透過型電子顕微鏡 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0234421B2 (ja) | 1990-08-03 |
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