JPS5930030A - 電子温度計 - Google Patents
電子温度計Info
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- JPS5930030A JPS5930030A JP57140563A JP14056382A JPS5930030A JP S5930030 A JPS5930030 A JP S5930030A JP 57140563 A JP57140563 A JP 57140563A JP 14056382 A JP14056382 A JP 14056382A JP S5930030 A JPS5930030 A JP S5930030A
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- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
- G01K7/24—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
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- G—PHYSICS
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- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ） 発明の関連する技術分野
この発明は電子体温計等の電子温度計に量子る。
（ｂ） 従来技術の欠点
従来の電子温度計は電源スィッチをオンすると直ちに測
定モー″ドに移り、動作モードとしては通常の測定モー
ドしか備えていなかった。しかし、このような温度計で
は、回路機能が正常でない場合に、誤った測定をするこ
とになり、しかも誤った測定を行うときにその表示値が
誤測定値であることを表示する手段がない。それ故、従
来の電子温度計では測温精度に対する信頼性が劣るとい
う問題があった。
定モー″ドに移り、動作モードとしては通常の測定モー
ドしか備えていなかった。しかし、このような温度計で
は、回路機能が正常でない場合に、誤った測定をするこ
とになり、しかも誤った測定を行うときにその表示値が
誤測定値であることを表示する手段がない。それ故、従
来の電子温度計では測温精度に対する信頼性が劣るとい
う問題があった。
（ｃ） 発明の目的
この発り−１の目的は、使用毎に回路機能の自己診断を
短時間に行える電子温度計を提供することにある。
短時間に行える電子温度計を提供することにある。
（ｄ） 発明の構成および効果
この発り４Ｖｉ、盟約すれは、
ｆｆｌＡ度表示を行う表示手段の表示テストを行う表示
テスト回路と、その表示手段に基／ｆ一温度値を表示さ
せる機能テストを行う機能テスト回路と、測定開始を指
定するスイッチを含み、このスイッチ操作時に前記表示
テズト回路と前記機能テスト回路とを起動し、一定時間
後に測定開始状態に移行させるスイッチ回路とを有し、
前記スイッチ操作が行われたとき、前記表示テストおよ
び前記機能テストを行い、一定時間後に測定を開始する
ようにしたことを特徴とする。
テスト回路と、その表示手段に基／ｆ一温度値を表示さ
せる機能テストを行う機能テスト回路と、測定開始を指
定するスイッチを含み、このスイッチ操作時に前記表示
テズト回路と前記機能テスト回路とを起動し、一定時間
後に測定開始状態に移行させるスイッチ回路とを有し、
前記スイッチ操作が行われたとき、前記表示テストおよ
び前記機能テストを行い、一定時間後に測定を開始する
ようにしたことを特徴とする。
この発明によれば、
温度測定開始時に、回路機能の自己診断が短時間に自動
的に行われるので、回路機能の故障等を使用する前にあ
らかじめ知ることができ、測定結果の信頼性が向上する
利点を有する。
的に行われるので、回路機能の故障等を使用する前にあ
らかじめ知ることができ、測定結果の信頼性が向上する
利点を有する。
（ｅ） 実施例の説明
第１図はこの発明の一実施例を示す電子温度計のブロッ
ク図である。同図において、サーミスタ（感温抵抗）Ｒ
ｘ、基準抵抗Ｒの一端は共通接続されて、電源電圧の電
源（図示せず）に接続され、夫々の他端はスイッチＳＷ
を介して一端が接地されたコンデンサＣＫ接続される。
ク図である。同図において、サーミスタ（感温抵抗）Ｒ
ｘ、基準抵抗Ｒの一端は共通接続されて、電源電圧の電
源（図示せず）に接続され、夫々の他端はスイッチＳＷ
を介して一端が接地されたコンデンサＣＫ接続される。
スイッチＳＷはフリップフロップＦＦＩの出力によって
切換わるスイッチであって、フリップフロップＦＦＩの
。
切換わるスイッチであって、フリップフロップＦＦＩの
。
出力がある場合はサーミスタＲｘ側に、Ｑ出力がない場
合は基準抵抗Ｒ側に夫々切換わるように構成されている
。基準抵抗Ｒは感温抵抗Ｒｘが例えば３７．０°Ｃの吉
きの抵抗値を有する。スイッチ回路１４は、測定開始を
指示する押ボタンスイッチ（図示せず）を含み、この押
ボタン操作により、発振器ｌおよびタロツク発振器５へ
発振開始信号を出力し、まだ機能テスト回路１５に機能
テスト開始信号を出力する。捷だ、スイッチ回路１４は
、押ボタンスイッチを押したときから一定時間ドライバ
１２へ表示器１３を全灯点灯させる表示テスト信号を出
力する。機能テスト回路１５は、クロック発振器５がら
のタロツク信号を受け、一定時間出力をリセット信号と
してオア回路１６を介してフリッフロップＦＦＩに出力
する。
合は基準抵抗Ｒ側に夫々切換わるように構成されている
。基準抵抗Ｒは感温抵抗Ｒｘが例えば３７．０°Ｃの吉
きの抵抗値を有する。スイッチ回路１４は、測定開始を
指示する押ボタンスイッチ（図示せず）を含み、この押
ボタン操作により、発振器ｌおよびタロツク発振器５へ
発振開始信号を出力し、まだ機能テスト回路１５に機能
テスト開始信号を出力する。捷だ、スイッチ回路１４は
、押ボタンスイッチを押したときから一定時間ドライバ
１２へ表示器１３を全灯点灯させる表示テスト信号を出
力する。機能テスト回路１５は、クロック発振器５がら
のタロツク信号を受け、一定時間出力をリセット信号と
してオア回路１６を介してフリッフロップＦＦＩに出力
する。
発振器１はコンデンサＣとサーミスタＲｘ 又は基準
抵抗Ｒの時定数によりほぼ定まる周波数で発振する発振
器であり、その出方はカウンタ２に鼻、えられる。カウ
ンタ２は所定数Ｎｏ まて計数てきるＮｏ進カウンタで
あって、その出力はラッチ回路３に与えられ、オーバー
フロー出力は遅延回路４とランチ回路７に５えられる。
抵抗Ｒの時定数によりほぼ定まる周波数で発振する発振
器であり、その出方はカウンタ２に鼻、えられる。カウ
ンタ２は所定数Ｎｏ まて計数てきるＮｏ進カウンタで
あって、その出力はラッチ回路３に与えられ、オーバー
フロー出力は遅延回路４とランチ回路７に５えられる。
一方、所定のタロツク周波数ｆｃを発振するタロツク発
振器５の出力はカウンタ６に与えられる。カウンタ６の
出力はランチ回路７および比較回路８に与えられる。
振器５の出力はカウンタ６に与えられる。カウンタ６の
出力はランチ回路７および比較回路８に与えられる。
クロック発振器５、カクン゛〉６、ラッチ回路７および
ｌｔ較回Ｗ１８は、カウンタ２がオーバーフローするま
での時間を計測する計時手段を構成している。ラッチ回
路７は、カウンタ２のオーバーフロー出力をストローブ
信号とする計数値の保持回路であって、その出力は比較
回路８に与えられる。比較回路８はこれらの二種類の大
刀信号を比較するものであって、面入力が一致したとき
出方を発生する。その出力は遅延回路９に与えられ、更
にストローブ信号としてラッチ回路３に与えられる。
ｌｔ較回Ｗ１８は、カウンタ２がオーバーフローするま
での時間を計測する計時手段を構成している。ラッチ回
路７は、カウンタ２のオーバーフロー出力をストローブ
信号とする計数値の保持回路であって、その出力は比較
回路８に与えられる。比較回路８はこれらの二種類の大
刀信号を比較するものであって、面入力が一致したとき
出方を発生する。その出力は遅延回路９に与えられ、更
にストローブ信号としてラッチ回路３に与えられる。
遅延回路４の出力はセット信号としてクリップフロップ
ＦＦＩに与えられると共に、オア回ＷＧ １０を介して
カウンタ２．６にクリヤ信号として与えもれる。ラッチ
回路３の出力はデ゛コーダ１１、更にリードオンリメモ
リＲＯＭに与えられる。リードオンリメモリＲＯＭは入
力に対応する温度値が記憶されているメモリであっ、て
、その温度情報出力はドライバ１２を介して表示器１３
によって表示される。
ＦＦＩに与えられると共に、オア回ＷＧ １０を介して
カウンタ２．６にクリヤ信号として与えもれる。ラッチ
回路３の出力はデ゛コーダ１１、更にリードオンリメモ
リＲＯＭに与えられる。リードオンリメモリＲＯＭは入
力に対応する温度値が記憶されているメモリであっ、て
、その温度情報出力はドライバ１２を介して表示器１３
によって表示される。
第２図は発振器１とその周辺部の一例を示す回路図であ
る。同図に示すようにコンデンサＣには放電用抵抗Ｒ１
を介してインバータ１７．２５及びＭＯＳトランジスタ
１８が接続されている。ここでインバータ２５はヒステ
リシス特性を有するものさし、インパーク１７はヒステ
リシス特性を持たないものとする。インバータ２５．１
７の出力はゲート回ｆ４１９，２０を介して７リソプフ
ロツプＦＦ２のセット入力端子及びリセット久方端子に
与えられる。フリップフロップＦＦ２の。出力は前述す
るカウンタ２及びＭＯＳ）ランシフタ１８のゲートに与
えられる。フリップフロップＦＦ２のＣＬ端子にけ、ス
イッチ回路１４からの発振開始信号が与えられる。
る。同図に示すようにコンデンサＣには放電用抵抗Ｒ１
を介してインバータ１７．２５及びＭＯＳトランジスタ
１８が接続されている。ここでインバータ２５はヒステ
リシス特性を有するものさし、インパーク１７はヒステ
リシス特性を持たないものとする。インバータ２５．１
７の出力はゲート回ｆ４１９，２０を介して７リソプフ
ロツプＦＦ２のセット入力端子及びリセット久方端子に
与えられる。フリップフロップＦＦ２の。出力は前述す
るカウンタ２及びＭＯＳ）ランシフタ１８のゲートに与
えられる。フリップフロップＦＦ２のＣＬ端子にけ、ス
イッチ回路１４からの発振開始信号が与えられる。
第３図はスイッチ回路１４を示すブロック図である。同
図において、フリップフロップＦＦ３のＤ入力端子には
電源電圧ＶＤＤ が尋人され、フリップフロップＦＦ
３とＦＦ４の各ＣＬＫ端子には、分周されたタロツク信
号ＣＬＳがタロツク発振器５より与えられる。フリップ
７０ツブＦＦ３の回出力はフリップフロップＦＦ４のＤ
入力端子に与えられる。フリップフロップＦＦ４の回出
力はフリップフロップＦＦ５のＣＬＫ入力端子とノア回
１洛２２に与えられ、まだその回出力はノア回路２１に
与えられる。フリップフロップＦＦ５のＤ入力は、フリ
ップフロップＦＦ５の回出力より与えられ、その回出力
は・ノア回路２１．２２に与えられる。ノア回路２１の
出力端子はフリップフロップＦＦ６のＤ入力端子に接続
され、そのＣＬＫ入力端子にはタロツク発振器５よりタ
ロツク信号が与えられる。フリップフロップＦＦ３，４
．６０ＣＬ入力端子には、前述の押ボタンスイッチ（図
示せず）の出力が接続される。クリップフロップＦＦ６
の回出力は機能テスト開始信号として機能テスト回路１
５に、また、発振開始信号として、発振器１に与えられ
、また、回出力は発振開始信号としてタロツク発振器５
に与えられる。この機能開始信号および発振器１への発
振開始信号は回出力のｒｏｌ（ロー）に対応し、まだタ
ロツク発振器５への発振開始信号は回出力の「１」（ハ
イ）に対応している。まだ、ノア回路２２の出力は表示
テスト信号としてドライバ１２に与エラれる。
図において、フリップフロップＦＦ３のＤ入力端子には
電源電圧ＶＤＤ が尋人され、フリップフロップＦＦ
３とＦＦ４の各ＣＬＫ端子には、分周されたタロツク信
号ＣＬＳがタロツク発振器５より与えられる。フリップ
７０ツブＦＦ３の回出力はフリップフロップＦＦ４のＤ
入力端子に与えられる。フリップフロップＦＦ４の回出
力はフリップフロップＦＦ５のＣＬＫ入力端子とノア回
１洛２２に与えられ、まだその回出力はノア回路２１に
与えられる。フリップフロップＦＦ５のＤ入力は、フリ
ップフロップＦＦ５の回出力より与えられ、その回出力
は・ノア回路２１．２２に与えられる。ノア回路２１の
出力端子はフリップフロップＦＦ６のＤ入力端子に接続
され、そのＣＬＫ入力端子にはタロツク発振器５よりタ
ロツク信号が与えられる。フリップフロップＦＦ３，４
．６０ＣＬ入力端子には、前述の押ボタンスイッチ（図
示せず）の出力が接続される。クリップフロップＦＦ６
の回出力は機能テスト開始信号として機能テスト回路１
５に、また、発振開始信号として、発振器１に与えられ
、また、回出力は発振開始信号としてタロツク発振器５
に与えられる。この機能開始信号および発振器１への発
振開始信号は回出力のｒｏｌ（ロー）に対応し、まだタ
ロツク発振器５への発振開始信号は回出力の「１」（ハ
イ）に対応している。まだ、ノア回路２２の出力は表示
テスト信号としてドライバ１２に与エラれる。
この表示テスト信りはノア回路２２出力の「１」に対応
している。
している。
第４図は機能テスト回路１５を示すブロック図である。
同図において、カウンタ２４は）ロック発振器５よりタ
ロツク信号を、また、インバータ２３、を介して機能テ
スト開始信号を受け、一定時間力クシトする。そして、
カウントアツプ信号を、カウンタ２４のカウントアツプ
出力よりフリップフロップＦＦ７のＳ入力端子に出力す
る。インバータ２３の出力はフリップフロップＦＦ７の
Ｒ入力端子にも与えられ、フリップフロップＦＦ７の回
出力は、前述のようにオア回路１６を介してフリップフ
ロップＦＦＩのＲ入力端子に与えられる。
ロツク信号を、また、インバータ２３、を介して機能テ
スト開始信号を受け、一定時間力クシトする。そして、
カウントアツプ信号を、カウンタ２４のカウントアツプ
出力よりフリップフロップＦＦ７のＳ入力端子に出力す
る。インバータ２３の出力はフリップフロップＦＦ７の
Ｒ入力端子にも与えられ、フリップフロップＦＦ７の回
出力は、前述のようにオア回路１６を介してフリップフ
ロップＦＦＩのＲ入力端子に与えられる。
なお、フリップフロップＦＦＩ、７．ｕリセット優先の
フリップフロップである。
フリップフロップである。
以」二の構成において、この発明を構成する感温抵抗は
サーミスタＲｘが、比較手段はカウンタ２゜６、ラッチ
回路７、クロック発振器５、遅延回路４．９、比較回路
８およびその他のゲート回路が、表示手段はドライバ１
２および表示器１３が、また、表示テスト回路はスイッ
チ回路１４のノア回路２２等の表示テスト信号発生部が
それぞれ対応する。
サーミスタＲｘが、比較手段はカウンタ２゜６、ラッチ
回路７、クロック発振器５、遅延回路４．９、比較回路
８およびその他のゲート回路が、表示手段はドライバ１
２および表示器１３が、また、表示テスト回路はスイッ
チ回路１４のノア回路２２等の表示テスト信号発生部が
それぞれ対応する。
次に、この電子温度計の測定動作について説明する。第
５図はコンデンサＣの端子電圧波形を示す波形図である
。、今スイッチＳＷが基準抵抗Ｒ側にあるもの吉すると
、基準抵抗Ｒを介してコンデンサＣは充電され、その端
子電圧は徐々に上昇する。端子電圧がインパーク２５０
オン電圧Ｖ２に達すると、フリップフロップＦＦ２がセ
ットされ、ＭＯＳ）ランジスク１８がオン状態となシ、
コンデンサＣは抵抗Ｒ盲 を通じて放電される。端子
電圧が下がってインパーク２５のオフ電圧Ｖ１に達する
と、フリップフロップＦＦ２がリセットされて、再び充
電される。充電時間Ｔｃは次式で表わされる。ここでＲ
１＜Ｒ，Ｒｘである場合には放電時間は無視できる。従
って発振器１の発振周波数ｆｏは次式 ％式％ （２ ） で表わされる。カウンタ２および６は同時にクリヤされ
て夫々発振器ｌ及びタロツク発振器５の出力パルスを計
数する。カウンタ２の計数値が所定数Ｎｏに達すると、
そのオーバーフロー出力によってカウンタ６の計数値が
ラッチ回路７に保時される。ところでカウンタ２がオー
バーフローするまでの時間はＮｏ／ｆｏ であるので
、タロツク発振器５のクロック周波数をｆｃ（例えば３
３ ＫＨｚ）とするとラッチ回路７に保持されるカウン
タ６の計数値は次式 と表わすことができる。次にカウンタ２のオーバーフロ
ー出力は遅延回路４により微小時間遅れてオア回路１０
に加わり、カウンタ２，６をクリヤすると共に、フリッ
プフロップＦＦＩをセットする。フリップフロップＦＦ
Ｉが反転することにより、スイッチＳＷが基準抵抗Ｒ０
ＩＩＪからサーミスタＲｘ 側に切換えられる。サーミ
スタＲｘが接続された場合、発振器ｌの発振同波数ｆｘ
は、式（２）のＲをＲｘに変換して ｆｘ＝□ ・・・（２）ｋ ２ ＲｘＣ Ｅ−Ｖ＋ （但１．／ ｋ２＝Ｉｎ □ ） −Ｖ２ （サーミスタＲｘに接続されているとき）によって求め
ることができる°。カウンタ２ｒ／′ｉこれ以後発振周
波数ｆｘ の発振器１の出力パルスを計数し始める。一
方力クンタロは再びタロツク発振器５の出力パルスを計
数する。ここでクロック周波数をｆｃ とする。カウ
ンタ６が式（３）で示される計数値に達した時に比較回
路８は両者の一致を検出し、てその時点でΩカウンタ２
の計数値をラッチ回路３によって一時保持する。ラッチ
回路３にＪ：り保持される計数値をＮｘ とすると、
カウンタ２がＮｘまで計数する時間（Ｎｘ／ｆｘ）内に
カウンタ６が計数する計数値（、／ ｃＮｘ ／ ｆｘ
）はラッチ回路７に保持されている計数値ｆｃＮｏ
／ ｆｏ （式（３）の値）に等しい。従って次式が成
立つ。
５図はコンデンサＣの端子電圧波形を示す波形図である
。、今スイッチＳＷが基準抵抗Ｒ側にあるもの吉すると
、基準抵抗Ｒを介してコンデンサＣは充電され、その端
子電圧は徐々に上昇する。端子電圧がインパーク２５０
オン電圧Ｖ２に達すると、フリップフロップＦＦ２がセ
ットされ、ＭＯＳ）ランジスク１８がオン状態となシ、
コンデンサＣは抵抗Ｒ盲 を通じて放電される。端子
電圧が下がってインパーク２５のオフ電圧Ｖ１に達する
と、フリップフロップＦＦ２がリセットされて、再び充
電される。充電時間Ｔｃは次式で表わされる。ここでＲ
１＜Ｒ，Ｒｘである場合には放電時間は無視できる。従
って発振器１の発振周波数ｆｏは次式 ％式％ （２ ） で表わされる。カウンタ２および６は同時にクリヤされ
て夫々発振器ｌ及びタロツク発振器５の出力パルスを計
数する。カウンタ２の計数値が所定数Ｎｏに達すると、
そのオーバーフロー出力によってカウンタ６の計数値が
ラッチ回路７に保時される。ところでカウンタ２がオー
バーフローするまでの時間はＮｏ／ｆｏ であるので
、タロツク発振器５のクロック周波数をｆｃ（例えば３
３ ＫＨｚ）とするとラッチ回路７に保持されるカウン
タ６の計数値は次式 と表わすことができる。次にカウンタ２のオーバーフロ
ー出力は遅延回路４により微小時間遅れてオア回路１０
に加わり、カウンタ２，６をクリヤすると共に、フリッ
プフロップＦＦＩをセットする。フリップフロップＦＦ
Ｉが反転することにより、スイッチＳＷが基準抵抗Ｒ０
ＩＩＪからサーミスタＲｘ 側に切換えられる。サーミ
スタＲｘが接続された場合、発振器ｌの発振同波数ｆｘ
は、式（２）のＲをＲｘに変換して ｆｘ＝□ ・・・（２）ｋ ２ ＲｘＣ Ｅ−Ｖ＋ （但１．／ ｋ２＝Ｉｎ □ ） −Ｖ２ （サーミスタＲｘに接続されているとき）によって求め
ることができる°。カウンタ２ｒ／′ｉこれ以後発振周
波数ｆｘ の発振器１の出力パルスを計数し始める。一
方力クンタロは再びタロツク発振器５の出力パルスを計
数する。ここでクロック周波数をｆｃ とする。カウ
ンタ６が式（３）で示される計数値に達した時に比較回
路８は両者の一致を検出し、てその時点でΩカウンタ２
の計数値をラッチ回路３によって一時保持する。ラッチ
回路３にＪ：り保持される計数値をＮｘ とすると、
カウンタ２がＮｘまで計数する時間（Ｎｘ／ｆｘ）内に
カウンタ６が計数する計数値（、／ ｃＮｘ ／ ｆｘ
）はラッチ回路７に保持されている計数値ｆｃＮｏ
／ ｆｏ （式（３）の値）に等しい。従って次式が成
立つ。
タロツク周波数は基準抵抗ＲとサーミスタＲｘとを切換
える間には変化しないものとすればｆｃ とｆｃ とは
等しいので、式（４）を変形し、式＋２＋、 （２＋を
代入すると、次式が成立つ。
える間には変化しないものとすればｆｃ とｆｃ とは
等しいので、式（４）を変形し、式＋２＋、 （２＋を
代入すると、次式が成立つ。
ところでサーミスタＲＸ の抵抗値は次式で表すことが
できる。
できる。
但しＲｏ：絶対零度Ｔｏ のときの抵抗値Ｂ ：ボルッ
マン定数 Ｔ ：絶対温度 尚スイッチＳＷは半導体スイッチで構成するが、基ｔＩ
Ｌ抵抗ＲとサーミスタＲｘ の抵抗値がほぼ等しければ
、スイッチのオン抵抗、オフ電圧Ｖ１１オン電圧Ｖ２の
値は等しいものと考えられるので、ｋｌ二に２ とお
くことができる。これを用いて式（６）を式（５）に代
入すると、 Ｒ１１−ｔ Ｎｘ＝Ｎｏ ・−ｅｘｐＢ（−−） ・・−［ＩＲｏ
Ｔｏ Ｔ 従ってＮｘが定まれば、他は全て定数であるので温度を
求めることができるｂ“第１図に示すり−ドオンリメモ
リＲＯＭには式（７）に基づく変換コードが記憶されて
おり、ラッチ回路８に保持されるＮｘのデータはデコー
ダ１１を通じてリードオンリメモリＲＯＭに与えられ、
温度の情報が読出される。
マン定数 Ｔ ：絶対温度 尚スイッチＳＷは半導体スイッチで構成するが、基ｔＩ
Ｌ抵抗ＲとサーミスタＲｘ の抵抗値がほぼ等しければ
、スイッチのオン抵抗、オフ電圧Ｖ１１オン電圧Ｖ２の
値は等しいものと考えられるので、ｋｌ二に２ とお
くことができる。これを用いて式（６）を式（５）に代
入すると、 Ｒ１１−ｔ Ｎｘ＝Ｎｏ ・−ｅｘｐＢ（−−） ・・−［ＩＲｏ
Ｔｏ Ｔ 従ってＮｘが定まれば、他は全て定数であるので温度を
求めることができるｂ“第１図に示すり−ドオンリメモ
リＲＯＭには式（７）に基づく変換コードが記憶されて
おり、ラッチ回路８に保持されるＮｘのデータはデコー
ダ１１を通じてリードオンリメモリＲＯＭに与えられ、
温度の情報が読出される。
温度情報はドラ々パ１２を介して表示器１３によって表
示される。
示される。
次にこの電子温度計における回路機能テスト動作を説明
する。
する。
第６・、−＝ ７図はそれぞれスイッチ回路１４、機能
テスト回路１５の動作を示すタイミングチャートである
。スイッチ回路１４の押ボタンスイッチを押すと、その
入力の立」ユリタイミングで、フリップフロップＦＦ３
，４．６はリセットされる。そのリセット直後より、フ
リップフロップＦＦ６の出力から、機能テスト開始信号
および発振器１の発振開始信号、タロツク発振器５の発
振開始信号が出力される。この吉きノア回路２２から表
示テスト信号が出力される。すなわち、この押ボタン操
作によりパワーオン状態に移る。この表示テスト信号が
出力されている時間は、第６図に示すように、押ボタン
スイッチのオン時間Ｔ１と、チャタリング防止用に設け
られた時間Ｔ２ との和である。ところで、時間Ｔ２
は２１０ ／ ｆｃ秒程度であるので、ＴＩ＞Ｔ２とい
える。しだがって、表示テスト信号はほぼ押ボタンスイ
ッチを押している聞出力されることになる。この表示テ
スト信号がドライバ１２に与えられると、表示器１３が
全灯点灯される。これにより、操作者は、表示器１３が
全灯点灯されているか否かを肉眼で確認することによっ
て表示器１３の正常動作をチェックすることができる。
テスト回路１５の動作を示すタイミングチャートである
。スイッチ回路１４の押ボタンスイッチを押すと、その
入力の立」ユリタイミングで、フリップフロップＦＦ３
，４．６はリセットされる。そのリセット直後より、フ
リップフロップＦＦ６の出力から、機能テスト開始信号
および発振器１の発振開始信号、タロツク発振器５の発
振開始信号が出力される。この吉きノア回路２２から表
示テスト信号が出力される。すなわち、この押ボタン操
作によりパワーオン状態に移る。この表示テスト信号が
出力されている時間は、第６図に示すように、押ボタン
スイッチのオン時間Ｔ１と、チャタリング防止用に設け
られた時間Ｔ２ との和である。ところで、時間Ｔ２
は２１０ ／ ｆｃ秒程度であるので、ＴＩ＞Ｔ２とい
える。しだがって、表示テスト信号はほぼ押ボタンスイ
ッチを押している聞出力されることになる。この表示テ
スト信号がドライバ１２に与えられると、表示器１３が
全灯点灯される。これにより、操作者は、表示器１３が
全灯点灯されているか否かを肉眼で確認することによっ
て表示器１３の正常動作をチェックすることができる。
押ボタンスイッチをオフしてからＴ２時同経過すると、
タロツク信号ＣＬＳの立下りタイミングにおいて、フリ
ップフロップＦＦ４，５はセットされ、ノア回路２２の
出力が反転して表示デス１−信号は出力されなくなる。
タロツク信号ＣＬＳの立下りタイミングにおいて、フリ
ップフロップＦＦ４，５はセットされ、ノア回路２２の
出力が反転して表示デス１−信号は出力されなくなる。
一方、この表示テスト信号が出力されている間、機能テ
スト回路１５ｔ／′ｉ、インバータ２３を介して機能テ
スト開始信号と、タロツク発振器５よりのタロツク信ち
″とを受け、カクンタ２４がカウントを５開始する。こ
れと同時に、フリップフロップＦＦ７にはリセット信り
が与えられ、フリップ７０ツブＦ Ｆ ７の回出力が「
１」になる。この回出力はオア回路１６を介してフリッ
プフロップＦ Ｆ １の１く入力端子に導入され、フリ
ップ７０ツブＦＦＩはリセットされる。しだがって、ス
イッチＳＷは感温抵抗Ｒｘ 側に切換わることなく、基
準抵抗Ｒ側に接続された′ままになる。それ故、発振器
１は強制的に基準抵抗Ｒで発振する。そして、前述した
ように、基準抵抗Ｒは３７．０℃のときの感温抵抗ＲＸ
の抵抗値に設定されているので、カクンク２４がカ
クントアソプするまで表示器１３には基準温度値として
３７．０℃が一定時間表示−される。
スト回路１５ｔ／′ｉ、インバータ２３を介して機能テ
スト開始信号と、タロツク発振器５よりのタロツク信ち
″とを受け、カクンタ２４がカウントを５開始する。こ
れと同時に、フリップフロップＦＦ７にはリセット信り
が与えられ、フリップ７０ツブＦ Ｆ ７の回出力が「
１」になる。この回出力はオア回路１６を介してフリッ
プフロップＦ Ｆ １の１く入力端子に導入され、フリ
ップ７０ツブＦＦＩはリセットされる。しだがって、ス
イッチＳＷは感温抵抗Ｒｘ 側に切換わることなく、基
準抵抗Ｒ側に接続された′ままになる。それ故、発振器
１は強制的に基準抵抗Ｒで発振する。そして、前述した
ように、基準抵抗Ｒは３７．０℃のときの感温抵抗ＲＸ
の抵抗値に設定されているので、カクンク２４がカ
クントアソプするまで表示器１３には基準温度値として
３７．０℃が一定時間表示−される。
すなわち、操作者は、表示器１３に３７．０°Ｃが表示
されているか否かを肉眼で確認することによって、回路
機能のテストを行うことができる。なお、このテストは
表示テスト信号が出力されている間のうち、押ボタンス
イッチを押しているときでも行われるが、そのＴ１ 時
間の間は表示器１３が全灯点灯されるので、実質上３７
．０℃の表示を確認できるのは押ボタンスイッチを押し
終えた後からである。
されているか否かを肉眼で確認することによって、回路
機能のテストを行うことができる。なお、このテストは
表示テスト信号が出力されている間のうち、押ボタンス
イッチを押しているときでも行われるが、そのＴ１ 時
間の間は表示器１３が全灯点灯されるので、実質上３７
．０℃の表示を確認できるのは押ボタンスイッチを押し
終えた後からである。
次にカクンタ２４がカウントアップすると、そのカウン
トアツプ出力をフリップフロップＦＦ７に与え、フリッ
プフロップＦＦ７をセントする。
トアツプ出力をフリップフロップＦＦ７に与え、フリッ
プフロップＦＦ７をセントする。
しだがって、フリップフロップＦＦＩへのリセット信号
が解除されるこ吉になり、前述した通常の測定動作に移
る。
が解除されるこ吉になり、前述した通常の測定動作に移
る。
測定終了後、押ボタンスイッチを押すと、その入力の立
子、リタイミングで、フリップ７０ツブＦＦ３，４はリ
セットされる。そして、押ボタンスイツヂを押し終えた
ときから、チャクリング防市川に設けた時間Ｔ８ を経
過した後、タロツク信号ＣＬＳの立下りタイミングでフ
リップフロップＦＦ４がセットされ、また、フリップ７
０ツブＦＦ５がリセットされる。したがって、クリップ
フロップＦＦ６のＱ出力は「ｌ」に、また、■出力は「
０−」になって、パワーオフ状態になる。すなわち、フ
リップ７０ツブＦＦ６の出力の反転によって、発振器１
およびタロツク発振器５の発振が停止する０
子、リタイミングで、フリップ７０ツブＦＦ３，４はリ
セットされる。そして、押ボタンスイツヂを押し終えた
ときから、チャクリング防市川に設けた時間Ｔ８ を経
過した後、タロツク信号ＣＬＳの立下りタイミングでフ
リップフロップＦＦ４がセットされ、また、フリップ７
０ツブＦＦ５がリセットされる。したがって、クリップ
フロップＦＦ６のＱ出力は「ｌ」に、また、■出力は「
０−」になって、パワーオフ状態になる。すなわち、フ
リップ７０ツブＦＦ６の出力の反転によって、発振器１
およびタロツク発振器５の発振が停止する０
第１図はこの発明の一実施例を示す電子温度計のブロッ
ク図、第２図は同電子温度計の発振器ｌの周辺を示す回
路図、第３図は同電子温度計のスイッチ回路１４の回路
図、第４図は同電子温度計の機能デス１−回路１５の回
路図、第５図は同電子温度計コンデンサＣの端子電圧波
形を示す波形図、第６図および第７図はそれぞれ同電子
温度計のスイッチ回路１４、機能テスト回路１５の動作
を示すタイミングチャートである。 １・・・発振器、 １３・・・表示器、１４
・・・スイッチ回路、 １５・・・機能テスト回路、
Ｒ・・・基準抵抗、 Ｒｘ ・・・感温抵抗
。 出願人 立石電機株式会社 代理人 弁理士 小森久夫
ク図、第２図は同電子温度計の発振器ｌの周辺を示す回
路図、第３図は同電子温度計のスイッチ回路１４の回路
図、第４図は同電子温度計の機能デス１−回路１５の回
路図、第５図は同電子温度計コンデンサＣの端子電圧波
形を示す波形図、第６図および第７図はそれぞれ同電子
温度計のスイッチ回路１４、機能テスト回路１５の動作
を示すタイミングチャートである。 １・・・発振器、 １３・・・表示器、１４
・・・スイッチ回路、 １５・・・機能テスト回路、
Ｒ・・・基準抵抗、 Ｒｘ ・・・感温抵抗
。 出願人 立石電機株式会社 代理人 弁理士 小森久夫
Claims (1)
- ＋１１ 時定数回路を構成する抵抗を基準抵抗と感温
抵抗とに切換え可能に構成した発振器と、前記発振器の
二種類の抵抗を切換えて、夫々の発振周波数を比較する
比１手段と、前記比較手段の出力に基ついて湿度値を表
示する表示手段とを備えた電子湿度計において、・前記
表示手段の表示テストを行う表示テスト回路と、前記表
示手段に基準温度値を表示させる機能テストを行う機能
テスト回路と、測定開始を指示するスイッチを含み、こ
のスイッチ操作時に前記表示テスト回路と前記機能テス
ト回路とを起動し、一定時間後に測定開始状庸に移行さ
せるスイッチ回路とを有し、前記スイッチ操作が行われ
たとき、前記表示テストおよび前記機能テストを行い、
一定時間後に測定番開始するようにした電子ｉｆ！度肝
。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57140563A JPS5930030A (ja) | 1982-08-12 | 1982-08-12 | 電子温度計 |
| US06/521,837 US4592003A (en) | 1982-08-12 | 1983-08-10 | Measuring circuit device |
| EP83107972A EP0103183B1 (en) | 1982-08-12 | 1983-08-11 | Measuring circuit device |
| DE8383107972T DE3380315D1 (en) | 1982-08-12 | 1983-08-11 | Measuring circuit device |
| EP89100107A EP0318461A3 (en) | 1982-08-12 | 1983-08-11 | Measuring circuit device |
| AT83107972T ATE45216T1 (de) | 1982-08-12 | 1983-08-11 | Vorrichtung mit messschaltung. |
| KR1019830003785A KR890004449B1 (ko) | 1982-08-12 | 1983-08-12 | 측정회로 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57140563A JPS5930030A (ja) | 1982-08-12 | 1982-08-12 | 電子温度計 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1331615A Division JPH0810168B2 (ja) | 1989-12-21 | 1989-12-21 | 電子体温計の表示方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5930030A true JPS5930030A (ja) | 1984-02-17 |
| JPH0449056B2 JPH0449056B2 (ja) | 1992-08-10 |
Family
ID=15271587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57140563A Granted JPS5930030A (ja) | 1982-08-12 | 1982-08-12 | 電子温度計 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0103183B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5930030A (ja) |
| KR (1) | KR890004449B1 (ja) |
| AT (1) | ATE45216T1 (ja) |
| DE (1) | DE3380315D1 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61104233A (ja) * | 1984-10-26 | 1986-05-22 | Seiko Epson Corp | 測温回路 |
| JPS61111437A (ja) * | 1984-11-06 | 1986-05-29 | Seiko Epson Corp | 圧力センサ−付小型携帯機器 |
| JPH0394131A (ja) * | 1989-12-21 | 1991-04-18 | Omron Corp | 電子温度計 |
| JP2010237149A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Terumo Corp | 電子体温計及び作動制御方法 |
| JP2019148462A (ja) * | 2018-02-26 | 2019-09-05 | 株式会社Ｓｕｂａｒｕ | 診断装置 |
| CN111367332A (zh) * | 2020-02-17 | 2020-07-03 | 深圳芥子科技有限公司 | 基于电阻的温度采集电路及控制方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102832493B1 (ko) * | 2024-05-20 | 2025-07-15 | 주식회사 테크브릿지 | 이기종 측정장치 통합 제어 시스템 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5171168A (ja) * | 1974-12-18 | 1976-06-19 | Stanley Electric Co Ltd | Deijitaruhyojigatasutotsupuotsuchi |
| JPS5766311A (en) * | 1980-10-09 | 1982-04-22 | Toshiba Corp | Automatic testing device |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3743939A (en) * | 1972-05-01 | 1973-07-03 | Weston Instruments Inc | Multimeter battery and display function test apparatus |
| GB1502056A (en) * | 1976-06-25 | 1978-02-22 | American Med Electronics | Automatic on-off electronic switch |
| US4322639A (en) * | 1976-08-26 | 1982-03-30 | Hitachi, Ltd. | Voltage detection circuit |
| US4049930A (en) * | 1976-11-08 | 1977-09-20 | Nasa | Hearing aid malfunction detection system |
| US4321933A (en) * | 1979-08-23 | 1982-03-30 | Baessler Medical Electronics, Inc. | Telemetry system for monitoring hospital patient temperature |
-
1982
- 1982-08-12 JP JP57140563A patent/JPS5930030A/ja active Granted
-
1983
- 1983-08-11 EP EP83107972A patent/EP0103183B1/en not_active Expired
- 1983-08-11 AT AT83107972T patent/ATE45216T1/de not_active IP Right Cessation
- 1983-08-11 DE DE8383107972T patent/DE3380315D1/de not_active Expired
- 1983-08-12 KR KR1019830003785A patent/KR890004449B1/ko not_active Expired
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5171168A (ja) * | 1974-12-18 | 1976-06-19 | Stanley Electric Co Ltd | Deijitaruhyojigatasutotsupuotsuchi |
| JPS5766311A (en) * | 1980-10-09 | 1982-04-22 | Toshiba Corp | Automatic testing device |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61104233A (ja) * | 1984-10-26 | 1986-05-22 | Seiko Epson Corp | 測温回路 |
| JPS61111437A (ja) * | 1984-11-06 | 1986-05-29 | Seiko Epson Corp | 圧力センサ−付小型携帯機器 |
| JPH0394131A (ja) * | 1989-12-21 | 1991-04-18 | Omron Corp | 電子温度計 |
| JP2010237149A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Terumo Corp | 電子体温計及び作動制御方法 |
| JP2019148462A (ja) * | 2018-02-26 | 2019-09-05 | 株式会社Ｓｕｂａｒｕ | 診断装置 |
| US10585017B2 (en) | 2018-02-26 | 2020-03-10 | Subaru Corporation | Diagnosis apparatus |
| CN111367332A (zh) * | 2020-02-17 | 2020-07-03 | 深圳芥子科技有限公司 | 基于电阻的温度采集电路及控制方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| ATE45216T1 (de) | 1989-08-15 |
| KR840006071A (ko) | 1984-11-21 |
| DE3380315D1 (en) | 1989-09-07 |
| EP0103183A3 (en) | 1985-08-28 |
| KR890004449B1 (ko) | 1989-11-04 |
| EP0103183A2 (en) | 1984-03-21 |
| EP0103183B1 (en) | 1989-08-02 |
| JPH0449056B2 (ja) | 1992-08-10 |
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