JPS5930152A - 論理回路診断方式 - Google Patents

論理回路診断方式

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JPS5930152A
JPS5930152A JP57138516A JP13851682A JPS5930152A JP S5930152 A JPS5930152 A JP S5930152A JP 57138516 A JP57138516 A JP 57138516A JP 13851682 A JP13851682 A JP 13851682A JP S5930152 A JPS5930152 A JP S5930152A
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JP
Japan
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terminal
output
input
logic circuit
bus
Prior art date
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Pending
Application number
JP57138516A
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English (en)
Inventor
Shiro Oishi
大石 志郎
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS5930152A publication Critical patent/JPS5930152A/ja
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の対象 本発明は、論理回路診断方式に関し、特に双方・向性バ
スを含む論理回路の片側遅延特性を保証して回路の診断
を行う方式に関するものである〇従来技術 近年、論理LSIのような大規模な論理回路において、
該論理回路の診断性は大きな問題となっており、その問
題に関しては「論理機能ユニットのテスト方法」 (特
公昭52−25287号(IBM)参照)のように、論
理回路内の7リツプフ四ツブを擬似的に論理回路の入出
力エツジピンとみなせるような論理構造とし、該機能を
用いて論理゛回路の診断を容易に実施できるようにする
診断方式(以下スキャンイン/アウト診断方式と称す)
がなされている。
第1図のスキャンイン/アウト診断方式では、スキャン
イン/アウト制御部25として、スキャン・ワードアド
レス・レジスタ20、スキャン・ビットアドレス・カウ
ンタ27、およびスキャンアウト・データ・レジスタ3
0が設けられ、パネル制御部42またはマイクロ・プ四
グラム制御部41により起動される。バネ/I/42か
らLSI内のフリップ・フロップ34を含むフリップ・
フロップ群34−1の1ワードをスキャン・アウトする
場合には、データ・バス24を通して該当する′スキャ
ン・ワードアドレスをレジスタ26にセットした後、ス
キャン・アウト動作の起動を行う。
スキャンイン/アウト制御部25が起動すると、レジス
タ20の内容がアドレス・バス29を通じてワードアド
レス・デコーダ31に供給され、スギャンワード選択信
号32を発生させることによ′す、スキャンビット・セ
レクタ33を有効化する。
同時に、スキャンビット・カウンタ27の内容シスキャ
ンビット・アドレス・バス30を迎してスキャンビット
・セレクタ33に供給した後、スキャンビット・カウン
タ27のカウンタ・アップを開始する。
スキャンビット・カウンタ27のカウント・ア・ツブと
同時に、スキャンビット・セレクタ33によりフリップ
・70ツブ群34−1の1ワードに含まれるフリップ・
フロップの状態がスキャンア・ウド・データ・バス35
に順次選択出力され、スキャンアウト・データ・レジス
タ30の該当ビットに順次セットされる。1ワ一ド分の
スキャンアウド動作が終了すると、パネル42はデータ
・バス24によりスキャンアウト・データ・レジスタ。
36の内容を取り込むことによって、フリップパ′70
ツブ1ff14−1のスキャンアウト動作を行う゛こと
ができる。しかし、従来、このような診断力。
式の適用は、片側遅延特性の保ff+T:されている、
つまりループ回路のない@理回路のみに限られてぃ′た
。しかしながら双方向性バス(1、論理回路のLl“S
I化か進むと、LSIの入出力ピン数の制限か゛ら、肴
に低速系インタフェースでは数多く使用されるものと予
想される。
双方向性バスを含む論理回路は、例えば、第2図゛ニ示
すように、双方向性バスドライバ1の5ステ1′i−ト
状胸の制御用ピンであるコントロール端子4゜を°°真
°′として、双方向性バスドライバ1を出カモ。
−ドとし、バス端子凸にデータを入力しない状態”で、
データセレクタ16を、セレクト端子22に“より、7
リツプフ四ツブ13の出力データを選択するようにして
、クロック端子21より7リツプフロツプ13のクロッ
ク入力を”真”とすると、ブリップ70ツブ13のデー
タ入力とデータ出力がループを形成しているため、該状
態では7リツプ70ツブ13の出力値は確定しなくなる
このように、双方向性バスを含む論理回路12では、該
回路の片側遅延特性が保証されないため、前記のような
診断方式の適用は不可能であった。
なお、第2図の論理回路12は、双方向性バズドライバ
1.フリップフロップ13.  フリップブ(10ツブ
149組合ぜ回路15.セレクタ10.セ゛レクタ17
.インパーン18.インバータ19が。
ら構成されている。また、論理回路12は、入力′ピン
として、クロック入力端子20.クロック入゛力端子2
1.データセレクト入力端子22.デ°−トタセレクト
入力端子23を、入出力兼用のピンと・して、双方向性
バスピンであるBUS端子凸を有・しており、該論理回
路12は、前記入力ピンおよ・び入出力ピンより診断デ
ータパターンを印加し、入出力ピンより出力されるデー
タを観測することによって診断を実施することになる。
発明の目的 本発明の目的は、双方向性バスを含む論理回路において
、双方向性バスドライバを、片側遅延特性が保証でき、
かつ、実際の動作と異なることの゛ないようなゲート群
に置換することで前記、スギ′ヤンイン/アウト方式に
て、双方向性バスを含す。
論理回路の診断が実施できる論理回路診断方式を提供す
るにとにある。
本発明の論理回路診断方式は、双方向性バスを。
含tri理回路の入出力兼用バス端子を、各々独立゛の
入力、出力バス端子と仮定して、出力モードでは、内部
出力端子に対応して出力バス端子のレベ。
ルが設定され、入力バス端子と内部入力端子がそ5れぞ
れハイインピーダンス状態と不確定状態にな・るように
、また入力モードでは入力バス端子に対。
応して内部入力端子に対応して入力バス端子のし・ベル
が設定され、出力バス端子と内部出力端子が・それぞれ
ハイインピーダンス状態と不確定状態に?すなるように
、それぞれコントロール端子を制御することにより片側
遅延特性を保証して、診断データ・パターンを発生し、
上記論理回路の診断を行うことに特徴がある。
発明の実施例 8I¥3図(a) (b)は、本発明の詳細な説明する
図であり、このうち第3 [M (FL)は実際の双方
向ドライバ、゛第δ図(b)は論理的に置換された双方
向ドライバを、それぞれ示している。
第3図(PL)の双方向性バスドライバ1は、入出力゛
兼用のバス端子凸、コントロール端子4、入力端子〇、
出力端子6を備えているのに対して、第3図(b)の双
方向性バスドライバ2は、双方向性バスドライバ1の片
側遅延特性を保証するため、入出力班(用ピンであるバ
ス端子3を各々独立の入カビ・ン端子7と出力ビン端子
9とに分け、かつコント・ロール端子8、入力端子10
、出力端子11を備えている。
本発明は、双方向性バスドライバ1の特性である入出力
端子の兼用という点において、実際の動・作土では、該
バスドライバへの入力動作と、該バスドライバからの出
力動作が入出力データのぶつかり合いを防ぐため、時分
割に、5ステートコン。
トロール端子を制御することによってなされるどいつ点
に着目し、この意味では、該パスドライノゼ゛の片側遅
延特性を、入出力端子を独立の端子とすることで、保証
したとしても何らさしつかえないということに基づいて
いる。したがって19本発明では、第3図(b)に示す
理論上置換された双方向バスドライバ2に対して、各端
子7.9.10.11の°゛値をあらかじめ定めた値に
なるようにコントロール端子8を制御することにより、
片側遅延特性を保証する。
第4図は、第5図(b)に示す置換されたバスドライバ
の真理値テーブルの説明図である。
第4図において、C0NTR0L端子が°゛L′1の時
、すなわち双方向性バスドライバが出力モードの時・、
I IIUS端子が、ハイインピーダンス状態Zとなつ
・ているのは、双方向性バスドライバの入出力デー・り
のぶつかり合いによるゲート破壊を防止するた・・−め
のものであり、双方向性バスドライバの保護のためには
、必ず、テスタにて必ず守らtrければならないことで
あって、本発明の双方向性バスドライバのゲート置換に
よるものでないことを明記しておく。
また、本来1個の入出力ピンである双方向性バスドライ
バ1のBUS端子を、双方向性バスドライバ2では、2
つの独立したビン、IBUSビン7.0BUSビン8に
分けているが、双方向性バスドライバ1の性質として、
C0NTILOL端子4の状態により、時分?l!Iに
、BUS端子を入力モード、出力モードに切替えるわけ
であるから、診断データ作成時にBUS端子凸を、I 
BUS端子7.0BUS端子8に分け、かつ、第4図の
真理値テーブルに従ってデータパターンを作成したとし
ても、テ°スタ側は、前記の如く、データのぶつかり合
いがないように、双方向性バスドライバを時分割に制御
するため、1個の端子として、I Bus端子7.0B
US端子8を見なしたとしても、診断データと、実際の
双方向性バスドライバの動作に関して差異がないことは
明らかである。
なお、第4図のテーブルにおいて、Zはハイ・インピー
ダンス状態、XはOまたはlの不確定状態を表わしてい
る。CON’l”1lOL端子4がHI、 IIのとき
は出力モードであり、OUT端子0が°゛L″まだはN
 HIIならば、B[、Is端子凸は0BUSとして働
き、°“l、 IIまたは”H″状態なる一方、I B
USはハイインピーダンス状態、IN端子5は不確定状
態となる。
次に、CON i’ l C)L 端子4が°’H”の
ときは入力モードであり、p u s端子3はI B 
tJ Sとしで働き、I LI LI 8がL′°また
は°°H″ならば、IN端子5も・L・′または・・H
”となる一方、0BUSはへイインピーダンス状態、O
UT端子6 G:j、 ” l、″または°“H′′の
不確定状態となる。
第5図は、本発明の実施例を示す論理回路診断方式の説
明図である。
Mb図では、論理回路12の組合せ回路15を・、スキ
ャンイン/アウト診断方式を適用して診断する例を説明
する。
まず、第1に、フリップ・フロップ]、3を擬似的にエ
ツジピンと見たて、フリップ・フロップ13に組合せ回
路15のゲート群を活性化できる任意のデータパターン
をI Bus端子7よりセットする(スキャンイン動作
)。第2に、組合せ回路16の出力値を7リツプ・フロ
ップ14にセットする(クロックアドバンス)。第3に
7リツプ・フロップ14の出力値を0BUS端子8より
読取り、(スキャンアウト動作)出力期待値と比較する
このように、スキャンイン/アウト診断方式では、スキ
ャンイン動作(クロック入力端子21によりI T3 
U S 端子7からデータ入力)、クロック・アドバン
ス動作(データ・セレクト入力端子23で組合U゛回路
5の出力を選択し、クロック・入力端子20からのクロ
ックでセット)およびスキャンアウト動作(データ・セ
レクト入力端子22でインバータ19の出力を選択し、
C0NTR0L 端子8で出力モードにする)の5動作
が行われる。
このようにして、診断を実施するわけであるが、この例
からも、双方向性バスドライバの制御は、人力モード、
出力モードの切替えを時分割に行うので、診断データパ
ターン作成時に、2つの独立な入力ピン、出力ピンを双
方向性バスドライバに与えておいて、実際の診断時は1
個のピンとして扱っても、何ら問題が生じないことがわ
かる。
次に、双方向バスドライバ2のC0NTR0L端子8を
”L IIとしたまま、クロック入力端子20゜21よ
り、フリップ・フロップ13.14のクロック入力を真
”とすると、第4図の真理値テーブルにより、7リツプ
・フロップ13.14の出力値はXの状態で入力される
ので、0/1不確定の状態となる。これは、双方向性バ
スの実動作上でも、フリップ・70ツブの入出力データ
のループにより、片側遅延特性が保証できなくなる場合
であるので、例えこの時フリップ・フロップ13゜14
の出力値を0/1不確定の状態としても問題はなく、た
だ双方向性バスドライバ2では、2つの独立したI B
us端子7と0BUS端子8を持つことにより、該バス
ドライバの片側遅延特性を保証するだけのことである。
Q”IIに、双方向バスドライバのループ機能を利用し
た動作、例えば、第2図の論理回路12の7リツプ・7
0ツブ13に任意のデータをセットした後、双方向性バ
スドライバ1のC0N71’1LOL 端子ヰを”真”
とし、フリップ・フロップ13の出力値を双方向バスド
ライバ1を介してフリップ・フロップ14−にセットす
るような場合の診断について述べる。
前記の場合で、第5図に示す論理回路12では、双方向
性バスドライバ2が、2つの独立した入力ピン、出力ピ
ンを持つため、前記のような動作では、フリップ・フロ
ップ14の出力値は0/1不確定状態となる。
しかしながら、前記の7リツプ・フリップ14の出力値
が0/1不確定状態となることが、論°理回路12の診
断性に影響を与えることはない。何故ならば、第1に、
フリップ・70ツブ14の出力値は0/1不確定として
いるので、このとき、7リツプ・7四ツブ14の出力デ
ータを読み出したとしても、診断データの期待値を誤る
ことはない。
第2に、前記の動作は、(1)フリップ・70ツブ13
に双方向性バスドライバ2を介して、任意のデータをセ
ットし、次に7リツプ・フロップ13の出力値を双方向
性バスドライバ2より読みだして期待値と比較する。■
フリップ・フロップ14に双方向バスドライバ2を介し
て任意のデータをセットシ、次に7リツプ・フロップ1
4の出力値を双方向性バスドライバ2より読み出して期
待値と比較するという診断を実施することで、該動作の
正常もしくは不良を診断できるからである。
第6図は、本発明の論理回路診断方式のタイムチャート
である。
スキャンイン/アウト診断方式を行うため、C0NTR
0L端子4(8)をスキャン・「ン動作のときH″、ク
ロック・アドバンス動作のとき”H″または°゛L″、
スキャンアウト動作のとき°°L″′に、それぞれ制御
する。
・BUS端子3 (7,9)は、C0NTR0L端子4
(8)の状態に対応してスキャンイン状態のとき入カデ
ータが例えばフリップ・フロップ13にセットされ、ク
ロック・アドバンス状態のときは不確定となり、スキャ
ンアウト状態のとき出力データが例えばフリップ・70
ツブ14から取り出される0その場合、スキャン・クロ
ック入力端子21゜からはスキャンイン状態のときパル
スが入力され、システム・クロック入力端子20からは
、クロック・アドバンス状態のときパルスが入力され、
スキャン・アドレスはデータ・セレクト入力端子22.
23より選択され、クブック・アトバンズ状態のとき絹
合せ回路15の出力を、スキャンアウト状態のときイン
バータ19の出力を、それぞれ選択する。
発明の効果 以−り説明したように、本発明によれば、双方向性バス
を含む論理回路であっても、この論理回路の片側遅延特
性を保証することができるので、従来のスキャンイン/
アウト診断方式で診断が実施できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はスキャンイン/アウト診断方式の説明図、第2
図は従来の双方向性バスを含む論理回路の両側遅延特性
の動作説明図、第3図は本発明の詳細な説明する図、第
4図は第8図の置換されたバスドライバの真理値テーブ
ル説明図、ff15図ハ本発明の実施例を示す論理回路
診断方式の説明図、第6図は本発明の論理回路診断方式
のタイムチャートである。 l:双方向性バスドライバ、2+診診断用双方向性性バ
スドライバ3=バス端子、4+8+cON’I’ROL
端子、5:INi子、610 U’l’端子、’MIB
US端子、9 l0BUS端子、10:IN端子、11
:OUT端子、12:論理回路、13.1417リツプ
・フロップ、15=組合せ回路、16.17+七レクタ
、18,191インバータ、20.211クロツク入力
端子、22゜23:データセレクト入力端子。 第    1    図 第  3  図 (a、) 日L  l 11 22.23 −)− 第   4   図 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 双方向性バスを含む論理回路における入出力兼“用バス
    端子を、各々独立の入力、出力バス端子と仮定して、出
    力モードでは、内部出力端子に対応して出力バス端子の
    レベルが設定され、入力バス端子と内部入力端子がそれ
    ぞれハイインピーダンス状態と不確定状態になるように
    、また、入力モードでは、入力バス端子に対応して内部
    入力端子のレベルが設定され、出力バス端子と内部出力
    端子がそれぞれハイインピーダンス状態と不確定状態に
    なるように、コントロール端子を制御することにより、
    片側遅延特性を保証して、診断デー°タパターンを発生
    し、上記論理回路の診断を行うことを特徴とする論理回
    路診断方式。
JP57138516A 1982-08-11 1982-08-11 論理回路診断方式 Pending JPS5930152A (ja)

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JP57138516A JPS5930152A (ja) 1982-08-11 1982-08-11 論理回路診断方式

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04137793U (ja) * 1991-06-12 1992-12-22 大東運輸株式会社 油回収装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04137793U (ja) * 1991-06-12 1992-12-22 大東運輸株式会社 油回収装置

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