JPS5930800A - PbTeSe単結晶の液相エピタキシヤル成長方法 - Google Patents
PbTeSe単結晶の液相エピタキシヤル成長方法Info
- Publication number
- JPS5930800A JPS5930800A JP57140333A JP14033382A JPS5930800A JP S5930800 A JPS5930800 A JP S5930800A JP 57140333 A JP57140333 A JP 57140333A JP 14033382 A JP14033382 A JP 14033382A JP S5930800 A JPS5930800 A JP S5930800A
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- JP
- Japan
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- single crystal
- layer
- pbtese
- forming
- filled
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- Pending
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B19/00—Liquid-phase epitaxial-layer growth
- C30B19/02—Liquid-phase epitaxial-layer growth using molten solvents, e.g. flux
- C30B19/04—Liquid-phase epitaxial-layer growth using molten solvents, e.g. flux the solvent being a component of the crystal composition
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/46—Sulfur-, selenium- or tellurium-containing compounds
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
本発明はPbTeSeより成る半導体単結晶の液相エピ
タキシャル成長方法の改良に関するものである。
タキシャル成長方法の改良に関するものである。
(b) 技術の背景
鉛を含む化合物半導体結晶、例えば鉛・錫・テ)し/V
(P’bl −zsnzTe )や鉛・硫黄・セレン
(PbS1 y、Sez )等はエネルギーギャップが
狭いので一般に赤外線レーザ素子のような光電変換素子
材料として用いられている。
(P’bl −zsnzTe )や鉛・硫黄・セレン
(PbS1 y、Sez )等はエネルギーギャップが
狭いので一般に赤外線レーザ素子のような光電変換素子
材料として用いられている。
ところで最近テルル化鉛(、PbTf3 )の化合物半
導体結晶玉に鉛・テルル )の化合物半導体結晶をバッファ層として形成し、その
上に鉛・錫・チルIしく P’b1−xsnxTe )
の化合物半導体結晶を活性層として形成し、更にその上
にPbTe 1−Xsezの結晶を閉じ込め層として順
次液相エピタキシャル成長方法で形成する格子整合型半
導体レーザ素子が形成されるようになっている。
導体結晶玉に鉛・テルル )の化合物半導体結晶をバッファ層として形成し、その
上に鉛・錫・チルIしく P’b1−xsnxTe )
の化合物半導体結晶を活性層として形成し、更にその上
にPbTe 1−Xsezの結晶を閉じ込め層として順
次液相エピタキシャル成長方法で形成する格子整合型半
導体レーザ素子が形成されるようになっている。
この格子整合型レーザ素子は活性層とバッファ層、閉じ
込め層を形成するそれぞれの結晶の格子定数がほぼ等し
い蹟であるので、格子不整合による結晶欠陥が少なく、
レーザ発振を開始するしきい随電流密度が低下する利点
がある。
込め層を形成するそれぞれの結晶の格子定数がほぼ等し
い蹟であるので、格子不整合による結晶欠陥が少なく、
レーザ発振を開始するしきい随電流密度が低下する利点
がある。
(C) 従来技術と問題点
このような格子整合型半導体レーザ素子の従来の製造方
法について第1図を用いながら説明する。
法について第1図を用いながら説明する。
第1図はこのような格子整合型レーザ素子を形成するた
めの液相エピタキシャル成長装置の断面図で図示するよ
うに直方体形状のカーボンよりなる支持台1の凹所2に
はPbTeの基板8が埋設されている。一方線支持台l
上をスライドして移動するスライド部材4には貫通孔状
の液だめ5,6゜7を設け、練液だめ5内には基板3上
に形成すべきバッファ層形成用のPbTe1−zsez
の材料8を、液だめ6には活性層形成用のpbl−XS
nXTeの材料9を、液だめ7には閉じ込め層形成用の
PbTe 1−XSeXの材料10をそれぞれ充填する
。
めの液相エピタキシャル成長装置の断面図で図示するよ
うに直方体形状のカーボンよりなる支持台1の凹所2に
はPbTeの基板8が埋設されている。一方線支持台l
上をスライドして移動するスライド部材4には貫通孔状
の液だめ5,6゜7を設け、練液だめ5内には基板3上
に形成すべきバッファ層形成用のPbTe1−zsez
の材料8を、液だめ6には活性層形成用のpbl−XS
nXTeの材料9を、液だめ7には閉じ込め層形成用の
PbTe 1−XSeXの材料10をそれぞれ充填する
。
その後練支持台1とスライド部材4とよりなる面相エピ
タキシャル成長装置を水素(H2)ガス算囲気の反応管
内に挿入し該反応管を加熱炉にて加熱して液だめ5.6
.7内の材料を溶融する。
タキシャル成長装置を水素(H2)ガス算囲気の反応管
内に挿入し該反応管を加熱炉にて加熱して液だめ5.6
.7内の材料を溶融する。
その後スライド部材4を矢印入方向に移動し基板3上に
液だめ5を静置してから加熱炉の湿度を低下せしめて基
板上にバッファ層としてpb’re1−)(SeXの結
晶層を形成し、次いで更にスライド部材4を矢印A方向
に移動し基板3上にτ夜だめ6を静置してから加熱炉の
温度を低下せしめて基板上に活性層としてPb1−Xs
nzTeの結晶層を形成する。
液だめ5を静置してから加熱炉の湿度を低下せしめて基
板上にバッファ層としてpb’re1−)(SeXの結
晶層を形成し、次いで更にスライド部材4を矢印A方向
に移動し基板3上にτ夜だめ6を静置してから加熱炉の
温度を低下せしめて基板上に活性層としてPb1−Xs
nzTeの結晶層を形成する。
その後更にスライド部材4を矢印入方向に移動し基板8
土に液だめ7を静置してから加熱炉の温度を低下せしめ
て基板上に閉じ込め層としてPbTe1−X5eXの結
晶層を形成していた。
土に液だめ7を静置してから加熱炉の温度を低下せしめ
て基板上に閉じ込め層としてPbTe1−X5eXの結
晶層を形成していた。
ところで従来バッファ層および閉じ込め層形成用材料と
しては、液だめ内に鉛(Pb)、セレン(Se)、チル
zv(Te)の材料をそれぞれ別個に所定の重量秤量し
て充填するか、あるいはSeとTeをあらかじめ合金の
形として形成し、このSeとTeの合金とPI)、 T
eとをそれぞれ所定の重量秤量して液だめ内に充填する
方法をとっていた。
しては、液だめ内に鉛(Pb)、セレン(Se)、チル
zv(Te)の材料をそれぞれ別個に所定の重量秤量し
て充填するか、あるいはSeとTeをあらかじめ合金の
形として形成し、このSeとTeの合金とPI)、 T
eとをそれぞれ所定の重量秤量して液だめ内に充填する
方法をとっていた。
しかしこのようにSeとPbとTeとを混会し、該混合
した材料を液だめ内に充填して該材料を溶融する方法で
は、Seが酸化されやすい材料であるので容易に酸化物
が溶液表面や溶液中に混入する不部会を生じる。
した材料を液だめ内に充填して該材料を溶融する方法で
は、Seが酸化されやすい材料であるので容易に酸化物
が溶液表面や溶液中に混入する不部会を生じる。
またSeをあらかじめTeと溶融してSeとTeの合金
をまず形成してから、この合金とPb、 Teとを所定
爪混合して液だめ内に充填して溶融する方法も考慮した
が、この方法でも液だめ内の溶液上や溶液中にSeの酸
化物が混入しやすい。このように液だめ内の溶液上や溶
液中に素材の酸化物が形成されると、基板上にエビクキ
シャル結晶が成長できないかまたは成長できても結晶欠
陥の多い素子形成に不都合なエビタキシャlし結晶しか
形成できない不都合を生じる。
をまず形成してから、この合金とPb、 Teとを所定
爪混合して液だめ内に充填して溶融する方法も考慮した
が、この方法でも液だめ内の溶液上や溶液中にSeの酸
化物が混入しやすい。このように液だめ内の溶液上や溶
液中に素材の酸化物が形成されると、基板上にエビクキ
シャル結晶が成長できないかまたは成長できても結晶欠
陥の多い素子形成に不都合なエビタキシャlし結晶しか
形成できない不都合を生じる。
(■ 発明の目的
本発明は上述した欠点を除去し、バッファ層。
閉じ込め層形成用の液だめ内の溶液に上述した酸化物が
混入しないようにした新規なPbTeSe結晶層の液相
エピタキシャル成長方法の提供を目的とするものである
。゛ (e) 発明の構成 かかる目的を達成するための本発明の方法は、あらかじ
め形成したPb5eの単結晶を素材として用い、該Pb
5eの単結晶に所定量のPbとTeを添加して溶融した
溶液でpb’reseの単結晶層を成長させることを特
徴とするものである。
混入しないようにした新規なPbTeSe結晶層の液相
エピタキシャル成長方法の提供を目的とするものである
。゛ (e) 発明の構成 かかる目的を達成するための本発明の方法は、あらかじ
め形成したPb5eの単結晶を素材として用い、該Pb
5eの単結晶に所定量のPbとTeを添加して溶融した
溶液でpb’reseの単結晶層を成長させることを特
徴とするものである。
(j 発明の実施例
以下図面を用いながら本発明の一実施例につき詳細に説
明する。
明する。
第2図は本発明の詳細な説明するための図である。
図示するように本発明の方法はpbとseの材料をそれ
ぞれ等モルずつ秤量してから先端Bが尖った石英製のア
ンプル11中に充填したのち、該アンプル内を排気して
一端を溶融して封止する。
ぞれ等モルずつ秤量してから先端Bが尖った石英製のア
ンプル11中に充填したのち、該アンプル内を排気して
一端を溶融して封止する。
その後練アンプlし11を12のような温度分布を有す
る縦型の環状炉内へ所定の速度で矢印Cのように下降さ
せ、アンプ/し11内のPbとSeの材料を溶融してか
ら、アンプIし11の先端部Bより順次融液を固化する
いわゆるブリッジマン法を用いてpbseの化合物合金
の単結晶13を形成する。このようにするとSe゛の酸
化物等の不要な材料はPbとSeの融液14内へ残留す
るようになり、先端部Bより固化した単結晶13中へは
殆んど入り込まないので高純度なPb5eの化合物合金
が得られ、また合金形成後もPb5eは酸化しにくい。
る縦型の環状炉内へ所定の速度で矢印Cのように下降さ
せ、アンプ/し11内のPbとSeの材料を溶融してか
ら、アンプIし11の先端部Bより順次融液を固化する
いわゆるブリッジマン法を用いてpbseの化合物合金
の単結晶13を形成する。このようにするとSe゛の酸
化物等の不要な材料はPbとSeの融液14内へ残留す
るようになり、先端部Bより固化した単結晶13中へは
殆んど入り込まないので高純度なPb5eの化合物合金
が得られ、また合金形成後もPb5eは酸化しにくい。
またこのように形成されたPb5eの単結晶内には、第
8図に示すように結晶成長方向が異なる結晶間で発生す
る結晶粒界15が多数形成され結晶に入り込んだ場合こ
の結晶粒界へpbとSeの酸化物等の不純物が多く偏析
しているのでこの結晶粒界の部分を除去してPb5eの
合金材料を得るようにするとよい。
8図に示すように結晶成長方向が異なる結晶間で発生す
る結晶粒界15が多数形成され結晶に入り込んだ場合こ
の結晶粒界へpbとSeの酸化物等の不純物が多く偏析
しているのでこの結晶粒界の部分を除去してPb5eの
合金材料を得るようにするとよい。
また酸化物等の不純物は融液14内へ入り込みやすくア
ンプルの先端Bに近い程、酸化物等の少ない高純度なP
b5eの単結晶が得られるので、先端部Bに近いPb5
eの単結晶を利用すると高品質のパンファ層、閉じ込め
層形成用材料が得られる。
ンプルの先端Bに近い程、酸化物等の少ない高純度なP
b5eの単結晶が得られるので、先端部Bに近いPb5
eの単結晶を利用すると高品質のパンファ層、閉じ込め
層形成用材料が得られる。
このようにして得られたPb5e化合物合金を所定量秤
量し、次いでPI)、 Teをも所定量秤量して該Pb
5eの合金とTeとPI)とを第1図に示したバッファ
層形成用液だめ5内と閉じ込め層形成用液だめ7内とに
充填する。一方液だめ6にはpbl zsnzTeの材
料を充填し、支持台にはPbTeの基板を埋設した状態
で支持台とスライド部材とよりなる液相エピタキシャル
成長装置をH2ガス雰囲気の反応管中に挿入し、該反応
管を加熱炉にて加熱する。
量し、次いでPI)、 Teをも所定量秤量して該Pb
5eの合金とTeとPI)とを第1図に示したバッファ
層形成用液だめ5内と閉じ込め層形成用液だめ7内とに
充填する。一方液だめ6にはpbl zsnzTeの材
料を充填し、支持台にはPbTeの基板を埋設した状態
で支持台とスライド部材とよりなる液相エピタキシャル
成長装置をH2ガス雰囲気の反応管中に挿入し、該反応
管を加熱炉にて加熱する。
このようにして前述したようにpb’reの基板上にバ
ッファ層、活性層、閉じ込め層を順次形成してエビタキ
シャlし結晶層を形成する。
ッファ層、活性層、閉じ込め層を順次形成してエビタキ
シャlし結晶層を形成する。
このようにすればバッファ層形成用溶液、閉じ込め層形
成用溶液には殆んどSeの酸化物が混入せず、したがっ
て高品質のエピタキシャル結晶層が得られ、このような
エピタキシャル結晶を用いて赤外線レーザを形成すれば
素子形成の歩留が向土する利点を生じる。
成用溶液には殆んどSeの酸化物が混入せず、したがっ
て高品質のエピタキシャル結晶層が得られ、このような
エピタキシャル結晶を用いて赤外線レーザを形成すれば
素子形成の歩留が向土する利点を生じる。
■ 発明の効果
以上述べたように本発明の方法によれば液だめ内の溶液
にSeの酸化物等が混入せず、高品質のエピタキシャル
層が得られ、このようなエビタキシャ)v層を有する基
板を用いてレーザ素子を形成すれば特性の良い半導体レ
ーザ素子が得られる利点を生じる。
にSeの酸化物等が混入せず、高品質のエピタキシャル
層が得られ、このようなエビタキシャ)v層を有する基
板を用いてレーザ素子を形成すれば特性の良い半導体レ
ーザ素子が得られる利点を生じる。
第1図は従来の半導体レーザ素子の製造方法に用いる装
置の断面図、第2図は本発明の液相エピタキシャル成長
方法の過程の一例を示す概略図、I!54.fy31+
i Pb5e、n 4に@シフ」尺’fX、E 示J
1qイい。 図において、1は支持台、2は凹所、8 Hpb’re
の基板、4はスライド部材、5,6.7は液だめ、8は
バッファ層形成用材料、9は活性層形成用材料、10は
閉じ込め層形成用材料、11はアンプμ、12は温度分
布、■3はPb5e ノ単結晶、14はPb5eの融液
、15は結晶粒界、Aはスライド方向を示す矢印、Bは
先端部、Cはアンプルの移動方向を示す矢印である。
置の断面図、第2図は本発明の液相エピタキシャル成長
方法の過程の一例を示す概略図、I!54.fy31+
i Pb5e、n 4に@シフ」尺’fX、E 示J
1qイい。 図において、1は支持台、2は凹所、8 Hpb’re
の基板、4はスライド部材、5,6.7は液だめ、8は
バッファ層形成用材料、9は活性層形成用材料、10は
閉じ込め層形成用材料、11はアンプμ、12は温度分
布、■3はPb5e ノ単結晶、14はPb5eの融液
、15は結晶粒界、Aはスライド方向を示す矢印、Bは
先端部、Cはアンプルの移動方向を示す矢印である。
Claims (1)
- あらかじめ形成したPb5eの単結晶に所定量のTeと
pbを添加して溶融した溶液を用いて鉛を含む化合物半
導体結晶玉にPbTeSeの単結晶層を形成するように
したことを特徴とするPbTeSe単結晶の液相エピタ
キシャル成長方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57140333A JPS5930800A (ja) | 1982-08-11 | 1982-08-11 | PbTeSe単結晶の液相エピタキシヤル成長方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57140333A JPS5930800A (ja) | 1982-08-11 | 1982-08-11 | PbTeSe単結晶の液相エピタキシヤル成長方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5930800A true JPS5930800A (ja) | 1984-02-18 |
Family
ID=15266381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57140333A Pending JPS5930800A (ja) | 1982-08-11 | 1982-08-11 | PbTeSe単結晶の液相エピタキシヤル成長方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5930800A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111200055A (zh) * | 2020-01-13 | 2020-05-26 | 同济大学 | 一种高性能PbTe基N型热电材料及其制备方法 |
-
1982
- 1982-08-11 JP JP57140333A patent/JPS5930800A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111200055A (zh) * | 2020-01-13 | 2020-05-26 | 同济大学 | 一种高性能PbTe基N型热电材料及其制备方法 |
| CN111200055B (zh) * | 2020-01-13 | 2023-11-03 | 同济大学 | 一种高性能PbTe基N型热电材料及其制备方法 |
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