JPS5931459A - プリント配線板の検査方法及びその検査装置 - Google Patents
プリント配線板の検査方法及びその検査装置Info
- Publication number
- JPS5931459A JPS5931459A JP57052642A JP5264282A JPS5931459A JP S5931459 A JPS5931459 A JP S5931459A JP 57052642 A JP57052642 A JP 57052642A JP 5264282 A JP5264282 A JP 5264282A JP S5931459 A JPS5931459 A JP S5931459A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- inspection
- board
- printed circuit
- pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 31
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 230000006378 damage Effects 0.000 claims 1
- 210000004907 gland Anatomy 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 7
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IRUJZVNXZWPBMU-UHFFFAOYSA-N cartap Chemical compound NC(=O)SCC(N(C)C)CSC(N)=O IRUJZVNXZWPBMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 210000001217 buttock Anatomy 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2805—Bare printed circuit boards
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はブ１）ント配線（トｉの検沓方法旋びその検査
用装置に係り、さらに詳ｌ〜くけ、被検査物である７゜
１１ント配線板の表裏両面に加圧尋″「１イゴムのシー
ト状物を圧締１．て検査用治珪板の左６両端のコネク
タから’「Ｉｉ気を涌祐゛することにより、プリント配
線板のパターンの断線又はパターン間の尋１１１ｊ短絡
の有無を迅速簡便にしかも精度よく検査することのでへ
るプリント配線板の検査方法及びその検査用装置全提供
することを１」的とするものである。
用装置に係り、さらに詳ｌ〜くけ、被検査物である７゜
１１ント配線板の表裏両面に加圧尋″「１イゴムのシー
ト状物を圧締１．て検査用治珪板の左６両端のコネク
タから’「Ｉｉ気を涌祐゛することにより、プリント配
線板のパターンの断線又はパターン間の尋１１１ｊ短絡
の有無を迅速簡便にしかも精度よく検査することのでへ
るプリント配線板の検査方法及びその検査用装置全提供
することを１」的とするものである。
従来、プリント配線板のバダ〜ンの断線又はこＩｚらパ
ターンｊ１１１の短絡の有無を検査する１４ｆ気尊フイ
検々−は、第１図に示すように隆触プ「Ｊ−ブをＦ下の
固定絶縁板を介１−てブ１１ント配、１．！ｉ！ 、Ｊ
ｉｌ、； ’＋ｆ＃のパターン端に挿入する方法によっ
て行われて−だ。
ターンｊ１１１の短絡の有無を検査する１４ｆ気尊フイ
検々−は、第１図に示すように隆触プ「Ｊ−ブをＦ下の
固定絶縁板を介１−てブ１１ント配、１．！ｉ！ 、Ｊ
ｉｌ、； ’＋ｆ＃のパターン端に挿入する方法によっ
て行われて−だ。
しか；７ながら、接ｔｒｉ：Ｉじ７°ロープ（イ）０よ
１１０常直径がＩＪ膳から２．（Ｈ塀程度であるため、
２０鴎以下の間１爾のパッド間の”ボ気専電検査はきわ
めて困＠なものであつ乞 また 接触１０−ブは１０〜２０騙程度の厚さの絶縁板
に固定する必要があり、その固定用の絶縁板に接触プロ
ーブを挿入し７て固定することにより使用されている。
１１０常直径がＩＪ膳から２．（Ｈ塀程度であるため、
２０鴎以下の間１爾のパッド間の”ボ気専電検査はきわ
めて困＠なものであつ乞 また 接触１０−ブは１０〜２０騙程度の厚さの絶縁板
に固定する必要があり、その固定用の絶縁板に接触プロ
ーブを挿入し７て固定することにより使用されている。
そのため、固定用絶縁板−１１ｃ接触１０−ブを固定す
るだめの、化を多数あける作業が必要であり、この作業
は厳格な管理のもとにおかれた特別の専用孔明けｌｈ具
を必要としていた。
るだめの、化を多数あける作業が必要であり、この作業
は厳格な管理のもとにおかれた特別の専用孔明けｌｈ具
を必要としていた。
一方、近年プリント配線板の回路密度が増加するにつれ
て、従来の孔に部品のリード線を挿入１〜半ＩＢ付けを
する実装方法においては、機器の小型化が作成できなく
なり、プリント配線基板トにフラノトパノケ〜ジＩＣな
どの平面素子付けを行ったり、壕だ直接液晶表示体を装
着する技術が要求されるに至った。
て、従来の孔に部品のリード線を挿入１〜半ＩＢ付けを
する実装方法においては、機器の小型化が作成できなく
なり、プリント配線基板トにフラノトパノケ〜ジＩＣな
どの平面素子付けを行ったり、壕だ直接液晶表示体を装
着する技術が要求されるに至った。
コ（７）様ナプリント配線板においては、接１’１４ｔ
−７”ローブを被検査用のプリント配線板Ｃ１の表裏両
面から接触させることが必要である。
−７”ローブを被検査用のプリント配線板Ｃ１の表裏両
面から接触させることが必要である。
しかしながら、接触プローブ（イ）をプ１１ント配線板
の表裏両面から接触させることは、接触圧力が不均一に
なり、両面に存在するパターン回路の末端部分去左一般
に、検査すべきパターン回路の数と接触プローブとの関
係は、孤立した回路の約２倍の接触プＴＶ−ブの数を必
要とＬで増血するものであり、このような斂多くの接触
７゛１１〜プを被検査用のプ１）ント配線板の表裏両面
に配置する作業はＩｌ、ｑ雑であった。
の表裏両面から接触させることは、接触圧力が不均一に
なり、両面に存在するパターン回路の末端部分去左一般
に、検査すべきパターン回路の数と接触プローブとの関
係は、孤立した回路の約２倍の接触プＴＶ−ブの数を必
要とＬで増血するものであり、このような斂多くの接触
７゛１１〜プを被検査用のプ１）ント配線板の表裏両面
に配置する作業はＩｌ、ｑ雑であった。
蓼た。このように、従来の検査方法ではパターン回路の
数が増加すＺ、に伴ｂプローブの使用数も増加し、また
−項線縁板に１．１；ｉ定さｆ７た接触７°ローブは容
易に再使用で缶ないなどの理由により、検査に要する費
用が非常にコスト高になるなどの欠截があった。
数が増加すＺ、に伴ｂプローブの使用数も増加し、また
−項線縁板に１．１；ｉ定さｆ７た接触７°ローブは容
易に再使用で缶ないなどの理由により、検査に要する費
用が非常にコスト高になるなどの欠截があった。
本発明はト記従来の７°１１ント配線板の検査方法の欠
をを解消（７、被検査物であるプリント配線板の両面の
パターンの断線又ｉｔパターン間の導通短絡の有無など
を同時に迅速容易にかつ精度よく、しかも、２．０鵡以
下の間隔で配置されｆＣ做密なパターン回路のブ１１ン
１〜配線板でも安ｆｉｌｆｉな費用で検査することので
きる検査方法及びそのｌ：、ｉ査用装置を提供するもの
である。
をを解消（７、被検査物であるプリント配線板の両面の
パターンの断線又ｉｔパターン間の導通短絡の有無など
を同時に迅速容易にかつ精度よく、しかも、２．０鵡以
下の間隔で配置されｆＣ做密なパターン回路のブ１１ン
１〜配線板でも安ｆｉｌｆｉな費用で検査することので
きる検査方法及びそのｌ：、ｉ査用装置を提供するもの
である。
次に本発明の実権例を図面に基いて説明する。
第２図は、本発明のプリント配線板の検査方法及びその
検査用装置の一実施例を示す被検査物である）”リント
配線板の表裏両面に加圧導電ゴムのシート状物を圧締し
、パターン回路の検査端と検査用治具板の測定端とを正
対させた検査端に導通する外部収出用パターンと外部取
出用コネクターの一部の縦１＃？而を示すものである。
検査用装置の一実施例を示す被検査物である）”リント
配線板の表裏両面に加圧導電ゴムのシート状物を圧締し
、パターン回路の検査端と検査用治具板の測定端とを正
対させた検査端に導通する外部収出用パターンと外部取
出用コネクターの一部の縦１＃？而を示すものである。
そして第３図は、上記＠２図の縦（折面１図とほぼ対１
、んする本発明の）゛１１ント配線板の検査方法に使用
大ねる装置の一例を示す斜視図である。
、んする本発明の）゛１１ント配線板の検査方法に使用
大ねる装置の一例を示す斜視図である。
ト記第２図において、まず棹涌トた査をする彼検査板で
ちるプリント配線板（１）のパターン回路の端（ｊ″、
ｌ−ド、検査端という）のパッドと、これと相対応する
パターン回路を検出端（？）として検査用治具回路板（
３）の表面トに形成し、同時に外部引出用コネクタパッ
ド（４）と、前記コネクタパッド（４）と検出端（２）
とを接続するパターン、すな−ｂち、外部引出用パター
ン（５）を形成する。
ちるプリント配線板（１）のパターン回路の端（ｊ″、
ｌ−ド、検査端という）のパッドと、これと相対応する
パターン回路を検出端（？）として検査用治具回路板（
３）の表面トに形成し、同時に外部引出用コネクタパッ
ド（４）と、前記コネクタパッド（４）と検出端（２）
とを接続するパターン、すな−ｂち、外部引出用パター
ン（５）を形成する。
そして検査用治具回路板（３）と被検査物であるプ１１
ント配線板（１）との間に、加圧導電ゴムのシート状物
（６）を挟着する。つまり、前記プリント配線板（１）
の表裏両面に加圧尊重ゴムのシート状物（６）が圧締さ
れるように載置する。
ント配線板（１）との間に、加圧導電ゴムのシート状物
（６）を挟着する。つまり、前記プリント配線板（１）
の表裏両面に加圧尊重ゴムのシート状物（６）が圧締さ
れるように載置する。
このようにセットした後に、これら一体物のＦ部（ｉｌ
ｌと下部側とから一定の圧力を加え、前記コネクタパッ
ド（４） Ｋ ｄｆ気を涌市゛することにより、フ゛１
；ント配線板におけるパターンの断線又はパターン間の
短絡の何カ！曖を迅速簡便に［７て、しかも精度よく安
価に検査することができる。これは、第２図に示す様に
、被検査物である７°１１ント配紳板のパターン回路の
検査端と、検査用冶具回路板（３）との間に挟着さｈた
加圧導”ゼプムのシート状物（６）の１４査嬬と検出端
（２）との部分が圧締されることにより、該部分のゴム
のシート状物（６）の一部すなわち、加圧導電部分（７
）に“電流が流れることになるからである。すなわち、
Ａｉｌ記コネクタパッド（４）に電気を浦市すると検査
用治具回路板（３）を介して電流が流れ、７ｊｌｌ工導
軍ゴムのシート状物（６）のｆＪｉｒ記加圧面加圧通電
部分を通１〕でθだ検査物であるブ１１ント配線板のパ
ターン回路に電気が流れることになるという原理を応用
して、Ｅ記パターン回路の断線又はパターン間の尋涌短
絡の有無を検査するものである・ 次に、本発明の７゛リント配線板の検査用装置〜につい
て説明する。
ｌと下部側とから一定の圧力を加え、前記コネクタパッ
ド（４） Ｋ ｄｆ気を涌市゛することにより、フ゛１
；ント配線板におけるパターンの断線又はパターン間の
短絡の何カ！曖を迅速簡便に［７て、しかも精度よく安
価に検査することができる。これは、第２図に示す様に
、被検査物である７°１１ント配紳板のパターン回路の
検査端と、検査用冶具回路板（３）との間に挟着さｈた
加圧導”ゼプムのシート状物（６）の１４査嬬と検出端
（２）との部分が圧締されることにより、該部分のゴム
のシート状物（６）の一部すなわち、加圧導電部分（７
）に“電流が流れることになるからである。すなわち、
Ａｉｌ記コネクタパッド（４）に電気を浦市すると検査
用治具回路板（３）を介して電流が流れ、７ｊｌｌ工導
軍ゴムのシート状物（６）のｆＪｉｒ記加圧面加圧通電
部分を通１〕でθだ検査物であるブ１１ント配線板のパ
ターン回路に電気が流れることになるという原理を応用
して、Ｅ記パターン回路の断線又はパターン間の尋涌短
絡の有無を検査するものである・ 次に、本発明の７゛リント配線板の検査用装置〜につい
て説明する。
溶３図において、被検査物である７゛リント配線板（１
）の表裏両面には、加用導マイゴムのシート状物（６）
を甲締するだめの検査ＩＩＪｉｎ具回路板（コ（）を切
“ｈえてひり、１）１［記（φ査用ｌｌ！１貝回路板Ｃ
４１＆−を加圧するだめの油田用ｖ１〕白８）に１つ−
Ｃ支持される。−まだ、ｒｔｉｌ記検査用治具回路４ｆ
ｉ （３１の表面１−に−け外部を伐出／’＋＋パダー
ン（５）と、こ７″Ｌト’ｊＪ ＩＴｎ ｆ １ ’４
ｉ’ｌ＜引出１４１′−１ネクタハノド（４）と全イ
イ１１斤−てしり、プリント剛椀板とその表裏面に圧締
される加「Ｆ導゛【１イゴムのシート状物（６）とのｉ
＋ｆ＋軍部分（７）に導通するように配設され−Ｃいる
６そして、４ｉｌ記検配用のプリント配置＋’４ ＋Ｆ
ｊ （１１の検査端と、検査用冶具回路板（３）の険出
瑞（２）とｋｊ、正対するように少くとも配置されて成
ることを特６１μするものである。
）の表裏両面には、加用導マイゴムのシート状物（６）
を甲締するだめの検査ＩＩＪｉｎ具回路板（コ（）を切
“ｈえてひり、１）１［記（φ査用ｌｌ！１貝回路板Ｃ
４１＆−を加圧するだめの油田用ｖ１〕白８）に１つ−
Ｃ支持される。−まだ、ｒｔｉｌ記検査用治具回路４ｆ
ｉ （３１の表面１−に−け外部を伐出／’＋＋パダー
ン（５）と、こ７″Ｌト’ｊＪ ＩＴｎ ｆ １ ’４
ｉ’ｌ＜引出１４１′−１ネクタハノド（４）と全イ
イ１１斤−てしり、プリント剛椀板とその表裏面に圧締
される加「Ｆ導゛【１イゴムのシート状物（６）とのｉ
＋ｆ＋軍部分（７）に導通するように配設され−Ｃいる
６そして、４ｉｌ記検配用のプリント配置＋’４ ＋Ｆ
ｊ （１１の検査端と、検査用冶具回路板（３）の険出
瑞（２）とｋｊ、正対するように少くとも配置されて成
ることを特６１μするものである。
また、肢検ｔｉ勤プリント配線板を製作するために使用
さｈる′Ｊ４真フイｌレムを使用ｊノ乙前記検査用回路
板（３）を作成することができる。すなわち、前記外用
Ｎ−７具回路〜ｌｄ′呑易にかつ安１１１ａに咋・成す
ることができる。
さｈる′Ｊ４真フイｌレムを使用ｊノ乙前記検査用回路
板（３）を作成することができる。すなわち、前記外用
Ｎ−７具回路〜ｌｄ′呑易にかつ安１１１ａに咋・成す
ることができる。
一方、本発明において１′ψ１［１する加圧尋゛直了ｌ
、のシート状物（６）は、一般に異方向性の加ＩＥ尋′
［１１臀１゛ムＨ料と１．て市売されて（八るものであ
ってもよく、人手が容易であり、しかも内Ｉｌｌ用かで
きるなどの利点があって、どのように緻密なパターン回
路を有するプ１１ント配ＹＯＪ板゛Ｖこ一ついても汎用
１４があるため冶具交換などの際にも経済１−有利であ
るなＦのり１果がある。
、のシート状物（６）は、一般に異方向性の加ＩＥ尋′
［１１臀１゛ムＨ料と１．て市売されて（八るものであ
ってもよく、人手が容易であり、しかも内Ｉｌｌ用かで
きるなどの利点があって、どのように緻密なパターン回
路を有するプ１１ント配ＹＯＪ板゛Ｖこ一ついても汎用
１４があるため冶具交換などの際にも経済１−有利であ
るなＦのり１果がある。
第１図は従来の１１１ント配線板の導通検査をする一η
法の一例を示す縦断面図、第２図は本発明のプリントＩ
”Ｉ旧ｌｉｊ板のｈ’ｉｔ徨〕ｉ法の一例を示す縦断１
６１（ツ１、第３図は本発明の７゛１１ント酎〈″ＩＩ
肘ｉの４’Ｚ釘査方法に１す１用する装置の斜視図であ
る。 Ｊ二Ｍｅ ｌ＊Ｉ ｉ４ｉにおいて、（１）・−ｙ”リ
ンｌ−配、ｓｉ！４ｗ、（２”ｌ 、、。 検出瑞、（３） 検査用冶具回路板δ板、（４）・・
外部引出Ｊ４１ コ＊ ｙ ｙ ハツト、（５）・・
外部引出用パターン、（６）・・・加ｔＣＪｇ石；了ｌ
、のジートイに仙ｆ、（７） 同シート状物の専゛
ボ部分、（８） 加ｎ月１１０ソト。 り、１Ｆ、作出願人 ４１斐川市゛気Ｔ業株式会社 代表／７多賀４’、’−１一部
法の一例を示す縦断面図、第２図は本発明のプリントＩ
”Ｉ旧ｌｉｊ板のｈ’ｉｔ徨〕ｉ法の一例を示す縦断１
６１（ツ１、第３図は本発明の７゛１１ント酎〈″ＩＩ
肘ｉの４’Ｚ釘査方法に１す１用する装置の斜視図であ
る。 Ｊ二Ｍｅ ｌ＊Ｉ ｉ４ｉにおいて、（１）・−ｙ”リ
ンｌ−配、ｓｉ！４ｗ、（２”ｌ 、、。 検出瑞、（３） 検査用冶具回路板δ板、（４）・・
外部引出Ｊ４１ コ＊ ｙ ｙ ハツト、（５）・・
外部引出用パターン、（６）・・・加ｔＣＪｇ石；了ｌ
、のジートイに仙ｆ、（７） 同シート状物の専゛
ボ部分、（８） 加ｎ月１１０ソト。 り、１Ｆ、作出願人 ４１斐川市゛気Ｔ業株式会社 代表／７多賀４’、’−１一部
Claims (2)
- （１）導ｉｌ′ｆｉトに査をする彼検〜用ブリット配線
板のｌ＊ ｈ☆）Ｍと検だ用〆ｈ貝回路板の検出端とを
１Ｆ対させ、１１１１記ア１１ント配腺イ没と検査用治
緩板とのＩｔｌＪに加ＰＥ専軍コ゛ムのシーｉ・１に物
を挟着して、７”１１ント配線板（１）パターンの断線
又はパターン間の４１ｉ、格の有無を１に査すＺ）こと
を特徴とする一ノ°１１ント配線板の１・１１査方法。 - （２）Ｊ８涌１ｊｊ！ ｄＥをする岐１１に１→ｉ用プ
リント配置ｐｉ板の表裏両面に加１Ｆ導゛イプムを／Ｅ
ｉ’箭するだめの検査用１冶具Ｆ川路板を備え、前記治
ト（回路板は少くとも外部取出ＪＨ／（グーンと導通ず
る外部引出用コネクタバンドとをイ；ａＩえ、Ａｉｌ記
外部引出用パターンはＡｉｌ記治具回路板の表面にに形
成され、ｎＩｌ検九用プＩＩソト配線板の検査端と１・
央Ｎ用治具回路板の検出端とが正対するようにＩ’ｉ［
！置されて成る）゛リント配線板の検査用装置Ｎ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57052642A JPS5931459A (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | プリント配線板の検査方法及びその検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57052642A JPS5931459A (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | プリント配線板の検査方法及びその検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5931459A true JPS5931459A (ja) | 1984-02-20 |
| JPH0244035B2 JPH0244035B2 (ja) | 1990-10-02 |
Family
ID=12920486
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57052642A Granted JPS5931459A (ja) | 1982-03-30 | 1982-03-30 | プリント配線板の検査方法及びその検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5931459A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01102377A (ja) * | 1987-10-16 | 1989-04-20 | Daiwa Seiko Kk | プリント回路基板の検査方法及びその装着並びに検査治具 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5429053A (en) * | 1977-08-08 | 1979-03-03 | Nippon Electric Co | Inspecting apparatus for print substrate pattern |
| JPS54156760U (ja) * | 1978-04-25 | 1979-10-31 |
-
1982
- 1982-03-30 JP JP57052642A patent/JPS5931459A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5429053A (en) * | 1977-08-08 | 1979-03-03 | Nippon Electric Co | Inspecting apparatus for print substrate pattern |
| JPS54156760U (ja) * | 1978-04-25 | 1979-10-31 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01102377A (ja) * | 1987-10-16 | 1989-04-20 | Daiwa Seiko Kk | プリント回路基板の検査方法及びその装着並びに検査治具 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0244035B2 (ja) | 1990-10-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TW366423B (en) | Adapter arrangement for electrically testing printed circuit boards | |
| MY113351A (en) | Testing fixture and method for circuit traces on a flexible substrate | |
| TW200639411A (en) | Resilient probes for electrical testing | |
| SG129234A1 (en) | Adapter method and apparatus for interfacing a tester with a device under test | |
| JPS5745473A (en) | Device and method for testing printed circuit board | |
| JPS601574A (ja) | プリント配線板検査用治具回路板 | |
| EP0846953A3 (en) | Printed circuit board inspecting apparatus, and method of using a universal-type printed circuit board inspecting apparatus | |
| US4328264A (en) | Method for making apparatus for testing traces on a printed circuit board substrate | |
| DE60107881D1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur prüfung von unbestückten gedruckten schaltungen | |
| JPS59206776A (ja) | プリント配線板の検査装置 | |
| JP2008102070A (ja) | 電子部品検査プローブ | |
| KR100765490B1 (ko) | Ｐｃｂ 전극판 | |
| TW504575B (en) | Copper electric type test fixture for circuit board | |
| KR100737384B1 (ko) | 모바일용 디스플레이 패널의 검사장치 및 방법 | |
| JPS59228174A (ja) | プリント配線板検査用治具回路板 | |
| JPH0244035B2 (ja) | ||
| KR200417528Y1 (ko) | Ｐｃｂ 전극판 | |
| KR100685223B1 (ko) | 인쇄회로기판의 검사방법 | |
| JPH0143652Y2 (ja) | ||
| JPH0611462Y2 (ja) | 基板検査用コンタクトプローブ | |
| TW200716994A (en) | Circuit board inspecting apparatus and circuit board inspecting method | |
| JP2004039729A (ja) | プリント配線基板の検査治具 | |
| JPH02190773A (ja) | 印刷配線板の検査方法 | |
| WO2006104886A3 (en) | Resilient probes for electrical testing | |
| JPH05133992A (ja) | 回路基板検査方法と検査基板並びに回路基板検査装置 |