JPH0448539Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0448539Y2 JPH0448539Y2 JP1986076840U JP7684086U JPH0448539Y2 JP H0448539 Y2 JPH0448539 Y2 JP H0448539Y2 JP 1986076840 U JP1986076840 U JP 1986076840U JP 7684086 U JP7684086 U JP 7684086U JP H0448539 Y2 JPH0448539 Y2 JP H0448539Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- printed circuit
- circuit board
- power
- power supply
- contacts
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔概要〕
被試験用のプリント基板の電源供給ランドをス
ライドされる台座に固着されたコンタクトによつ
て挟持することにより、該プリント基板に対する
電源の供給と、保持が行えるようにしたものであ
る。
ライドされる台座に固着されたコンタクトによつ
て挟持することにより、該プリント基板に対する
電源の供給と、保持が行えるようにしたものであ
る。
本考案は電子部品が実装されたプリント基板の
試験装置に係り、特に、該プリント基板の電源供
給ランドの表裏の両面をコンタクトによつて挟持
することにより、該プリント基板のセツトが行わ
れるように形成されたプリント基板試験装置に関
する。
試験装置に係り、特に、該プリント基板の電源供
給ランドの表裏の両面をコンタクトによつて挟持
することにより、該プリント基板のセツトが行わ
れるように形成されたプリント基板試験装置に関
する。
半導体素子などの電子部品が実装されたプリン
ト基板は、一般的に、その製造工程においてそれ
ぞれの電子部品に異常がないか、ポンデイングが
問題なく行われているかチエツクする試験が行わ
れる。
ト基板は、一般的に、その製造工程においてそれ
ぞれの電子部品に異常がないか、ポンデイングが
問題なく行われているかチエツクする試験が行わ
れる。
このような試験は、プリント基板に所定の電源
を供給し、プローブを移動させ所定のランドから
の信号を逐次取り出し、取り出した信号を測定器
に接続することで自動的に試験する試験装置によ
つて行われる。
を供給し、プローブを移動させ所定のランドから
の信号を逐次取り出し、取り出した信号を測定器
に接続することで自動的に試験する試験装置によ
つて行われる。
そこで、このような試験装置では一つのプリン
ト基板に対する試験が終了すると、次のプリント
基板をセツトしなければならなく、プリント基板
の挿脱が頻繁に行われるため、プリント基板の挿
脱が極力容易に、しかも、確実なセツトが行われ
ることが望まれている。
ト基板に対する試験が終了すると、次のプリント
基板をセツトしなければならなく、プリント基板
の挿脱が頻繁に行われるため、プリント基板の挿
脱が極力容易に、しかも、確実なセツトが行われ
ることが望まれている。
従来は第３図の従来の説明図に示すように構成
されていた。第３図のａは斜視図、ｂは要部断面
図である。
されていた。第３図のａは斜視図、ｂは要部断面
図である。
第３図のａに示すように、電源ケーブル１２Ａ
〜１２Ｅが接続されたコネクタ１１Ａ〜１１Ｅに
プリント基板４を矢印Ａのように挿入し、支持具
１３によつて矢印Ｂのように保持することでプリ
ント基板４がセツトされ、電子部品１０が実装さ
れたプリント基板４の所定個所に測定器１５に接
続されたプローブ１４が当接されるように構成さ
れている。
〜１２Ｅが接続されたコネクタ１１Ａ〜１１Ｅに
プリント基板４を矢印Ａのように挿入し、支持具
１３によつて矢印Ｂのように保持することでプリ
ント基板４がセツトされ、電子部品１０が実装さ
れたプリント基板４の所定個所に測定器１５に接
続されたプローブ１４が当接されるように構成さ
れている。
また、コネクココネクタ１１Ａ〜１１Ｅのそれ
ぞれには、ｂに示すように接触片１１−１と１１
−２とが設けられ、舌片部はプリント基板４の電
源供給ランド４Ａのベタパターンに接触し、端子
部は電源ケーブル１２Ａ〜１２Ｅに接続されてい
る。
ぞれには、ｂに示すように接触片１１−１と１１
−２とが設けられ、舌片部はプリント基板４の電
源供給ランド４Ａのベタパターンに接触し、端子
部は電源ケーブル１２Ａ〜１２Ｅに接続されてい
る。
そこで、それぞれの電源ケーブル１２Ａ〜１２
Ｅから所定の電位の電源を供給し、プローブ１４
が所定方向に移送され、突出および退避を繰り返
すことでプリント基板４からの信号を測定器１５
によつて測定することで試験が行われる。
Ｅから所定の電位の電源を供給し、プローブ１４
が所定方向に移送され、突出および退避を繰り返
すことでプリント基板４からの信号を測定器１５
によつて測定することで試験が行われる。
このような構成では、第３図のａに示すように
プリント基板４の厚さ方向に対して、Ｃに示す波
形の歪があると、矢印Ａ方向のプリント基板４の
挿入が困難となり、プリント基板４のセツトに時
間を要する問題を有していた。
プリント基板４の厚さ方向に対して、Ｃに示す波
形の歪があると、矢印Ａ方向のプリント基板４の
挿入が困難となり、プリント基板４のセツトに時
間を要する問題を有していた。
第１図は本考案の原理説明図である。
第１図に示すように、テーブル１に設けられた
シリンダー機構３によつて対向した互いが近接ま
たは隔離されるようスライドされる台座２と、該
台座２に固着され、プリント基板４の電源供給ラ
ンド４Ａを挟持し、該プリント基板４を保持する
コンタクト５とを備えるように形成したものであ
る。
シリンダー機構３によつて対向した互いが近接ま
たは隔離されるようスライドされる台座２と、該
台座２に固着され、プリント基板４の電源供給ラ
ンド４Ａを挟持し、該プリント基板４を保持する
コンタクト５とを備えるように形成したものであ
る。
このように構成することによつて前述の問題点
は解決される。
は解決される。
即ち、シリンダー機構によつてスライドされる
台座にコンタクとを固着し、プリント基板をこの
コンタクトによつて挟持することでプリント基板
に対する電源の供給およびセツトが行われるよう
に形成したものである。
台座にコンタクとを固着し、プリント基板をこの
コンタクトによつて挟持することでプリント基板
に対する電源の供給およびセツトが行われるよう
に形成したものである。
したがつて、プリント基板に歪などがあつても
支障なく、容易に装着することができ、更に、接
触抵抗の低い電源の接続が行え、供給電源のドロ
ツプを防ぐことができる利点がある。
支障なく、容易に装着することができ、更に、接
触抵抗の低い電源の接続が行え、供給電源のドロ
ツプを防ぐことができる利点がある。
以下本考案を第２図を参考に詳細に説明する。
第２図は本考案による一実施例の説明図で、ａは
斜視図、ｂは要部側面図である。全図を通じて、
同一符合は同一対象物を示す。
第２図は本考案による一実施例の説明図で、ａは
斜視図、ｂは要部側面図である。全図を通じて、
同一符合は同一対象物を示す。
第２図のａに示すように、テーブル１に設けら
れたシリンダー機構３によつてスライドされる台
座２のそれぞれにはコンタクト５を固着し、エア
ー供給チユーブ１６からの供給されるエアーによ
るシリンダー機構３の駆動によりコンタクト５が
プリント基板４の電源供給ランド４Ａを挟持する
ようにしたものである。
れたシリンダー機構３によつてスライドされる台
座２のそれぞれにはコンタクト５を固着し、エア
ー供給チユーブ１６からの供給されるエアーによ
るシリンダー機構３の駆動によりコンタクト５が
プリント基板４の電源供給ランド４Ａを挟持する
ようにしたものである。
そこで、挟持されたプリント基板４にはコンタ
クト５に接続された電源ケーブル１２に所定の電
位の電源を供給し、前述と同様のプローブ１４と
測定器１５により試験が行われるように形成され
ている。
クト５に接続された電源ケーブル１２に所定の電
位の電源を供給し、前述と同様のプローブ１４と
測定器１５により試験が行われるように形成され
ている。
したがつて、プリント基板４の装着は対向した
コンタク５の間にプリント基板４を挿入し、シリ
ンダー機構３の駆動により台座２を突出させるこ
とで行え、脱抜はシリンダー機構３の駆動により
台座２を退避させ、プリント基板４を対向したコ
ンタク５の間より抜き取ることで行える。
コンタク５の間にプリント基板４を挿入し、シリ
ンダー機構３の駆動により台座２を突出させるこ
とで行え、脱抜はシリンダー機構３の駆動により
台座２を退避させ、プリント基板４を対向したコ
ンタク５の間より抜き取ることで行える。
また、コンタクト５にはｂに示すように、電源
供給ランド４Ａに当接される突出した接触子５Ａ
と電源ケーブル１２に接続される端子部５Ｂとが
設けられ、電源ケーブル１２を介して供給される
電源が電位のドロツプなどを生じることなく確実
に接続されるように配慮されている。
供給ランド４Ａに当接される突出した接触子５Ａ
と電源ケーブル１２に接続される端子部５Ｂとが
設けられ、電源ケーブル１２を介して供給される
電源が電位のドロツプなどを生じることなく確実
に接続されるように配慮されている。
このように構成すると、前述のように、プリン
ト基板４に波形の歪などがあつても対向したコン
タクト５の間隔を広くすることで支障なく装着す
ることができる。
ト基板４に波形の歪などがあつても対向したコン
タクト５の間隔を広くすることで支障なく装着す
ることができる。
以上説明したように、本考案によれば、コンタ
クトによつて電源供給ランドを挟持することで電
源の供給が行われるため、プリント基板のに対す
る電源の供給を確実にすることができる。
クトによつて電源供給ランドを挟持することで電
源の供給が行われるため、プリント基板のに対す
る電源の供給を確実にすることができる。
また、プリント基板の挿脱が容易となり、特
に、大型の外形のプリント基板では試験工数の大
幅な削減が図れ、実用的効果は大である。
に、大型の外形のプリント基板では試験工数の大
幅な削減が図れ、実用的効果は大である。
第１図は本考案の原理断面図、第２図は本考案
による一実施例の説明図でａは斜視図、ｂは要部
側面図、第３図は従来の説明図でａは斜視図、ｂ
は要部断面図を示す。 図において、１はテーブル、２は台座、３はシ
リンダー機構、４はプリント基板、５はコンタク
ト、４Ａは電源供給ランドを示す。
による一実施例の説明図でａは斜視図、ｂは要部
側面図、第３図は従来の説明図でａは斜視図、ｂ
は要部断面図を示す。 図において、１はテーブル、２は台座、３はシ
リンダー機構、４はプリント基板、５はコンタク
ト、４Ａは電源供給ランドを示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 被試験用のプリント基板４をテーブル１にセツ
トし、該プリント基板４に電源を供給することに
より、所定の試験を行うプリント基板試験装置で
あつて、 前記テーブル１に設けられたシリンダー機構３
によつて対向した互いが近接または隔離されるよ
うスライドされる台座２と、該台座２に固着さ
れ、前記プリント基板４の電源供給ランド４Ａを
挟持し、該プリント基板４を保持するコンタクト
５とを備えたことを特徴とするプリント基板試験
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986076840U JPH0448539Y2 (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986076840U JPH0448539Y2 (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62187872U JPS62187872U (ja) | 1987-11-30 |
| JPH0448539Y2 true JPH0448539Y2 (ja) | 1992-11-16 |
Family
ID=30924293
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986076840U Expired JPH0448539Y2 (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0448539Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55147363A (en) * | 1979-05-08 | 1980-11-17 | Toshiba Corp | Device for automatically testing wiring bedplate |
-
1986
- 1986-05-20 JP JP1986076840U patent/JPH0448539Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62187872U (ja) | 1987-11-30 |
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