JPS5931861B2 - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPS5931861B2 JPS5931861B2 JP12781476A JP12781476A JPS5931861B2 JP S5931861 B2 JPS5931861 B2 JP S5931861B2 JP 12781476 A JP12781476 A JP 12781476A JP 12781476 A JP12781476 A JP 12781476A JP S5931861 B2 JPS5931861 B2 JP S5931861B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor element
- electrode
- envelope
- element assembly
- spring body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体装置に関し、特に圧接型の半導体装置に
て半導体素子の改良された固定構造を提供するものであ
る。
て半導体素子の改良された固定構造を提供するものであ
る。
圧接型の半導体装置の一例として第1図に断面図で示す
如きサイリスタがある。
如きサイリスタがある。
まず図aにおいて、1aはシリコン基板で1主面(下主
面)にアノード電極、他の1主面(上主面)にカソード
電極とゲート電極を備え、前記アノード電極は一例のW
、Mo等の保護板lbが一例としてろう接されてなり半
導体素子組立体1を形成する。次に3aは上記カソード
電極に金属板2を介して圧接導出する第1電極部材、3
bは上記アノード電極に接続された保護板を介して圧接
し導出する第2電極部材、1は外囲器で、排気管を兼ね
るゲート電極導出部材4bを側面に備えた電気絶縁部材
のたとえばセラミックスでなる筒体4aとこの両端縁に
設けられたつば4c、4c’で夫々前記第1電極部材、
第2電極部材に接続されて前記半導体素子組立体を気密
封止する如くなる。5は金属のガイドリングで、第2電
極部材の側面から半導体素子に固着された保護板Ibに
外囲し、半導体素子の位置決めをはかる。
面)にアノード電極、他の1主面(上主面)にカソード
電極とゲート電極を備え、前記アノード電極は一例のW
、Mo等の保護板lbが一例としてろう接されてなり半
導体素子組立体1を形成する。次に3aは上記カソード
電極に金属板2を介して圧接導出する第1電極部材、3
bは上記アノード電極に接続された保護板を介して圧接
し導出する第2電極部材、1は外囲器で、排気管を兼ね
るゲート電極導出部材4bを側面に備えた電気絶縁部材
のたとえばセラミックスでなる筒体4aとこの両端縁に
設けられたつば4c、4c’で夫々前記第1電極部材、
第2電極部材に接続されて前記半導体素子組立体を気密
封止する如くなる。5は金属のガイドリングで、第2電
極部材の側面から半導体素子に固着された保護板Ibに
外囲し、半導体素子の位置決めをはかる。
即ち圧接型にしてソルダーレスのかゝる半導体装置にあ
つては半導体素子が両面可滑動になるため動作時は第1
、第2電極部材に荷重することによつて連接をうる如く
なる。しかして動作させないときは圧接荷重がないため
微小な振動や、衝撃によつて半導体素子が変位する。特
に回転に対する固定には効なく、回転によりサイリスタ
の場合にはゲート電極導出用ワイヤが切断するに至ると
いう重大な欠点がある。また上記欠点は金属のガイドリ
ング5を第1図bに示す如くシリコンラバでなる柔軟な
リング5’に変えることによりー部改良されるが、素子
の動作によりリングから発生するガスなどの不純物が発
生して素子を汚染し電気的特性を損する欠点がある。本
発明は上記従来の欠点を除去する圧接型の半導体装置の
改良構造を提供するものである。本発明の圧接型の半導
体装置は両主面に電極が形成された半導体素子とこの1
電極に連接固着された保護板とを備えた半導体素子組立
体と、前記半導体素子組立体の電極または電極導出部材
を介して両電極に夫々圧接し導出する第1および第2電
極部材、前記両電極部材の各々の一部を露出するととも
に少くとも前記半導体素子組立体を気密に封止する外囲
器、前記半導体素子を定位するために保護板の縁部と外
囲器の内壁とに弾接介装された金属のばね体を備えを−
ことを特徴とする。以下に本発明の一実施例の圧接型の
半導体装置のサイリスタにつき図面を参照して詳細に説
明する。第2図a卦よび同図bに夫々斜視図で示す金属
のばね体11,21を第3図に示す如く外囲器の筒体の
内壁と保護板との間に介装せしめるもので第2図aのば
ね体を装着したものを第3図aに、また第2図bのばね
体を装着したものを第3図bに示す。このばね体はりん
青銅またはばね鋼などからなるばね性の平板を屈曲せし
めてリング状としたものである。また第2図bに示すも
のは周縁に内側に向う切り起し2「゛, 21〃・・・
・・・を設け、これを保護板の第2電極部材との接触側
主面の周縁部に当接せしめることによつて、このばね体
が図に卦ける上下方向の変位を阻止する如くなる。次に
第3図によつて本発明を説明する。1aは半導体素子で
1主面(下主面)FlC.アノード電極、他の1主面(
上主面)にカソード電極とゲート電極を備え、前記アノ
ード電極は一例のMO,W等の保護板1bが一例として
ろう接されてなり半導体素子組立体1を形成する。
つては半導体素子が両面可滑動になるため動作時は第1
、第2電極部材に荷重することによつて連接をうる如く
なる。しかして動作させないときは圧接荷重がないため
微小な振動や、衝撃によつて半導体素子が変位する。特
に回転に対する固定には効なく、回転によりサイリスタ
の場合にはゲート電極導出用ワイヤが切断するに至ると
いう重大な欠点がある。また上記欠点は金属のガイドリ
ング5を第1図bに示す如くシリコンラバでなる柔軟な
リング5’に変えることによりー部改良されるが、素子
の動作によりリングから発生するガスなどの不純物が発
生して素子を汚染し電気的特性を損する欠点がある。本
発明は上記従来の欠点を除去する圧接型の半導体装置の
改良構造を提供するものである。本発明の圧接型の半導
体装置は両主面に電極が形成された半導体素子とこの1
電極に連接固着された保護板とを備えた半導体素子組立
体と、前記半導体素子組立体の電極または電極導出部材
を介して両電極に夫々圧接し導出する第1および第2電
極部材、前記両電極部材の各々の一部を露出するととも
に少くとも前記半導体素子組立体を気密に封止する外囲
器、前記半導体素子を定位するために保護板の縁部と外
囲器の内壁とに弾接介装された金属のばね体を備えを−
ことを特徴とする。以下に本発明の一実施例の圧接型の
半導体装置のサイリスタにつき図面を参照して詳細に説
明する。第2図a卦よび同図bに夫々斜視図で示す金属
のばね体11,21を第3図に示す如く外囲器の筒体の
内壁と保護板との間に介装せしめるもので第2図aのば
ね体を装着したものを第3図aに、また第2図bのばね
体を装着したものを第3図bに示す。このばね体はりん
青銅またはばね鋼などからなるばね性の平板を屈曲せし
めてリング状としたものである。また第2図bに示すも
のは周縁に内側に向う切り起し2「゛, 21〃・・・
・・・を設け、これを保護板の第2電極部材との接触側
主面の周縁部に当接せしめることによつて、このばね体
が図に卦ける上下方向の変位を阻止する如くなる。次に
第3図によつて本発明を説明する。1aは半導体素子で
1主面(下主面)FlC.アノード電極、他の1主面(
上主面)にカソード電極とゲート電極を備え、前記アノ
ード電極は一例のMO,W等の保護板1bが一例として
ろう接されてなり半導体素子組立体1を形成する。
次に3aは上記カソード電極に金属板2を介して圧接導
出するたとえば銅、銀で形成された第1電極部材、3b
は上記アノード電極に接続された前記第1電極部材と等
しい材質でなる第2電極部材、4は外囲器で、排気管を
兼ねるゲート電極導出部材4bを側面に備えた電気絶縁
部材のたとえばセラミツクスでなる筒体4aとこの両端
縁に設けられたつば4c,4c′で夫々前記第1電極部
材、第2電極部材に接続されて前記半導体素子組立体を
気密封止する如くなる。また11はばね体で、その板厚
は保護板の大きさ、重さによつて決められるが、加工性
の点からしてりん青銅、ばね鋼の0.3−1.0WII
厚さの平板を屈曲して花形のリング状に形成し、最小径
部を第2電極部材の外周に外囲可能に、最大径部を外囲
器の筒体の内周に接する如く形成される。第3図Bvc
.卦けるばね体21VC.ついても主なる形状は上記第
3図aに述べたところと変tるところなく、これに設け
られた切り起し21′,21〃・・・・・・を備える点
で異なる。前記切り起しについては既に述べた如くなり
、ばね体形成時のブレス加工により切り込み、曲げによ
り容易に形成される。な卦ばね体の形状は上記に限らず
、だ円形、星形、糸巻等任意にきめることができる。本
発明によれば半導体素子の水平面上の変位、水平面上の
回転等が防止できるため、電気的特性の低下、ゲートリ
ードの断線等の事故を防止しうるという顕著な利点があ
る。
出するたとえば銅、銀で形成された第1電極部材、3b
は上記アノード電極に接続された前記第1電極部材と等
しい材質でなる第2電極部材、4は外囲器で、排気管を
兼ねるゲート電極導出部材4bを側面に備えた電気絶縁
部材のたとえばセラミツクスでなる筒体4aとこの両端
縁に設けられたつば4c,4c′で夫々前記第1電極部
材、第2電極部材に接続されて前記半導体素子組立体を
気密封止する如くなる。また11はばね体で、その板厚
は保護板の大きさ、重さによつて決められるが、加工性
の点からしてりん青銅、ばね鋼の0.3−1.0WII
厚さの平板を屈曲して花形のリング状に形成し、最小径
部を第2電極部材の外周に外囲可能に、最大径部を外囲
器の筒体の内周に接する如く形成される。第3図Bvc
.卦けるばね体21VC.ついても主なる形状は上記第
3図aに述べたところと変tるところなく、これに設け
られた切り起し21′,21〃・・・・・・を備える点
で異なる。前記切り起しについては既に述べた如くなり
、ばね体形成時のブレス加工により切り込み、曲げによ
り容易に形成される。な卦ばね体の形状は上記に限らず
、だ円形、星形、糸巻等任意にきめることができる。本
発明によれば半導体素子の水平面上の変位、水平面上の
回転等が防止できるため、電気的特性の低下、ゲートリ
ードの断線等の事故を防止しうるという顕著な利点があ
る。
また本発明は実施が容易かつ廉価にして効果は著大であ
る。
る。
第1図A,bはいづれも従来のサイリスタの断面図、第
2図A,bはいづれも本発明の実施例のサイリスタのば
ね体を示す斜視図、第3図A,bはいづれも本発明一実
施例のサイリスタの断面図である。 な卦図中同一符号は同一または相当部分を夫々示すもの
とする。1・・・・・・半導体素子組立体、1a・・・
・・・半導体素子、1b・・・・・・保護板、3a・・
・・・・第1電極部材、3b・・・・・・第2電極部材
、A・・・・・・外囲器、11,21・・・・・・ばね
体。
2図A,bはいづれも本発明の実施例のサイリスタのば
ね体を示す斜視図、第3図A,bはいづれも本発明一実
施例のサイリスタの断面図である。 な卦図中同一符号は同一または相当部分を夫々示すもの
とする。1・・・・・・半導体素子組立体、1a・・・
・・・半導体素子、1b・・・・・・保護板、3a・・
・・・・第1電極部材、3b・・・・・・第2電極部材
、A・・・・・・外囲器、11,21・・・・・・ばね
体。
Claims (1)
- 1 両主面に電極が形成された半導体素子とこの1電極
に導接固着された保護板とを備えた半導体素子組立体、
前記半導体素子組立体の電極または電極の導出部材を介
して両電極に夫々圧接し導出する第1および第2電極部
材、前記両電極部材の各々の一部を露出するとともに少
くとも前記半導体素子組立体を気密封止する外囲器、前
記半導体素子を定位するために保護板の縁部と外囲器の
内壁とに弾接介装された金属のばね体を具備した半導体
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12781476A JPS5931861B2 (ja) | 1976-10-26 | 1976-10-26 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12781476A JPS5931861B2 (ja) | 1976-10-26 | 1976-10-26 | 半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5353258A JPS5353258A (en) | 1978-05-15 |
| JPS5931861B2 true JPS5931861B2 (ja) | 1984-08-04 |
Family
ID=14969317
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12781476A Expired JPS5931861B2 (ja) | 1976-10-26 | 1976-10-26 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5931861B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6315770U (ja) * | 1986-07-16 | 1988-02-02 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5558049U (ja) * | 1978-10-16 | 1980-04-19 |
-
1976
- 1976-10-26 JP JP12781476A patent/JPS5931861B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6315770U (ja) * | 1986-07-16 | 1988-02-02 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5353258A (en) | 1978-05-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3404319A (en) | Semiconductor device | |
| JPH1070217A (ja) | 樹脂封止型半導体装置及びその金型構造 | |
| US4591896A (en) | Pressure-contact sealing arrangement for a semiconductor pellet | |
| JPS5931861B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JP3266281B2 (ja) | 逆導通サイリスタ装置、圧接型半導体装置及び半導体基板 | |
| US3886586A (en) | Thyristor housing assembly | |
| US2661447A (en) | Sealed rectifier | |
| US2758262A (en) | Dry contact rectifier | |
| US20030062615A1 (en) | Support structure for power element | |
| US3027502A (en) | Semiconductor device | |
| US4556898A (en) | Semiconductor device | |
| JP2606885Y2 (ja) | サージ吸収素子 | |
| JP6716343B2 (ja) | 電流遮断装置、蓄電装置及び蓄電装置の製造方法 | |
| TW498584B (en) | Surge absorber and manufacturing method thereof | |
| EP0512742A1 (en) | Semiconductor device assembly | |
| JPH023627Y2 (ja) | ||
| US2537961A (en) | Rectifier | |
| JPS5855649Y2 (ja) | 半導体装置 | |
| JPH02220452A (ja) | 半導体装置 | |
| JP4125888B2 (ja) | 圧接型半導体装置 | |
| JPH0710941U (ja) | 圧接型半導体装置 | |
| JPH0328518Y2 (ja) | ||
| JP3077901B2 (ja) | 樹脂封止形半導体装置 | |
| JPS5943736Y2 (ja) | 半導体装置 | |
| JPH09139395A (ja) | 複数個の半導体素子を内蔵した圧接型電力用半導体装置 |