JPS5932441A - X線診断装置 - Google Patents
X線診断装置Info
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- JPS5932441A JPS5932441A JP58120126A JP12012683A JPS5932441A JP S5932441 A JPS5932441 A JP S5932441A JP 58120126 A JP58120126 A JP 58120126A JP 12012683 A JP12012683 A JP 12012683A JP S5932441 A JPS5932441 A JP S5932441A
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- ray diagnostic
- diagnostic apparatus
- ray
- photodetector
- amplifier
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 13
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000003313 weakening effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/64—Circuit arrangements for X-ray apparatus incorporating image intensifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/36—Temperature of anode; Brightness of image power
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、X線像増幅器−テレビジョン系をfM工てい
て、テレビジョンカメラがベース対物レンズとカメラ対
物レンズとを有する光学系を通してX線像増幅器に結合
されていて、その光学光の光の流れの・一部を光検出器
へ向かわされるようになっているX線診断装置に関する
。
て、テレビジョンカメラがベース対物レンズとカメラ対
物レンズとを有する光学系を通してX線像増幅器に結合
されていて、その光学光の光の流れの・一部を光検出器
へ向かわされるようになっているX線診断装置に関する
。
西独特許第1.614,683号公報に冒頭に述べた如
きX線診断装置が記載されている。これにおいてはX線
像増幅器がX線像を目に見える像に変換する。ベース対
物レンズおよびカメラ対物レンズを備えた光学系を通し
てX線像増幅器の出力像がテレビジョンカメラに伝達さ
れる。Xmm像幅幅器出力発光スクリーンから出て来た
光の一部が小さなミラーを介して光電増倍管の光陰極に
投射され、その光電増倍管の出力信号がX線診断装置の
高電圧発生器の制御のために使用される。所望の測定優
先部は機械的な関係により定められる。
きX線診断装置が記載されている。これにおいてはX線
像増幅器がX線像を目に見える像に変換する。ベース対
物レンズおよびカメラ対物レンズを備えた光学系を通し
てX線像増幅器の出力像がテレビジョンカメラに伝達さ
れる。Xmm像幅幅器出力発光スクリーンから出て来た
光の一部が小さなミラーを介して光電増倍管の光陰極に
投射され、その光電増倍管の出力信号がX線診断装置の
高電圧発生器の制御のために使用される。所望の測定優
先部は機械的な関係により定められる。
測定優先部内では測定内容にわたる積分が行なわれる。
測定優先部のあとからの変更を行なうことは困難である
。
。
さらに西独特許第2,032,780号からテレビジョ
ン撮像管な撮像制御のための光検出器として使用するこ
とは公知である。このために走査線の偏向交流電圧がし
ゃ断され、所望の優先部への走査線が増強される。偏向
直流電圧の印加によってあらゆる任意の優先部位置が得
られる。この種の測定・制御装置は優先部jで該当する
個々の測定フィールドの種々の重みづけおよび間接撮像
時での非常に短い露出時間な可能にするには適していな
い。
ン撮像管な撮像制御のための光検出器として使用するこ
とは公知である。このために走査線の偏向交流電圧がし
ゃ断され、所望の優先部への走査線が増強される。偏向
直流電圧の印加によってあらゆる任意の優先部位置が得
られる。この種の測定・制御装置は優先部jで該当する
個々の測定フィールドの種々の重みづけおよび間接撮像
時での非常に短い露出時間な可能にするには適していな
い。
本発明の目的は、冒頭に述べた如きX線診断装置におい
て、測定優先部を自由に選択できるようにすると共に、
できるだけ短い露出時間が得られるように高電圧発生器
の制御のための測定値検出を並行して行なえるようにす
ることにある。
て、測定優先部を自由に選択できるようにすると共に、
できるだけ短い露出時間が得られるように高電圧発生器
の制御のための測定値検出を並行して行なえるようにす
ることにある。
この目的は、本発明によれば、別の対物レンズをミラー
と光検出器との間に配置し、その光検出器を光センサの
マトリックスから構成し、これらの光センサの出力端を
スイッチを介して加算増幅器に接続することによって達
成される。この装置によってスイッチ操作により簡単に
X線像の任意の範囲を測定優先部として選択することが
できる。
と光検出器との間に配置し、その光検出器を光センサの
マトリックスから構成し、これらの光センサの出力端を
スイッチを介して加算増幅器に接続することによって達
成される。この装置によってスイッチ操作により簡単に
X線像の任意の範囲を測定優先部として選択することが
できる。
光センサの出力端を重みづけ回路を介して加算増幅器に
接続すれば、範囲を種々の重みで評価することができる
。
接続すれば、範囲を種々の重みで評価することができる
。
光センサに積分段を後続配置すれば、優先部内における
測定信号の積分が行なわれる。光センサにピーク値回路
を後続配置するのも場合により有効である。
測定信号の積分が行なわれる。光センサにピーク値回路
を後続配置するのも場合により有効である。
以下、図面を参照しながら本発明を実施例について詳細
に説明する。
に説明する。
第1図は本発明によるX線診断装置を示し、第2図は第
1図に示されている測定回路の回路図である。
1図に示されている測定回路の回路図である。
第1図にはX線管1が示されていて、このXfs管は高
電圧発生器2によって運転されてX線束を送出し、その
X線束は患者3を透過してX線像増幅器40入ロ発光ス
クリーン上にX線像を投射する。X線像増幅器4はX線
像な出口発光スクリーン上に目で見ることのできる像に
変換する。X線レンズ7とを有する光学系5が結合され
ている。
電圧発生器2によって運転されてX線束を送出し、その
X線束は患者3を透過してX線像増幅器40入ロ発光ス
クリーン上にX線像を投射する。X線像増幅器4はX線
像な出口発光スクリーン上に目で見ることのできる像に
変換する。X線レンズ7とを有する光学系5が結合され
ている。
これらの対物レンズ6および7によってX 、Ill
(fJの出力像がテレビジョンカメラ8に投射される。
(fJの出力像がテレビジョンカメラ8に投射される。
テレビジョンカメラ8の出力信号はビデオ増幅器9にお
いて増幅され、モニタ10において再生される。
いて増幅され、モニタ10において再生される。
光学系5の平行な光線通路に平行光線な配分する透過性
ミラー11が配置されている。別の対物レンズ12は光
検出器13上に像を生じさせる。
ミラー11が配置されている。別の対物レンズ12は光
検出器13上に像を生じさせる。
光検出613はマトリックス状に配置された多数の光セ
ンサからなり、これはこの例では5×5=25の光セン
サからなる。光検出器13は目標値設定器15を有する
測定回路14と接続されている。測定回路14は高電圧
発生器2に接続されている。
ンサからなり、これはこの例では5×5=25の光セン
サからなる。光検出器13は目標値設定器15を有する
測定回路14と接続されている。測定回路14は高電圧
発生器2に接続されている。
第2図には光検出器13および測定回路14が示されて
いる。光検出器13はマトリックス状に配置された多数
の光センサ、例えばホトダイオートダイオード162〜
15nには増幅器173〜1.7 nが後続配置されて
いて、これらはホトダイオード1.6 a〜16nと共
に半導体チップ上に集積IIsすることができる。増幅
器17a〜170には測定信号の積分のためのコンデン
サ18a〜1、8 nが後続配置されている。コンデン
サ18a〜18I〕には光センサ16a〜16nの選択
を可能にするスイッチ1.9 a〜19nが接続されて
いる。スイッチ192〜19nには可変抵抗器20a〜
20nが後続配置されていて、これらは増幅器210入
力端に接続されている。増幅器21の出力端は抵抗22
を介してそれの入力端と負帰還結合されている。抵抗2
0a〜20n1増幅器2]および抵抗22は周知の加算
回路を構成している。
いる。光検出器13はマトリックス状に配置された多数
の光センサ、例えばホトダイオートダイオード162〜
15nには増幅器173〜1.7 nが後続配置されて
いて、これらはホトダイオード1.6 a〜16nと共
に半導体チップ上に集積IIsすることができる。増幅
器17a〜170には測定信号の積分のためのコンデン
サ18a〜1、8 nが後続配置されている。コンデン
サ18a〜18I〕には光センサ16a〜16nの選択
を可能にするスイッチ1.9 a〜19nが接続されて
いる。スイッチ192〜19nには可変抵抗器20a〜
20nが後続配置されていて、これらは増幅器210入
力端に接続されている。増幅器21の出力端は抵抗22
を介してそれの入力端と負帰還結合されている。抵抗2
0a〜20n1増幅器2]および抵抗22は周知の加算
回路を構成している。
増幅器21の出力端には比較器23が接続されていて、
この比較器23はホトダイオード16a〜16nの加算
された出力信号を可変抵抗24によって設定された目標
値と比較し、この比較器の出力信号は高電圧発生器2を
投入し、制御する。
この比較器23はホトダイオード16a〜16nの加算
された出力信号を可変抵抗24によって設定された目標
値と比較し、この比較器の出力信号は高電圧発生器2を
投入し、制御する。
スイッチ19によってX線像のあらゆる任意の部分が測
定優先部として選択される。しかし多数の部分をまとめ
て接続することもできる。可変抵抗20によって個々の
部分が種々に評価される。
定優先部として選択される。しかし多数の部分をまとめ
て接続することもできる。可変抵抗20によって個々の
部分が種々に評価される。
例えば1つのホトダイオード16の出力18号を係数1
にて評価し、これに対してすべての隣接するホトダイオ
ード16の信号を弱めて評価することができる。
にて評価し、これに対してすべての隣接するホトダイオ
ード16の信号を弱めて評価することができる。
スイッチ19は個別に操作でき、あるいは図示されてい
ない側脚装置にてプログラムされた設定で選択すること
もできる。増幅器17およびコンデンサ18との間にそ
れぞれダイオードを挿入ずれば、測ポ信号のピーク値評
価が行なわわ、これはある測定使先に対して多数のポト
ダイ]−ドをまとめて接続する場合に適している。
ない側脚装置にてプログラムされた設定で選択すること
もできる。増幅器17およびコンデンサ18との間にそ
れぞれダイオードを挿入ずれば、測ポ信号のピーク値評
価が行なわわ、これはある測定使先に対して多数のポト
ダイ]−ドをまとめて接続する場合に適している。
この測ポ値評価は放射線量の制御のほかに間接撮影ある
いは電子的な個別像記憶のための露出制御にも使用でき
る。
いは電子的な個別像記憶のための露出制御にも使用でき
る。
第1図は本発明によるXm診断装置の実施例を示す概略
構成図、第2図は第1図における測定回路の具体例を示
す回路図である。 1・・・X線管、2・・・高電圧発生器、3・・・患者
、4・・・X線像増幅器、5・・・光学系、6・・・ベ
ース対物レンズ、7・・・カメラ対物レンズ、8・・・
テレビジョンカメラ、9・・・ビデオ増幅iM、10・
・・モニタ、11・・・ミラー、12・・・対物レンズ
、J3・・・光検出器、14・・・測定回路、1訃・・
目標値設電器、16・・・ホトダイオード、17・・・
増幅器、18・・・コンデンサ、19・・・スイッチ、
20・・・可変抵抗、2〕・・・増・幅器、22・・・
抵抗、23・・・比較器、24・・・可変抵抗。
構成図、第2図は第1図における測定回路の具体例を示
す回路図である。 1・・・X線管、2・・・高電圧発生器、3・・・患者
、4・・・X線像増幅器、5・・・光学系、6・・・ベ
ース対物レンズ、7・・・カメラ対物レンズ、8・・・
テレビジョンカメラ、9・・・ビデオ増幅iM、10・
・・モニタ、11・・・ミラー、12・・・対物レンズ
、J3・・・光検出器、14・・・測定回路、1訃・・
目標値設電器、16・・・ホトダイオード、17・・・
増幅器、18・・・コンデンサ、19・・・スイッチ、
20・・・可変抵抗、2〕・・・増・幅器、22・・・
抵抗、23・・・比較器、24・・・可変抵抗。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1) X線像増幅器−テレビジョン系(4〜10)ヲ
備えていて、テレビジョンカメラ(8)がベース対物レ
ンズ(6)とカメラ対物レンズ(7)とを有する光学系
(5)を通してX線像増幅器(4)に結合されていて、
その光学系の平行な光線通路内にミラー(11)があり
、このミラーが光の流れの一部を光検出器(13)へ向
かわせるようになっているX線診断装置において、別の
対物レンズ(12)が前記ミラー(11)と光検出器(
13)との間に配置されていて、光検出器(13)は光
センサのマトリックス(168〜16n)からなり、こ
れらの光センサの並列な出力端がスイッチ(193〜1
9n)を介して加算増幅器(20〜22)に接続されて
いること2)光センサ(16a〜16n)の出力端は加
算増幅器(2o〜22)に接、読されている重みづIJ
回路(20)に接、読されていることを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載のX線診断装置。 3)光センサ(163〜16n)に積分段Dsa〜18
n)が後続配置されていることを特徴とする特許請求の
範囲第1項または第2項記載のX線診断装置。 4)光センサ(16a〜16n)にピーク値回路が後続
配置されていることを特徴とする特許請求の範囲第1項
または第2項記載のX線診断装N。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19823225061 DE3225061A1 (de) | 1982-07-05 | 1982-07-05 | Roentgendiagnostikeinrichtung |
| DE3225061.4 | 1982-07-05 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5932441A true JPS5932441A (ja) | 1984-02-21 |
| JPH0251315B2 JPH0251315B2 (ja) | 1990-11-07 |
Family
ID=6167648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58120126A Granted JPS5932441A (ja) | 1982-07-05 | 1983-07-01 | X線診断装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4517594A (ja) |
| JP (1) | JPS5932441A (ja) |
| DE (1) | DE3225061A1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01232699A (ja) * | 1988-03-12 | 1989-09-18 | Toshiba Corp | デイジタルフルオログラフイ装置 |
| JPH0397288U (ja) * | 1990-01-24 | 1991-10-07 |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2577374A1 (fr) * | 1985-02-08 | 1986-08-14 | Thomson Cgr | Procede de reglage automatique d'exposition dans une installation de radiologie, et installation de radiologie mettant en oeuvre un tel procede |
| FR2580827B1 (fr) * | 1985-04-19 | 1987-05-22 | Thomson Cgr | Installation de radiologie |
| NL8502569A (nl) * | 1985-09-20 | 1987-04-16 | Philips Nv | Roentgenonderzoekapparaat met een locaal opgedeelde hulpdetector. |
| DE3732634A1 (de) * | 1987-09-28 | 1989-04-06 | Siemens Ag | Roentgendiagnostikeinrichtung |
| EP0309813B1 (de) * | 1987-09-28 | 1992-12-09 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendiagnostikeinrichtung |
| DE8714009U1 (de) * | 1987-10-19 | 1989-02-16 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Röntgendiagnostikvorrichtung |
| EP0362427B1 (de) * | 1988-10-05 | 1993-01-27 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendiagnostikanlage mit einem Detektor für die mittlere Bildhelligkeit |
| EP0372101A1 (de) * | 1988-12-02 | 1990-06-13 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendiagnostikanlage mit einer Bildverstärker-Fernsehkette |
| FI90183C (fi) * | 1989-11-23 | 1993-12-27 | Planmed Oy | Foerfarande och anordning i anslutning till automatisk exponering vid roentgendiagnostik, speciellt mammografi |
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| DE59006446D1 (de) * | 1990-10-12 | 1994-08-18 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikanlage mit einem Röntgenbildverstärker und einem Detektor für die Bildhelligkeit auf dessen Ausgangsschirm. |
| DE4232901A1 (de) * | 1992-10-01 | 1994-04-07 | Siemens Ag | Medizinisches Diagnostikgerät mit optimierter Signalerfassung zur Belichtungssteuerung |
| DE4300829C2 (de) * | 1993-01-14 | 1996-08-29 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikeinrichtung |
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| US5949848A (en) * | 1996-07-19 | 1999-09-07 | Varian Assocaites, Inc. | X-ray imaging apparatus and method using a flat amorphous silicon imaging panel |
| US5751783A (en) * | 1996-12-20 | 1998-05-12 | General Electric Company | Detector for automatic exposure control on an x-ray imaging system |
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| DE10128722C1 (de) * | 2001-06-13 | 2003-04-24 | Siemens Ag | Vorrichtung zur Kontrolle von Objekten |
| US7557356B2 (en) * | 2006-12-06 | 2009-07-07 | Intematix Corporation | Camera-based x-ray digital image detector |
| CN103462627A (zh) * | 2013-09-22 | 2013-12-25 | 江苏美伦影像系统有限公司 | 一种高灵敏度影像链系统 |
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|---|---|---|---|---|
| CH477146A (de) * | 1967-12-16 | 1969-08-15 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikeinrichtung |
| DE2032780C3 (de) * | 1970-07-02 | 1978-05-18 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Röntgenanlage für Aufnahme und Durchleuchtung mit einer Fernseheinrichtung und einem Belichtungsautomaten |
| DE2610845C3 (de) * | 1976-03-15 | 1989-08-10 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltungsanordnung für einen Detektor für ionisierende Strahlung |
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-
1982
- 1982-07-05 DE DE19823225061 patent/DE3225061A1/de active Granted
-
1983
- 1983-06-20 US US06/505,963 patent/US4517594A/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-07-01 JP JP58120126A patent/JPS5932441A/ja active Granted
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| JPH0397288U (ja) * | 1990-01-24 | 1991-10-07 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4517594A (en) | 1985-05-14 |
| DE3225061C2 (ja) | 1990-12-20 |
| JPH0251315B2 (ja) | 1990-11-07 |
| DE3225061A1 (de) | 1984-01-05 |
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