JPS5935016A - 含水素シリコン層の製造方法 - Google Patents

含水素シリコン層の製造方法

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JPS5935016A
JPS5935016A JP14210482A JP14210482A JPS5935016A JP S5935016 A JPS5935016 A JP S5935016A JP 14210482 A JP14210482 A JP 14210482A JP 14210482 A JP14210482 A JP 14210482A JP S5935016 A JPS5935016 A JP S5935016A
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hydrogen
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plasma
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Nobuo Nakamura
信夫 中村
Juichi Shimada
嶋田 寿一
Sunao Matsubara
松原 直
Shinichi Muramatsu
信一 村松
Masatoshi Utaka
正俊 右高
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National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、シリコンまたはその合金の1種から成る層を
組込んだ電子デバイス、特に光子輻射線を電気エネルギ
ーに変換すべく使用し得る太陽電池に用いる含水素シリ
コン層の製造方法に関するものである。
従来の太陽電池の材料としては一般に結晶シリコンが使
用さ゛れてきたが、セル特性が良好な反面製造コストが
高いという欠点があった。一方、最近注目をあびている
非晶質シリコンについては、光吸収が大きいために薄く
てもよく、低温プロセスで作れるという特長を持つ反面
、成長速度が小さいために長時間の成長が必要でアシ、
長期使用の信頼性にも問題がある。また、太陽光スベク
トルからすれば波長感度幅が狭く、最適な材料とは真え
ない。
本発明の目的は、非晶質シリコンと微結晶シリコンとが
共に含まれるシリコン膜とすることにより両者の利点の
特性を持つ太陽電池を提供することにある。この膜は太
陽光スペクトルに近い波長感度を持ち光吸収の大きな材
料であり、局在準位が小さく易動度が大きいために高い
光電変換効率を示し、長期間安定な特性を示す様になる
非晶質シリコンを太陽電池として用いるためには、光導
仏性を持たせるために膜中に水素を含ませることが不可
欠であυ、通常グロー放電法により形成されている。形
成温度は200〜300Cであり、これ以上の温度で形
成されたものは水素の割合が極めて低く、太陽′電池と
しては適当でない。また、シリコンJ摸形成時に水素を
含有させたものKついでij:、300C以上の熱処理
によって水素が放出されることがわかっておシ、従って
、水素含有シリコン膜は、膜形成時および形成後も30
0C以上に加熱することは悪い影響を与えるとされてき
た。
しかし、シリコン膜を形成した後に水素プラズマ処理を
行なった場合には、処理温度は高いほど良く最高550
Cの温度まで充分な光導伝が得られた。一方、真空蒸着
あるいは減圧下での化学分解法・プラズマ分解法によっ
てシリコン膜を形成すれば、圧力と形成温度との関係に
よって非晶質シリコンと微結晶シリコンが共に含まれる
膜を形成することは容易である。こうして形成された膜
を微結晶化温度近傍の温度で水素プラズマ処理すれば、
高い光導仏性と非晶質シリコンに近い光吸収ケ示し、そ
の波長感度は、結晶シリコンと非晶質シリコンの中間的
な値となる。史に、グロー放電法によって低温で形成さ
れたものに較べ格段に信頼性の高い膜となる。微結晶化
の温度はシリコン膜の形成方法および条件により少しず
つ異なってくるが、真空蒸着法および減圧プラズマ分解
法の場合は480Cから540C,減圧下での化学分解
法の場合は560Cから600Cであった。
シリコン膜の光吸収の割合は、結晶粒の大きさに依存す
る。波長0.5μmにおける吸収係数値は、結晶シリコ
ンは1. I X 10’ cm−”であり、不純物を
ドープしない250Cで真空蒸着した非晶質シリコンは
2X1011Crn−’に対して、500Cで微結晶化
したシリコンは4X10’crn″″1であった。形成
温度を上げるに従ってこの値は結晶シリコンに近づいて
小さくなシ、550Gで2.5 X 10’cm−”と
なった。すなわち、これ以上の温度で形成した場合は、
太陽電池としては、膜厚が数μm以上が必要となシ利点
は小さいことになる。
膜形成後の水素プラズマ処理の効果は膜の結晶性に依存
し、結晶粒の小さなものほど低温処理でよい。この効果
については、赤外吸収測定等による膜中の水素量の測定
および導電率の変化によって確かめられる。種々のシリ
コン膜についてこの効果を調べた結果、非晶質シリコン
膜の場合は400〜500Cの温度範囲が最も効果があ
り、その他の微結晶シリコンを含んだ膜については、微
結晶化温度Tの±50Cの温度範囲が最も効果的であっ
た。更に、この水素プラズマ処理は膜形成後に一度大気
に触れさせた場合には、表面tWのシリコンが酸化され
でしまい、水素と結合できないために効果が減少する。
実施例 1 10””’J’orrの圧力下で蒸着ソースである結晶
シリコンに電子ビームを照射し、加熱された石英基板に
シリコン膜を蒸着した。この時、基板温度が450Cの
時は蒸着されたシリコン膜は非晶質であるが、500c
では微結晶化する。まず、450Cの温度において毎秒
1nmの速度で0.5μmの厚さに非晶質シリコンを蒸
着し、次いで500Cの温度において毎秒1.5nmの
速度で0.5μmの厚さに微結晶シリコンを蒸着した。
次いで46(I’、 0.1’l’Orrの圧力で30
分間の水素プラズマ処理を行なった。この結果、暗導伝
率が3×10″′QΩ−”an−”に対しAMIの強さ
の光照射導伝率は5X10”’Ω−1・cln−1と1
01′倍以上の変化を示し、太陽電池として使用可能な
十分な自白キャリアが発生ずることがわかった。また、
波長0.5μmに対する吸収係数値は6.5X10’儒
−1と非晶質シリコンと結晶シリコンの中間的な値を示
した。
実施例 2 第1図r;): 、シリコ/膜を形成するための減圧プ
ラズマCV I)装置の全体図である。反応管1は炉2
により外部より加熱されており、ステンレス基板3が電
極4に保持されている。5は高周波電源、6は真空ポン
プを示している。反応管1の内部を高真空に引いた後に
微結晶化する温度以下の300Cの温度においてsiH
,とPH3を8 ’ H4: P Hs=10:1の割
合で流し、全体の圧力tlTOr’とした。この状態に
おいて電極4に高周波電圧を印加し、反応管内部にプラ
ズマ放電させた。まず基板3にn型層を39nm成長さ
せた後にPH。
を止め、圧力f: I Torrに調整した後にノ/ド
ープ層f:3000m成長させた。次に反応炉内の温度
を微結晶化の温度近傍の5000として引き続きノンド
ープ層を400nm成長させた。最後にこの温度におい
て8iH,とB、H6を8 ’ 84 : B x H
e=20:14)割合で流し、I Torr (D圧力
テ10nmのpm一層を成長させた。この状態で反応管
を高真空引きした後に水素を流し、0.1TOrrの圧
力にしてプラズマ放電させ、15分間の水素プラズマ処
理を行なった。
反応装置から取り出した後に表面に透明導伝膜を蒸着し
太陽電池を構成したところAMIの擬似太陽光下で、開
放電圧0.81V、短絡電流7.8mA/lyn” ′
fI:得た。更に、太陽光スペクトルに対して35Qn
mから9001mまでの波長に対して感度を示し、結晶
シリコン太陽電池と非晶質太陽電池の中間的な特性を示
した。
本発明は化学分解法又はプラズマ分解法において有用で
ある。
本発明によれば、非晶質シリコン太陽電池と結晶シリコ
ン太陽電池の両方の長所を生かした太陽電池を作ること
ができる。すなわち、光の吸収が大きいので膜厚は数μ
m以下でよく、用途によシ非晶質層と微結晶層の厚さの
割合を変えれば任意の波長感度のものが得られる。光電
変換効率の点では、表面側接合層を微結晶化することに
よって空乏層における局在準位密度の減少から結晶シリ
コン太陽電池に近い電流密度が可能となり、高い変換効
率となる。更に、微結晶化温度付近での熱処理を経てい
るので、素子の信頼性は格段に優れたものとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図はシリコン膜を形成するための減圧プラズマCV
D装置の全体図である。 1・・・反応炉、2・・・加熱炉、3・・・基板、4・
・・高周波電極、5・・・高周波電源。 特許出願人 工業技術院長 石 坂 誠 −− VJ  1  (2)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 シリコン含有固形物の真空蒸着あるいは減圧下で
    のシラン含有気体混合物の化学分解法又はプラズマ分解
    法によるシリコン層の製造において、シリコンが微結晶
    化する温度を含む温度にてシリコン層を製造する第1段
    階と、水素またはその同位元素の1種を含むプラズマ雰
    囲気での熱処理をシリコンの微結晶化温度近傍の温度に
    て行なう第2段階を少なくとも有することを特徴とする
    含水素シリコン層の製造方法。 コツ層を製造し、前記第2段階をTからT+50dの間
    の温度で製造することを特徴とする特許請求範囲第1項
    記載の含水素シリコン層の製造方法。 3、前記第2段階をシリコンが微結晶化する温度をTと
    しだ時T−501:’とT+5(lの温度範囲で行なう
    ことを特徴とする特許請求範囲第1項記載含水素シリコ
    ン層の製造方法。 4、前記第1段階と前記第2段階を大気に触れることな
    く連続して行なうことを特徴とする特許請求範囲第1項
    記載含水素シリコン層の製造方法。
JP14210482A 1982-08-18 1982-08-18 含水素シリコン層の製造方法 Granted JPS5935016A (ja)

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JPS5935016A true JPS5935016A (ja) 1984-02-25
JPH0262482B2 JPH0262482B2 (ja) 1990-12-25

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62169320A (ja) * 1986-01-21 1987-07-25 Sharp Corp 薄膜の形成方法
JPH05109638A (ja) * 1988-09-30 1993-04-30 Sanyo Electric Co Ltd 多結晶シリコン膜の形成方法
WO2002021588A1 (en) * 2000-09-01 2002-03-14 Japan Science And Technology Corporation Process for producing organic film by coevaporation
US7550665B2 (en) * 2003-07-24 2009-06-23 Kaneka Corporation Stacked photoelectric converter
AU2004259486B2 (en) * 2003-07-24 2010-02-18 Kaneka Corporation Silicon based thin film solar cell

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62169320A (ja) * 1986-01-21 1987-07-25 Sharp Corp 薄膜の形成方法
JPH05109638A (ja) * 1988-09-30 1993-04-30 Sanyo Electric Co Ltd 多結晶シリコン膜の形成方法
WO2002021588A1 (en) * 2000-09-01 2002-03-14 Japan Science And Technology Corporation Process for producing organic film by coevaporation
US7550665B2 (en) * 2003-07-24 2009-06-23 Kaneka Corporation Stacked photoelectric converter
AU2004259486B2 (en) * 2003-07-24 2010-02-18 Kaneka Corporation Silicon based thin film solar cell
US7847186B2 (en) * 2003-07-24 2010-12-07 Kaneka Corporation Silicon based thin film solar cell
KR101024288B1 (ko) * 2003-07-24 2011-03-29 가부시키가이샤 가네카 실리콘계 박막 태양전지
EP1650812B2 (en) 2003-07-24 2019-10-23 Kaneka Corporation Method for making a silicon based thin film solar cell

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0262482B2 (ja) 1990-12-25

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