JPS5935119B2 - プリセツト受信装置 - Google Patents
プリセツト受信装置Info
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- JPS5935119B2 JPS5935119B2 JP52126962A JP12696277A JPS5935119B2 JP S5935119 B2 JPS5935119 B2 JP S5935119B2 JP 52126962 A JP52126962 A JP 52126962A JP 12696277 A JP12696277 A JP 12696277A JP S5935119 B2 JPS5935119 B2 JP S5935119B2
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- Japan
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- Channel Selection Circuits, Automatic Tuning Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(八 本発明の対象
5 本発明はプリセット選局が可能である受信装置に関
するものであり、殊にプリセットすべき放送のチューニ
ング電圧を不揮発性のアナログ・メモリーに記憶する構
成としたプリセット受信装置に関する。
するものであり、殊にプリセットすべき放送のチューニ
ング電圧を不揮発性のアナログ・メモリーに記憶する構
成としたプリセット受信装置に関する。
(B)従来技術の説明o 現在、可変容量ダイ0−−ド
を利用したチューナーが広く普及しているが、斯かるチ
ューナーを備えた受信装置に於いてプリセット選局を為
す場合従来にあつてはプリセット選局数に対応する可変
抵抗器を設け、この可変抵抗器にて一定の電圧を・5
分割することにより所望のチューニング電圧を得るもの
であり、任意のプリセット選局スイッチを操作するとこ
のプリセット選局スイッチに対応する可変抵抗器が選択
され、この可変抵抗器より得られるチユーニング電圧が
チユーナ一を構成する可変容量ダイオードに印加され、
以つてブリセツト選局が為されるものである。
を利用したチューナーが広く普及しているが、斯かるチ
ューナーを備えた受信装置に於いてプリセット選局を為
す場合従来にあつてはプリセット選局数に対応する可変
抵抗器を設け、この可変抵抗器にて一定の電圧を・5
分割することにより所望のチューニング電圧を得るもの
であり、任意のプリセット選局スイッチを操作するとこ
のプリセット選局スイッチに対応する可変抵抗器が選択
され、この可変抵抗器より得られるチユーニング電圧が
チユーナ一を構成する可変容量ダイオードに印加され、
以つてブリセツト選局が為されるものである。
この従来例に於いて頃ブリセツト選局数に対応した数の
可変抵抗器を必要とする為、受信装置の小型化が困難で
あつた。更に最近に於いては、チユーニング電圧をアナ
ログ・デジタル変換してデジタル値とした後デジタルメ
モリーに記憶し、プリセット選局時このデジタルメモリ
ーに記憶されたデジタル値を読出し、これをデジタル・
アナログ変換してチユーニング電圧を得る構成とした受
信装置も提案されているが、斯かる受信装置にあつては
、プリセツト選局数に対応したアドレスを有するデジタ
ルメモリーを設ければ良いから受信装置の小型化は容易
であるが、アナログ−デジタル変換器が高価且つ複雑に
なるという欠点があつた。(0本発明の開示の概要 そこで本発明に係るプリセツト受信装置は、チユーニン
グ電圧を不揮発性のアナログ・メモリーに記憶させる構
成としたものである。
可変抵抗器を必要とする為、受信装置の小型化が困難で
あつた。更に最近に於いては、チユーニング電圧をアナ
ログ・デジタル変換してデジタル値とした後デジタルメ
モリーに記憶し、プリセット選局時このデジタルメモリ
ーに記憶されたデジタル値を読出し、これをデジタル・
アナログ変換してチユーニング電圧を得る構成とした受
信装置も提案されているが、斯かる受信装置にあつては
、プリセツト選局数に対応したアドレスを有するデジタ
ルメモリーを設ければ良いから受信装置の小型化は容易
であるが、アナログ−デジタル変換器が高価且つ複雑に
なるという欠点があつた。(0本発明の開示の概要 そこで本発明に係るプリセツト受信装置は、チユーニン
グ電圧を不揮発性のアナログ・メモリーに記憶させる構
成としたものである。
更に、選局時に於いて、何れのチユーニング電圧を読出
すかを選択するアドレス指定スイツチを操作したとき、
このスイツチにて指定されたアドレスを記憶する不揮発
性のアドレス・メモリを設けたものである。尚、本願と
同様の出願に特願昭52一124197号があるが、こ
の関連出願に係る発明に比較して、本発明の特徴は、プ
リセツト選局のアドレスを記憶する不揮発性のアドレス
・メモリを設けた点にある。
すかを選択するアドレス指定スイツチを操作したとき、
このスイツチにて指定されたアドレスを記憶する不揮発
性のアドレス・メモリを設けたものである。尚、本願と
同様の出願に特願昭52一124197号があるが、こ
の関連出願に係る発明に比較して、本発明の特徴は、プ
リセツト選局のアドレスを記憶する不揮発性のアドレス
・メモリを設けた点にある。
この不揮発性のアドレス・メモリを設ける構成は、電源
再投入時の前局受信を確実にする為に極めて、重要なも
のである。D)アナログ・メモリの説明本発明に係るプ
リセツト受信装置の説明に先立つて、先ず、不揮発性の
アナログ・メモリーの構造及び特性について説明する。
再投入時の前局受信を確実にする為に極めて、重要なも
のである。D)アナログ・メモリの説明本発明に係るプ
リセツト受信装置の説明に先立つて、先ず、不揮発性の
アナログ・メモリーの構造及び特性について説明する。
絶縁膜中のポテンシヤルウエルに電荷を出し入れしてM
OSトランジスタのしきい値電圧を変化させ、これを情
報の1「゛″0″に対応させるようにした電気的書込み
・消去が可能な不揮発性メモリーが知られているが、こ
のメモリーは書込み・消去に対応して蓄積電荷量を可変
することにより、アナログ量の記憶も可能である。
OSトランジスタのしきい値電圧を変化させ、これを情
報の1「゛″0″に対応させるようにした電気的書込み
・消去が可能な不揮発性メモリーが知られているが、こ
のメモリーは書込み・消去に対応して蓄積電荷量を可変
することにより、アナログ量の記憶も可能である。
第1図は斯かるメモリーの構造を示すものであり、通常
のMOSノFETのゲート部分のSiO2酸化膜をSi
O2酸化膜1、モリブデン膜2、Si3N4膜3の三重
構造で置換したフローテイングゲート形メモリーとなつ
ている。
のMOSノFETのゲート部分のSiO2酸化膜をSi
O2酸化膜1、モリブデン膜2、Si3N4膜3の三重
構造で置換したフローテイングゲート形メモリーとなつ
ている。
MOSトランジスタのしきい値電圧Vtをより負の方向
に移動した状態にすることを“消去“、逆にしきい値電
圧Vtをより正の方向に移動した状態にすることを“書
込み8と呼べば、消去はフローテイングゲートからのフ
オーラ一・ノードハイム・トンネル・エフエクトを利用
し、書込みはシリコンからのアバランシユ注入を利用す
ることになる。籾て、第2図は、メモリーの読出し電圧
とドレイン電流の関係図、第3図はメモリーの消去・書
込み電圧としきい値電圧の関係図を示すものである。第
3図に於いて曲線aは書込み特性を示すものであり、例
えば書込みドレイン電圧をVd′としたとき、しきい値
電圧がt′になる。曲線bは消去特性を示すものであり
、例えば、消去ゲート電圧をgとしたとき、しきい値電
圧がVtになる。第2図は読出し特性を示しており、読
出しゲート電圧をVGとしたとき、書込み電圧がVd″
の場合のドレイン電流がId″となり、書込み電圧がV
d2の場合のドレイン電流がId″になることを示して
いる。即ち、書込み電圧の相違に対応して、しきい値電
圧が変化し、このしきい値電圧の変化に応答して読出し
時のドレイン電流が変化することになるから、結局、ア
ナログ量の記憶が可能である。今、書込み電圧d′によ
りMOSトランジスタのしきい値電圧がt″である場合
、新たに書込み電圧V♂を印加すれば、MOSトランジ
スタのしきい値電圧をVt″にすることが出米る。
に移動した状態にすることを“消去“、逆にしきい値電
圧Vtをより正の方向に移動した状態にすることを“書
込み8と呼べば、消去はフローテイングゲートからのフ
オーラ一・ノードハイム・トンネル・エフエクトを利用
し、書込みはシリコンからのアバランシユ注入を利用す
ることになる。籾て、第2図は、メモリーの読出し電圧
とドレイン電流の関係図、第3図はメモリーの消去・書
込み電圧としきい値電圧の関係図を示すものである。第
3図に於いて曲線aは書込み特性を示すものであり、例
えば書込みドレイン電圧をVd′としたとき、しきい値
電圧がt′になる。曲線bは消去特性を示すものであり
、例えば、消去ゲート電圧をgとしたとき、しきい値電
圧がVtになる。第2図は読出し特性を示しており、読
出しゲート電圧をVGとしたとき、書込み電圧がVd″
の場合のドレイン電流がId″となり、書込み電圧がV
d2の場合のドレイン電流がId″になることを示して
いる。即ち、書込み電圧の相違に対応して、しきい値電
圧が変化し、このしきい値電圧の変化に応答して読出し
時のドレイン電流が変化することになるから、結局、ア
ナログ量の記憶が可能である。今、書込み電圧d′によ
りMOSトランジスタのしきい値電圧がt″である場合
、新たに書込み電圧V♂を印加すれば、MOSトランジ
スタのしきい値電圧をVt″にすることが出米る。
即ち、第3図に於いて(Qから(4)への書込みは可能
である。逆に(A)から(0への書込みは実用上困難で
あるので、この場合には、一旦消去して(B)に移行さ
せてしきい値電圧をtとした後、書込み電圧Vd′を印
加して(0の書込みをなす。第4図は消去・読出し・書
込みの各モード時に於けるMOSトランジスタ・メモリ
ーのバイアス状態を示す図である。
である。逆に(A)から(0への書込みは実用上困難で
あるので、この場合には、一旦消去して(B)に移行さ
せてしきい値電圧をtとした後、書込み電圧Vd′を印
加して(0の書込みをなす。第4図は消去・読出し・書
込みの各モード時に於けるMOSトランジスタ・メモリ
ーのバイアス状態を示す図である。
消去モードに於いては、ドレインを接地してソースを開
放し、ゲートに負のパルスを加える。読出しモードに於
いては、ソースを接地し、ゲート、ドレインに負の電源
を供給する。書込みモードに於いては、ソースを開放し
てゲートを接地し、ドレインに負のパルスを加える。(
ト)通常選局操作の説明 籾て、斯かる不揮発性のアナログ・メモリーを利用した
本発明に係るプリセツト受信装置のブロツクダイヤグラ
ムは第5図に示す通りであるが、本発明の説明に先立つ
て先ず、通常選局操作について説明する。
放し、ゲートに負のパルスを加える。読出しモードに於
いては、ソースを接地し、ゲート、ドレインに負の電源
を供給する。書込みモードに於いては、ソースを開放し
てゲートを接地し、ドレインに負のパルスを加える。(
ト)通常選局操作の説明 籾て、斯かる不揮発性のアナログ・メモリーを利用した
本発明に係るプリセツト受信装置のブロツクダイヤグラ
ムは第5図に示す通りであるが、本発明の説明に先立つ
て先ず、通常選局操作について説明する。
通常選局をするには、スイツチ101をN側に切換えて
チユーニング電圧発生回路102を構成する可変抵抗器
を操作することによりチユーニング電圧を掃引すれば良
い。所定のチユーニング電圧がチユーナ一回路201を
構成する可変容量ダイオードに印加されると、チユーナ
一回路201は所定の放送周波数に対して同調する。チ
ユーナ一回路201から出力される中間周波信号は中間
周波増幅器202にて増幅され、更に検波回路203に
て検波され、その後低周波増幅器204にて増幅さ瓢ス
ピーカ205に印加される。斯様にして通常選局による
受信が達成される。尚、チユーニング電圧発生回路10
2を可変抵抗器にて構成して、これを手動にて操作する
ことによりチユーニング電圧を手動掃引する方法に替え
て、チユーニング電圧発生回路102を従来周知の鋸歯
状波発生回路にて構成してチユーニング電圧を自動掃引
し、放送を受信したとき掃引を停止する方法としても良
いし、また、手動掃引及び自動掃引の両掃引を可能にす
べく、可変抵抗器にて構成されたチユーニング電圧発生
回路と鋸歯状波発生回路にて構成されたチユーニング電
圧発生回路の両方を設け、スイツチにより選択的にチユ
ーナ一回路201に接続する構成としても良い(ト)本
発明に係る装置の全体構成及び動作の説明さて、本発明
に係るブリセツト受信装置は、上記(5)項で説明した
通常選局操作により受信された放送に対するチユーニン
グ電圧をアナログ・メモリーに記憶することにより、プ
リセツト受信を為すものである。
チユーニング電圧発生回路102を構成する可変抵抗器
を操作することによりチユーニング電圧を掃引すれば良
い。所定のチユーニング電圧がチユーナ一回路201を
構成する可変容量ダイオードに印加されると、チユーナ
一回路201は所定の放送周波数に対して同調する。チ
ユーナ一回路201から出力される中間周波信号は中間
周波増幅器202にて増幅され、更に検波回路203に
て検波され、その後低周波増幅器204にて増幅さ瓢ス
ピーカ205に印加される。斯様にして通常選局による
受信が達成される。尚、チユーニング電圧発生回路10
2を可変抵抗器にて構成して、これを手動にて操作する
ことによりチユーニング電圧を手動掃引する方法に替え
て、チユーニング電圧発生回路102を従来周知の鋸歯
状波発生回路にて構成してチユーニング電圧を自動掃引
し、放送を受信したとき掃引を停止する方法としても良
いし、また、手動掃引及び自動掃引の両掃引を可能にす
べく、可変抵抗器にて構成されたチユーニング電圧発生
回路と鋸歯状波発生回路にて構成されたチユーニング電
圧発生回路の両方を設け、スイツチにより選択的にチユ
ーナ一回路201に接続する構成としても良い(ト)本
発明に係る装置の全体構成及び動作の説明さて、本発明
に係るブリセツト受信装置は、上記(5)項で説明した
通常選局操作により受信された放送に対するチユーニン
グ電圧をアナログ・メモリーに記憶することにより、プ
リセツト受信を為すものである。
以下第5図を参照して、本発明装置の全体構成及び動作
の概略を説明する。何れのアナログ・メモリーに対して
チユーニング電圧を記憶させるかを指定するアドレス指
定スイツチの役目を果す。即ち、バンド選択スイツチ1
04、プリセツト選局スイツチ1a5を操作することに
より、選択ゲート制御回路106が駆動され、この回路
106の出力によつて不揮発性のデータ・アナログ゜メ
モリー107の所定のアドレスが選択される一方、プリ
セツトメモリースイツチ103を操作することにより消
去・書込・読出しモード制御回路108が駆動され、以
つて消去・書込み・読出し電圧発生回路109より出力
される書込み電圧が前記所定のアドレスのデータ・メモ
リー107に書込まれる。データ・メモリー107に書
込まれた電圧は直ちに読出され、チユーニング電圧発生
回路102より出力されるチユーニング電圧と比較され
る。尚、データ・メモリー107にはチユーニング電圧
そのものが記憶される訳ではないのでデータ・メモリー
107の読出し出力は変換回路110にて適当に増幅さ
れ、この変換回路110の出力とチユーニング電圧とが
比較される。斯かる書込み、読出し動作はチユーニング
電圧とデータ・メモリー107の読出し出力とが一致す
るまで繰返され、両者が一致したとき、比較器111よ
り停止信号が発生し、以つて、データ・メモリー107
への書込みが終了する。即ち、チユーニング電圧発生回
路102より出力されるチユーニング電圧に相当するデ
ータがデータ・メモリー107に書込まれたことになる
。斯様にしてデータ・メモリーにデータ(チユーニング
電圧)が書込まれた後に於いてプリセツト選局を為すに
は、スイツチ101をP側に切換え、バンド選択スイツ
チ104及びプリセツト選局スイツチ105を操作すれ
ば良い。すると、これ等両スイツチ104,105にて
指定されたアドレスのデータ・メモリーより読出された
読出し出力が変換回路110にて増幅され、この回路1
10の出力がチユーニング電圧としてチユーナ一回路2
01に印加され、以つてブリセツト選局による放送受信
を為すことができる。ところで、ある放送をプリセツト
選局により受信した後一旦、受信装置に対する電源を切
り、再び電源を投入したとき以前受信していた放送の受
信状態になることが望まれる場合がある。
の概略を説明する。何れのアナログ・メモリーに対して
チユーニング電圧を記憶させるかを指定するアドレス指
定スイツチの役目を果す。即ち、バンド選択スイツチ1
04、プリセツト選局スイツチ1a5を操作することに
より、選択ゲート制御回路106が駆動され、この回路
106の出力によつて不揮発性のデータ・アナログ゜メ
モリー107の所定のアドレスが選択される一方、プリ
セツトメモリースイツチ103を操作することにより消
去・書込・読出しモード制御回路108が駆動され、以
つて消去・書込み・読出し電圧発生回路109より出力
される書込み電圧が前記所定のアドレスのデータ・メモ
リー107に書込まれる。データ・メモリー107に書
込まれた電圧は直ちに読出され、チユーニング電圧発生
回路102より出力されるチユーニング電圧と比較され
る。尚、データ・メモリー107にはチユーニング電圧
そのものが記憶される訳ではないのでデータ・メモリー
107の読出し出力は変換回路110にて適当に増幅さ
れ、この変換回路110の出力とチユーニング電圧とが
比較される。斯かる書込み、読出し動作はチユーニング
電圧とデータ・メモリー107の読出し出力とが一致す
るまで繰返され、両者が一致したとき、比較器111よ
り停止信号が発生し、以つて、データ・メモリー107
への書込みが終了する。即ち、チユーニング電圧発生回
路102より出力されるチユーニング電圧に相当するデ
ータがデータ・メモリー107に書込まれたことになる
。斯様にしてデータ・メモリーにデータ(チユーニング
電圧)が書込まれた後に於いてプリセツト選局を為すに
は、スイツチ101をP側に切換え、バンド選択スイツ
チ104及びプリセツト選局スイツチ105を操作すれ
ば良い。すると、これ等両スイツチ104,105にて
指定されたアドレスのデータ・メモリーより読出された
読出し出力が変換回路110にて増幅され、この回路1
10の出力がチユーニング電圧としてチユーナ一回路2
01に印加され、以つてブリセツト選局による放送受信
を為すことができる。ところで、ある放送をプリセツト
選局により受信した後一旦、受信装置に対する電源を切
り、再び電源を投入したとき以前受信していた放送の受
信状態になることが望まれる場合がある。
斯かる態様を実現する為には何れのバンド選択スイツチ
104及びプリセツト選局スイツチ105が操作された
かを記憶する不揮発性のアドレス・メモリーを設けてお
けば良い。従つて第5図に示す実施例に於いては、バン
ド選択スイツチ104、プリセツト選局スイツチ105
を操作すると、この操作により指定されたアドレスは先
づアドレス・メモリ−112に記憶され、このアドレス
・メモリー112の読出し出力にて前述した選択ゲート
制御回路106が制御される構成となつている。即ち、
アドレス記憶用の不揮発性メモリー及び選択ゲート回路
112、この選択ゲート回路を制御する選択ゲート匍脚
回路113、このアドレス・メモリーに対して消去・書
込み・読出し電圧を加える消去・書込み・読出し電圧発
生回路114により、上述した指定アドレスの記憶が可
能となる。上述した構成に依れば、再電源投入時、アド
レス・メモリ−112の読出し出力により選択ゲート制
御回路106が駆動され、以つて、データ・メモリ−1
07に対して以前と同一のアドレス指定が行われること
になる。fG)本発明に係る装置の各操作の詳細な説明
次に〔アドレス・メモリーへの指定アドレスの書込み〕
、〔データ・メモリーへのチユ−ニング電圧の書込み]
、〔プリセツト選局〕の各操作について、詳細に説明を
する。
104及びプリセツト選局スイツチ105が操作された
かを記憶する不揮発性のアドレス・メモリーを設けてお
けば良い。従つて第5図に示す実施例に於いては、バン
ド選択スイツチ104、プリセツト選局スイツチ105
を操作すると、この操作により指定されたアドレスは先
づアドレス・メモリ−112に記憶され、このアドレス
・メモリー112の読出し出力にて前述した選択ゲート
制御回路106が制御される構成となつている。即ち、
アドレス記憶用の不揮発性メモリー及び選択ゲート回路
112、この選択ゲート回路を制御する選択ゲート匍脚
回路113、このアドレス・メモリーに対して消去・書
込み・読出し電圧を加える消去・書込み・読出し電圧発
生回路114により、上述した指定アドレスの記憶が可
能となる。上述した構成に依れば、再電源投入時、アド
レス・メモリ−112の読出し出力により選択ゲート制
御回路106が駆動され、以つて、データ・メモリ−1
07に対して以前と同一のアドレス指定が行われること
になる。fG)本発明に係る装置の各操作の詳細な説明
次に〔アドレス・メモリーへの指定アドレスの書込み〕
、〔データ・メモリーへのチユ−ニング電圧の書込み]
、〔プリセツト選局〕の各操作について、詳細に説明を
する。
尚、以下の実施例に於いては説明を簡単にする為にプリ
セツト選局数が2個で、2バンド(嵐FM)のプリセツ
ト受信装置を例にとつて説明する。〔アドレス・メモリ
ーへの指定アドレスの書込み〕バンド選択スイツチ10
4、プリセツト選局スイツチ105により指定されたア
ドレスは、前述した構成を有する不揮発性のアナログ・
メモリーに記憶される。
セツト選局数が2個で、2バンド(嵐FM)のプリセツ
ト受信装置を例にとつて説明する。〔アドレス・メモリ
ーへの指定アドレスの書込み〕バンド選択スイツチ10
4、プリセツト選局スイツチ105により指定されたア
ドレスは、前述した構成を有する不揮発性のアナログ・
メモリーに記憶される。
アドレス自体はデイジイタル量であるから、アドレス・
メモリーとしては不揮発性のデイジイタル・メモリーを
使用しても良い。アドレス・メモリー及び選択ゲート回
路112の具体的構成は第12図に示す通りである。バ
ンド・アドレスを記憶する為に、アドレス・メモリーM
B1,MB2が設けられ、また選局・アドレスを記憶す
る為にアドレス・メモリ−MS1,MS2が設けられて
いる。そしてアドレス・メモリーMB1,MB2に対し
て消去・書込み・読出しを選択的に行う為の電界効果型
トランジスタにて構成されたゲートG1〜G7が、また
アドレス・メモリーMS1,MS2に対して同様にゲー
トG8〜G14が夫々設けられている。バンド・アドレ
スの書込みと、選局・アドレスの書込みは全く同様に為
されるので、以下、バンド・アドレスの書込みについて
のみ説明する。ゲートG1,G2はメモリ−MB1,M
B2のドレィンに対して消去・書込み・読出し電圧発生
回路114から供給される書込み電圧■w若しくは読出
し電圧Vhを選択的に与えて、メモリ−MB1,MB2
を書込みモード若しくは読出しモードに設定する為のも
のである。ゲートG3,G4をζ消去モード及び読出し
モードに於いては共に開いており、書込みモードに於い
て、何れか一方のみが閉じてメモリ−MB1,MB2の
何れか一方を書込みモードに設定する為のものである。
ゲートG5,G,はメモリ−MB1,MB2のゲ一卜に
対して消去・書込み・読出し電圧発生回路114から供
給される消去電圧VE、若しくは読出し電圧VRを選択
的に与えて、メモリ−MB1,MB2を消去モード若し
くは読出しモードに設定する為のものである。ゲートG
7は読出しモードに於いて開いてメモワ−MB1,MB
2のソースを接地する為のものであり、この読出しモー
ド時に於いてソース抵抗の両端よりバンド・アドレス指
定出力が得られる。尚、消去・書込み・読出し電圧発生
回路114から供給される各電圧■E,WW,■R,V
R′は何れも一定の電圧である。籾て、今、AMバンド
を選択すべくバンド選択スイツチ104を操作したとき
如何にしてバンド・アドレスがメモリ−MB1に記憶さ
れるかについて消去・書込み・読出しモード制御回路1
08及び選択ゲート制御回路113の具体的実施例を示
す第13図を参照して詳述する。
メモリーとしては不揮発性のデイジイタル・メモリーを
使用しても良い。アドレス・メモリー及び選択ゲート回
路112の具体的構成は第12図に示す通りである。バ
ンド・アドレスを記憶する為に、アドレス・メモリーM
B1,MB2が設けられ、また選局・アドレスを記憶す
る為にアドレス・メモリ−MS1,MS2が設けられて
いる。そしてアドレス・メモリーMB1,MB2に対し
て消去・書込み・読出しを選択的に行う為の電界効果型
トランジスタにて構成されたゲートG1〜G7が、また
アドレス・メモリーMS1,MS2に対して同様にゲー
トG8〜G14が夫々設けられている。バンド・アドレ
スの書込みと、選局・アドレスの書込みは全く同様に為
されるので、以下、バンド・アドレスの書込みについて
のみ説明する。ゲートG1,G2はメモリ−MB1,M
B2のドレィンに対して消去・書込み・読出し電圧発生
回路114から供給される書込み電圧■w若しくは読出
し電圧Vhを選択的に与えて、メモリ−MB1,MB2
を書込みモード若しくは読出しモードに設定する為のも
のである。ゲートG3,G4をζ消去モード及び読出し
モードに於いては共に開いており、書込みモードに於い
て、何れか一方のみが閉じてメモリ−MB1,MB2の
何れか一方を書込みモードに設定する為のものである。
ゲートG5,G,はメモリ−MB1,MB2のゲ一卜に
対して消去・書込み・読出し電圧発生回路114から供
給される消去電圧VE、若しくは読出し電圧VRを選択
的に与えて、メモリ−MB1,MB2を消去モード若し
くは読出しモードに設定する為のものである。ゲートG
7は読出しモードに於いて開いてメモワ−MB1,MB
2のソースを接地する為のものであり、この読出しモー
ド時に於いてソース抵抗の両端よりバンド・アドレス指
定出力が得られる。尚、消去・書込み・読出し電圧発生
回路114から供給される各電圧■E,WW,■R,V
R′は何れも一定の電圧である。籾て、今、AMバンド
を選択すべくバンド選択スイツチ104を操作したとき
如何にしてバンド・アドレスがメモリ−MB1に記憶さ
れるかについて消去・書込み・読出しモード制御回路1
08及び選択ゲート制御回路113の具体的実施例を示
す第13図を参照して詳述する。
バンド選択スイツチ104を操作するとオア・ゲート1
0,11,12が開く。
0,11,12が開く。
オアーゲート12のハイレベル出力(以下ハイレベル出
力を゛1゛、ローレベル出力を“0“とする)により、
カウンタ−14及びシリアルインパラレルアウト型のシ
フトレジスタ16がクリアされると共に、発振器13が
駆動される。発振器13より出力されるパルスはカウン
タ14にて適当に分周され、シフトレジスタ16のデー
タ端子Dに印加される。シフトレジスタ16哄端子1,
2,3より順次パルスを出力するが、端子3よりパルス
が出力されてノア・ゲート15の出力が“O”となると
、もはやシフトレジスタ16のクロツク端子CKにはク
ロツク入力が印加されることはなく、シフトレジスタ1
6の動作は停止される。最初にシフトレジスタ16の端
子1よりバルスが出力されると、アンド・ゲート29の
二入力が共にハイレベルとなり、以つてノア・ゲート3
0の出力が“1″から″O″′に、またインバータ31
の出力が“0゛から“1”に夫々反転する。
力を゛1゛、ローレベル出力を“0“とする)により、
カウンタ−14及びシリアルインパラレルアウト型のシ
フトレジスタ16がクリアされると共に、発振器13が
駆動される。発振器13より出力されるパルスはカウン
タ14にて適当に分周され、シフトレジスタ16のデー
タ端子Dに印加される。シフトレジスタ16哄端子1,
2,3より順次パルスを出力するが、端子3よりパルス
が出力されてノア・ゲート15の出力が“O”となると
、もはやシフトレジスタ16のクロツク端子CKにはク
ロツク入力が印加されることはなく、シフトレジスタ1
6の動作は停止される。最初にシフトレジスタ16の端
子1よりバルスが出力されると、アンド・ゲート29の
二入力が共にハイレベルとなり、以つてノア・ゲート3
0の出力が“1″から″O″′に、またインバータ31
の出力が“0゛から“1”に夫々反転する。
インバータ31の“1″出力によりゲートG5が開く。
一方、アンド・ゲート28の一入力は“0゛であり、ナ
ンド・ゲート24,25の出力は共に″1″である。ナ
ンド・ゲート24,25の″r出力により、ゲートG3
,G4が共に開いている。従つて、ゲートG3,G4,
G5を介してメモリーMB1,MB2のゲートに対して
消去電圧VEが印加されることになり、それまでメモリ
−MB1若しくはメモリ−MB2に記憶されていた情報
(パンド・アドレス)は消去される。即ちシフトレジス
タ16の端子1よりパルスが出力されたときはゲートG
3,G4,G5が開いてアドレス・メモリーMB1,M
B2は消去モードに設定される訳である。次にシフトレ
ジスタ16の端子2よりパルスが出力されると、アンド
・ゲート28が駆動され、その出力が“1”となる。こ
のときナンド・ゲート24の二入力は共に“1゛となり
、その出力は“0″となる。ナンド・ゲート25、ノア
・ゲート30、インバータ31の状態は消去モードと同
様である。従つてナンド・ゲート25、アンド・ゲート
28、インバータ31の出力が夫々“1“となり、以つ
てゲートG1,G4,G5が開く。すると、ゲートG,
を介してメモリ−MB1,MB2の両方のドレインに対
して書込み電圧■Wが印加されるが、メモリ−MB1の
ゲートは、ゲートG3が閉じている為、ゲート抵抗を介
して接地され、一方メモリ−MB2のゲートには、ゲー
トG5,G4を介して消去電圧VEが印加されているの
で、結局、メモリ−MB,に対してのみ書込みがなされ
る。バンド選択スイツチ104を操作してFMバンドを
選択した場合にはゲートG1,G3,G5が開いてメモ
リ−MB2に対して書込みが為される。斯様にしてシフ
トレジスタ16の端子2よりパルスが出力されたときは
、メモリ−MB1若しくはメモリーMB2が書込みモー
ドに設定される。その後シフトレジスタ16の端子3よ
りパルスが出力されると、シフトレジスタ16の動作が
停止するが、斯かる通常の状態に於いては、ナンド・ゲ
ート24,25及びノア・ゲート30の出力“゜ビによ
りゲートG2,G3,G4,G6,G7が開いている。
一方、アンド・ゲート28の一入力は“0゛であり、ナ
ンド・ゲート24,25の出力は共に″1″である。ナ
ンド・ゲート24,25の″r出力により、ゲートG3
,G4が共に開いている。従つて、ゲートG3,G4,
G5を介してメモリーMB1,MB2のゲートに対して
消去電圧VEが印加されることになり、それまでメモリ
−MB1若しくはメモリ−MB2に記憶されていた情報
(パンド・アドレス)は消去される。即ちシフトレジス
タ16の端子1よりパルスが出力されたときはゲートG
3,G4,G5が開いてアドレス・メモリーMB1,M
B2は消去モードに設定される訳である。次にシフトレ
ジスタ16の端子2よりパルスが出力されると、アンド
・ゲート28が駆動され、その出力が“1”となる。こ
のときナンド・ゲート24の二入力は共に“1゛となり
、その出力は“0″となる。ナンド・ゲート25、ノア
・ゲート30、インバータ31の状態は消去モードと同
様である。従つてナンド・ゲート25、アンド・ゲート
28、インバータ31の出力が夫々“1“となり、以つ
てゲートG1,G4,G5が開く。すると、ゲートG,
を介してメモリ−MB1,MB2の両方のドレインに対
して書込み電圧■Wが印加されるが、メモリ−MB1の
ゲートは、ゲートG3が閉じている為、ゲート抵抗を介
して接地され、一方メモリ−MB2のゲートには、ゲー
トG5,G4を介して消去電圧VEが印加されているの
で、結局、メモリ−MB,に対してのみ書込みがなされ
る。バンド選択スイツチ104を操作してFMバンドを
選択した場合にはゲートG1,G3,G5が開いてメモ
リ−MB2に対して書込みが為される。斯様にしてシフ
トレジスタ16の端子2よりパルスが出力されたときは
、メモリ−MB1若しくはメモリーMB2が書込みモー
ドに設定される。その後シフトレジスタ16の端子3よ
りパルスが出力されると、シフトレジスタ16の動作が
停止するが、斯かる通常の状態に於いては、ナンド・ゲ
ート24,25及びノア・ゲート30の出力“゜ビによ
りゲートG2,G3,G4,G6,G7が開いている。
従つてメモリ−MB1,MB2のドレインに対してゲー
トG2を介して読出し電圧■πが、またメモリ−MB1
,MB2のゲートに対してゲートG3,G4G6を介し
て読出し電圧■Rが夫々印加され、メモリ−MB1,M
B2のソースがゲートG7を介して接地される為、メモ
リ−MB1,MB2は共に読出しモードになり、何れか
一方のメモリーに記憶された情報即ちバンドアドレス指
定出力が読出される。選局アドレスの書込みも同様にし
て行われる。
トG2を介して読出し電圧■πが、またメモリ−MB1
,MB2のゲートに対してゲートG3,G4G6を介し
て読出し電圧■Rが夫々印加され、メモリ−MB1,M
B2のソースがゲートG7を介して接地される為、メモ
リ−MB1,MB2は共に読出しモードになり、何れか
一方のメモリーに記憶された情報即ちバンドアドレス指
定出力が読出される。選局アドレスの書込みも同様にし
て行われる。
即ちプリセツト選局スイツチ105を操作することによ
りナンド・ゲート26,27、アンド・ゲート32,3
3、ノア・ゲート34、インバータ35、並びにゲート
G8〜G14が適宜選択的に制御されメモリ−MS1若
しくはMS2に対して選局・アドレスの書込みが為され
る。尚、上述したメモリーに対する消去・書込み動作は
瞬時になされるので、スイツチ104,105をタツチ
・スイツチにて構成した場合、このタツチ・スイツチに
指が接触している間が仮え短時間でも十分に消去・書込
みを為すことができる。
りナンド・ゲート26,27、アンド・ゲート32,3
3、ノア・ゲート34、インバータ35、並びにゲート
G8〜G14が適宜選択的に制御されメモリ−MS1若
しくはMS2に対して選局・アドレスの書込みが為され
る。尚、上述したメモリーに対する消去・書込み動作は
瞬時になされるので、スイツチ104,105をタツチ
・スイツチにて構成した場合、このタツチ・スイツチに
指が接触している間が仮え短時間でも十分に消去・書込
みを為すことができる。
〔データ・メモリーへのチユ−ニング電圧の書込み〕前
項にて説明した如く、バンド選択スイツチ104、プリ
セツト選局スイツチ105を操作することによりメモリ
−112にバンド・アドレス及び選局・アドレスが書込
まれ、その後は継続的に読出しモードになつてメモリ−
112よりバンド・アドレス指定出力及び選局・アドレ
ス指定出力が出力される訳であるが、斯かる両出力にて
指定されたアドレスのデータ・メモリ−107に対して
チユ−ニング電圧発生回路102より出力されるチユ−
ニング電圧が如何にして書込まれるかについて次に説明
する。
項にて説明した如く、バンド選択スイツチ104、プリ
セツト選局スイツチ105を操作することによりメモリ
−112にバンド・アドレス及び選局・アドレスが書込
まれ、その後は継続的に読出しモードになつてメモリ−
112よりバンド・アドレス指定出力及び選局・アドレ
ス指定出力が出力される訳であるが、斯かる両出力にて
指定されたアドレスのデータ・メモリ−107に対して
チユ−ニング電圧発生回路102より出力されるチユ−
ニング電圧が如何にして書込まれるかについて次に説明
する。
チユ−ニング電圧は、前述した如き構成を有する不揮発
性のデータ・アナログ・メモリーに記憶される。
性のデータ・アナログ・メモリーに記憶される。
データ・メモリー及び選択ゲート回路107の具体的構
成は第6図に示す通りである。データ・メモリーの周辺
に設けられるゲートの構成を簡単にする為に、データ・
メモリ−MA1,MA2,MF1,MF2はマトリツク
ス状に配列されており、行に対してバンドが、列に対し
てプリセツト局が夫々対応している。ゲートG21,G
22、ゲートG23,G24、ゲートG25,G26、
ゲートG27,G28はアドレス指定に関連して制御さ
れる。斯かるゲートG2l〜G28を制御する選択ゲー
ト制御回路106の具体例は第7図に示す通りであり、
前述アドレス・メモリー112より出力されるアドレス
指定出力が虐T1〜T4に印加され、以つて所定のアド
レスのデータ・メモリーのみに対して消去・書込み・読
出しが為される。尚、アドレス・メモリーを設けない場
合にはバンド選択スイツチ104及びブリセツト選局ス
イツチ105の出力を直接端子T1〜T4に印加すれば
良い。
成は第6図に示す通りである。データ・メモリーの周辺
に設けられるゲートの構成を簡単にする為に、データ・
メモリ−MA1,MA2,MF1,MF2はマトリツク
ス状に配列されており、行に対してバンドが、列に対し
てプリセツト局が夫々対応している。ゲートG21,G
22、ゲートG23,G24、ゲートG25,G26、
ゲートG27,G28はアドレス指定に関連して制御さ
れる。斯かるゲートG2l〜G28を制御する選択ゲー
ト制御回路106の具体例は第7図に示す通りであり、
前述アドレス・メモリー112より出力されるアドレス
指定出力が虐T1〜T4に印加され、以つて所定のアド
レスのデータ・メモリーのみに対して消去・書込み・読
出しが為される。尚、アドレス・メモリーを設けない場
合にはバンド選択スイツチ104及びブリセツト選局ス
イツチ105の出力を直接端子T1〜T4に印加すれば
良い。
そして、アドレス・メモリーを設けない場合に於いてス
イツチ104,105をタツチ・スイツチにて構成した
場合にはスイツチより指を離した後にもアドレス指定出
力が継続的に生じるようにラツチ回路を設けると良い。
ゲートG29〜G33は消去・書込み・読出し・モード
に関連して制御される。
イツチ104,105をタツチ・スイツチにて構成した
場合にはスイツチより指を離した後にもアドレス指定出
力が継続的に生じるようにラツチ回路を設けると良い。
ゲートG29〜G33は消去・書込み・読出し・モード
に関連して制御される。
斯かるゲートG29〜G33を制御する消去・書込み・
読出し・モード制御回路108の具体例は第7図に示す
通りであり、各モードのタイミング波形図は第8図に示
す通りである。ゲートG29,G3Oに対しては読出し
電圧VR,VR′(一定電圧)が、またゲートG3lに
対しては書込み電圧(鋸歯状波電圧)が、更にゲートG
32に対しては消去電圧(=定電圧)が夫々消去・書込
み・読出し電圧発生回路109より供給される。
読出し・モード制御回路108の具体例は第7図に示す
通りであり、各モードのタイミング波形図は第8図に示
す通りである。ゲートG29,G3Oに対しては読出し
電圧VR,VR′(一定電圧)が、またゲートG3lに
対しては書込み電圧(鋸歯状波電圧)が、更にゲートG
32に対しては消去電圧(=定電圧)が夫々消去・書込
み・読出し電圧発生回路109より供給される。
籾て、今、端子Tl,T2に対してアドレス・指定出力
が印加されている場合に於いて、プリセツト・メモリー
スイツチ103を操作したとき、如何にしてメモリーM
Alに対してチユーニング電圧が書込まれるかについて
説明する。タツチ・スイツチにて構成されたプリセツト
・メモリースイツチ103を操作すると、スイツチ10
4,105を操作した場合と同様に発振器13、カウン
ター14、シフトレジスタ16が駆動される。
が印加されている場合に於いて、プリセツト・メモリー
スイツチ103を操作したとき、如何にしてメモリーM
Alに対してチユーニング電圧が書込まれるかについて
説明する。タツチ・スイツチにて構成されたプリセツト
・メモリースイツチ103を操作すると、スイツチ10
4,105を操作した場合と同様に発振器13、カウン
ター14、シフトレジスタ16が駆動される。
最初にシフトレジスタ16の端子1よりパルスが出力さ
れると、アンド・ゲート23の二人力は共に“1′″と
なり、アンド・ゲート23の出力は“1”になる。
れると、アンド・ゲート23の二人力は共に“1′″と
なり、アンド・ゲート23の出力は“1”になる。
アンド・ゲート23の出力“1”により、ゲートG32
が開く。一方、通常その出力が“1”であるインバータ
21,22のうちインバータ21のみがアンド・ゲート
23の出力“1”により反転され、以つてアンド・ゲー
ト38の出力が゛゜1゛となつて、ゲートG22が開く
。従つて、ゲートG22,G32を介して消去電圧VE
がメモリーMAlのみに加わり、以前に記憶された情報
が消去され、新たな情報の書込み可能状態となる。即ち
、シフトレジスタ16の端子1よりパルスが出力される
と、消去モードとなる(第8図a参照)。尚、アンド・
ゲート23の出力“1゛により単安定マルチバイブレー
タ24がトリガされてその出力が準安定期間Tの間“1
“から“0”に反転するが、この準安定期間T中はメモ
リーに対する書込みが可能となる(第8図b参照)。即
ち、データの書込みはアドレスの書込みとは相違して瞬
時には達成できないので、準安定期間T中はノア・ゲー
ト20を駆動して発振器13を継続動作させるのである
。停止信号は通常″0′″であり、所望のチユーニング
電圧がメモリーに書込まれたとき停止信号ば1゛となり
、発振器13の動作を停止させて、新たな書込みを阻止
する。停止信号については後程詳述する。籾て、シフト
レジスタ16の端子1の出力が゜′08に反転した後は
ノア・ゲート18,19の出力はカウンタ14の出力に
応答して交互に″rとなり、書込み読出しモードが交互
に繰返えされる。
が開く。一方、通常その出力が“1”であるインバータ
21,22のうちインバータ21のみがアンド・ゲート
23の出力“1”により反転され、以つてアンド・ゲー
ト38の出力が゛゜1゛となつて、ゲートG22が開く
。従つて、ゲートG22,G32を介して消去電圧VE
がメモリーMAlのみに加わり、以前に記憶された情報
が消去され、新たな情報の書込み可能状態となる。即ち
、シフトレジスタ16の端子1よりパルスが出力される
と、消去モードとなる(第8図a参照)。尚、アンド・
ゲート23の出力“1゛により単安定マルチバイブレー
タ24がトリガされてその出力が準安定期間Tの間“1
“から“0”に反転するが、この準安定期間T中はメモ
リーに対する書込みが可能となる(第8図b参照)。即
ち、データの書込みはアドレスの書込みとは相違して瞬
時には達成できないので、準安定期間T中はノア・ゲー
ト20を駆動して発振器13を継続動作させるのである
。停止信号は通常″0′″であり、所望のチユーニング
電圧がメモリーに書込まれたとき停止信号ば1゛となり
、発振器13の動作を停止させて、新たな書込みを阻止
する。停止信号については後程詳述する。籾て、シフト
レジスタ16の端子1の出力が゜′08に反転した後は
ノア・ゲート18,19の出力はカウンタ14の出力に
応答して交互に″rとなり、書込み読出しモードが交互
に繰返えされる。
ノア・ゲート19の出力が゜゛1”のときが書込みモー
ドであり(第8図c参照)、ノア・ゲート18の出力が
″1″のときが読出しモードである(第8図d参照)。
停止信号が“1”となると、(第8図e参照)、ノア・
ゲート17の出力は継続的に″0”になり、以つてノア
・ゲート18の出力が継続的に“1“となる。従つて、
継続的に読出し・モードを維持する。尚、前述した如く
、シフトレジスタ16は端子3の出力が“゜1”になつ
た後は、動作が停止される為、端子1の出力が再び“1
″になることはない。
ドであり(第8図c参照)、ノア・ゲート18の出力が
″1″のときが読出しモードである(第8図d参照)。
停止信号が“1”となると、(第8図e参照)、ノア・
ゲート17の出力は継続的に″0”になり、以つてノア
・ゲート18の出力が継続的に“1“となる。従つて、
継続的に読出し・モードを維持する。尚、前述した如く
、シフトレジスタ16は端子3の出力が“゜1”になつ
た後は、動作が停止される為、端子1の出力が再び“1
″になることはない。
即ち、消去モードはプリセツト・メモリー・スイツチ操
作直後に一度出現するのみである。書込みモード時に於
いては、ノア・ゲート19及びアンド・ゲート37の出
力″18により、ゲートG2l,G3lが開き、これら
のゲートG2l,G3lを介して書込み電圧Vwがメモ
リーMAlのドレインにのみ供給され、このメモリーM
Alに対して書込みが為される。読出しモード時に於い
ては、ノア・ゲート18及びアンド・ゲート37,38
の出力″1″により)ゲートG2l2G22クG292
G3O2G33が開き1これらのゲートを介して読出し
電圧VR,VR′がメモリーMAlのドレイン及びゲー
トに供給され、以つてメモリーMAlのソースとアース
間に接続された抵抗Rより読出し出力が得られる。
作直後に一度出現するのみである。書込みモード時に於
いては、ノア・ゲート19及びアンド・ゲート37の出
力″18により、ゲートG2l,G3lが開き、これら
のゲートG2l,G3lを介して書込み電圧Vwがメモ
リーMAlのドレインにのみ供給され、このメモリーM
Alに対して書込みが為される。読出しモード時に於い
ては、ノア・ゲート18及びアンド・ゲート37,38
の出力″1″により)ゲートG2l2G22クG292
G3O2G33が開き1これらのゲートを介して読出し
電圧VR,VR′がメモリーMAlのドレイン及びゲー
トに供給され、以つてメモリーMAlのソースとアース
間に接続された抵抗Rより読出し出力が得られる。
書込み電圧により、メモリーMAlのソース電流は変化
するから結局書込み電圧により、読出し出力は相違する
。メモリーMAlより取出された読出し出力は変換回路
110にて反転増幅された後、チユーニング電圧発生回
路102より発生されるチユーニング電圧と比較され、
一致がとれるまで書込み、読出しモードが繰返えされる
。
するから結局書込み電圧により、読出し出力は相違する
。メモリーMAlより取出された読出し出力は変換回路
110にて反転増幅された後、チユーニング電圧発生回
路102より発生されるチユーニング電圧と比較され、
一致がとれるまで書込み、読出しモードが繰返えされる
。
両者が一致したとき、比較器111より停止信号が生じ
、継続的に読出しモードとなり新たな書込み団且止され
る(第8図e参照)。第9図はソース抵抗Rより得られ
るメモリーMAf)読出し出力を実際のチユーニング電
圧に変換する変換回路110の具体例を示すものであり
、読出し出力が反転増幅器50にて極性反転されると同
時に増幅されて、チユーニング電圧とされる。
、継続的に読出しモードとなり新たな書込み団且止され
る(第8図e参照)。第9図はソース抵抗Rより得られ
るメモリーMAf)読出し出力を実際のチユーニング電
圧に変換する変換回路110の具体例を示すものであり
、読出し出力が反転増幅器50にて極性反転されると同
時に増幅されて、チユーニング電圧とされる。
比較器111は反転増幅器50の出力がチユーニング電
圧発生器102の出力よりも大きくなつたとき、停止信
号を出力する構成となつている。斯かる構成によれば、
消去モード若しくは書込みモード時に於いてメモリーM
Alの読出し出力がなく、反転増幅器50の出力がOで
あつても、停止信号が生じることはない。即ち読出しモ
ード時に於いてのみ停止信号が発生する。斯様にしてチ
ユーニング電圧発生回路102より発生されるチユーニ
ング電圧に対応するアナログ値がメモリーMAlに書込
まれる訳である。
圧発生器102の出力よりも大きくなつたとき、停止信
号を出力する構成となつている。斯かる構成によれば、
消去モード若しくは書込みモード時に於いてメモリーM
Alの読出し出力がなく、反転増幅器50の出力がOで
あつても、停止信号が生じることはない。即ち読出しモ
ード時に於いてのみ停止信号が発生する。斯様にしてチ
ユーニング電圧発生回路102より発生されるチユーニ
ング電圧に対応するアナログ値がメモリーMAlに書込
まれる訳である。
メモリーMA2,MFl,MF2に対しても同様に、ア
ンド・ゲート39〜47、ゲートG23〜G28を適宜
選択的に駆動制御することにより所望のチユーニング電
圧に対応するアナログ値を書込むことが出来る。次にデ
ータ・メモリーに印加する書込み電圧について第10図
を参照して更に詳しく説明する。
ンド・ゲート39〜47、ゲートG23〜G28を適宜
選択的に駆動制御することにより所望のチユーニング電
圧に対応するアナログ値を書込むことが出来る。次にデ
ータ・メモリーに印加する書込み電圧について第10図
を参照して更に詳しく説明する。
第10図に於いて波形aはノア・ゲート20の出力を示
すものであり、Tは単安定マルチパイプレタ24の準安
定期間であつてこの期間に於いて書込みが可能である。
図は時刻TOに於ける第1回目のプリセツト・メモリー
スイツチ103の操作の際には期間Tの間に何等停止信
号が発生せず、データ・メモリーに対して最高の書込み
電圧による書込みがなされ、時刻t1に於ける第2回目
のプリセツト・メモリースイツチ103の操作の際には
、時刻T2に於いて停止信号が発生し、この時刻T2に
於ける書込み電圧による書込みがなされた場合を示して
いる。波形bは消去・書込み・読出し電圧発生回路10
9から発生される鋸歯状波の書込み電圧を示すものであ
り、この鋸歯状波はプリセツトメモリースイツチ103
の操作に応答して掃引が開始され、単安定マルチバイブ
レータ24の動作終了若しくは停止信号に応答して掃引
が停止される。波形CはゲートG3lに印加される書込
みモード出力(第8図c参照)によりチヨツパ一された
書込み電圧即ち実際にデータメモリーに印加される書込
み電圧を示すものである。ここで書込み・読出しパルス
の巾と鋸歯状波の掃引時間Tとの関係について説明する
。書込みパルス巾Ta及び読出しパルスTbはメモリー
の書込み・読出しの速度特性とチユーナ一として許容さ
れるチユーニング周波数偏差ΔVにて定まる。即ち、巾
Ta+Tbが小さすぎるとメモリーに対する充分な書込
み・読出しがなされないおそれがあるし、一方、巾Ta
+Tbが大きすぎると書込みパルスnと書込みパルスn
+1との書込み電圧値の差が大きくなつてチユーニング
精度が落ちることになる。大体、△Vとしては4mV,
巾Ta+Tbとしては2msecが必要である。そこで
、チユーニング電圧をV1からV2まで変化させるとす
る。なる式が成立する。即ち掃引時間Tはとなる。
すものであり、Tは単安定マルチパイプレタ24の準安
定期間であつてこの期間に於いて書込みが可能である。
図は時刻TOに於ける第1回目のプリセツト・メモリー
スイツチ103の操作の際には期間Tの間に何等停止信
号が発生せず、データ・メモリーに対して最高の書込み
電圧による書込みがなされ、時刻t1に於ける第2回目
のプリセツト・メモリースイツチ103の操作の際には
、時刻T2に於いて停止信号が発生し、この時刻T2に
於ける書込み電圧による書込みがなされた場合を示して
いる。波形bは消去・書込み・読出し電圧発生回路10
9から発生される鋸歯状波の書込み電圧を示すものであ
り、この鋸歯状波はプリセツトメモリースイツチ103
の操作に応答して掃引が開始され、単安定マルチバイブ
レータ24の動作終了若しくは停止信号に応答して掃引
が停止される。波形CはゲートG3lに印加される書込
みモード出力(第8図c参照)によりチヨツパ一された
書込み電圧即ち実際にデータメモリーに印加される書込
み電圧を示すものである。ここで書込み・読出しパルス
の巾と鋸歯状波の掃引時間Tとの関係について説明する
。書込みパルス巾Ta及び読出しパルスTbはメモリー
の書込み・読出しの速度特性とチユーナ一として許容さ
れるチユーニング周波数偏差ΔVにて定まる。即ち、巾
Ta+Tbが小さすぎるとメモリーに対する充分な書込
み・読出しがなされないおそれがあるし、一方、巾Ta
+Tbが大きすぎると書込みパルスnと書込みパルスn
+1との書込み電圧値の差が大きくなつてチユーニング
精度が落ちることになる。大体、△Vとしては4mV,
巾Ta+Tbとしては2msecが必要である。そこで
、チユーニング電圧をV1からV2まで変化させるとす
る。なる式が成立する。即ち掃引時間Tはとなる。
V2−V1は放送ハンドによつて相違するがV2−V1
=8Vとして掃引時間Tを求めると、T=4secとな
る。即ち、チユーニング電圧をメモリーにプリセツトす
るのに最大4秒要することになり、実用上好ましくない
。斯かる欠点を解消するには、予めチユーニング電圧と
書込み電圧との関係を求めておき例えば、書込み電圧V
w−nに対応するチユーニング電圧をメモリーに書込み
たい場合に&ζ書込み電圧Vw−nより若干低い書込み
電圧(例えばVw−nつより書込みを開始するようにす
れば良い。即ち、鋸歯状波を第10図dに示す如く掃引
する構成とすれば、書込み時間をt1からtに短縮する
ことが出来る。第11図は、斯かる鋸歯状波書込み電圧
を発生する回路109の具体例を示すものである。演算
増幅器51は入力にチユーニング電圧発生回路102よ
り発生されるチユーニング電圧Tu−nが印加されたと
き、このチユーニング電圧Tu−nに対応する書込み電
圧Vw−nより若干低い電圧Vw−n″を出力するもの
である。ゲートGOはノア・ゲート20の出力が゜゛1
”のとき、開くものである。今、ゲートGOが閉じてい
るとすれば、A点、B点の電位は共にVw−N5である
。そこでプリセツト・メモリースイツチ103を操作す
れば、ノア・ゲート20の出力が“1″となりゲートG
。が開く。すると、コンデンサーCが放電を開始し、A
点の電位はVw−n″から電位差V−w−n″を抵抗R
l,R2で分圧した電位まで変化する。即ち、A点から
第10図dに示す如き書込み電圧Vwを得ることができ
るものであり、プリセツト・メモリースイツチ103操
作後、直ちに書込みを為すことが可能となる。〔プリセ
ツト選局〕 データ・メモリー107に対して所望のチユーニング電
圧をプリセツトした後に於いては、プリセツト選局によ
る受信が可能である。
=8Vとして掃引時間Tを求めると、T=4secとな
る。即ち、チユーニング電圧をメモリーにプリセツトす
るのに最大4秒要することになり、実用上好ましくない
。斯かる欠点を解消するには、予めチユーニング電圧と
書込み電圧との関係を求めておき例えば、書込み電圧V
w−nに対応するチユーニング電圧をメモリーに書込み
たい場合に&ζ書込み電圧Vw−nより若干低い書込み
電圧(例えばVw−nつより書込みを開始するようにす
れば良い。即ち、鋸歯状波を第10図dに示す如く掃引
する構成とすれば、書込み時間をt1からtに短縮する
ことが出来る。第11図は、斯かる鋸歯状波書込み電圧
を発生する回路109の具体例を示すものである。演算
増幅器51は入力にチユーニング電圧発生回路102よ
り発生されるチユーニング電圧Tu−nが印加されたと
き、このチユーニング電圧Tu−nに対応する書込み電
圧Vw−nより若干低い電圧Vw−n″を出力するもの
である。ゲートGOはノア・ゲート20の出力が゜゛1
”のとき、開くものである。今、ゲートGOが閉じてい
るとすれば、A点、B点の電位は共にVw−N5である
。そこでプリセツト・メモリースイツチ103を操作す
れば、ノア・ゲート20の出力が“1″となりゲートG
。が開く。すると、コンデンサーCが放電を開始し、A
点の電位はVw−n″から電位差V−w−n″を抵抗R
l,R2で分圧した電位まで変化する。即ち、A点から
第10図dに示す如き書込み電圧Vwを得ることができ
るものであり、プリセツト・メモリースイツチ103操
作後、直ちに書込みを為すことが可能となる。〔プリセ
ツト選局〕 データ・メモリー107に対して所望のチユーニング電
圧をプリセツトした後に於いては、プリセツト選局によ
る受信が可能である。
即ち、スイツチ101をP側に転接して任意のバンド選
択スイツチ104及びプリセツト選局スイツチ105を
操作すれば良い。例えば、スイツチ104によりAMバ
ンドを選択したとすると、アドレス・メモリーMBl,
MB2は消去モードになり、次に書込みモードとなつて
メモリーMBlにのみ書込みがなされ、その後継続的に
読出しモードとなつて、メモリーMBlよりAMバンド
を指示するバンド・アドレス出力が出力される。
択スイツチ104及びプリセツト選局スイツチ105を
操作すれば良い。例えば、スイツチ104によりAMバ
ンドを選択したとすると、アドレス・メモリーMBl,
MB2は消去モードになり、次に書込みモードとなつて
メモリーMBlにのみ書込みがなされ、その後継続的に
読出しモードとなつて、メモリーMBlよりAMバンド
を指示するバンド・アドレス出力が出力される。
同様にスイツチ1σ5により第1番目の選局を選択する
とメモリーMSlより、第1番目の選局を指示する選局
・アドレス出力が出力される。この両アドレス出力によ
り、データ・メモリー107に対してアドレス指定がな
される。一方、データ・メモリー107はプリセツト・
メモリースイツチ103を操作しない通常の状態に於い
てはこれまでの説明から明らかな通り継続的に読出しモ
ードであるから、結局、アドレス・メモリー112によ
り指定されるアドレスのデータ・メモリー即ちメモリー
MAlより読出し出力が導出され、変換回路110にて
増幅された後、スイツチ101を介してチユーナ一回路
201に印加される。
とメモリーMSlより、第1番目の選局を指示する選局
・アドレス出力が出力される。この両アドレス出力によ
り、データ・メモリー107に対してアドレス指定がな
される。一方、データ・メモリー107はプリセツト・
メモリースイツチ103を操作しない通常の状態に於い
てはこれまでの説明から明らかな通り継続的に読出しモ
ードであるから、結局、アドレス・メモリー112によ
り指定されるアドレスのデータ・メモリー即ちメモリー
MAlより読出し出力が導出され、変換回路110にて
増幅された後、スイツチ101を介してチユーナ一回路
201に印加される。
斯様にしてプリセツト選局による受信をなすことが出来
る。初て、今、プリセツト選局による受信をした後受信
装置の電源を一旦切り、その後再び電源を投入した場合
について考える。
る。初て、今、プリセツト選局による受信をした後受信
装置の電源を一旦切り、その後再び電源を投入した場合
について考える。
アドレス・メモリー112は先に説明した通り通常は読
出しモードである。従つて不揮発性のアドレス・メモリ
ー112より以前と同一のアドレス指定出力が導出され
る。即ち、以前と同一の放送を受信することが出来る。
(ト)本発明の効果 以前述べた本発明に係るプリセツト受信装置はチユーニ
ング電圧に相当するアナログ量を不揮発性アナログ・メ
モリーにプリセツトするものであるから、装置を小型化
できる。
出しモードである。従つて不揮発性のアドレス・メモリ
ー112より以前と同一のアドレス指定出力が導出され
る。即ち、以前と同一の放送を受信することが出来る。
(ト)本発明の効果 以前述べた本発明に係るプリセツト受信装置はチユーニ
ング電圧に相当するアナログ量を不揮発性アナログ・メ
モリーにプリセツトするものであるから、装置を小型化
できる。
また、プリセツトするには単にプリセツト・メモリース
イツチを操作すればデータ・メモリーが書込み・読出し
モードに交互に且つ繰返し設定され、所望のチユーニン
グ電圧に相当するアナログ量が書込まれたとき自動的に
新たな書込みが阻止されるものであるから、プリセツト
書込み操作が極めて簡単である。更に、アドレス指定ス
イツチ(プリセツト選局スイツチ・バンド選択スイツチ
)にて指定されたアドレスは不揮発性のアドレス・メモ
リーに記憶されるものであるから、プリセツト選局によ
る受信をした後、一旦電源を切り、その後再び電源を投
入した場合にも、以前と同一の放送を受信することがで
きる。
イツチを操作すればデータ・メモリーが書込み・読出し
モードに交互に且つ繰返し設定され、所望のチユーニン
グ電圧に相当するアナログ量が書込まれたとき自動的に
新たな書込みが阻止されるものであるから、プリセツト
書込み操作が極めて簡単である。更に、アドレス指定ス
イツチ(プリセツト選局スイツチ・バンド選択スイツチ
)にて指定されたアドレスは不揮発性のアドレス・メモ
リーに記憶されるものであるから、プリセツト選局によ
る受信をした後、一旦電源を切り、その後再び電源を投
入した場合にも、以前と同一の放送を受信することがで
きる。
第1図はMOSトランジスタ・メモリーの構造を示す図
、第2図はメモリーの読出し電圧とドレイン電流の関係
図、第3図はメモリーの消去・書込み電圧としきい値電
圧の関係図、第4図は消去・読出し・書込みの各モード
時に於けるメモリーのバイアス状態を示す図、第5図は
本発明に係るプリセツト受信装置のプロツクダイヤグラ
ムを示す図、第6図はデータ・メモリー及び選択ゲート
回路107の具体例を示す図、第7図は消去・書込み・
読出しモード制御回路108及び選択ゲート制御回路1
06の具体例を示す図、第8図は消去・書込み・読出し
の各モードのタイミング波形図、第9図は変換回路11
0の具体例を示す図、第10図は書込み電圧の波形図、
第11図は書込み電圧発生回路の具体例を示す図、第1
2図はアドレス・メモリー及び選択ゲート回路112の
具体例を示す図、第13図は消去・書込み・読出しモー
ド制飯路108及び選択ゲート制御回路113の具体例
を示す図である。 101は通常選局・プリセツト選局切換えスイツチ、1
02はチユーニング電圧発生回路、103はプリセツト
メモリースイツチ、104はバンド選択スイツチ、10
5はプリセツト選局スイツチ、106,113は選択ゲ
ート制御回路、107はデータ・ メモリー及び選択ゲ
ート回路、108は消去・書込み・読出しモード制御回
路、109,114は消去・書込み・読出し電圧発生回
路、110は変換回路、111は比較器(停止信号発生
回路)、112はアドレス・メモリー及び選択ゲート回
路。
、第2図はメモリーの読出し電圧とドレイン電流の関係
図、第3図はメモリーの消去・書込み電圧としきい値電
圧の関係図、第4図は消去・読出し・書込みの各モード
時に於けるメモリーのバイアス状態を示す図、第5図は
本発明に係るプリセツト受信装置のプロツクダイヤグラ
ムを示す図、第6図はデータ・メモリー及び選択ゲート
回路107の具体例を示す図、第7図は消去・書込み・
読出しモード制御回路108及び選択ゲート制御回路1
06の具体例を示す図、第8図は消去・書込み・読出し
の各モードのタイミング波形図、第9図は変換回路11
0の具体例を示す図、第10図は書込み電圧の波形図、
第11図は書込み電圧発生回路の具体例を示す図、第1
2図はアドレス・メモリー及び選択ゲート回路112の
具体例を示す図、第13図は消去・書込み・読出しモー
ド制飯路108及び選択ゲート制御回路113の具体例
を示す図である。 101は通常選局・プリセツト選局切換えスイツチ、1
02はチユーニング電圧発生回路、103はプリセツト
メモリースイツチ、104はバンド選択スイツチ、10
5はプリセツト選局スイツチ、106,113は選択ゲ
ート制御回路、107はデータ・ メモリー及び選択ゲ
ート回路、108は消去・書込み・読出しモード制御回
路、109,114は消去・書込み・読出し電圧発生回
路、110は変換回路、111は比較器(停止信号発生
回路)、112はアドレス・メモリー及び選択ゲート回
路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 可変容量ダイオードを有するチューナー回路にチュ
ーニング電圧を供給するチューニング電圧発生回路と、
このチューニング電圧に相当するアナログ量を記憶する
不揮発生のデータ・メモリーと、このデータ・メモリー
に対してアドレス指定をするアナログ指定スイッチと、
このアドレス指定スイッチにて指定されたアドレスを記
憶する不揮発性のアドレス・メモリーと、前記アナログ
量の前記データ・メモリーへのプリセットを指示するプ
リセット・メモリー・スイッチと、前記アドレス・メモ
リーの出力にてアドレス指定された前記データ・メモリ
ーを消去・書込み・読出しの各モードに設定する制御回
路と、前記データ・メモリーの読出し出力と前記チュー
ニング電圧発生回路から発生するチューニング電圧が一
致したとき停止信号を発生する停止信号発生回路とより
なり、前記制御回路は、前記プリセット・メモリー・ス
イッチに応答して、前記データ・メモリーを一旦消去モ
ードに設定した後、書込みモードと読出しモードに交互
に且つ繰返し設定し、前記停止信号にてこの動作を停止
し、以つてプリセット終了後は、前記制御回路により通
常読出しモードに設定された前記データ・メモリーの前
記アドレス・メモリーの出力にて指定されたアドレスか
らの読出し出力をチューニング電圧として前記チューナ
ー回路に印加することによりプリセット選局による受信
を可能としたプリセット受信装置。 2 アドレス指定スイッチがプリセット選局スイッチで
ある特許請求の範囲第1項記載のプリセット受信装置。 3 アドレス指定スイッチがプリセット選局スイッチ及
びバンド選択スイッチである特許請求の範囲第1項記載
のプリセット受信装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52126962A JPS5935119B2 (ja) | 1977-10-19 | 1977-10-19 | プリセツト受信装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52126962A JPS5935119B2 (ja) | 1977-10-19 | 1977-10-19 | プリセツト受信装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5459001A JPS5459001A (en) | 1979-05-12 |
| JPS5935119B2 true JPS5935119B2 (ja) | 1984-08-27 |
Family
ID=14948198
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52126962A Expired JPS5935119B2 (ja) | 1977-10-19 | 1977-10-19 | プリセツト受信装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5935119B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5093004A (ja) * | 1973-12-17 | 1975-07-24 | ||
| JPS5415164B2 (ja) * | 1974-05-20 | 1979-06-13 | ||
| JPS5123125A (en) * | 1974-08-20 | 1976-02-24 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Jikihetsudo |
-
1977
- 1977-10-19 JP JP52126962A patent/JPS5935119B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5459001A (en) | 1979-05-12 |
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