JPS593536U - Icオ−トハンドラ - Google Patents

Icオ−トハンドラ

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JPS593536U
JPS593536U JP9886182U JP9886182U JPS593536U JP S593536 U JPS593536 U JP S593536U JP 9886182 U JP9886182 U JP 9886182U JP 9886182 U JP9886182 U JP 9886182U JP S593536 U JPS593536 U JP S593536U
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JP
Japan
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ics
autohandler
measurement
container
contact
Prior art date
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Application number
JP9886182U
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English (en)
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JPS6317252Y2 (ja
Inventor
弘明 中島
宮本 重雄
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPS593536U publication Critical patent/JPS593536U/ja
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Relating To Insulation (AREA)
  • Discharge Of Articles From Conveyors (AREA)
  • Sorting Of Articles (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に係るICオートハンドラの概略構成を
部分的に示す側面図、第2図は本考案に係るIC測定・
分類システムを示す回路ブロック図、第3図は第2図に
おけるメモリの記憶内容を表わす図である。 〔符号の説明〕2は測定コンタクト、4,5゜6.7は
フォトセンサ、8は分類テーブル、9はコンテナ、12
はIC流れ検出回路、13はIC収容状態検出回路、1
4はメモリ、18はコントローラ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 連続的に自動供給される半導体デバイスICの電気的特
    性を測定用コンタクトで自動測定し、且つ該測定結果に
    応じて前記ICを分類し、該分類毎にコンテナに自動収
    容させるICオートハンドラにおいて、前記測定用コン
    タクトから前記コンテナに至る間のIC流れ状態を順次
    検知してその状態の良否を判定する機能と、前記分類さ
    れたICの分類光と前記測定用コンタクトによる測定結
    果とを前記コンテナへのIC収容前に照合する機能とを
    具備させ、測定終了した前記ICがその測定結果に従っ
    て正しく前記コンテナに収納されるまでを連続して追跡
    できるようにしたことを特徴とするICオートハンドラ
JP9886182U 1982-06-30 1982-06-30 Icオ−トハンドラ Granted JPS593536U (ja)

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JP9886182U JPS593536U (ja) 1982-06-30 1982-06-30 Icオ−トハンドラ

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JP9886182U JPS593536U (ja) 1982-06-30 1982-06-30 Icオ−トハンドラ

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Publication Number Publication Date
JPS593536U true JPS593536U (ja) 1984-01-11
JPS6317252Y2 JPS6317252Y2 (ja) 1988-05-16

Family

ID=30234534

Family Applications (1)

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JP9886182U Granted JPS593536U (ja) 1982-06-30 1982-06-30 Icオ−トハンドラ

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009180566A (ja) * 2008-01-30 2009-08-13 Yokogawa Electric Corp 自重落下式ハンドラ

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS545389A (en) * 1977-06-15 1979-01-16 Fujitsu Ltd Double checking method for good product
JPS54150469U (ja) * 1978-04-11 1979-10-19

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS545389A (en) * 1977-06-15 1979-01-16 Fujitsu Ltd Double checking method for good product
JPS54150469U (ja) * 1978-04-11 1979-10-19

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009180566A (ja) * 2008-01-30 2009-08-13 Yokogawa Electric Corp 自重落下式ハンドラ

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JPS6317252Y2 (ja) 1988-05-16

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