JPS5937458A - 探触子の走行制御装置 - Google Patents

探触子の走行制御装置

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Publication number
JPS5937458A
JPS5937458A JP57146120A JP14612082A JPS5937458A JP S5937458 A JPS5937458 A JP S5937458A JP 57146120 A JP57146120 A JP 57146120A JP 14612082 A JP14612082 A JP 14612082A JP S5937458 A JPS5937458 A JP S5937458A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
scanning
stroke
point
flaw detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57146120A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeru Kajiyama
梶山 茂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP57146120A priority Critical patent/JPS5937458A/ja
Publication of JPS5937458A publication Critical patent/JPS5937458A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/26Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
    • G01N29/265Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by moving the sensor relative to a stationary material

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は超音波探傷装置に係シ、特に超音波探触子を走
査する場合に、好適な走査パターンが得られる装置に関
する。
従来は探触子を走査する方法としては、特開昭52−5
3484がある。
第1図のごとく、被検体1の溶接線1に沿った検査をす
る場合、熱影響部tに沿って探触子を走査線3のように
走査する。通常は熱影響部1に対して垂直の超音波ビー
ムと両方向から2つの斜角の超音波ビームで検査されて
いる。この欠点は、走査パターン3に基づいてC点から
超音波ビームを矢印Eoの方向にしながらB点まで走査
し、矢印Eooの同じ方向のまtC点まで戻している。
この結果、同じ所を同じ方向の超音波で2回検査するの
で、無駄な走査であシ時間もかかる。
本発明の目的は、超音波探触子の走査において効率の良
い走査ができる装置を提供するにある。
探触子の走査ストロークに応じて、超音波ビームの方向
を適宜変更すること及びピッチ送りの位置を適宜変更す
ることを特徴とする走行制御装置。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。第
2図は、現在実施されている溶接部近傍の検査規準を示
したもので、一般には溶接部1周辺の熱影響部8を超音
波ビームの屈折角ψ)0度、45度及び60度で探傷し
ている。すなわち探触子7の走査は、ストロークS1ど
S2の範囲で、これを順次ピッチ送りしながら全面を探
傷する。
このピッチ幅は目的によっても異なるが、一般には振動
子が10%ラップするような値が選択されている。
次に自動探傷する場合の例について第3図から説明する
。第3図は配管に適用した場合で、被検体2の溶接部1
の近傍を探傷するため、2分割できる軌道11を取付け
、この軌道11に沿って動く駆動部を内蔵した駆動装置
4をさらに取付ける。
この駆動装置4には軸方向に探触子7を走査するための
スクリュー付アーム6があシ、軸方向の駆動部5によっ
てアーム6に沿って動くことができる。この駆動部5に
は探触子7に旋回を与える駆動部を内蔵されておシ、こ
の旋回動作によって超音波ビームの方向を変えることが
できる。探触子5は駆動装置4と駆動部5によって走査
パターン3のように走査しなから探傷をする。この走査
パターンは予め制御装置9に設定してあシ、ケーブル1
0を介して得られる駆動装置4からの位置情報に基づい
て制御される。乙の走査パターンを第4図から詳細に説
明する。第4図は被検体2の一部を示したもので、溶接
部1及び熱影響部8の範囲tに超音波ビームを入射させ
るため、走査パターン3の走査がされる。まずE点から
A点までのストロークS2で走査する。この時の超音波
ビームの方向は矢印E21で示す方向である。次にA点
から戻しBAまでのストロークSoの範囲で探触子を動
かしなから探触子の方向を180度回転させ、超音波ビ
ームを矢印Ellの方向にする。勿論この間では探傷は
しない。B点からF点までは矢印E11の方向で探傷す
る。ここで第4図ではE点〜A点とA点〜B点〜F点の
2本の線で示したが、走査を分シやすくするためであシ
、実際の走査は同じ軌跡になるF点からP!のピッチ送
シをし、探触子の方向を変えないまま矢印E12の超音
波ビームで0点まで探傷する。次に0点からD点の間で
は動かしなから探触子の方向を180度回転させ矢印E
22にする。D点から矢印E22の方向で探傷しながら
0点1で走査する。このG点は熱影響部8の境界を僅か
に越した個所である。ここで再びピッチ送りP2を行な
い、探触子を同じ方向(矢印E23)のままH点まで探
傷する。以上のような走査パターン3を繰返しながら全
面を探傷する。
以上の結果、走査ストロークを適宜り点からG点という
ように短くできるので効率のよい走査ができる。また、
探触子を動かしながら旋回動作をするので走査時間を短
縮できる等の効果がある。
応用例 溶接部に平行して探触子を走査する場合も第5図のごと
く、同様な走査ができる。まず探触子からの超音波ビー
ムの方向を矢印E1にして走査パターン3に沿ってスト
ロークSOA点まで探傷する。A点で探触子を180度
旋回させ超音波ビームの方向を矢印E2の方向に変え、
同じ軌跡をD点まで探傷する。その後ピッチ送シ(ト)
をして再びB点から0点まで探傷するが、超音波ビーム
の方向は矢印E3で、矢印E2と同じ方向のitである
。すなわちA点から0点までは探触子の角度は変えてい
ない。次に0点で探触子を旋回させて、矢印E4の方向
にし、同じ軌跡を通って再びB点に戻る。このようにA
点、0点というようにストロークSのうちピッチ送りの
反対側で探触子に旋回動作を与える。
本発明によれば、検査規準を満足して探触子の走査が最
小限であるため、走査効率が良くなり、探傷時間も短縮
できる効果がある。
【図面の簡単な説明】 第1図は、従来方式の走査パターンを示す平面図、第2
図は検査規準を示す説明図、第3図は探触子駆動装置の
正面図、第4図は本発明の走査パターンを示す平面図、
第5図は他の応用例の平面図である。 3・・・走査パターン、4・・・駆動装置、5・・・駆
動部、6・・・アーム、7・・・探触子、9・・・制御
装置。 代理人 弁理士 高橋明呑 $1 月 2 茅2目 / 茅 3 目 ネ4又

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、超音波探触子を走査する装置において、走査ストロ
    ークの一端でピッチ送りを行う手段と、該走査ストロー
    クの他端で探触子を旋回させる手段と、該走査ストロー
    ク間を往復させる手段とを有することを特徴とする探触
    子の走行制御装置。 2、走査ストロークの一端でのピッチ送シと、検査範囲
    境界の近傍でのピッチ送シとをする2つのピッチ送シの
    手段と、該走査ストロークの検査範囲から超音波ビーム
    が外れる位置と、走査ストロークの他端から検査範囲に
    超音波ビームが入射開始する位置との間で探触子に旋回
    を与える手段とを具備したことを特徴とする第1項記載
    の探触子の走行制御装置。
JP57146120A 1982-08-25 1982-08-25 探触子の走行制御装置 Pending JPS5937458A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57146120A JPS5937458A (ja) 1982-08-25 1982-08-25 探触子の走行制御装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57146120A JPS5937458A (ja) 1982-08-25 1982-08-25 探触子の走行制御装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5937458A true JPS5937458A (ja) 1984-02-29

Family

ID=15400602

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57146120A Pending JPS5937458A (ja) 1982-08-25 1982-08-25 探触子の走行制御装置

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JP (1) JPS5937458A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0250663U (ja) * 1987-10-30 1990-04-09

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0250663U (ja) * 1987-10-30 1990-04-09

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