JPS5938773Y2 - 特性測定装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は被測定伝送路を通過した試験信号をＡ／Ｄ変換
して、デジタルデータに直し、次に伝送のひずみ特性を
前記デジタルをもとにデジタル演算して結果を自動的に
出力せしめる特性測定装置に関する。

従来、試験信号を使用して伝送特性を自動測定する装置
として、被測定伝送系を通過した後の試験信号に対し、
Ａ／Ｄ変換器により、デジタルブタに変換し、しかる後
、該デジタルデータ値をもとに、デジタル演算器により
、ひずみの演算をせしめ、伝送の緒特性を求めるものが
あった。

これらのデジタル自動測定装置に共通する手法として、
試験信号をサンプリングして量子化しデジタルデータを
得る場合、周期性をもつ前記試験信号の同一測定点を、
デジタル的に加算平均して、ランダム雑音の影響を取除
くことが行われている。

周知のごとく加算平均の回数を増して行くとランダム雑
音の影響は次第に減少して、試験信号レベルに対する測
定信頼度は向上される。

言いかえれば、被測定信号のＳ／Ｎが悪い程、ある一定
の測定信頼度を得るには加算平均の回数をふやす必要が
あることが知られている。

従来かかるデジタル自動測定装置は、平均化回数をあら
かじめ固定しておくか、あるいは、測定装置の操作盤に
あるプリセット手段により、人為的に設定していた。

しかしながら、被測定伝送系のＳ／Ｎ値は、測定前に予
知出来るものではない為、従来の装置では、ある時は被
測定信号のＳ／Ｎが良好であるにもかかわらず信号の加
算平均回数を多くし過ぎて測定に必要以上の時間をかけ
たり、すた反対に、被測定信号のＳ／Ｎが悪いにもかか
わらず加算平均回数が少ない為に測定値の信頼度が低い
と言った不合理なところがあった。

したがって、本考案の目的は従来の欠点を除いて、被測
定信号のＳ／Ｎに応じて加算平均回数が決められ、はぼ
一定の測定信頼性塵をもつ特性測定装置を提供すること
である。

本考案によれば、被測定信号のＳ／Ｎを最初に測定して
、該Ｓ／Ｎ比に対応させて信号レベルの加算平均回数を
決め、該回数値で信号レベルの加算平均を行ったデジタ
ル値を使って、ひずみ演算を実行するデジタル特性測定
装置が得られる。

すなわち本考案は、入力被測定アナログ信号をデジタル
データに変換するＡ／Ｄ変換手段と、入力信号のデジタ
ルデータを加算する手段と、雑音測定用信号のデジタル
データを自乗加算する手段と、前記加算後のデジタルデ
ータを一時記憶させるバッファメモリーと、バッファメ
モリーに格納されたデジタルデータを演算するデジタル
演算手段と演算後の測定データを出力する出力手段と、
上記各部のタイミングを制御する制御手段とから構成さ
れ、Ｓ／Ｎ比を、一定の加算平均回数後、点検し、その
結果に対応して加算平均をさらに続けるか、ひずみ演算
処理に移行させるか判定し、常に適切な加算平均回数の
基に、被測定伝送系のひずみ演算を実行させることを特
徴としている。

次に本考案の実施例の図面を参照して本考案を詳細に説
明する。

第１図は、テレビ映像信号の伝送系のひずみを測定する
為に用いられるＶＩＴＳ信号自動測定装置に応用した実
施例を示す。

第１図において、被測定伝送系を通過したテレビ映像信
号から、試験信号としてのＶＩＴＳが抜きとられ、Ａ／
Ｄ変換器１に加えられる。

Ａ／Ｄ変換器１には、スタートスイッチ８の指令が制御
回路７を介して、伝達され、アナログ入力信号をデジタ
ルデータに変換することが開始される。

Ａ／Ｄ変換後のデジタルデータＳｉは加算器２及び２乗
加算器３に入力され、ΣＳｉおよび、ΣＳｉ２の結１
＝ １ １＝ １ 果が、それぞれの出力として得られる。

こＸにＮは加算回数である。

加算後のデータは、制御回路７から出力される番地に従
って、バッファメモリー４に一時記憶される。

次に演算回路５は、バッファメモリー４より、ひずみ特
性演算に必要なデータを引出し、所定の演算を実行して
結果をプリンター６へ出力する。

この場合の演算項目指令及び、出力指令は全て、制御回
路７から出される。

いｉｓ／Ｎの演算に関しては、上記加算回数Ｎに対し、
周知のと釦り次式により求められる。

これは例えば １９７３年テレビ全国大会ｒＶ Ｉ Ｔ
Ｓのデジタル処理方式」（佐原２券田）に示される。

上記、Ｓ／Ｈの演算を他のひずみ特性演算、例えば、白
レベル、同期レベル、２Ｔパルスひずみ等に先行して実
施するように制御回路１の制御シーケンスを組んでおき
、Ｓ／Ｎ演算後、さらに加算演算を実行するが、あるい
は、他のひずみ特性演算に進むかを判定する。

すなわち、演算回路５には、あらかじめ、Ｓ／Ｎ値と、
加算回数との関係が記憶されており、所定の測定信頼度
が、得られるように加算回数が決定される。

実施例では信頼係数を０．９５と考え、Ｓ／Ｎ−３０ｄ
Ｂ以下に対しては５１２（＝２９）回、Ｓ／Ｎ３０〜４
０ｄＢに対しては２５６（＝２”）回、Ｓ／Ｎ＝４０〜
５０ｄＢに対しては１２８（−２７回）、Ｓ／Ｎ＝５０
ｄＢ以上に対しては、６４（−２６）回として記憶しで
ある。

第２図は、本考案の第２の実施例を示す系統図である。

第２の実施例は、第１の実施例における加算器２自乗加
算器３、演算回路５および制御回路７をマイクロプロセ
ッサ１２で置換えたもので加算、自乗加算、特性演算お
よびシーケンス制御を全てソフトウェア化している。

以下、第２図の系統図および第３図のソフトウェア処理
フローに従い、動作を説明する。

第２図においてスタートスイッチ１４をオンとするとマ
イクロプロセッサ１２は、第３図に示すプログラムの実
行を開始する（処理２１）オず、データ入力処理２２に
よりＶＩＴＳ入力信号をＡ／Ｄ変換器１１によりデジタ
ルデータに変換後、マイクロプロセッサ１２へ取込む。

次に加算、自乗加算処理２３により前記入力データ中、
Ｓ／Ｎ測定の信号箇所について、加算と自乗加算の演算
を実行し、その他の信号箇所については、加算演算のみ
実行せしめる。

次に、処理２４により加算回数Ｎが２ｎに達しているか
否か判定する。

（こΣに、ｎはイニシャル時に、６に設定しておく。

）Ｎが２ｎに達していない場合は処理２２へ戻り、Ｎ＝
２ であれば、Ｓ／Ｎ演算処理２５に進む。

処理２５では先に述べた（１）式に従い、Ｓ／Ｈの演算
を行う。

次に処理２６において処理２５で求めたＳ／Ｎ値に対し
、現在の加算回数Ｎが所要の信頼度を満足するか否か実
施例１で述べた方法によりチェックして満足しない場合
は処理２７を経て、処理２２へ戻る。

尚、処理２７では、ｎをｎ＋ｍに置換えるがｍは１．２
．３のいずれかの数値でＳ／Ｎの値により、決定される
。

一方、処理２６でＮが所要信頼度を満足するものであれ
ば、次の特性演算処理２８へ進み、こＸで各種の特性演
算、例えば白レベル、同期レベル、２Ｔパルスのひずみ
等の演算を実行する。

しかる後、処理２９により、演算結果をプリンター１３
へ出力せしめる。

プリンター１３への打出しが完了すると処理３０にて、
一連の自動特性測定処理を終了する。

本考案は以上説明したように、デジタル信号測定に際し
信号レベル測定の為の加算平均回数を、Ｓ／Ｈの値に対
応して、適切に決定させることにより、従来のように特
性測定結果に対する信頼度のばらつきはなくなり、しか
も不必要に測定時間が長く掛ることもなくなる為、自動
測定装置としての機能は向上される。

尚、上記実施例ではＶＩＴＳの自動ｍ１Ｊ９装置に関し
て、説明を行ったが、本考案はＶＩＴＳ測定に限定され
るものではなく繰返し試験信号を使用して、伝送等のひ
ずみ測定を行う測定器全搬について適用されることは言
う１でもない。

また、前記実施例では、出力部にプリンターを使用して
いるが、これは他の装置、例えば、ディジタルディスプ
レイ等に置換えることもできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案の第一の実施例を示す系統図第２図は
本考案の第二の実施例を示す系統図、第３図は、第二の
実施例の装置に含すれるマイクロ７″Ｏセツサの処理プ
ログラムの流れ図である。 図において、１及び１１・・・Ａ／Ｄ変換器、２・・・
加算器、３・・・自乗加算器、４・・・バッファメモリ
、５−・・演算回路、６，１３・・・プリンタ、７・・
・制御回路、８，１４・・・スタートスイッチ。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. アナログ入力信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換
   器と、前記Ａ／Ｄ変換器の出力を受は前記アナログ入力
   信号のＳ／Ｎを測定するＳ／Ｎ測定手段と、前記Ｓ／Ｎ
   測定手段の出力に応じて加算平均の回数が制御される加
   算平均化手段と、前記加算平均化手段の出力を受は入力
   アナログ入力信号の特性を測定する特性測定手段とを具
   備することを特徴とする特性測定装置。