JPS5943349A - 高純度金属片選別装置 - Google Patents
高純度金属片選別装置Info
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- JPS5943349A JPS5943349A JP57153385A JP15338582A JPS5943349A JP S5943349 A JPS5943349 A JP S5943349A JP 57153385 A JP57153385 A JP 57153385A JP 15338582 A JP15338582 A JP 15338582A JP S5943349 A JPS5943349 A JP S5943349A
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- G01—MEASURING; TESTING
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
木光明は渦゛市流を用い−(シu rjl金6Bのオ(
1或′8を選別する金属片選別装置11に関するムので
ある。
1或′8を選別する金属片選別装置11に関するムので
ある。
従来、渦電流を用いC試料金属ハを)パ別づる゛装置と
しては、例^ぽ第′1図に示:1(Att負jtイが知
られCいた。同図に於て、A M 1)ti JM 幅
’A’A ’N jlうり、CI、C2はセン(ノーと
し−CC21τIJ4τン−1,1’ルでf(う’i’
:) QごのコイルC1、C21τIJ−の−、−’、
+(ンX(4)が正方向(,11二次巻線が逆方向(ご
4I−る(kに夫Zが直列に接崎され、][層蒸器いM
l:〕の出力昭(子(13よび人力1)婿子(・=接続
さイ11℃いる。これによ)C1増幅に(/\M F)
の人力には]イルC1とC2の出力111号の不拘Mi
分が正帰;h! 、:5ンし、全体とじC差動をの発振
;摺を34+’:成し“(いる。
しては、例^ぽ第′1図に示:1(Att負jtイが知
られCいた。同図に於て、A M 1)ti JM 幅
’A’A ’N jlうり、CI、C2はセン(ノーと
し−CC21τIJ4τン−1,1’ルでf(う’i’
:) QごのコイルC1、C21τIJ−の−、−’、
+(ンX(4)が正方向(,11二次巻線が逆方向(ご
4I−る(kに夫Zが直列に接崎され、][層蒸器いM
l:〕の出力昭(子(13よび人力1)婿子(・=接続
さイ11℃いる。これによ)C1増幅に(/\M F)
の人力には]イルC1とC2の出力111号の不拘Mi
分が正帰;h! 、:5ンし、全体とじC差動をの発振
;摺を34+’:成し“(いる。
この様に]1り成された差動発振器は〕イルC1ど02
との出力が等しい揚台には互いに相殺し合って、増幅器
A M Pの入力端子には信号が与えられず、発振動作
は起らないが、両者の出力に差があると、その差分が増
幅器ΔN11つで増幅されて正帰]7されるため、発振
が始まる。ここcl一方のコイルC1に4ffl tl
aどなる試料金属片をセン1〜し、他りの=1イルC2
に被選別試料金属J1をセン1〜すれば、試It金属片
の金属組成、外形等に応じて夫々の試料金属片に特有の
渦電流が流れる。従っで、2つの試11金屈片が同一で
あれば、両者に流れる渦電流に必要は4ラーク、コイル
C1、C2の出力に差が生じず、装置が発振ザることは
ないが、2つの試料金属片の金属組成、外形寸法等に差
があると、渦電流の流れ方が変4つり、コイルc i
、c 2の111力にも差が生じ、この差分によって装
嵌は発振を開始づる。即ち、装置が発振りれば両シ“(
わ1金属ハの間に差異があり、発振しなければ同一であ
ることが識別できる。
との出力が等しい揚台には互いに相殺し合って、増幅器
A M Pの入力端子には信号が与えられず、発振動作
は起らないが、両者の出力に差があると、その差分が増
幅器ΔN11つで増幅されて正帰]7されるため、発振
が始まる。ここcl一方のコイルC1に4ffl tl
aどなる試料金属片をセン1〜し、他りの=1イルC2
に被選別試料金属J1をセン1〜すれば、試It金属片
の金属組成、外形等に応じて夫々の試料金属片に特有の
渦電流が流れる。従っで、2つの試11金屈片が同一で
あれば、両者に流れる渦電流に必要は4ラーク、コイル
C1、C2の出力に差が生じず、装置が発振ザることは
ないが、2つの試料金属片の金属組成、外形寸法等に差
があると、渦電流の流れ方が変4つり、コイルc i
、c 2の111力にも差が生じ、この差分によって装
嵌は発振を開始づる。即ち、装置が発振りれば両シ“(
わ1金属ハの間に差異があり、発振しなければ同一であ
ることが識別できる。
しかしながら、(二の仔4′i:合1;’K J’I−
・式別装嵌に於C(よ、差1(Ilシ3 ’l’l?
+’::4の感Qj ’j:l汀二かI端がしく、例え
(、[,99,9%の金3412と99 、09 ’、
6の6ン13;λどの選別などの@属の(1・CIQを
判定りる住ン:ζ1譜′2選別装j3j7には適用でき
ず、また試料台1菖j1の外形ス1汰の誤差、あるいは
試料金属片の内部の(Fl、表面状f比等に起因づる不
平i0i 0ぞの11、ま(1・1〆・1■:)にパノ
ノされ(しま−うため、同−nr立の試料金属片C゛あ
るに6がか4)らf、差動発j!i f、、”rが発振
(5・てI)、1、うどいゞ)欠点t)i!F)った。
・式別装嵌に於C(よ、差1(Ilシ3 ’l’l?
+’::4の感Qj ’j:l汀二かI端がしく、例え
(、[,99,9%の金3412と99 、09 ’、
6の6ン13;λどの選別などの@属の(1・CIQを
判定りる住ン:ζ1譜′2選別装j3j7には適用でき
ず、また試料台1菖j1の外形ス1汰の誤差、あるいは
試料金属片の内部の(Fl、表面状f比等に起因づる不
平i0i 0ぞの11、ま(1・1〆・1■:)にパノ
ノされ(しま−うため、同−nr立の試料金属片C゛あ
るに6がか4)らf、差動発j!i f、、”rが発振
(5・てI)、1、うどいゞ)欠点t)i!F)った。
本95案1Jこれらの点に着目しく4「された1)の−
C1試オ′:1金属片に生り゛る渦7E流の微妙な[(
θ化’、? +:’?:知し、その中から試オ″〕1金
凪片の外形用法の誤ニテ:、あるいはこれをセンリに近
接あるいは仲人(jストレッl−という)illる際の
位置ずれ等に4、d囚すイシ不平(51成分を除去し、
朴粋に金属組成の)0いにJ、る不平Fli成分のみを
抽出して試11−′3′i、バ片の1):同を選別りる
金属片選別具Fイを捏1jUるものCあっ−(、イの要
旨とづるどころは、電磁的に結合しくいイ〉駆動子1イ
ルと検出コイルを右し、その近傍にレッl−される試才
8I金属片によって生ずる両コイル間の電磁結合の変化
を読取る少くとも2個のセン1)と、各セン1ノの駆動
=1(ルを励磁駆動づるための交流信号源と、この駆動
信号から所定の位相差を有する2つの位相j、t N、
を信号を作成する位相基11(信号発生器と、前記呂セ
ンリ゛中の2個から検出コイルの検出信号を受け一ζそ
の差分信号を出力り−る差動増幅器と、イの差分信号か
ら前記位相基準信号が指定Jる位相位置での信号を取り
出す°検波器と、この検波出力を予め設定された値に従
って位相回転さ、せた座標十−C71T評価でる移相器
とを備えて成る金属片選別装置に存りる。以下図面に示
づ実施例に従って詳細に説明する。
C1試オ′:1金属片に生り゛る渦7E流の微妙な[(
θ化’、? +:’?:知し、その中から試オ″〕1金
凪片の外形用法の誤ニテ:、あるいはこれをセンリに近
接あるいは仲人(jストレッl−という)illる際の
位置ずれ等に4、d囚すイシ不平(51成分を除去し、
朴粋に金属組成の)0いにJ、る不平Fli成分のみを
抽出して試11−′3′i、バ片の1):同を選別りる
金属片選別具Fイを捏1jUるものCあっ−(、イの要
旨とづるどころは、電磁的に結合しくいイ〉駆動子1イ
ルと検出コイルを右し、その近傍にレッl−される試才
8I金属片によって生ずる両コイル間の電磁結合の変化
を読取る少くとも2個のセン1)と、各セン1ノの駆動
=1(ルを励磁駆動づるための交流信号源と、この駆動
信号から所定の位相差を有する2つの位相j、t N、
を信号を作成する位相基11(信号発生器と、前記呂セ
ンリ゛中の2個から検出コイルの検出信号を受け一ζそ
の差分信号を出力り−る差動増幅器と、イの差分信号か
ら前記位相基準信号が指定Jる位相位置での信号を取り
出す°検波器と、この検波出力を予め設定された値に従
って位相回転さ、せた座標十−C71T評価でる移相器
とを備えて成る金属片選別装置に存りる。以下図面に示
づ実施例に従って詳細に説明する。
第2図は本発明0ルー実施例を示すブロックダイ髪7グ
ラムであり、第3図おに・び第71図はこれに用いるセ
ン」〕′の一例を示づ平面図および断面図である。
ラムであり、第3図おに・び第71図はこれに用いるセ
ン」〕′の一例を示づ平面図および断面図である。
同図に於て、′1および1′はセンサであって、一対用
意され、第3図および第4図にその詳細を示−リように
、同心円状に巻回配回された駆動コイル1aと検出=」
−イル′11)とを((jlえ−Cいる。試料金汎片2
はこの検出コイル11)の中?J′!部内に人々[!ッ
トされるものであって、例えば、レンリ゛′1の検出コ
イル11)内には選別づべき試オ々1金屈片2がしッ1
−され、けン→ノ1−の検出コイルI b内には(票!
((となる試料金属片2が1=ツ1−される。
意され、第3図および第4図にその詳細を示−リように
、同心円状に巻回配回された駆動コイル1aと検出=」
−イル′11)とを((jlえ−Cいる。試料金汎片2
はこの検出コイル11)の中?J′!部内に人々[!ッ
トされるものであって、例えば、レンリ゛′1の検出コ
イル11)内には選別づべき試オ々1金屈片2がしッ1
−され、けン→ノ1−の検出コイルI b内には(票!
((となる試料金属片2が1=ツ1−される。
3はこの一対のセンリ1おJ、び′1′の駆動ニドイル
1aを励磁駆動するための駆千]4信′;′3を供給り
る交流信号源であって、試利金島パ2の内部の閂、表面
の状態等によっ−c1生起する渦電流が影IAを受(プ
ず、また表皮効果の影響−す小さ4fbのとりるため、
50t−1z−500HZ稈ム”[の11(い周波数の
正弦波交流信号を定電流あるいは定電圧で供給し〕てい
る。
1aを励磁駆動するための駆千]4信′;′3を供給り
る交流信号源であって、試利金島パ2の内部の閂、表面
の状態等によっ−c1生起する渦電流が影IAを受(プ
ず、また表皮効果の影響−す小さ4fbのとりるため、
50t−1z−500HZ稈ム”[の11(い周波数の
正弦波交流信号を定電流あるいは定電圧で供給し〕てい
る。
4は、前記一対のロンザ1および1−の検出二1イル1
()が出力す°る検出信号を受()てその差分をとり、
これを例エバ10000 (f:i稈1.ff: 0’
)増幅−t”r増幅づる差動増幅器Cある。!=5はこ
の差動増幅器4の出力信号に含沫れでいる高調;1、v
成分を除去し、交流信号源3が送出りる駆動信号の周波
数成分のみを通過さ1!て差分イtDを作成り−る低域
フィルタである。
()が出力す°る検出信号を受()てその差分をとり、
これを例エバ10000 (f:i稈1.ff: 0’
)増幅−t”r増幅づる差動増幅器Cある。!=5はこ
の差動増幅器4の出力信号に含沫れでいる高調;1、v
成分を除去し、交流信号源3が送出りる駆動信号の周波
数成分のみを通過さ1!て差分イtDを作成り−る低域
フィルタである。
6は前乙0交ン々信冗源33から受けた前記駆チカイ言
号と同−JKl波故の交流信丁シから所定の()“11
11差を有する位相量111!信号を作成づる位′I[
1信号発生冊である。
号と同−JKl波故の交流信丁シから所定の()“11
11差を有する位相量111!信号を作成づる位′I[
1信号発生冊である。
この位相1j 1.p信号は、例えば、駆i!lII信
号の位相角Oフジj′ンa3J:びπ、/2ラジアンに
夫々λI1.トシたπ7/25ジアンの位相差を持った
信号である。7は、この位相邊4準信号を用いて、前記
低域)rシタ5から転送されて来る差分信号を’ 4V
l即して、前記位相J11信号の位相位置に対応する信
号χおよびyを作成づる検波器である。例えば、前記位
相基Iiヤ信号の指定する位相位置、即ち、駆動信号の
位相角0ラジアンJ3よび7c/2ラジアンの位相位I
i2?て′の差分信号のIIセ幅(lαを検出して、こ
れを信号χあるいは(i号yとして送出するものである
。
号の位相角Oフジj′ンa3J:びπ、/2ラジアンに
夫々λI1.トシたπ7/25ジアンの位相差を持った
信号である。7は、この位相邊4準信号を用いて、前記
低域)rシタ5から転送されて来る差分信号を’ 4V
l即して、前記位相J11信号の位相位置に対応する信
号χおよびyを作成づる検波器である。例えば、前記位
相基Iiヤ信号の指定する位相位置、即ち、駆動信号の
位相角0ラジアンJ3よび7c/2ラジアンの位相位I
i2?て′の差分信号のIIセ幅(lαを検出して、こ
れを信号χあるいは(i号yとして送出するものである
。
8は電気回路系のL O++ F!I整を行イ【うため
の自動バランリ゛で(しる。半導体部品のドリフト、部
品の値のバラツキ等が原因で、レンザ1,1′に同一の
試料金属J’lが正確に[?ツ1−されても、()(■
記構波器7が出力する信号χl13よぴ信号yが” 0
” lこ4′cらない車がある。この白【リバランリ
J314例え番、〔利4V? jl’J整が可能な2個
の増に、1器にJ−ってイj)成されていて前述の電気
回路系の小平v11(こJ、っC” 0 ”とならなか
った信号χd3よびyを前1ic増幅;):(の刊i′
’?調整を行って、自動的に打消し6行ない、これJ、
り出力される信すX 63よび)′が” O”となる(
トに初期設定される。
の自動バランリ゛で(しる。半導体部品のドリフト、部
品の値のバラツキ等が原因で、レンザ1,1′に同一の
試料金属J’lが正確に[?ツ1−されても、()(■
記構波器7が出力する信号χl13よぴ信号yが” 0
” lこ4′cらない車がある。この白【リバランリ
J314例え番、〔利4V? jl’J整が可能な2個
の増に、1器にJ−ってイj)成されていて前述の電気
回路系の小平v11(こJ、っC” 0 ”とならなか
った信号χd3よびyを前1ic増幅;):(の刊i′
’?調整を行って、自動的に打消し6行ない、これJ、
り出力される信すX 63よび)′が” O”となる(
トに初期設定される。
9は本梵明による金属ハ)パ別4・ξ、置の核心部苓−
なJ移相器であり、10はその回転位相l1ljをPめ
設定してJj <位相設定器である。ここく゛、多くの
測定点を前述の信号X、Yに基いて平面11シ標にゾ(
]ッ1〜してゆく実験を打つへ二結果、 ■ 同一形状の試料金属片2を正確な位置決め4行なっ
てセンサ1内にけツ1へし、その金属組成を変えると、
その旧側値は第5図に△で示8+’ ”;cS1象限A
3J:び第3象限を通る直ぐ:ii l’ iIj似゛
(きる。
なJ移相器であり、10はその回転位相l1ljをPめ
設定してJj <位相設定器である。ここく゛、多くの
測定点を前述の信号X、Yに基いて平面11シ標にゾ(
]ッ1〜してゆく実験を打つへ二結果、 ■ 同一形状の試料金属片2を正確な位置決め4行なっ
てセンサ1内にけツ1へし、その金属組成を変えると、
その旧側値は第5図に△で示8+’ ”;cS1象限A
3J:び第3象限を通る直ぐ:ii l’ iIj似゛
(きる。
■ 金ms /f[成の同一な試t’l金Jiべ片2で
あってL)、ロンリ内の磁束密度が均一でないため、試
INl金属片2の外形寸法の誤差、Uンリ′1へのし・
ンティング位置の〕「れ等で影響を・受け、その測定1
f(fは第5図の[(で示づ第2象限および第4象限を
通る直線で近似できる。
あってL)、ロンリ内の磁束密度が均一でないため、試
INl金属片2の外形寸法の誤差、Uンリ′1へのし・
ンティング位置の〕「れ等で影響を・受け、その測定1
f(fは第5図の[(で示づ第2象限および第4象限を
通る直線で近似できる。
■ これらの)Lτ似rXKA /\および巳が元の座
49軸)<。
49軸)<。
Yど41′1j′角度0は、駆動信号のy(j波数ヤセ
〉ザ1.1′の形状等の条(’lで変化覆る。
〉ザ1.1′の形状等の条(’lで変化覆る。
等の事実を昇見した。
従って、予め所定の条件で実験を行なっで、前述の近似
直線と座標軸とのなず角度θに対応するデータを1「U
3さ、検波器8の出ツノする信RX 1 。
直線と座標軸とのなず角度θに対応するデータを1「U
3さ、検波器8の出ツノする信RX 1 。
Y!で決められる測定点Cを、前)ホの角度θだけ回転
さセた座標上で再訂飾りれば、外形寸法、レッティング
位置賃の:!′I差に起因J゛る成分を除去−Cきるこ
とに%る。位相設定器10はごの座標軸ど予備実験によ
るMF似直線どのなり角度に;(j応するデータを回転
位相怜としで)′−め設定しでおくためのちのCあり、
移相器9はこの位相jl定器10に予め設定された回転
位相1カに応じて座標ii1!lを回転変換し、訓測値
をこの変換された外棟上でT(工評価して、第5図に矢
印りで示されるiif+、、[Illら、近似直線Bか
らの距き11を求め、試オ)1金属片2の金昼相成の着
具に対応した選別信号どして出力づるものである。
さセた座標上で再訂飾りれば、外形寸法、レッティング
位置賃の:!′I差に起因J゛る成分を除去−Cきるこ
とに%る。位相設定器10はごの座標軸ど予備実験によ
るMF似直線どのなり角度に;(j応するデータを回転
位相怜としで)′−め設定しでおくためのちのCあり、
移相器9はこの位相jl定器10に予め設定された回転
位相1カに応じて座標ii1!lを回転変換し、訓測値
をこの変換された外棟上でT(工評価して、第5図に矢
印りで示されるiif+、、[Illら、近似直線Bか
らの距き11を求め、試オ)1金属片2の金昼相成の着
具に対応した選別信号どして出力づるものである。
11は基準信号発生器であり、12はごの星I(可信号
発生器11が出力り−るtt、準信月ど前記移相器9の
出力覆る選別13号とを比較りる比較回路である。比較
の結果、例えば、)バ別信’:’47′J+ L、%
Qt+++より小さければ、金属11戒は同一であると
判定し、逆に太き(プれば相違すると判定して、この判
定結果に塁づく判定信号を出力づる。13は表示駆動回
路であって、前記比較回路12か□らの判定信gに応動
じてディスプレイ14のランプL1あるいはL2を点灯
駆動するものである。
発生器11が出力り−るtt、準信月ど前記移相器9の
出力覆る選別13号とを比較りる比較回路である。比較
の結果、例えば、)バ別信’:’47′J+ L、%
Qt+++より小さければ、金属11戒は同一であると
判定し、逆に太き(プれば相違すると判定して、この判
定結果に塁づく判定信号を出力づる。13は表示駆動回
路であって、前記比較回路12か□らの判定信gに応動
じてディスプレイ14のランプL1あるいはL2を点灯
駆動するものである。
次に、この様に椙成された金属片選別装買を用いて金属
片の選別を行なう際の手順を説明りる。
片の選別を行なう際の手順を説明りる。
J:ず、選別作?°1(に先立つ−C1金属片)パ別装
岡の初期3ポ定が行なわれる。これに(3″1.先ず、
2′つのヒンナ1J′3よび1′内に同一形状、同−組
成の試t’1金属片2をセツティング位置に充分1−1
′意を払ってセラ1−する。ここで間流信号源3によっ
て両センサ1 J3よび1′を駆動しても、差動振幅器
/1の出力は両センリ1および1′の検出信号が互いに
相殺し合って完全に1101+となり、従って検波器7
の出力イn号χ、yも本来゛OIIとなるへきものであ
る。しかしながら、半導体の1:リフト、部品の値のパ
ンツキ等で必ずしもII O11にはなりl!’? <
>い。
岡の初期3ポ定が行なわれる。これに(3″1.先ず、
2′つのヒンナ1J′3よび1′内に同一形状、同−組
成の試t’1金属片2をセツティング位置に充分1−1
′意を払ってセラ1−する。ここで間流信号源3によっ
て両センサ1 J3よび1′を駆動しても、差動振幅器
/1の出力は両センリ1および1′の検出信号が互いに
相殺し合って完全に1101+となり、従って検波器7
の出力イn号χ、yも本来゛OIIとなるへきものであ
る。しかしながら、半導体の1:リフト、部品の値のパ
ンツキ等で必ずしもII O11にはなりl!’? <
>い。
(・ηつで、自動バラシリ8内の増幅器の利+’7調整
等によって−その出力信6 Xお31;びYが1101
1となる様に、装置の電気系路の110 ++副調整行
なう。次に、予備実験を行なって所定の条イ′1の下で
の近似直線を求め、この近似直線と座標thi1とのな
す“角度を位相設定器’I O内に回転位相量として予
め設定しておく。この予備実、験4;l;、使用りるレ
ンIすを変える等)Z卒イ′[を蛮え−C秤々行4rっ
てa3き、各予備実験で111られた値をその条イ′1
とS、I応(=Jけて位相設定器10内に格納しておけ
ば、条件が変わる都度予11i実験をし−て回転位相聞
を求める必要はなくなる。
等によって−その出力信6 Xお31;びYが1101
1となる様に、装置の電気系路の110 ++副調整行
なう。次に、予備実験を行なって所定の条イ′1の下で
の近似直線を求め、この近似直線と座標thi1とのな
す“角度を位相設定器’I O内に回転位相量として予
め設定しておく。この予備実、験4;l;、使用りるレ
ンIすを変える等)Z卒イ′[を蛮え−C秤々行4rっ
てa3き、各予備実験で111られた値をその条イ′1
とS、I応(=Jけて位相設定器10内に格納しておけ
ば、条件が変わる都度予11i実験をし−て回転位相聞
を求める必要はなくなる。
このよう様にして初1’ll設定の行なわれた金属片選
別装置の一方のセンサ1には、これから選別を行なう試
石金厄J″i2がレッ1へされ、他方のセンサ1′には
標I((となる試料金属片2がし・ツ1−され?)。
別装置の一方のセンサ1には、これから選別を行なう試
石金厄J″i2がレッ1へされ、他方のセンサ1′には
標I((となる試料金属片2がし・ツ1−され?)。
ここで、交流信号源3を動作さl!、駆動信号をセンサ
ー183 Jこび′1′の駆戸11−1イル1a l−
、’)云ると二、菖[3動コイル1aの作る磁束が検出
二1イル11〕に用量してこれに検出信号が誘起1Jる
。この検出信r! (J、検出コイル11)内(こレッ
1−された試X’l金属;腎2の組成の違い、外形−=
1法、レフ1−位+r10)誤差等によって、前述の磁
束によ−) T ’rK 11 企L’7. I’+
2 内i: 牛−Jる渦電流が微妙に異41す、し・シ
リ1ど1′ど−(”(,1゜多少異なったものと4rる
。
ー183 Jこび′1′の駆戸11−1イル1a l−
、’)云ると二、菖[3動コイル1aの作る磁束が検出
二1イル11〕に用量してこれに検出信号が誘起1Jる
。この検出信r! (J、検出コイル11)内(こレッ
1−された試X’l金属;腎2の組成の違い、外形−=
1法、レフ1−位+r10)誤差等によって、前述の磁
束によ−) T ’rK 11 企L’7. I’+
2 内i: 牛−Jる渦電流が微妙に異41す、し・シ
リ1ど1′ど−(”(,1゜多少異なったものと4rる
。
差動増幅器4はこの両IIンリ″I J3よび′l′″
の検出信号の差分をとって10000 (1′1稈度に
増幅し、低域フィルタ5によって高調波成分を除]てし
、差分信号を作成しで検波器7にノjλ、る。(会&’
1iiii 7 i。i。
の検出信号の差分をとって10000 (1′1稈度に
増幅し、低域フィルタ5によって高調波成分を除]てし
、差分信号を作成しで検波器7にノjλ、る。(会&’
1iiii 7 i。i。
位相信号梵生器6が発1t−yる、7r/2ラジアンの
位相差を持った2つの位相17口1’= (A弓に応W
h L、r 。
位相差を持った2つの位相17口1’= (A弓に応W
h L、r 。
その各々の位相角に於ける前記差分信号の値にス・]応
した信号χ、yを出力づる。この検波器7の出力は自動
バランサ8によって信に″iXおよびYに変換されて移
相器9へ送られる。
した信号χ、yを出力づる。この検波器7の出力は自動
バランサ8によって信に″iXおよびYに変換されて移
相器9へ送られる。
ここで、2つのセンサ1,1′にセラi−された試料金
属片2の組成が同一τあった場合、信号×およびYの値
を第5図に示づ1小標上にブ[lツ1〜!1れは、外形
寸法の誤差等に起因丈るもののみであるため測定点ti
t近似直線B上に乗り、矢印りで示J成分は11011
となる。従って、移相器9に於て座標軸を位相設定器1
0に設定された回転位相聞に応じて回転変)色し、この
変K(!座標上で前記測定点を再訂価すると、そのX軸
方向の成分は11011となる。また、舎属組成に差が
ある場合には、この回転変換された座標軸上で再訂11
i1i シた測定(10のX 1Iib方向成分がII
OIIとはなら−f、金属;41成の差に応じたある
(IC1を持つことにに′3・る。移用器っけこれらの
値を選別信号どして比11イト回rat i 2 l\
送出づ゛る。
属片2の組成が同一τあった場合、信号×およびYの値
を第5図に示づ1小標上にブ[lツ1〜!1れは、外形
寸法の誤差等に起因丈るもののみであるため測定点ti
t近似直線B上に乗り、矢印りで示J成分は11011
となる。従って、移相器9に於て座標軸を位相設定器1
0に設定された回転位相聞に応じて回転変)色し、この
変K(!座標上で前記測定点を再訂価すると、そのX軸
方向の成分は11011となる。また、舎属組成に差が
ある場合には、この回転変換された座標軸上で再訂11
i1i シた測定(10のX 1Iib方向成分がII
OIIとはなら−f、金属;41成の差に応じたある
(IC1を持つことにに′3・る。移用器っけこれらの
値を選別信号どして比11イト回rat i 2 l\
送出づ゛る。
比較回路12では、送られで来た選別信号を基準信号光
く1三器1′1の光4にづ゛る遥jいj’j (tm弓
と止車々して金層組成のy4同の判定を行i、−=、う
。即ち、)パ別1n号110 !1であれ(3I:同一
、値を持てば’!fj 3’呈と判定するものであるが
、R11l定誤差等を考j、りし゛C決定した適当な値
のヰtit;信号と選別信号どの比較を(jない、これ
よりも小さ7,7値で85ればl1iJ−4rl成、大
きな1Nどなれば異組成と判定し、この判定結果9ご応
した判定信号を表示駆動回路13へ送出りる。表示駆動
回路13はこの判定信号が同一7tl成を示すものであ
れば、ディスプレイ111の例えばランプL1を駆動し
て点灯させ、異組成を示81bのであれ)、f、例えば
ランプL2の点灯駆動を行4i:う。
く1三器1′1の光4にづ゛る遥jいj’j (tm弓
と止車々して金層組成のy4同の判定を行i、−=、う
。即ち、)パ別1n号110 !1であれ(3I:同一
、値を持てば’!fj 3’呈と判定するものであるが
、R11l定誤差等を考j、りし゛C決定した適当な値
のヰtit;信号と選別信号どの比較を(jない、これ
よりも小さ7,7値で85ればl1iJ−4rl成、大
きな1Nどなれば異組成と判定し、この判定結果9ご応
した判定信号を表示駆動回路13へ送出りる。表示駆動
回路13はこの判定信号が同一7tl成を示すものであ
れば、ディスプレイ111の例えばランプL1を駆動し
て点灯させ、異組成を示81bのであれ)、f、例えば
ランプL2の点灯駆動を行4i:う。
ノズ上、図示の実施例に従っr iiT創に説明したが
、本発明これにのみ限定されるものでないことはいうま
でもない。
、本発明これにのみ限定されるものでないことはいうま
でもない。
例えば、センサの数はノビ一り”しb 21111に限
られるものではなく、多数個用形、して、13き、9昌
21を用いて、試N’l金属片の形状等に対応さ1!、
”(切替使用しても良い。このjf5合、各センサfu
に予(・11゛1実験を行なって近似直線を求め、位相
設定E3にての回転位相量を設定しておく必要がある。
られるものではなく、多数個用形、して、13き、9昌
21を用いて、試N’l金属片の形状等に対応さ1!、
”(切替使用しても良い。このjf5合、各センサfu
に予(・11゛1実験を行なって近似直線を求め、位相
設定E3にての回転位相量を設定しておく必要がある。
;した、使用されている一対のセンサの一方に標)1こ
と4Yる試料金属片をセラ1〜したものでイIくとも間
代;にし4jT:別覆ることができる。即ち、一方に適
当な試j′31金属片をセットし、他方に標準どなる試
料金属片をセラ1〜1ノで選別系の初期設定を行ない、
その後、標準となる81(料金底片をi71!選別試利
金属片に変えれば、被測定試料金属j−1と標準試料金
属片の組成の異同の選別が可能となる。この場合、比較
回路での判定は” o ”との比較ではなく、ある所定
の(11■との比較になり、この値に測定誤差等を考慮
した幅を設定し、その範囲に入るか否かで金属組成の異
同を判定することになる。この事を更に拡張づれば、一
方のセンサに何もセラ1−シてJ3かない?P心状態で
あっても全く同様に金属組成の異同を選別りることがで
き、比較回路を工夫゛す゛れば、金属組成を段階的に多
数1ii選別することも可能どなる。
と4Yる試料金属片をセラ1〜したものでイIくとも間
代;にし4jT:別覆ることができる。即ち、一方に適
当な試j′31金属片をセットし、他方に標準どなる試
料金属片をセラ1〜1ノで選別系の初期設定を行ない、
その後、標準となる81(料金底片をi71!選別試利
金属片に変えれば、被測定試料金属j−1と標準試料金
属片の組成の異同の選別が可能となる。この場合、比較
回路での判定は” o ”との比較ではなく、ある所定
の(11■との比較になり、この値に測定誤差等を考慮
した幅を設定し、その範囲に入るか否かで金属組成の異
同を判定することになる。この事を更に拡張づれば、一
方のセンサに何もセラ1−シてJ3かない?P心状態で
あっても全く同様に金属組成の異同を選別りることがで
き、比較回路を工夫゛す゛れば、金属組成を段階的に多
数1ii選別することも可能どなる。
更に、センサ′の4iG造も実施例のものにのみ限定さ
れるしのではなく、駆動コイルと検出コイルを重ねたも
のでし良く、試料金属片を検出コイル内にtzツ1〜せ
ず、センサの上に載置するもの等、駆動コイルの発生づ
る磁束が試料金か1片を有効に4通するものであれば良
い。さらに、閑心コイルで(苫成したもののみではなく
、E形、壺型等の付表路が閉じていない鉄心に駆動二1
イルど検出コイル4巻いで、隘路の問い(−いる部分に
試料金属片をL′!ッ(−づる形式にりれ(」゛効率の
良いしンリを1!’7ることもできる。
れるしのではなく、駆動コイルと検出コイルを重ねたも
のでし良く、試料金属片を検出コイル内にtzツ1〜せ
ず、センサの上に載置するもの等、駆動コイルの発生づ
る磁束が試料金か1片を有効に4通するものであれば良
い。さらに、閑心コイルで(苫成したもののみではなく
、E形、壺型等の付表路が閉じていない鉄心に駆動二1
イルど検出コイル4巻いで、隘路の問い(−いる部分に
試料金属片をL′!ッ(−づる形式にりれ(」゛効率の
良いしンリを1!’7ることもできる。
また、交流信号源の発生リーる駆動信号の周波数は、表
皮効果、試オ;1金属片内の酉等にJ、って渦電流の流
れ方に影響が出るのを防止りるため、50[−(l〜5
001−1 z程度の低周波どしく、試料金属)1全体
に大きく渦電流が流れる様にしているが、試料金属片の
大きさ等の条件が異4rればより高い周波数にしでも良
いことはいう;Lでtつ6泊「い。
皮効果、試オ;1金属片内の酉等にJ、って渦電流の流
れ方に影響が出るのを防止りるため、50[−(l〜5
001−1 z程度の低周波どしく、試料金属)1全体
に大きく渦電流が流れる様にしているが、試料金属片の
大きさ等の条件が異4rればより高い周波数にしでも良
いことはいう;Lでtつ6泊「い。
以上詳細に説明した保に、本発明の金属選別装置によれ
ば、外形Xi法の誤差、レット位置のずれ等の影響を完
全に除き、金属組成の74同のみを紗枠に判定できるも
のであるため、例えば、jQ ffiはシビアに管理さ
れるが夕1形X1法等は比較的ラフ41−金塊の糺度が
99.99%であるのか99.9%であるのかの選別判
定等に)^用して(うめて有効4)−ものどなる。
ば、外形Xi法の誤差、レット位置のずれ等の影響を完
全に除き、金属組成の74同のみを紗枠に判定できるも
のであるため、例えば、jQ ffiはシビアに管理さ
れるが夕1形X1法等は比較的ラフ41−金塊の糺度が
99.99%であるのか99.9%であるのかの選別判
定等に)^用して(うめて有効4)−ものどなる。
第1図は従来の金属片選別装置の一例を示づブロックダ
イヤグラム、第2図は本発明の一実施例を示づ゛ブロッ
クダイヤグラム、第3図および第4図はこれに用いる、
センサの一例を示す平面図および断面図、第5図は本発
明の詳細な説明するための図である。 1.1′・・・・・・センサ゛、1a・・・・・・駆動
コイル、111・・・・・・検出コイル、2・・・・・
・試料金5片、2・・・・・・交流信8源、 4・・・
・・・差動増幅器、5・・・・・・低域フィルタ、6・
・・・・・位相信@発生器、7・・・・・・検波器、
8・・・・・・自動バランサ、9・・・・・・移相
器、 10・・・・・・位相設定器、11・・・・・
・1;(準信丹発生器、12・・・・・・比較回路、1
3・・・・・・表示駆動回路、14・・・・・・ディス
プレイ。 特許出願人 IYI中負金属工系株式会礼同 原電
子測器株式会社 第3図 第4図 第5図
イヤグラム、第2図は本発明の一実施例を示づ゛ブロッ
クダイヤグラム、第3図および第4図はこれに用いる、
センサの一例を示す平面図および断面図、第5図は本発
明の詳細な説明するための図である。 1.1′・・・・・・センサ゛、1a・・・・・・駆動
コイル、111・・・・・・検出コイル、2・・・・・
・試料金5片、2・・・・・・交流信8源、 4・・・
・・・差動増幅器、5・・・・・・低域フィルタ、6・
・・・・・位相信@発生器、7・・・・・・検波器、
8・・・・・・自動バランサ、9・・・・・・移相
器、 10・・・・・・位相設定器、11・・・・・
・1;(準信丹発生器、12・・・・・・比較回路、1
3・・・・・・表示駆動回路、14・・・・・・ディス
プレイ。 特許出願人 IYI中負金属工系株式会礼同 原電
子測器株式会社 第3図 第4図 第5図
Claims (2)
- (1)電磁的に結合しでいる駆動コイルと検出コイルを
有し、ぞの近(力にヒツトされる試料金属片によって生
ずる両コイル間の電磁結合の変化を読取る少くとも2個
のセン1)と、各センサの駆動コイルを励磁駆動するた
めの交流信号源と、この駆動信号1)11ろ所定の位相
差を右する2つの位相基t(を信号を作成づる位相信号
発生器と、前記各センサ中の2個から検出子コイルの検
出信号を受けてその差分信号を′出力りる差動増幅器と
、その差分信号から@記位相基T11(信号が指定する
位相位置での信号を取り出!j検波器と、この検波出力
を予め設定された(IC1に符−) −T’ <C1相
回転さけた座標上で再計測りる移相器とを備えて成る金
属片選別装置。 - (2) 交流信号源が発生°する駆動信号の周波数を
50t−1z −500Hzの低周波どしたことを特徴
とする性情請求の範囲第(1)項に記載の金属片選別装
置。 (J センサの駆動コイルと検出=]コイルを同心円状
に配置し、その中心部分に試料金1爪片をレッ[−する
形式とし、′1つのセンυには)りi lll;どなる
試料金属片がセン1−され、他のレンジ′にはン/!!
選別試第1金属片がレットされることを特徴どりる待t
i’F iil〜求の範囲第(1)項あるいは第(2)
項に記載の金属片選別具fNY。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57153385A JPS5943349A (ja) | 1982-09-04 | 1982-09-04 | 高純度金属片選別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57153385A JPS5943349A (ja) | 1982-09-04 | 1982-09-04 | 高純度金属片選別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5943349A true JPS5943349A (ja) | 1984-03-10 |
| JPH0415414B2 JPH0415414B2 (ja) | 1992-03-17 |
Family
ID=15561318
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57153385A Granted JPS5943349A (ja) | 1982-09-04 | 1982-09-04 | 高純度金属片選別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5943349A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008001417A (ja) * | 2006-06-26 | 2008-01-10 | Ishiyama:Kk | 発泡容器 |
| KR101365003B1 (ko) * | 2012-12-31 | 2014-02-21 | 제이에스스틸(주) | 금속편 분류 장치 |
| JP2019174298A (ja) * | 2018-03-28 | 2019-10-10 | 住友金属鉱山株式会社 | 組成判定方法、組成判定装置 |
| JP2024512275A (ja) * | 2021-02-24 | 2024-03-19 | ビーダブリューエックスティー ニュークリア オペレーションズ グループ、インコーポレイテッド | 材料の検査装置および検査方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52116290A (en) * | 1976-03-02 | 1977-09-29 | Nippon Steel Corp | Quantitative determination method of magnetite and metal iron in granu lar or powdery non-metallic substances |
-
1982
- 1982-09-04 JP JP57153385A patent/JPS5943349A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52116290A (en) * | 1976-03-02 | 1977-09-29 | Nippon Steel Corp | Quantitative determination method of magnetite and metal iron in granu lar or powdery non-metallic substances |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008001417A (ja) * | 2006-06-26 | 2008-01-10 | Ishiyama:Kk | 発泡容器 |
| KR101365003B1 (ko) * | 2012-12-31 | 2014-02-21 | 제이에스스틸(주) | 금속편 분류 장치 |
| JP2019174298A (ja) * | 2018-03-28 | 2019-10-10 | 住友金属鉱山株式会社 | 組成判定方法、組成判定装置 |
| JP2024512275A (ja) * | 2021-02-24 | 2024-03-19 | ビーダブリューエックスティー ニュークリア オペレーションズ グループ、インコーポレイテッド | 材料の検査装置および検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0415414B2 (ja) | 1992-03-17 |
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