JPS5946443B2 - 弾性表面波用ウエハの製造方法 - Google Patents

弾性表面波用ウエハの製造方法

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JPS5946443B2
JPS5946443B2 JP54040507A JP4050779A JPS5946443B2 JP S5946443 B2 JPS5946443 B2 JP S5946443B2 JP 54040507 A JP54040507 A JP 54040507A JP 4050779 A JP4050779 A JP 4050779A JP S5946443 B2 JPS5946443 B2 JP S5946443B2
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JP
Japan
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acoustic wave
surface acoustic
manufacturing
substrate
group delay
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JP54040507A
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JPS55133118A (en
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勝義 福田
均 平野
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
    • H03H3/007Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
    • H03H3/08Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of resonators or networks using surface acoustic waves

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は弾性表面波素子の群遅延時間温度特性の向上と
、電気機械結合係数の増大をはかり得る弾性表面波用ウ
ェハの製造方法に関する。
弾性表面波素子には群遅延時間温度特性の良好な、つま
り広範囲な温度変化に対して群遅延時間変化の少ない性
能と、電気機械係数の大なることが要求される。
上記群遅延特性の良好なるものにSTカット水晶板を用
いたもの等があるが、電気機械結合係数が非常に小さく
、全く実用化に適していない。
この為、一般的にはLiNbO3単結晶やLiTaO3
1jlL結晶を基板として用いているが、群遅延特性が
さほど良くないと云う欠点を有している。
そこで群遅延特性の向上をはかる為、例えば米国特許第
3965444号に詳記されるように、弾性表面波基板
上にこの弾性表面波基板とは異質の材料を装置したもの
が提供されるに至っている。
これし\Yカットz方向表面波伝搬のLiTaO5単結
晶基板上にターゲットとして溶融石英を用いた高周波ス
パッタによってSiO2を装着したものである。
ところが上記構造の製造工程において高周波スパッタに
よるSiO□の装着に多大な時間(40〜80時間程度
)を要し、しかも高周波スパッタは一般に10−8 )
−ル程度の真空炉内に酸素を封入して行われるので、そ
の作業が非常に煩雑であると云う問題を有していた。
これが為に生産性が悪く、量産できなかった。
本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、そ
の目的とするところは、電気機械結合係数が高く、しか
も群遅延時間温度特性の良好なる弾性表面波素子、つま
り弾性表面波用ウェハを短時間に簡易にして製造するこ
とのできる弾性表面波用ウェハの製造方法を提供するこ
とにある。
以下、図面を参照して本発明に係る製造方法の一実施例
を説明する。
第1図a ” gは同実施例の製造工程を分解して模式
的に示したものである。
タンタル酸リチウム(LiTa03)単結晶をXカット
、112°Y方向表面波伝搬として切出された弾性表面
波基板1は、第1図aに示すようにその上面を鏡面研磨
処理される。
この鏡面研磨処理された基板1の上面に第1図すに示す
ように1μm程度の厚さにアルミニウム2を真空蒸着に
て形成する。
しかるのち上記アルミニウム2を所定の櫛歯状パターン
に、例えばPEP(頷蝕亥Ill : Photo
Etching Process)により加工して第1
図Cに示すようにインターデジタル電極3を形成する。
これにより従来の一般構造を有する弾性表面波素子が形
成される。
ところで本方法にあっては、インターデジタル電極3を
配設した基板1上に化学蒸気堆積法(CV D : C
hemical Vapor Deposition
)により第1図dに示す如く燐(ロ)を含む二酸化硅素
(5102)4が略2μm程度の厚さに堆積形成される
このCVDによるSiO□4の堆積は、高温における基
板1表面での熱化学反応によりなされるもので、例えば
シラン(SiH4)に少量のホスフィン(PH3)を混
入し、酸素(0□)と熱化学反応させてPSG(リン、
シリケラト・ガラス)と水とを生成することにより燐(
P)を含む二酸化シリコン膜を形成することによりなさ
れる。
しかるのち、上記5iO24上にレジスト(Az−13
50J)5を塗布し、回路接続用電極部上方に位置する
上記レジスト5を第1図eに示すように除去し、窓をあ
ける。
しかしてS i O24の腐蝕除去処理を施せば第1図
fに示すようにレジスト5により被覆されていない領域
の5iO24のみが除去さね、向路接続用電極3aのみ
が露−出する。
その後、第1図gに示すように”レジスト5をに去し、
洗浄することによって弾性表面波用ウェハが形成され、
ボンディング等により電極3aにリード線(図示せず)
を配設して弾性表面波素子が第2図一部切欠断面斜視図
に示すように製作される。
伺、従来は、 ′ □S
iH4+202−8iO□+2H20 なる熱化学反応により二酸化シリコン膜を形成していた
ところが二酸化シリコン膜はその性質上、剥離やクラッ
クの発生がある為、弾性表面波I4砂を十分に確保し得
る厚みを得ることが非常に困難であつ島りかもその表面
が粗く、ff、−緻密な構造を有しないが為に表面波特
性があまり良くなかつへ□然るに上記の如ズPSGを形
成することにより二酸化シリコシ膜に付随する箋を解決
等ることが可能となる。
即sp Sa自体その構造が緻密で表面が滑らかなるが
故□に表面波特性が良く、また剥離やクラックが生じ難
い為に所望とする厚みに容易に形成できる。
従って従来のものに比して良好なる特性を簡易に得るこ
とが可能となる。
上記製造方法は具体的には、例えば次のように実施され
る。
伺、この例にあってはCVD装置として東京芝浦電気株
式会社製:型式VG−I4を用いて行われる。
先ずインターデジタル電極3を配設形成した弾性表面波
基板1をトリクロルエチレンにて5分間程度煮沸し、そ
の表面を洗浄したのちCVD装置のベース上に並べて載
置する。
そして上記ベースを10℃/1分間程度の温度上昇率で
450℃に加熱し、前記弾性表面波基板1を高温化する
この状態にて濃度3%のシラン(SiH,)を1分間当
300cc、またホスフィン(PH3)を1分間当り1
.5cc、同時に酸素(02)を1分間当り300 c
c供給してCVDによる基板1上への5i024の堆積
を行わしめる。
この堆積処理CVDを30分間続ける。
その後上記SiH4。PH3,0□の供給を停止し、C
VD装置内を10℃/1分間程度の割合で常温に戻し、
前記5i02を表面に堆積した基板1を取り出す。
尚、上記作動中にはキャリアガスとしてチッ素ガスを常
時10A/1分間程度流している。
゛ このようにして製造される弾性表面波ウェハ哄基板
1上にPSG(リン・シリケイト・ガラス)を被覆した
構造となる。
つまり弾性表面波ウェハはその表面を前記ホスフィン(
PH3)によって燐(至)がドープされたSiO□によ
り覆われたものとなる。
この為、弾性表面波基板1の有する群遅延時間の温度特
性とかドープされた5i024の有する群遅延時間の温
度特性とが互いに相殺し、これにより群遅延時間温度特
性の向上をはかり得る。
この点、従来の二酸化シリコン膜では上記効果が全く期
待できない。
例えば上記実施例にて製造されたものの群遅延時間の温
度特注は5 /’C程度であり、従来20 ppm
/ ’Cであったものに比して格段に良好な特性を示す
しかも電気機械結合係数法測定周波数100MHzにお
いて1.4チと、5i024を装着しないものの0.8
%に比して向上している。
つ捷り電気機械結合係数の向上をも同時にはかり得る。
また二次的には、従来方法により製造されたものに比し
て弾性表面波用ウェハのそりを20%程度減少すること
ができ、そりの少ない均一なウェハを量産することが可
能となった。
また高周波スパッタを用いることがなく、同時に燐をド
ープした5i02’&被覆するのでその表面が非常に滑
らかとなり、所謂ひθ割れやS io2膜のはがれ等の
不慮の事態を生じることがなくなる。
これは5iQ2を被覆しただけでは、その表面がポーラ
スな状態となるに対し一項ドープによる滑らかさが生じ
たことに起因する。
更には本方法において最も特徴的なことは製造処理時間
が非常に短いことである。
即ち従来の高周波スパッタにより5i02膜を2μm程
程の厚さに形成するには40〜80時間をも要する。
これに対してCVDによれば2時間程度で2μm程度の
厚さのPSG膜を形成することができる。
これは基板10表面加熱と相俟ってPSGが容易に基板
1表面に堆積する為である。
従って、短時間にて製造工程を終了でき、量産性の向上
をはかり得、捷だPSGの成長速度が速く、その制御も
簡易である為に取り扱いが容易である。
以上説明したように本発明によれば群遅延時間温度特性
の向上と電気機械結合係数の増大をはかり得る等の利点
を奏する弾性表面波用ウエノ・をCVD法を有効利用し
て簡易な制御でしかも短時間で製造できると云う優れた
効果を発揮し、量産性に優れている等の利点を奏する。
伺、本発明は上記実施例にのみ限定されるものではなX
、)例えば各工程に要する処理時間等は設計仕様に応じ
て定めればよく、つまり電極の厚さ、PSG膜の厚さ等
は例えば2〜10μm程度と適宜定めればよい。
またCVDによる条件設定等も適宜定めればよいことは
勿論である。
更には基板1として圧電性のものを用いればよく、Li
NbO3単結晶等に対しても同様に適用できる。
要するに本発明方法は、その要旨を逸脱しない範囲で種
々変形して実施することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図a ”−’ gは本発明方法の一実施例を示す製
造1造を模式的に示した図、第2図は本方法により製造
された弾性表面波用クエハの一部切欠断面斜視図である
。 1・・弾性表面波基板、2・・・アルミニウム(電極用
)、3・・・電極、4・・・5iO2(PSG)、 5
・・・レジスト。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 弾性表面波基板上にシラン(SiH,)と酸素(0
    )との反応物を主成分とした熱化学反応生成物からなる
    燐(0を含む二酸化シリコンを化学蒸気堆積法により装
    着することを特徴とする弾性表面波用ウェハの製造方法
JP54040507A 1979-04-04 1979-04-04 弾性表面波用ウエハの製造方法 Expired JPS5946443B2 (ja)

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JPS55133118A JPS55133118A (en) 1980-10-16
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