JPS5951536A - パタ−ン認識方法及びその装置 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
0)6発明の技術分野
本発明はパターン認識の際の認識処理過程を改良したパ
ターン認識方法及びその装置に関する〇 (2)、技術の背景 従来から、パターンを認識し、その位置を検出する装置
が用いられる1つの分野として、半導体ICの組立てが
ある。そのような装置に用いられる技法としてパターン
マツチング法とパターン特徴抽出法とがあるが、これら
の技法には夫々、一長一短があって半導体ICの組立て
において用いられるパターン位置検出装置にそれらの技
法が個別的に用いられてもその装置は全自動ワイヤボン
ダにおける決定的な装置たシ得ず、なおその改善すべき
点があるのが実情である。
ターン認識方法及びその装置に関する〇 (2)、技術の背景 従来から、パターンを認識し、その位置を検出する装置
が用いられる1つの分野として、半導体ICの組立てが
ある。そのような装置に用いられる技法としてパターン
マツチング法とパターン特徴抽出法とがあるが、これら
の技法には夫々、一長一短があって半導体ICの組立て
において用いられるパターン位置検出装置にそれらの技
法が個別的に用いられてもその装置は全自動ワイヤボン
ダにおける決定的な装置たシ得ず、なおその改善すべき
点があるのが実情である。
(3)、従来技術と問題点
上述のパターンマツチング法はマスタザンプルから取り
込まれた基準パターンと被認識サンプルから取シ込まれ
た被認識パターンとの一次元乃至二次元的な対応から位
置検出をする方法であるが、基準パターンに対して被認
識パターンが回転した場合や、視野内にノイズが混入し
た場合にを」、位置を誤って検出してしまったシ、位置
検出の精度が悪くなる等の欠点を有する。
込まれた基準パターンと被認識サンプルから取シ込まれ
た被認識パターンとの一次元乃至二次元的な対応から位
置検出をする方法であるが、基準パターンに対して被認
識パターンが回転した場合や、視野内にノイズが混入し
た場合にを」、位置を誤って検出してしまったシ、位置
検出の精度が悪くなる等の欠点を有する。
又、パターン特徴抽出法はパターン特有の形状を検出す
る方法であるが、視野内にノイズが発生した場合には位
置を誤って検出した9、又多種のパターンを対象にした
場合には、所定の形状的特徴を有しないパターンの検出
が不可能になる等の欠点を有する。
る方法であるが、視野内にノイズが発生した場合には位
置を誤って検出した9、又多種のパターンを対象にした
場合には、所定の形状的特徴を有しないパターンの検出
が不可能になる等の欠点を有する。
(4)1発明の目的
本発明は上述したような従来技法の有する欠点に鑑みて
創案されたもので、その1つの目的は被認識パターンの
誤検出を防止しうるパターン認識方法及びその装置を提
供することにあり、そのもう1つの目的は被認識パター
ンの誤検出を防止すると共に処理時間の短縮化を達成し
うるパターン認識方法及びその装置を提供することにあ
る。
創案されたもので、その1つの目的は被認識パターンの
誤検出を防止しうるパターン認識方法及びその装置を提
供することにあり、そのもう1つの目的は被認識パター
ンの誤検出を防止すると共に処理時間の短縮化を達成し
うるパターン認識方法及びその装置を提供することにあ
る。
(5)1発明の構成
そして、これらの目的は画像パターンからこれにするめ
処理手段を介さず、又は介して得られ今部分画像パター
ンと基準パターンとの相関度を得、その相関度を突出度
検出手段で処理して突出度を得てこれら両データから被
認識パターンの認識出力を得るようにすることによって
達成される。
処理手段を介さず、又は介して得られ今部分画像パター
ンと基準パターンとの相関度を得、その相関度を突出度
検出手段で処理して突出度を得てこれら両データから被
認識パターンの認識出力を得るようにすることによって
達成される。
(6)0発明の実施例
以下、添付図面を参照しながら、本発明の詳細な説明す
る。
る。
第1図は本発明の一実施例を示す。1は仮−識試料又は
標準試料で、これは例えば、ICチップである。そのパ
ターンが第2゛図に示されている。このICチップパタ
ーンが撮像系例えはTV力メシ2によソて撮像される。
標準試料で、これは例えば、ICチップである。そのパ
ターンが第2゛図に示されている。このICチップパタ
ーンが撮像系例えはTV力メシ2によソて撮像される。
TVカメラ2の出力はクロック発生回路3の制御の下に
TVカメラドライバ4を介して2値化回路5へ接続され
る。
TVカメラドライバ4を介して2値化回路5へ接続され
る。
2値化回路5の出力はTVカメラ2と同期した記憶動作
をし、ICチップパターンの形態を保ってそれを記憶す
るフレームメモリ6へ接続されている。そのフレームメ
モリ6がら予め決められた切り出し領域(検出窓)が切
り出され、ぞれが′まるめ回路7へ供給されるが、その
領域内の被認識パターン領域を示すアドレスはクロック
発生回路3の制御の下にあるアドレスカウンタ8に生成
されるように構成されている。まるめ回路7はフレーム
メモリ6から切り出されたn X 11ビツトの領域内
のcxcビット(n)c )の小領域の各々を1ビツト
とする如き変換をする回路である。
をし、ICチップパターンの形態を保ってそれを記憶す
るフレームメモリ6へ接続されている。そのフレームメ
モリ6がら予め決められた切り出し領域(検出窓)が切
り出され、ぞれが′まるめ回路7へ供給されるが、その
領域内の被認識パターン領域を示すアドレスはクロック
発生回路3の制御の下にあるアドレスカウンタ8に生成
されるように構成されている。まるめ回路7はフレーム
メモリ6から切り出されたn X 11ビツトの領域内
のcxcビット(n)c )の小領域の各々を1ビツト
とする如き変換をする回路である。
まるめ回路7の出力はパターンメモリ回路9へ接続され
ている。回路9の出力はパターン相関演算回路lOの一
方の入力及び基準パターン格納回路11へ接続されてい
る。基準パターン格納回路11はパターンメモリ回路9
に入った基準パターンを複数基準パターンメモリ12へ
格納するように構成されている。父、基準パターン制御
回路13はメモリ12の基準パターンを基準パターンメ
モリ回路14へ読出してそこに記憶するように構成され
でいる。メモリ回路14の出力はパターン相関演算回路
1oの他方の入力へ接続されている。この回路10はク
ロック発生回路3からクロックを受けて動作するように
構成されている。
ている。回路9の出力はパターン相関演算回路lOの一
方の入力及び基準パターン格納回路11へ接続されてい
る。基準パターン格納回路11はパターンメモリ回路9
に入った基準パターンを複数基準パターンメモリ12へ
格納するように構成されている。父、基準パターン制御
回路13はメモリ12の基準パターンを基準パターンメ
モリ回路14へ読出してそこに記憶するように構成され
でいる。メモリ回路14の出力はパターン相関演算回路
1oの他方の入力へ接続されている。この回路10はク
ロック発生回路3からクロックを受けて動作するように
構成されている。
パターン相関演算回路10の出力は直接に加算回路15
の一方の人力へ接続されると共に、突出度検出回路16
を経て加算回路15の他方の入力へ接続されている。回
路10及び16は本発明の要部を構成するが、それらの
詳細は第3図に示されており、その説明は後述する。
の一方の人力へ接続されると共に、突出度検出回路16
を経て加算回路15の他方の入力へ接続されている。回
路10及び16は本発明の要部を構成するが、それらの
詳細は第3図に示されており、その説明は後述する。
加算回路15の出力は最大値データレジスタ17へ接続
されると共に、比較回路18の一方の入力へ接続されて
いる。比較回路18の他方の入力へはレジスタ17の出
力が接続されている。
されると共に、比較回路18の一方の入力へ接続されて
いる。比較回路18の他方の入力へはレジスタ17の出
力が接続されている。
比較回路18の出力はレジスタ17のロードトリガ入力
へ接続されると共に、アドレスカウンタ8に生成されつ
\あるアドレスのアドレスレジスタ19へのロードのた
めのトリガ入力へ接続されている。
へ接続されると共に、アドレスカウンタ8に生成されつ
\あるアドレスのアドレスレジスタ19へのロードのた
めのトリガ入力へ接続されている。
アドレスレジスタ19の出力は検出窓切り出し回路20
−1接続されている。回路20はアドレスレジスタ19
からのアドレスが指定する切り出し領域をフレームメモ
リ6から切り出してこれを中点検出回路21へ送るよう
に第4成されている。
−1接続されている。回路20はアドレスレジスタ19
からのアドレスが指定する切り出し領域をフレームメモ
リ6から切り出してこれを中点検出回路21へ送るよう
に第4成されている。
中点検出回路21の出力は図示しない制御回路へ接続さ
れ、その出力信号によって図示しないワイヤボンダにワ
イヤのボンディング動作を生じさ、(L゛る。
れ、その出力信号によって図示しないワイヤボンダにワ
イヤのボンディング動作を生じさ、(L゛る。
第3図において、22.23は夫々、基準)(ターンメ
モリ回路14及びパターンメモリ回路9へ接続されたn
ビットシフトレジスタである。
モリ回路14及びパターンメモリ回路9へ接続されたn
ビットシフトレジスタである。
これらレジスタ22.23の対応するビット出力は各別
の排他的1iiff理和回路24を弁して加算器25へ
接続さJしている。加算器25の出力値はデータレジス
タ26の値と加算器27で加算され、その加算11)I
ゲレジスタ26−\置くように$/J!成されている。
の排他的1iiff理和回路24を弁して加算器25へ
接続さJしている。加算器25の出力値はデータレジス
タ26の値と加算器27で加算され、その加算11)I
ゲレジスタ26−\置くように$/J!成されている。
データレジスタ26の値はメモリ制御回路28の制御の
下に2インメモリ29の所定の記憶場所に記憶されるよ
うに構成されている。
下に2インメモリ29の所定の記憶場所に記憶されるよ
うに構成されている。
ラインメモリ29の出力値はe個のレジスタを有するレ
ジスタ記憶部30内ヘシフトされながら供給されるよう
に構成されている。これらのレジスタ記憶部30のうち
の1・め決められた及び(e)の出力が減算器32へ接
続されている。
ジスタ記憶部30内ヘシフトされながら供給されるよう
に構成されている。これらのレジスタ記憶部30のうち
の1・め決められた及び(e)の出力が減算器32へ接
続されている。
減算器31及び32の出力値は加算器33で加算されて
加算器15の他方の入力へ供給されるように構成されて
いる。
加算器15の他方の入力へ供給されるように構成されて
いる。
次に、上述構成の本)ら明装置の動作を説明する0
先ず、標準サンプルlの表向パターンをTV左カメラに
よシ撮像し、その2次元2値化像(画像パターン)をフ
レームメモリ6に記憶し、次いでまるめ回路7を用いず
又は用いてパターンメモリ回路9を介してnXn1ビツ
トの基準パターンを基準パターン格納回路11の制御の
下に複数基準パターンメモリ12に格納する動作はまる
め回路7が介在させられて後述する如き作用効果の獲得
に効を奏することを除いて従来技法と変わるところはな
い。従って、これについてはそれ以上の説明を省略する
0 このような基準パターンの格納後、被認識サンプル1が
TV左カメラの視野内に持ち来たされてそのNXNビッ
ト画像パターンが上記と同様にしてフレームメモリ6に
記憶され、次いでまるめ回路7を用いず又は用いて被認
識ノ(ターン(nXmビット)を含む予め決められた窓
領域(この・領域は基準パターンを含む領域と同一幅サ
イズ(mビット)の行領域である。)がノくターンメモ
リ回路9に記憶される。この予め決められた窓領域は、
例えば第4図に示すように、画像パターンAの左上コー
ナから始する行領域で奈る。そして、この時点までには
、基準ノくターンメモリ制御回路13の制御の下にメモ
リ12 ′から基準パターンメモリ回路14へ基準パタ
ーンが読み出されて来て記憶されている。
よシ撮像し、その2次元2値化像(画像パターン)をフ
レームメモリ6に記憶し、次いでまるめ回路7を用いず
又は用いてパターンメモリ回路9を介してnXn1ビツ
トの基準パターンを基準パターン格納回路11の制御の
下に複数基準パターンメモリ12に格納する動作はまる
め回路7が介在させられて後述する如き作用効果の獲得
に効を奏することを除いて従来技法と変わるところはな
い。従って、これについてはそれ以上の説明を省略する
0 このような基準パターンの格納後、被認識サンプル1が
TV左カメラの視野内に持ち来たされてそのNXNビッ
ト画像パターンが上記と同様にしてフレームメモリ6に
記憶され、次いでまるめ回路7を用いず又は用いて被認
識ノ(ターン(nXmビット)を含む予め決められた窓
領域(この・領域は基準パターンを含む領域と同一幅サ
イズ(mビット)の行領域である。)がノくターンメモ
リ回路9に記憶される。この予め決められた窓領域は、
例えば第4図に示すように、画像パターンAの左上コー
ナから始する行領域で奈る。そして、この時点までには
、基準ノくターンメモリ制御回路13の制御の下にメモ
リ12 ′から基準パターンメモリ回路14へ基準パタ
ーンが読み出されて来て記憶されている。
このような準備の完了と共に本発明の特徴をなすその動
作が始する。これを概念的に云えば、第4図に示すよう
に、上述行領域を基準パターンに対し1ビツトずつ(こ
の1ビツトずつシフトされていく部分画像パターンの位
置を列という。)シフトさせてその各列における基準パ
ターンとのマツチングビット数が先ず、求められる。こ
れを第3図のパターン相関演算回路l。
作が始する。これを概念的に云えば、第4図に示すよう
に、上述行領域を基準パターンに対し1ビツトずつ(こ
の1ビツトずつシフトされていく部分画像パターンの位
置を列という。)シフトさせてその各列における基準パ
ターンとのマツチングビット数が先ず、求められる。こ
れを第3図のパターン相関演算回路l。
を用いて要約して説明すると次の通りである。
nビットシフトレジスタ22に基準パターンの第1行目
(nビット)が入れられ(第4図の(4−IB)参照)
、又nビットシフトレジスタ23に第1列目のnX1n
ビツト領域のN(1行目(nビット)が入れられる。こ
れら行内に存在するマツチングビットが排他的hmlm
l理路回路で求められ、その総数が加n器25で求めら
れる。この第1行目についてのマツチングビットの発生
時までにデータレジスタ26及びラインメモリ29の値
は零にクリアされている。従って、加算器25の出方値
は加H−器27、データレジスタ26を介して第1列目
に割当てられたラインメモリ29内の(29−1)へメ
モリ制御回路28の制御の下に記憶される。
(nビット)が入れられ(第4図の(4−IB)参照)
、又nビットシフトレジスタ23に第1列目のnX1n
ビツト領域のN(1行目(nビット)が入れられる。こ
れら行内に存在するマツチングビットが排他的hmlm
l理路回路で求められ、その総数が加n器25で求めら
れる。この第1行目についてのマツチングビットの発生
時までにデータレジスタ26及びラインメモリ29の値
は零にクリアされている。従って、加算器25の出方値
は加H−器27、データレジスタ26を介して第1列目
に割当てられたラインメモリ29内の(29−1)へメ
モリ制御回路28の制御の下に記憶される。
この動作はパターンメモリ回路9内の窓領域の第1行が
シフトレジスタ23へ1ビツトずつシフトされCいき(
第4図の(4−IA)参照)、その最終列、uljち第
(N−n)列目まで生ぜしめられる。その各列について
のマツチングビット数は第1列目と同様、ラインメモリ
29内の対応する記憶部29−2.・・−・・29−(
N−n)に記憶される。
シフトレジスタ23へ1ビツトずつシフトされCいき(
第4図の(4−IA)参照)、その最終列、uljち第
(N−n)列目まで生ぜしめられる。その各列について
のマツチングビット数は第1列目と同様、ラインメモリ
29内の対応する記憶部29−2.・・−・・29−(
N−n)に記憶される。
このようなマツチングビット数の算出がパターンメモリ
回路9に記憶されている窓領域の各行と基゛準パターン
メモリに記憶されている各行との間で求められっ\(第
4図の(4−2A)。
回路9に記憶されている窓領域の各行と基゛準パターン
メモリに記憶されている各行との間で求められっ\(第
4図の(4−2A)。
(4−2]目・・・・・・イ4−rnA)、(4−mu
)1照)、前の行にすいて求められたデータレジスタ2
6のマツチングビット数(各列)と加算器27で加算さ
れでレジスタ26ヘロードされると共にラインメモリ2
9の対応する記憶部に記憶される。
)1照)、前の行にすいて求められたデータレジスタ2
6のマツチングビット数(各列)と加算器27で加算さ
れでレジスタ26ヘロードされると共にラインメモリ2
9の対応する記憶部に記憶される。
そして、その最終行までに至ってラインメモリ29に記
憶されている各マツチングビット数がパターンメモリ回
路9に記憶されているnXmビットの領域と基準パター
ンとのマツチングビット数であり、これを時間軸上に展
開したのが第5図の(5−1)に示すマツチンググラフ
(相関度グラフ)である。
憶されている各マツチングビット数がパターンメモリ回
路9に記憶されているnXmビットの領域と基準パター
ンとのマツチングビット数であり、これを時間軸上に展
開したのが第5図の(5−1)に示すマツチンググラフ
(相関度グラフ)である。
これに続いて、ラインメモリ29の29−1から29−
(N−n)tでの値がメモリ制御回路28の制御の下に
遂次読み出され、レジスタ記憶部30のレジスタ(1)
からレジスタ(e)の方へJIL(次シフトされながら
ロードされていく。そのシフトの都度、減算器31でB
−Aなる減算をすると共に減算器32でC−Bなる減n
、をする。
(N−n)tでの値がメモリ制御回路28の制御の下に
遂次読み出され、レジスタ記憶部30のレジスタ(1)
からレジスタ(e)の方へJIL(次シフトされながら
ロードされていく。そのシフトの都度、減算器31でB
−Aなる減算をすると共に減算器32でC−Bなる減n
、をする。
たソし、Aはレジスタ(1)の値、Bはレジスタ−1
(2)の値、Cはレジスタ(e)の値である。
そして、減算器31及び32の出力値が加算器33で求
められる。加算器33の出力値が突出度Tを表わしてい
る。
められる。加算器33の出力値が突出度Tを表わしてい
る。
この突出度の算定の目的は上述したマツチンググラフか
らその波形の%徴的な突出波形(第5図の(5−2)#
照)を求めることにある。
らその波形の%徴的な突出波形(第5図の(5−2)#
照)を求めることにある。
その突出度をky員的に表わせば、
T=(y(A)−y(A−αN−(y(A+α) −y
(A))で表わされる(第6図参照)。但し、上式にお
いて、y<A)、 y(A−α)、7(A+α)は夫々
、第6図に示されるように、マツチンググラフLのピー
ク値、その両側にあるボトノ・値であシ、αはパターン
サイズで決められる定数である。このαは第3図のレジ
スタ記憶部30について云−1 えは、レジスタ(2)からレジスタ(1)又はレジスタ
(o)までの数を表わしている。
(A))で表わされる(第6図参照)。但し、上式にお
いて、y<A)、 y(A−α)、7(A+α)は夫々
、第6図に示されるように、マツチンググラフLのピー
ク値、その両側にあるボトノ・値であシ、αはパターン
サイズで決められる定数である。このαは第3図のレジ
スタ記憶部30について云−1 えは、レジスタ(2)からレジスタ(1)又はレジスタ
(o)までの数を表わしている。
このようにして、突出U T kJ、上述のシフトの度
毎に求められていく。その突出度を時間軸上に展開した
のが第5図の(5−2)である。
毎に求められていく。その突出度を時間軸上に展開した
のが第5図の(5−2)である。
上述のようにして、順次に發−出される相関度と突出度
とは加獅器15で合d1される。その波形を第5図の(
5−3)に示″joこの図から判るように、そのピーク
値が強調されている。従って、被/#g識パターンの誤
検出の防止に役立つ。
とは加獅器15で合d1される。その波形を第5図の(
5−3)に示″joこの図から判るように、そのピーク
値が強調されている。従って、被/#g識パターンの誤
検出の防止に役立つ。
加算器15の遂次の出力値tま初期的には、最大仏デー
タレジスタ17のプリセットデータと比較回路18で比
較される。もし加算器15の出力値がレジスタ17のデ
ータより大きいならば、加算器15の出力値でレジスタ
17の内容を更新すると共に、その時にアドレスカウン
タ8に生成されている被認識パターンのアドレスをアド
レスレジスタ19に入れる。
タレジスタ17のプリセットデータと比較回路18で比
較される。もし加算器15の出力値がレジスタ17のデ
ータより大きいならば、加算器15の出力値でレジスタ
17の内容を更新すると共に、その時にアドレスカウン
タ8に生成されている被認識パターンのアドレスをアド
レスレジスタ19に入れる。
上述したような各動作が各行領域につき生ぜしめられる
、つまり、フレームメモリ6に記憶された画像パターン
全域(視野全域)の処理が完了したときには、加勢、器
15の出力値、即ちマツチング突出度加算値が最も大き
くなった被認識パターン領域のアドレスがアドレスレジ
スタ19に入っている。
、つまり、フレームメモリ6に記憶された画像パターン
全域(視野全域)の処理が完了したときには、加勢、器
15の出力値、即ちマツチング突出度加算値が最も大き
くなった被認識パターン領域のアドレスがアドレスレジ
スタ19に入っている。
このアドレスに応答して、そのアドレスが指定する被認
識パターンを検出窓切り出し回路20で切9出し、これ
を中点検出回路21へ送ってその中心を求め、これをそ
のパターン位置データとする。これらの切り出し、中点
の検出は本発明の装部ではなく、その手段は公知のもの
、又は本発明者等によって既に提案されている手段(特
願昭55 187258号)を用いてもよい。
識パターンを検出窓切り出し回路20で切9出し、これ
を中点検出回路21へ送ってその中心を求め、これをそ
のパターン位置データとする。これらの切り出し、中点
の検出は本発明の装部ではなく、その手段は公知のもの
、又は本発明者等によって既に提案されている手段(特
願昭55 187258号)を用いてもよい。
上記パターン位置データは、例えばワイヤボンダのボン
ディング制御に供せられる。
ディング制御に供せられる。
上述実施例では、基準パターンの各行に対し被認識パタ
ーンを含む画像パターンの各行領域の各行をシフトさせ
ている例についで説明したが、逆にし又もよい。又、レ
ジスタ記憶部30の代りに、ラインメモリ29の出力を
レジスタ記憶部300機能と同等の磯1jヒを果すゲー
ト回路をブ1゛シで減算器31.32の谷人力へ供給す
るように4+′N成してもよい。
ーンを含む画像パターンの各行領域の各行をシフトさせ
ている例についで説明したが、逆にし又もよい。又、レ
ジスタ記憶部30の代りに、ラインメモリ29の出力を
レジスタ記憶部300機能と同等の磯1jヒを果すゲー
ト回路をブ1゛シで減算器31.32の谷人力へ供給す
るように4+′N成してもよい。
(7)1発明の効果
以」二述べlζように、本発明によれば、(り彼認ii
!&パターンの誤検出防止に役立たせつつ、 ■まるめ処理によシマッチング処理時間を1 /’ c
aに短縮出来る等の効果がf静られる。
!&パターンの誤検出防止に役立たせつつ、 ■まるめ処理によシマッチング処理時間を1 /’ c
aに短縮出来る等の効果がf静られる。
第1図は本発明の一実施例を示す図、第2図はICチッ
プパターンを示す図、第3図は第1図実施例の本発明′
要部4(!¥成の詳細図、掬(4図は相関度を求める過
程を説明するための図、第5図は相関度グラフ及び矢出
度グラフ、並びにこれら両者の加算グラフを示す図、第
6図は相関度グラフから突出度を求めるだめの説明図で
ある。 図中、1は試料、2はTVカメラ、4はTV左カメララ
イバ、5は2値化回路、6はフレームメモリ、7はまる
め回路、9はハターンメそり回路、14は基準パターン
メモリ回路、1oはパターン相関演A−回路、16は突
出度検出回路、15は加詩回路、17は最大値データレ
ジスタ、18は比較回路、8はアドレスカウンタ、19
はアドレスレジスタである。 特許出願人 富士通株式会社 第2図 第 3 図
プパターンを示す図、第3図は第1図実施例の本発明′
要部4(!¥成の詳細図、掬(4図は相関度を求める過
程を説明するための図、第5図は相関度グラフ及び矢出
度グラフ、並びにこれら両者の加算グラフを示す図、第
6図は相関度グラフから突出度を求めるだめの説明図で
ある。 図中、1は試料、2はTVカメラ、4はTV左カメララ
イバ、5は2値化回路、6はフレームメモリ、7はまる
め回路、9はハターンメそり回路、14は基準パターン
メモリ回路、1oはパターン相関演A−回路、16は突
出度検出回路、15は加詩回路、17は最大値データレ
ジスタ、18は比較回路、8はアドレスカウンタ、19
はアドレスレジスタである。 特許出願人 富士通株式会社 第2図 第 3 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)画像パターンを取シ込み、該画像パターンから部分
画像パターンを得てこれと予め用意しである基準パター
ンとの間のパターン相関度を求め、該パターン相関度か
ら突出度を求めてこれらパターン相関度と突出度との予
め決められた関係から上記画像パターン内の被認識パタ
ーンを認識することを特徴とするパターンg織方法−2
)画像パターンを取り込み、該画像パターンからまるめ
処理を施した部分画像パターンを得てその部分画像パタ
ーンと予め用意しである基準パターンとの間のパターン
相関度を求め、該パターン相関度から突出度を求めてこ
れらパターン相関度と突出度との予め決められた関係か
ら上記画像パターン内の被認識パターンを認識すること
を特徴とするパターンl+?!方法。 3)画像パターン入力系と、該画像パターン入力系から
の画像パターン信号を2値化する2値化回路と、該2値
化回路からの画像パターンを記憶する画像メモリと、該
画像パターンから部分画像パターンを得る部分画像パタ
ーン抽出回路と、基準画像パターンメモリと、上記部分
画像パターン抽出回路と上記基準画像パターンメモリと
へ接続されたパターン相関演算回路と、該パターン相関
演算回路の出力へ接続された突出度検出回路とを設け、
上記パターン相関演算回路及び突出度検出回路の出力信
号間の予め決め0 られた関係から上記画像パターン
内の被認識パターンな認識するように構成したことを特
徴とするパターン認識装置。 4)上記部分画像パターン抽出回路はまるめ処理回路、
を含んで構成された仁とを特徴とする特許請求の範囲第
3項記載のパターン認識共装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57160114A JPS5951536A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | パタ−ン認識方法及びその装置 |
| US06/531,563 US4651341A (en) | 1982-09-14 | 1983-09-13 | Pattern recognition apparatus and a pattern recognition method |
| DE8383305360T DE3379185D1 (en) | 1982-09-14 | 1983-09-13 | Pattern recognition method and apparatus |
| EP83305360A EP0106534B1 (en) | 1982-09-14 | 1983-09-13 | Pattern recognition method and apparatus |
| KR1019830004366A KR860000329B1 (ko) | 1982-09-14 | 1983-09-14 | 패턴 식별 장치 및 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57160114A JPS5951536A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | パタ−ン認識方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5951536A true JPS5951536A (ja) | 1984-03-26 |
| JPH0149993B2 JPH0149993B2 (ja) | 1989-10-26 |
Family
ID=15708156
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57160114A Granted JPS5951536A (ja) | 1982-09-14 | 1982-09-14 | パタ−ン認識方法及びその装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4651341A (ja) |
| EP (1) | EP0106534B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5951536A (ja) |
| KR (1) | KR860000329B1 (ja) |
| DE (1) | DE3379185D1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1991017613A1 (de) * | 1990-05-03 | 1991-11-14 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zum gewinnen eines elektrischen signals durch korrelation |
| JPH0613418A (ja) * | 1993-02-22 | 1994-01-21 | Sanken Electric Co Ltd | 画像認識方法 |
| JP2006288964A (ja) * | 2005-04-14 | 2006-10-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超音波診断装置 |
Families Citing this family (52)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2152658A (en) * | 1984-01-09 | 1985-08-07 | Philips Electronic Associated | Object sorting system |
| JPS60235136A (ja) * | 1984-05-09 | 1985-11-21 | Kyodo Printing Co Ltd | 検版方法 |
| DE3427981A1 (de) * | 1984-07-28 | 1986-02-06 | Telefunken electronic GmbH, 7100 Heilbronn | Verfahren zur fehlererkennung an definierten strukturen |
| JPS6193962A (ja) * | 1984-10-15 | 1986-05-12 | Anritsu Corp | パタ−ントリガ付オシロスコ−プ |
| WO1986003866A1 (en) * | 1984-12-14 | 1986-07-03 | Sten Hugo Nils Ahlbom | Image processing device |
| NL8500172A (nl) * | 1985-01-23 | 1986-08-18 | Philips Nv | Beeldverwerkingsinrichting voor het op echte-tijd basis bewerken en herkennen van tweedimensionale beelden, en beeldverwerkingssysteem bevattende tenminste twee in serie verbondene van zulke beeldverwerkingsinrichtingen. |
| JP2602201B2 (ja) * | 1985-04-12 | 1997-04-23 | 株式会社日立製作所 | 被検査パターンの欠陥検査方法 |
| JPS6234281A (ja) * | 1985-08-08 | 1987-02-14 | Fanuc Ltd | 画像処理装置 |
| JPS6242277A (ja) * | 1985-08-19 | 1987-02-24 | Fanuc Ltd | 画像処理装置 |
| US5163101A (en) * | 1985-10-07 | 1992-11-10 | Schlumberger Technologies, Inc. | Bitplane area correlator |
| US4907287A (en) * | 1985-10-16 | 1990-03-06 | Hitachi, Ltd. | Image correction system for scanning electron microscope |
| US4789934A (en) * | 1986-01-21 | 1988-12-06 | International Business Machines Corporation | Signature verification algorithm |
| US4771468A (en) * | 1986-04-17 | 1988-09-13 | International Business Machines Corporation | System for automatic inspection of periodic patterns |
| US4805123B1 (en) * | 1986-07-14 | 1998-10-13 | Kla Instr Corp | Automatic photomask and reticle inspection method and apparatus including improved defect detector and alignment sub-systems |
| JPS6362242A (ja) * | 1986-09-02 | 1988-03-18 | Toshiba Corp | ワイヤボンディング装置 |
| US4837848A (en) * | 1987-03-27 | 1989-06-06 | Netexpress Systems, Inc. | Apparatus for selecting a reference line for image data compression |
| ATE102424T1 (de) * | 1987-09-30 | 1994-03-15 | Thomson Brandt Gmbh | Verfahren und schaltungsanordnung zur erkennung eines in einem video-signal enthaltenen signums. |
| JPH0737892B2 (ja) * | 1988-01-12 | 1995-04-26 | 大日本スクリーン製造株式会社 | パターン欠陥検査方法 |
| US5295198A (en) * | 1988-10-14 | 1994-03-15 | Harris Corporation | Pattern identification by analysis of digital words |
| DE3924989A1 (de) * | 1989-07-28 | 1991-02-07 | Roland Man Druckmasch | Vorrichtung zur durchfuehrung einer umfassenden qualitaetskontrolle an druckbogen |
| FR2659817B1 (fr) * | 1990-03-13 | 1992-05-29 | Thomson Csf | Dispositif de reconnaissance de sequences dans un signal multidimensionnel. |
| US5054094A (en) * | 1990-05-07 | 1991-10-01 | Eastman Kodak Company | Rotationally impervious feature extraction for optical character recognition |
| US5086477A (en) * | 1990-08-07 | 1992-02-04 | Northwest Technology Corp. | Automated system for extracting design and layout information from an integrated circuit |
| KR960007481B1 (ko) * | 1991-05-27 | 1996-06-03 | 가부시끼가이샤 히다찌세이사꾸쇼 | 패턴검사방법 및 장치 |
| US5359670A (en) * | 1993-03-26 | 1994-10-25 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Method for identifying a signal containing symmetry in the presence of noise |
| FR2706721B1 (fr) * | 1993-06-11 | 1995-08-18 | Aerospatiale | Procédé et dispositif pour déterminer la localisation d'une cible. |
| US5495537A (en) * | 1994-06-01 | 1996-02-27 | Cognex Corporation | Methods and apparatus for machine vision template matching of images predominantly having generally diagonal and elongate features |
| US5627915A (en) * | 1995-01-31 | 1997-05-06 | Princeton Video Image, Inc. | Pattern recognition system employing unlike templates to detect objects having distinctive features in a video field |
| US5982931A (en) * | 1995-06-07 | 1999-11-09 | Ishimaru; Mikio | Apparatus and method for the manipulation of image containing documents |
| US5809171A (en) * | 1996-01-05 | 1998-09-15 | Mcdonnell Douglas Corporation | Image processing method and apparatus for correlating a test image with a template |
| US5835634A (en) * | 1996-05-31 | 1998-11-10 | Adobe Systems Incorporated | Bitmap comparison apparatus and method using an outline mask and differently weighted bits |
| US6005985A (en) * | 1997-07-29 | 1999-12-21 | Lockheed Martin Corporation | Post-processing system for optical correlators |
| US6185316B1 (en) | 1997-11-12 | 2001-02-06 | Unisys Corporation | Self-authentication apparatus and method |
| US6154567A (en) * | 1998-07-01 | 2000-11-28 | Cognex Corporation | Pattern similarity metric for image search, registration, and comparison |
| US7016539B1 (en) | 1998-07-13 | 2006-03-21 | Cognex Corporation | Method for fast, robust, multi-dimensional pattern recognition |
| JP2002190021A (ja) * | 2000-12-22 | 2002-07-05 | Shinkawa Ltd | 位置検出装置および方法 |
| US8588511B2 (en) * | 2002-05-22 | 2013-11-19 | Cognex Corporation | Method and apparatus for automatic measurement of pad geometry and inspection thereof |
| US8081820B2 (en) | 2003-07-22 | 2011-12-20 | Cognex Technology And Investment Corporation | Method for partitioning a pattern into optimized sub-patterns |
| US7613316B2 (en) * | 2003-07-22 | 2009-11-03 | L-3 Communications Security and Detection Systems Inc. | Methods and apparatus for detecting objects in baggage |
| US7190834B2 (en) * | 2003-07-22 | 2007-03-13 | Cognex Technology And Investment Corporation | Methods for finding and characterizing a deformed pattern in an image |
| US7243165B2 (en) * | 2004-01-14 | 2007-07-10 | International Business Machines Corporation | Parallel pattern detection engine |
| US20050276514A1 (en) * | 2004-06-14 | 2005-12-15 | Fisher Paul A | Image monitoring method and system |
| US8437502B1 (en) | 2004-09-25 | 2013-05-07 | Cognex Technology And Investment Corporation | General pose refinement and tracking tool |
| US20060147707A1 (en) * | 2004-12-30 | 2006-07-06 | Jian Meng | Compacted, chopped fiber glass strands |
| US7583833B2 (en) * | 2006-01-27 | 2009-09-01 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method and apparatus for manufacturing data indexing |
| KR101133130B1 (ko) * | 2006-03-28 | 2012-04-06 | 삼성테크윈 주식회사 | 기준 본드 패드들을 이용한 본딩 좌표 보정 방법 |
| JP4981410B2 (ja) * | 2006-10-31 | 2012-07-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 走査型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡を用いたパターンの複合検査方法、および走査型電子顕微鏡の制御装置 |
| KR101136708B1 (ko) * | 2007-03-13 | 2012-04-19 | 쿨리케 앤드 소파 인더스트리즈, 인코포레이티드 | 와이어 본딩을 위한 아이포인트의 티칭 방법과 관련 반도체프로세싱 동작 |
| US8103085B1 (en) | 2007-09-25 | 2012-01-24 | Cognex Corporation | System and method for detecting flaws in objects using machine vision |
| US8204338B2 (en) * | 2008-02-14 | 2012-06-19 | Microsoft Corporation | Factoring repeated content within and among images |
| US9679224B2 (en) | 2013-06-28 | 2017-06-13 | Cognex Corporation | Semi-supervised method for training multiple pattern recognition and registration tool models |
| KR102214028B1 (ko) | 2014-09-22 | 2021-02-09 | 삼성전자주식회사 | 가변구조형 스케일러를 포함하는 애플리케이션 프로세서와 이를 포함하는 장치들 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3614736A (en) * | 1968-05-21 | 1971-10-19 | Ibm | Pattern recognition apparatus and methods invariant to translation, scale change and rotation |
| JPS5273747A (en) * | 1975-12-17 | 1977-06-21 | Hitachi Ltd | Image processing device |
| JPS5839357B2 (ja) * | 1976-01-26 | 1983-08-29 | 株式会社日立製作所 | パタ−ンの位置検出方法 |
| DE2628358A1 (de) * | 1976-06-24 | 1977-12-29 | Siemens Ag | Anordnung zum automatischen erkennen eines musters, insbesondere zur lageerkennung eines bildmusters |
| JPS5313840A (en) * | 1976-07-23 | 1978-02-07 | Hitachi Ltd | Analogy calculator |
| US4200861A (en) * | 1978-09-01 | 1980-04-29 | View Engineering, Inc. | Pattern recognition apparatus and method |
| JPS5923467B2 (ja) * | 1979-04-16 | 1984-06-02 | 株式会社日立製作所 | 位置検出方法 |
| DE3175773D1 (en) * | 1980-06-10 | 1987-02-05 | Fujitsu Ltd | Pattern position recognition apparatus |
-
1982
- 1982-09-14 JP JP57160114A patent/JPS5951536A/ja active Granted
-
1983
- 1983-09-13 US US06/531,563 patent/US4651341A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-09-13 DE DE8383305360T patent/DE3379185D1/de not_active Expired
- 1983-09-13 EP EP83305360A patent/EP0106534B1/en not_active Expired
- 1983-09-14 KR KR1019830004366A patent/KR860000329B1/ko not_active Expired
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1991017613A1 (de) * | 1990-05-03 | 1991-11-14 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zum gewinnen eines elektrischen signals durch korrelation |
| JPH0613418A (ja) * | 1993-02-22 | 1994-01-21 | Sanken Electric Co Ltd | 画像認識方法 |
| JP2006288964A (ja) * | 2005-04-14 | 2006-10-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超音波診断装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0149993B2 (ja) | 1989-10-26 |
| US4651341A (en) | 1987-03-17 |
| EP0106534A3 (en) | 1986-06-18 |
| EP0106534B1 (en) | 1989-02-08 |
| EP0106534A2 (en) | 1984-04-25 |
| DE3379185D1 (en) | 1989-03-16 |
| KR860000329B1 (ko) | 1986-04-09 |
| KR840005917A (ko) | 1984-11-19 |
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