JPS5954628A - 酸化鉄薄膜の製造方法 - Google Patents
酸化鉄薄膜の製造方法Info
- Publication number
- JPS5954628A JPS5954628A JP57165816A JP16581682A JPS5954628A JP S5954628 A JPS5954628 A JP S5954628A JP 57165816 A JP57165816 A JP 57165816A JP 16581682 A JP16581682 A JP 16581682A JP S5954628 A JPS5954628 A JP S5954628A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sputtering
- substrate
- iron oxide
- film
- iron
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Compounds Of Iron (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、スパッタ法による薄膜形成技術を用いて、基
板上に鉄の酸化物からなる薄膜を形成する方法に関する
ものである。
板上に鉄の酸化物からなる薄膜を形成する方法に関する
ものである。
従来1タリの構成と問題点
従来、鉄の酸化物iつ膜は以下のような方法で作られて
いた。
いた。
(1)CVD法によりα・F”、61203膜を基板上
に形成し、これを還元してFe3O4を、さも(・で酸
化させてγ・F e 203膜とする方法。
に形成し、これを還元してFe3O4を、さも(・で酸
化させてγ・F e 203膜とする方法。
(2) Aニー空蒸着法により1. Fe 6るいは
F e 、304を原料として、FeあるいはFe3O
4の膜を形成し、酸化あるいは還元などをおこないam
’Fe OFe O,7*Fe2O3などの膜とず
2.3+34 る方法。 ・ (3) スパッタ法を用い、ターゲソ1−KFe、i
たはk e 304を用いてFe、またはFe5Q4膜
を形成したのち、酸化、還元処理をして、Fe3O4゜
γ・Fe2O3なる膜とする方法。 ・しかしな
がらこれらの方法では、出発原石に鉄を用い、低次の酸
化鉄であるF e 304 、lベルトライド、γ・F
e2O3膜を直接形成することがてきなかったり、ある
いは形成条件の範囲が非常に狭く難かしかった。また酸
素ガスを含むアルゴンガスの雰囲気中で、鉄ターゲ・ノ
ドを用いてスパッタする方法で、基板上に直接F =
3’04なる低次の1漠を形成することができるが、そ
の形成榮件幻、やe」、す非常に狭く、安定して膜形成
できない。
F e 、304を原料として、FeあるいはFe3O
4の膜を形成し、酸化あるいは還元などをおこないam
’Fe OFe O,7*Fe2O3などの膜とず
2.3+34 る方法。 ・ (3) スパッタ法を用い、ターゲソ1−KFe、i
たはk e 304を用いてFe、またはFe5Q4膜
を形成したのち、酸化、還元処理をして、Fe3O4゜
γ・Fe2O3なる膜とする方法。 ・しかしな
がらこれらの方法では、出発原石に鉄を用い、低次の酸
化鉄であるF e 304 、lベルトライド、γ・F
e2O3膜を直接形成することがてきなかったり、ある
いは形成条件の範囲が非常に狭く難かしかった。また酸
素ガスを含むアルゴンガスの雰囲気中で、鉄ターゲ・ノ
ドを用いてスパッタする方法で、基板上に直接F =
3’04なる低次の1漠を形成することができるが、そ
の形成榮件幻、やe」、す非常に狭く、安定して膜形成
できない。
このように低次の膜を形成する条件が狭く安定 。
てないのは、スパッタ時に発生ずる熱電子、輻射熱に」
ニリ、基板表部に着膜する鉄の酸化反′Lニーが、憾峻
□で、容易((α・F e 2になってしまうことに起
因しでいる。この低次の岬化鉄114jを直接形成する
カfと1−で、スパッタ時に発生する熱電子が基板tk
i K入射するのを・(へ力さけ、基板上に飛来し/ζ
鉄のスパッタ粒チの酸化反応をおそくするという方法が
ある。)この場合、鉄のスパッタ粒イの酸化反応d1、
水誓気を用いておこなってい倉。このスパッタ法C:1
1.1.If1伯\、対向ターゲット方式のスバ、り方
法と占われている装置を用いておこなわれ、スパッタを
時に、/ことえば1O−2Torr 稈度の水蒸気を貞
ごと槽内へ導入し、酸化反応させて、基板上に鉄の酸化
膜を形成させる。低次の鉄の酸化膜は、スパッタ条件、
/ことえばスパッタ電圧を変えるととK 、J:り形成
でき、Fe3O4,ベルトライ1−2r −Fe203
.a−Fe203の各膜がイ4Iられる。
ニリ、基板表部に着膜する鉄の酸化反′Lニーが、憾峻
□で、容易((α・F e 2になってしまうことに起
因しでいる。この低次の岬化鉄114jを直接形成する
カfと1−で、スパッタ時に発生する熱電子が基板tk
i K入射するのを・(へ力さけ、基板上に飛来し/ζ
鉄のスパッタ粒チの酸化反応をおそくするという方法が
ある。)この場合、鉄のスパッタ粒イの酸化反応d1、
水誓気を用いておこなってい倉。このスパッタ法C:1
1.1.If1伯\、対向ターゲット方式のスバ、り方
法と占われている装置を用いておこなわれ、スパッタを
時に、/ことえば1O−2Torr 稈度の水蒸気を貞
ごと槽内へ導入し、酸化反応させて、基板上に鉄の酸化
膜を形成させる。低次の鉄の酸化膜は、スパッタ条件、
/ことえばスパッタ電圧を変えるととK 、J:り形成
でき、Fe3O4,ベルトライ1−2r −Fe203
.a−Fe203の各膜がイ4Iられる。
このように対向ターゲット方式のスパッタ法においては
、水蒸気をスパッタ時に導入することにより、鉄をター
ゲットとして、低次の酸化鉄膜をイ(Jることができる
が、水蒸気と鉄の反応性スパッタ□でも酸イし反応は速
度が比較的はやく製造条件を安定にして低次の酸イL鋏
膜を得るには十分でないQ″苑とえば、・バ・り電圧を
変えて低次の酸化鉄膜を得た時、各酸化鉄膜の得られる
スパック電圧の範囲の1例を第1図に示した。すなわち
、第1図のaは!Z e、 F e 203のできるス
パッタ電圧の範囲、bは7′・Fe2Q3のできるスパ
ック電圧の範囲、Cはベルトライドのできるスパッタ電
月−の範囲、dはFe3O4のできるスパッタ電圧の範
囲である。
、水蒸気をスパッタ時に導入することにより、鉄をター
ゲットとして、低次の酸化鉄膜をイ(Jることができる
が、水蒸気と鉄の反応性スパッタ□でも酸イし反応は速
度が比較的はやく製造条件を安定にして低次の酸イL鋏
膜を得るには十分でないQ″苑とえば、・バ・り電圧を
変えて低次の酸化鉄膜を得た時、各酸化鉄膜の得られる
スパック電圧の範囲の1例を第1図に示した。すなわち
、第1図のaは!Z e、 F e 203のできるス
パッタ電圧の範囲、bは7′・Fe2Q3のできるスパ
ック電圧の範囲、Cはベルトライドのできるスパッタ電
月−の範囲、dはFe3O4のできるスパッタ電圧の範
囲である。
b、cのγ−Fe203.ベルトライドのできるスパッ
タ電圧の範囲は約20ボルトl’f=度と形成条件の範
囲が狭く、制御に精度を必要とする。
タ電圧の範囲は約20ボルトl’f=度と形成条件の範
囲が狭く、制御に精度を必要とする。
発明の目的
本発明11以上のような問題点を解消し酸化反応速度を
おそくして、スパック電圧の制御範囲、ずなわち、γ・
Fe2o3膜、ベルトライド膜を形成するスパッタ電圧
の制御範囲を広くシ、安定して信頼性」:り酸化鉄膜を
形成することを目的とするものである。
おそくして、スパック電圧の制御範囲、ずなわち、γ・
Fe2o3膜、ベルトライド膜を形成するスパッタ電圧
の制御範囲を広くシ、安定して信頼性」:り酸化鉄膜を
形成することを目的とするものである。
発IJJの414゛成
本発明に1、鉄スパッタ粒子との酸化反応用モして水蒸
気を用いず、アルコールの透気を用いることを・牛r敞
とする。
気を用いず、アルコールの透気を用いることを・牛r敞
とする。
不発明に用いるアルコールの44i M Its2、C
H30H。
H30H。
CH3CH20f(、CI(3(CH2)20Hである
が、これCDのスパッタ?tl; I:Eの制御範囲へ
の影響は、水蒸気を用いた時の20ボルト程度に対し、
5Qボルト、(−!亀となり制御ii11.、やすくな
る。また上Lアルコールの神頼の差に1、有意差がみら
れず、同稈度に効果があった。
が、これCDのスパッタ?tl; I:Eの制御範囲へ
の影響は、水蒸気を用いた時の20ボルト程度に対し、
5Qボルト、(−!亀となり制御ii11.、やすくな
る。また上Lアルコールの神頼の差に1、有意差がみら
れず、同稈度に効果があった。
実施例
以1゛本発明の、一実施例を詳細に説明する。
く 実り包例1 ン・
1′t?と槽内Vこ2ケの鉄のターゲットを向い合せに
配置してなるχ・J向ターゲット方式のスパッタ装置を
用い、ターゲットのザイズをIAAl10 cm 、)
qみ6 +nmとし、タルゲット間距h11を5 cm
とした。
配置してなるχ・J向ターゲット方式のスパッタ装置を
用い、ターゲットのザイズをIAAl10 cm 、)
qみ6 +nmとし、タルゲット間距h11を5 cm
とした。
基板には、ガラス板を用い、2ケのターゲットの中ノし
・を結ぶ線より10cmはなれた中火部に、基板面がタ
ーゲットの中心線に平行で、ターグツl−1111に而
するように配置:した。
・を結ぶ線より10cmはなれた中火部に、基板面がタ
ーゲットの中心線に平行で、ターグツl−1111に而
するように配置:した。
つぎに、真空槽内のA空度を3 X 10−’ Tor
r 4、で4ジ1気したのぢ、3 X 10−Torr
、−Jでアルゴンガスを導入し、基板にシャッタをし、
2ケのターグツ]・間に直流スパック電圧を印加し、ス
パッタをおこないターゲット表面を苗浄し、た。スパッ
タ ”をIJ−めることなく、真’F−41!J
Kバブルを介してとりつけであるCH30Hを、A;
空槽内にCH30Hの蒸気として導入し、真空槽内の圧
力か5 、X 10−5Torr Kなるようにした。
r 4、で4ジ1気したのぢ、3 X 10−Torr
、−Jでアルゴンガスを導入し、基板にシャッタをし、
2ケのターグツ]・間に直流スパック電圧を印加し、ス
パッタをおこないターゲット表面を苗浄し、た。スパッ
タ ”をIJ−めることなく、真’F−41!J
Kバブルを介してとりつけであるCH30Hを、A;
空槽内にCH30Hの蒸気として導入し、真空槽内の圧
力か5 、X 10−5Torr Kなるようにした。
この状態で予備スパッタを30分間おこない、のち基板
のンヤッタを開け、ノ、(板トに厚み1./(mの膜を
形成′l−た。 □ 上記スパッタ電圧を変えて、イ81i々の欣を基板2に
に形成し、その膜の結晶横、4をX線回折により調べた
。その結果を第2図に示した。
のンヤッタを開け、ノ、(板トに厚み1./(mの膜を
形成′l−た。 □ 上記スパッタ電圧を変えて、イ81i々の欣を基板2に
に形成し、その膜の結晶横、4をX線回折により調べた
。その結果を第2図に示した。
γ−Fe203.ベルトライド
+:、、))るスパッタ′+[i、圧の範囲か、従来の
水蒸気を用いた鳴介、J、り広ぐ50ホルI・とft
−1)−’Cおり条件の1団開11がよりぞi:易にな
−/辷【)・′ 実/!雀1列2 ・ 実施1タリ1と同様の方法で、CH30Hの代りにCH
3(CL(2)OHの蒸気を用い、スバ、り′IL川を
変えて膜形成をおこな−〕/ξ0 ′ノコ流量1と同様Vこ膜の結晶構造とスパック?E月
−の関係を第3図に示す。この場合も実施例1と同作l
庚の結果がイj11らノ1/こ。
水蒸気を用いた鳴介、J、り広ぐ50ホルI・とft
−1)−’Cおり条件の1団開11がよりぞi:易にな
−/辷【)・′ 実/!雀1列2 ・ 実施1タリ1と同様の方法で、CH30Hの代りにCH
3(CL(2)OHの蒸気を用い、スバ、り′IL川を
変えて膜形成をおこな−〕/ξ0 ′ノコ流量1と同様Vこ膜の結晶構造とスパック?E月
−の関係を第3図に示す。この場合も実施例1と同作l
庚の結果がイj11らノ1/こ。
−実Mli例3.・
実施例1と同様な方法で、CH30Hの代りにCH3(
Cf′(2)20Hの蒸気を用いた。スバ、り時のガス
月I51、実施例1と同じ姓ニした。スパッタ電圧を変
えてノj(板1に11rmの厚みのj摸を形成し、その
結晶構造−(i調べ/こ。−ぞ゛の結果を第4図に示す
。
Cf′(2)20Hの蒸気を用いた。スバ、り時のガス
月I51、実施例1と同じ姓ニした。スパッタ電圧を変
えてノj(板1に11rmの厚みのj摸を形成し、その
結晶構造−(i調べ/こ。−ぞ゛の結果を第4図に示す
。
CIらI+、/こ幼;壮d実施例2と回稈度で、水蒸気
を用!/’1 テII’+r 形h’M、 L、fi
’)A合」二り、r−Fe203.ベルトライドの膜を
イ(fるスパッタ電圧の範囲?=1広く、安定し、゛C
容易シ(二条件名1ljll l1j1できた。
を用!/’1 テII’+r 形h’M、 L、fi
’)A合」二り、r−Fe203.ベルトライドの膜を
イ(fるスパッタ電圧の範囲?=1広く、安定し、゛C
容易シ(二条件名1ljll l1j1できた。
発明の効果
以上のように、本発明の方法をDJいること(lこより
鉄のターゲy hを用いスパッタ法にJニー、て低次の
酸化鉄膜を形成する場合、膜の形成条件の範囲を広く、
より安定化することができ、1」的の酸化鉄膜を形成す
ることができる。これらの膜、とくにγ−Fe203膜
、ベルトライド膜は磁気81シ録媒体として有用なもの
であり、丑たスパッタ法eこよる膜形成技術はより高密
度磁気記録媒体とする/こめの、連続膜化、さらには薄
膜化に非′Itに有用な膜形成法であって、本発明の実
用的効果UI1人である。
鉄のターゲy hを用いスパッタ法にJニー、て低次の
酸化鉄膜を形成する場合、膜の形成条件の範囲を広く、
より安定化することができ、1」的の酸化鉄膜を形成す
ることができる。これらの膜、とくにγ−Fe203膜
、ベルトライド膜は磁気81シ録媒体として有用なもの
であり、丑たスパッタ法eこよる膜形成技術はより高密
度磁気記録媒体とする/こめの、連続膜化、さらには薄
膜化に非′Itに有用な膜形成法であって、本発明の実
用的効果UI1人である。
第1図は従来の方法におけるスパッタ電圧を変オーて膜
形成した膜の結晶構造の変化の!:i囲を示J゛特性図
、@2図、第3図、第4図にJ、不発1,9Jの方法に
おけるスパッタ電圧を変えて膜形成した膜の結晶構造の
変化の範囲を示すq−v作例をzJeず図て、ちる、。 代理人の氏名 弁」!1]士 中 尾 敏 男 は〃)
1名、1ル l 図 スハ゛ツタV圧(V) 第 2 図 スパッタ電圧(V) 第3図 300 400 .500 スパッタ電圧(V) 第4図 3oo 4oθ 5θ0 スパッタ’If!If (V)
形成した膜の結晶構造の変化の!:i囲を示J゛特性図
、@2図、第3図、第4図にJ、不発1,9Jの方法に
おけるスパッタ電圧を変えて膜形成した膜の結晶構造の
変化の範囲を示すq−v作例をzJeず図て、ちる、。 代理人の氏名 弁」!1]士 中 尾 敏 男 は〃)
1名、1ル l 図 スハ゛ツタV圧(V) 第 2 図 スパッタ電圧(V) 第3図 300 400 .500 スパッタ電圧(V) 第4図 3oo 4oθ 5θ0 スパッタ’If!If (V)
Claims (2)
- (1) 鉄のターゲットを用い、アルコールの蒸気を
含むアルゴンガス中で、基板上に鉄の酸化膜をスパyり
法で形成することを特徴とする酸化鉄薄膜の製造方法。 - (2)使用するアルコールは、CH30H,C2H50
H。 CH3(CH2)20Hのいずれが1種類であることを
特徴上する彷¥+’、a?f求の範囲第1項記載の酸化
鉄薄膜の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57165816A JPS5954628A (ja) | 1982-09-22 | 1982-09-22 | 酸化鉄薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57165816A JPS5954628A (ja) | 1982-09-22 | 1982-09-22 | 酸化鉄薄膜の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5954628A true JPS5954628A (ja) | 1984-03-29 |
| JPH033613B2 JPH033613B2 (ja) | 1991-01-21 |
Family
ID=15819535
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57165816A Granted JPS5954628A (ja) | 1982-09-22 | 1982-09-22 | 酸化鉄薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5954628A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012144785A (ja) * | 2011-01-13 | 2012-08-02 | Central Research Institute Of Electric Power Industry | 多機能材及び多機能層を有する基体の製造方法 |
-
1982
- 1982-09-22 JP JP57165816A patent/JPS5954628A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012144785A (ja) * | 2011-01-13 | 2012-08-02 | Central Research Institute Of Electric Power Industry | 多機能材及び多機能層を有する基体の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH033613B2 (ja) | 1991-01-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Slaughter et al. | Fabrication of layered metallic systems for perpendicular resistance measurements | |
| US4003813A (en) | Method of making a magnetic oxide film with high coercive force | |
| US5232566A (en) | Underlayer doping in thin film magnetic recording media | |
| US4013534A (en) | Method of making a magnetic oxide film | |
| JPS62284076A (ja) | 薄膜形成方法および装置 | |
| KR19980702586A (ko) | 자기기록매체 및 그 제조방법 | |
| JPH0133924B2 (ja) | ||
| JPS6130017A (ja) | 酸化物垂直磁化薄膜の製造方法 | |
| JPS5877025A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
| KR900001141B1 (ko) | 자기 기록매체 및 그 제조방법 | |
| JPH033613B2 (ja) | ||
| JPS56165933A (en) | Production of magnetic recording body | |
| JPS60209918A (ja) | 金属薄膜型磁気記録媒体及びその製造法 | |
| JP2895971B2 (ja) | 光磁気記録媒体の作製方法 | |
| JPH0370290B2 (ja) | ||
| JPS6246971B2 (ja) | ||
| JPS60193123A (ja) | 垂直磁気記録媒体 | |
| JPS5850628A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
| JPH03212813A (ja) | 磁気記録媒体及びその製造方法 | |
| JPS5972655A (ja) | 磁気記録媒体の製造装置 | |
| JPS59203223A (ja) | 金属薄膜型磁気記録媒体 | |
| JPS5963027A (ja) | 磁気記録媒体およびその製造法 | |
| JPS6126938A (ja) | 垂直磁化記録媒体の製造方法 | |
| JPS6353255A (ja) | 炭素薄膜の形成方法 | |
| JPH0125144B2 (ja) |