JPS5954689A - 単結晶成長法 - Google Patents

単結晶成長法

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JPS5954689A
JPS5954689A JP15258783A JP15258783A JPS5954689A JP S5954689 A JPS5954689 A JP S5954689A JP 15258783 A JP15258783 A JP 15258783A JP 15258783 A JP15258783 A JP 15258783A JP S5954689 A JPS5954689 A JP S5954689A
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/002Crucibles or containers for supporting the melt
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B35/00Apparatus not otherwise provided for, specially adapted for the growth, production or after-treatment of single crystals or of a homogeneous polycrystalline material with defined structure
    • C30B35/002Crucibles or containers

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  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明&:j: 、外器の内部で溶融体が結晶材わとし
て溜置する一土で溶融体を容器内で冷却する過程を含み
、結晶成長技法により結晶拐料企成長さぜる過」〜′t
に関する。
半導体分野で近年>最も興味深く、1而業十屯要な開発
のひとつは、化合物半導体の正要件の増加と使用とであ
る。特に商業上重要なものは、QaAs 、  InP
 などσ月t、I−V族化合物半導体である。化合物半
導体は半導体し−99発光ダイオード、マイクロ波の発
振器と膳契1就器1.■・ならびに赤外線検出器および
白J視光検出器全含む種々の形の検出器などあらゆる4
九(イスに使用□さ端、ソいる。成る種、の化合物半導
体における電子の商い移iph度はシリコン商略に比べ
てアクセス時間の減少f 可能にするものであるため、
特に近年、種々の化合物半導体がメモリならびに論理回
路用に検討されつつある。
種々の化合物半導体にd2、例えばG a、 P、In
”P’ −、”、BIP 、’ ”:AIP 、、Ga
A’s :、  InAe 。
AどAs X#Sb 、、 GaSb 1”I’nSb
、InB1などが知られて似る。これらの多くは高移動
度と低実効質量とのような、きわめて魅力的な性質を有
jる□ものである。
1117V族な、らびにIII −Vl族の化合物ケ含
む、これらの化合物半導体の多く會扱う場合の主な問題
点のひとつば、大きな、高純度、商品′1′]の結晶の
生産が困M’f+t、な点、にある。デバイスに使用す
るに適した結晶k (!)るに際した困θ血性ケ;L多
くの場合、よシ揮発性の高い成分への解1.“ml: 
’i伴って’、、、’、11点で化合物半導・体:が分
解することに関連している。斯くして、より揮発性の高
い成分がdI融体のなかで化学量論的々組成全1呆持し
ているような圧、力のもとで、これらの結晶の成長を行
なわなければならない。
圧カドで化合物半導体の成、分のうちの成るものを・1
史つC1成る種の閉じた系を作らなければならないと1
−)゛う要求を生ずることが多い。
に配本・i・tf性によりさらに悪化さ1れていること
が多い別の困・1j11性は、組成元素の多くの極端な
反応性にある。例えば、’ 41に高温1度では、アル
ミニウム、砒素、ならびに燐は高い反応性愛イ」する。
斯かる反応性があると、特殊なるつぼを使用する必安住
があり、特にこれらの反応性が+r’rjい元素との反
応を抑止するように特殊な成分を1史用する心安性があ
る。斯かる反応性があると、結晶内に不要な不+711
!物が入り半導体化合物の有用性全制限することが多く
、成長した結晶の不合検相が高くなることも多い。さら
に、特殊な産業上の」、要件がある、いくつかの化合物
半導体のなかには、高い融点を有するものがある。それ
自身でCよ、これは大した問題点では庁いが、」−記2
つの問題点に連結すると可なすな困Ml#性ケ招くこと
が多い。他の重大な問題点は、これらの半導体化合物が
凝固に際して膨張することに起因するものである6凝固
に際して生うる斯かる膨張はきびしいひずみと、テハイ
ス応用において品質と有用性とを低下さbる結晶の転位
とを招くことが多い。成長の問題と、結晶状化合ノ吻半
導体を作るのに使われる成長技法との多くは、ニューヨ
ークのジョン ウイリ・アンド・サンズ社(Johri
 Wiley and 5ons)によって1963年
に出版され、ジエー・シ工−・ジルマン< J、  J
、 Gilman )によって編集されたゝゝ結晶成長
法とその科学tr (Tli”cArt and 5c
ience of Growing Crystals
 )と題する文献の第191乙第3817397ペーシ
にエル・アール・ワイスハーク(L、LWcisbor
g )  により讐括されている7、。
示威:’(1¥諌や鍾りの結晶引上げ法全含む種々の技
法が結晶状化合物゛1′−導体を作るのに使用ン゛夕れ
てべた。こJl、もの技法の−riB e rj、、ニ
ューヨークのバー力モンプレス社(Pe、rgamon
r)ress ) によって出版され、ブリアン・アー
ル・パムブリン(Br1an R,Pamplin )
によって編集された11帖品成長“(CryStal 
Growth)と題する文献の第57’、rにヒー・、
ニー・、ジ甲イof  Single Crystal
S of 、GaAq  in  13jlk and
’r”L+in F’i 1m Ii”or+n )と
HJI:4 L/で5.r訓に論しられている。この文
献で!11に著名なもの&:]:液体旧人に、する成長
である。この方法においてケ、j1、溶1融体&:I:
完7i″:に不活性液で荀われでいる。不活性液に4−
1必1本を1刈う不l占1(10ガスのイ史用によりi
t’、 Lい位1’l(に保たれている。不粘性カスの
圧力+−j二3.溶融体のな、かのより11]!発性の
イクきい成分の解離圧力に打ち勝つ、ように、十分に高
く保持されている。
多くの、′一体成分0産〜:a−+・の重要性ゆえ“・
低欠陥密度と低ひず士と含:有する1、これらの化合、
物事導体の高j兄質、高純度なホI4品全成長させるた
めの高信頼で、’+Ii 、UL il+のある迅速な
過程衾具(+iiiすることはきわめて望外しいことで
ある。  、、。
本発明は、容器のなかで溶融体が結晶拐4′:[として
、凝固する一イで容器内、での、溶融体の冷却を含み、
結晶、成長技法に」:り結晶4/l’ ;t”I全生長
させるプロ、セスを具備し、結+f+’+ ’B(”I
□1と、′rt器との間での粘着ケ防ぐため、、、溶、
 %i)1体と容器上の間に物質全挿入しておくもので
ある。 。
この;J程にJ: 、’:′・i々の結晶成長技法にj
1゛4川され、これらの技法0,1、すべて、溶融体が
容器内に保持され、でいるときに温度勾配による溶tr
i!体の凝固を、含むものである。舗殊な結晶成長技法
は水平ブリッジマン(Bridgrnan )  技法
ト、水下傾斜凝固(gyadient fyeeze 
)技法と、1(h直ブリッジマン技法とに含むものであ
る。
物l′1、すなわち、ここで封入物1pfとして言及さ
れている・ものの選択は、成長されている化合物と、化
合物の反応性と、化合物の元素、ならびQこ結晶の成長
温度とに依存する。封入物’l’、r +−,を結晶成
長過・1h:に含−まれる化学・物Jりに対して化学的
に不活性であることが望外しく、成長している化合物と
化合物の元素・との両方に溶)θf1できないもので・
あることが望外しい。
JJz長過程において使用される温度に・おいては/1
ダ相であり、成長している結晶の溶融点以下でtt、f
、凝固するものでなければならない。典型的な実1ダ]
O;11、ガリウム砒素の結晶を成長さぜるための水ゝ
1′ブリッジマン技法における無水酸化ホウ素の使用で
ある。半導体化合物と存は)との間の十]人l吻質t、
J:、容器からの不嗜ロ′吻孕最小にとどめると共に低
欠陥密度染低O・ずみとを保証するものでもある。また
、封入物質ヲ使用すれば、通常は化合物半導体、あるい
はその元素との反応性、ゆ□えにg止されている容器利
:料を使用することもできる。
本発萌の実施例について、図面を参照にして詳i、11
1に説明する。
多数の結晶(元素と化合′物)は絶縁性結晶と半導体結
晶とを含与、本発明による過程によって成長できよう。
特に産業」二重夛々ものは半導体結晶であ秋、特に半導
体化合物の結晶である。典型的な実例はGa、P 、’
InP、 ”BP、A/!P% ’ GaAs、 Ir
i’As X’  AlAg 、 #Sb 、” Ga
Sb11nSb、InB1 、C’dTe ’、ならび
にCd S e  などのような■、tt −’ v族
、ならびに1l−VI族の化合物半導体である。  □ 多数の相料が封入物質として使用できる。
ひとつ以□」二の物質かつ封入物タイ1として使用でき
、これらの側人物質は融点と、粘度と、表面張□力とを
調整するだめのものである。例えば、酸イbホウ素は種
りめ結晶q)’、半?yI体化合物の成iにおいて封入
物質:とじて有用である3、酸化ホウ素性500℃〜1
6σO℃のl!’li’1度範囲にお°いて滑部:して
いる結晶に対(−で、最も有用である。l[1′に、成
長している結°晶の融点がに記/1IIF1度範囲の中
央か、あるいれ下端にある揚台には、酸化ホウ素(一般
に低Th+’、i度を有する)の神々の性質を調整する
ためにJl1ハの物質全種々の7:11・だけ酸化ホウ
素に添加することができる。添加(物質Q」、化学的□
に不活性であると共に、成長し一〇いる化合物とそあ元
素とに溶14jlj不iiJ’能であることが71f?
!、シい。不活性でぐ」、ないか、あるいは溶融不可能
ではない場合にに12、封入I物質による半コ、・″ス
体化合′吻のよとわkl2、結晶状半導体化合物)’t
4j ’性(lP!r’ K、半導体(r、i’:性)
にrl’、[、′+;に6響に−Ljえるも廼であって
はならZtい。粘性4:低ドぜしめるための典型的な物
Ip(1,,11、タライ、オライドと呼ばれる弗化ナ
トリウム・アルミニウムNa5A/!F6  である。
酸化ホウ、’r: l:Jl、カリウム砒素とイレジウ
ム燐と孕成長させるのに、’I”fに有用である。小)
11:のドープJ11]とその池の添加剤とを使用する
ことができる。j1n常、ドープ削の濃度は1モルチよ
りもかなり低く、添加i’jll r;l:通常、はY
5モル襲よシもはるかに小さい。
図には、いくつかの成長技法が図示しである。第1図は
、成長用容器11とボード12または容器とを備えたブ
リッジマン装置10を示す図である。元素のひとつが蒸
発するのを防いで定常状態条件全保持しておくため、容
器11は半導体化合物の成長においてば」!1止られて
いることが多め。この装置においては、溶融採♀凝固さ
せるために心安々温j及勾配が1られるよりに、容器1
1に沿ってヒータ13を移動している。種結晶14に1
1、結晶の成長を開始させるために使用されている。。
封入物質15は、成長している結晶の溶融体とボードと
の間でボートに含゛まれでいる。
第2図は、容器21とホード22と火備えた同様な装置
20を示す図であり、ボートにおける温度企変えるため
にヒータ23を) ;tQ I。
て容器21を移!1IIlさせている。種結晶24に」
、特殊な結晶のグラフ表示における方位において、結晶
成長’j: IjiJ始させるために使用できるもので
ある。1与び、封入物質25は、成長している結晶の溶
融体とボートとの間でボートに含まれている。
第3図は、一般に温度傾斜装#30と呼ばれる池の形の
装置を示す図であシ、同図において、しばしば封入され
た容器32の内部に置かれている容器−またはボート3
1は、ヒータ33の内部に1八″6かれてい、る。ここ
で、容器32は動かないが、温度勾配は熱設計によシ実
現され、さらにヒータに供給されるエネルギン二減する
ことによって実現されている。ヒータは、ボートの長手
軸に沿って温度が変化するように設R1されており、一
般に温度は種結晶が11′イかれている一端から別の9
j61部へと進むにつれて増加する。全試料が溶融し、
ヒータへのエネルギが減ぜられ、るよ、うに温度をセッ
トーメーる。このようにして、溶融体は第1に、ボート
内の一点、すなわち種結晶をつけた端において凝固し、
ヒータに対するエネルギが減少するに伴ってボートに沿
って凝固し続けている。典型的には、ヒータは電気ヒー
タであυ、エネルギはヒータに対する電流、または電圧
を制御することにより制御されている。
再び、封入物質34は、ボートと成長している結晶の溶
融体との間で′ボートの内部に含まれている。
第1図ならびに第2図は、一般に水平ブリッジマン技法
に使用されている装at示す図である。第3図は、通常
、傾斜凝固技法に使用されている装置を示す図である。
他の結晶成長技法は、垂直方向に置いた同様な装置Hの
使用合金むものである。ボートよシも容器が溶融体を保
持するのに使用されることが多い。
これらの過程は垂直ブリッジマン技法、ならびに垂直勾
配式凝固技法と呼ばれることが多い。再び、容器は揮発
性成分が蒸発して消滅するのを防ぎ、安定な条件全保持
するために封止られることが多い。種結晶は、単結晶の
適当な成長全保証するために使用されることが多い。種
結晶は頂部か、あ、るいは底部から1史川できる。
垂直傾斜形凝固技法のひとつの特殊な変形1’+’、、
GaAsならびに同様な結晶の成長において大変興味あ
るものである。この技法において、溶融体はるつぼの中
に含″まれでいて、温度Cよ溶融体を凝固するように減
じている。再び、るつほと溶融体との間の封入物質は、
るつぼと1音訓体との間の相互作用を防ぎ、溶融体の凝
固の後にるつほから、結晶を容易に除去することが封入
物質によって確実にできる。
ノ[、!l−殊な結晶のグラフ表示の方向に成長を招く
ように、溶削1体は結晶で拙づけすることが多い。この
′410づけ操作は適切な方位の結晶を溶1・、411
体の項部に丑で下げることによって行なわ第1ることが
多い。
凝固した結晶な」1、一般に封入物質が凝固し、容易に
結晶全除去すること/バできないほど硬くなる前に、室
温より高い温度でるつほから取出さコ1.ることか多い
。例えばB2O3が使われる処では、結晶ははソロ50
′℃を越える温度で数倍される。結晶をηy出す温1度
□はクリティカルなものではなく、一般に成長している
結晶と封入物質とに依存する。成長してい□る結晶の凝
固温度よシ低い温度で□なければならないが、封入物質
が硬化して容器と結晶とに粘着する温度より高い温度で
安ければならない。
本発明°をよく理解するには、容icyのなかの潤滑層
を入れて行なった結晶成長の実例を詳細に説明すればよ
い。ガリウム砒素は低欠陥密度と低不純物濃度とt イ
4Iiえながら大きく結晶を成長させるには、きわめて
困難な材・料である。困難性はガリウム砒素を作る元素
の高揮発性、特に砒素の高揮発性、高成長温度、ならび
にこれら高温度における元素の容器との反応性などに起
因するものである。
実験は、第4図に示す実験装置において実施した。この
装置40は、特にカリウム砒素、ならびに池の同様な半
導体化合物全成長させるのに適した傾斜凝固形炉である
。装置は、結晶の成長させることができるように材料全
装着して示した図である。ここで、カリウム砒素の溶融
体は結晶成長の前に、装置において実際に作られている
n:ri斜凝固形装J’s 40は、水晶のようね透明
な材料で通常に1作、られて因る□長い容器41から成
5ソ°つている。容器は2つの領域に分けられていて、
低篇度領域はヒータ線42を備えてあり、高温度領域は
他のヒータ、腺43全備えである。砒3’A 4411
通常、水晶で作られている容器45のなかに保持され、
ガリウム46&よ通常水漏、または熱分)押法による窒
化ホウλ仁で(’+られたボートのなかに含J、れてい
る3、希望する結晶のグラフ表示の方向に結晶の成長全
開始させるように、カリウム砒素□4γの種結晶はボー
トのなかに含まれている。
容′訂41 i、J絶縁+シ料48により取巻かれてい
て、装置6には結晶の成iを観察す名ための観察窓49
が装着されている。
ガリウム砒素全成長させる典ス1!!・的な過程におい
ては、低温度領域ははソロ10〜630℃にまで加熱さ
れている。いつばう、高温度領域は種の存在する点では
ソ・123.8℃、ボートの他端においては!;129
0℃にセットされ、、1238〜1290℃の温度範囲
に加熱されている。砒素容器45から蒸留した砒素44
ば、ガリウム砒素の溶融体を形成するためのボートのな
かでカリウムと反応する。
高温度部分における温度は、種の存在点において結晶成
長が開始するように徐々にさげると共に、溶融体の凝固
全完全にするためにも徐々にさげている。典型的には、
結晶成長速度は6〜13 mm、7時間(1/4〜1/
2 インチ/時間)であるが、この範囲よりも低い速度
や高い速度も容易に達成される。
」二記により多くの実験を行なったが、それらの結果は
次に説明するようなものであった。
実験1: この実験は307ダr の砒素と、281.9 f/r
のガリウム・と金使って行、なった。種結晶の方位は<
111>であ’) 、” 、1.6 jr  のBj0
3’:”e封入物質として使用した。ドープ剤はシリコ
ン(0,2031/r  )であシ、成長速度はは’;
、13+Ian/時間(1/2インチ・7時間ってあり
、水晶ポート1使用した。61〜足な結果が得られた。
得られた結晶は、1 oriあたシロ000個のエッチ
ピット密度(E P’D ) を有する優れた品質のも
のであった。325℃で1′〜1.5時間にわたり、溶
融KOH内で研摩した(100)血合エツチングするこ
とによって、エッチピット密度が得られた。
実験2: この実験は348.3fi  の砒素と32.0.17
r  のカリウムと全使い、種結晶の方位を< 1.1
1 >とし、15グr のB2O3ヲ使用したJ、ゾ外
には」二と同様にして行力った。は\゛0、232 ?
r  のシリコンをドープ剤として使用し、3−3mm
1時間(1/2インチ/時間)の成長速度で、水晶ボー
トに溶融体1目せて使用した。・□優れた品質の単結晶
が、L、ci+!あたり2000個のエッチピット密度
で得られた。
実験3・: この実験は466.6fr  の砒素と430 !rの
ガリウムとを使い、種結晶の方位t<111>とし、1
5針 のB2O3ヲ使用した以外には、」二と同様にし
て行なった。は”: 0.313 r’rのシリコンを
ドープ剤として使用し、13mm/時間(l/2インチ
/時間)の成長速度で、水晶ポートに溶融体を含ませて
使用した。優れた品質の単結晶が、1cnテあたり20
00個のエッチピット密度で得られた。
実験4; この実験は447 ?r  の砒素と41.0 ii’
rのガリウムとを使い、種結晶の方位t<1oo>とじ
、、14ji’r  の8203に使用した以外には上
と同様にして行なった。はソ0.29’9frのシリコ
ンをドープ剤として使用し、■3’mm/時間(172
インチ/時間)の成長速度で、水晶ボートに溶融体を含
ませて使用した。優れた品質の単結晶が、1crlあた
93000個のエッチピット密度で得られた。
実験5; この実験は433.5 ?r  の砒素・と、397.
firのガリウムと全使い、種結晶の方位i<111>
とし、7gr  のB20s ’に使用した以外には」
二と同様にして行なった。はソ、0.29グr のシリ
コン孕ドープ剤として使用し、81針m/時間(1/3
  インチ/時間)の成長速度で、水晶ボートに溶1妙
[本を含ませて1吏用した。優れた品質の浄結晶が、1
cnlあたり800個の工゛ンチピット密度で1))ら
れた。
実験6: この実験は444 fir  の砒素と440 ?rの
カリウムとt便い、単結晶の方法i<111>とじ、1
.4 fir  の■3□03ヲ使用した以外には−1
−と同様にして行なった。は’W0,1499rのシリ
コンをドープ剤として使用し、6tnrn/時間(17
4インチ/時間)の成長速度で、熱分)折法による窒化
ホウ素(PB、N)のスに−トに溶融体を含ませて使用
した。1夏れた品質の単結晶が、1cnjあたり800
0個の工゛シチピット密度で得られた。
実験7; この実験は475グr の砒素と4.35 yrのガリ
ウム、トラ使い、種結晶の方位ffi、<111)とし
1.142r のB2O3f:使用した以外には」二と
同様にして行なった。シリコンをドープ剤として使用せ
ず、13rnm/時間(1/2  インチ/時間)の成
長速度で、水晶ボートに溶融体を含ませて使用した。優
れた品質の単結晶が、、 、 1. aiあたシロ00
0個のエッチピット密度で得られた。
これらの実験に関して、いくつかの点は注目に値するも
のである。第1に、(1,00,>の結晶方位に、沿っ
ての結晶成長か可能であり、多くの応用にきわめて有利
である。事実、結晶が成長する条件の優れた制御は、(
・l々の結晶のグラフ表示の方向に沿っての結晶の成長
を可能にするものである。ドープ剤の%と結晶のなかの
不7神l吻とが大幅に減ぜられ、さらにけ人′吻質がボ
ートから溶融体を分pH+シたためにより結果が予知可
能であ鼠。ボートはドープ)1すや不純物などの現実の
供給源であることが多い。、熱分j:イ法による窒化ホ
ウ素は、ボート拐旧から」:ごれが混入される)会が大
幅に減ぜられる」:うなボート月別、とし半使用できる
ものである、1典ノ(シ的なり203の1jli′rJ
:犬きく fltll限;j−1金越えて変えられる。
一般に、JO3が硬化した後での粘着を防ぐため、完全
に冷却する前に、はマロ50℃でボートのなかの結晶を
取出す。ボートをその倶1而に動かして、既に形成され
た結晶が部分的にボートから落ちることができるように
L2て、これ全実力1!iすることができる。この)f
ffi稈Q、11、ボート甘たは封入物質に粘着してい
る1f11’+品が部分的に離れるように、は’;10
00〜1200℃の温度範囲で熱サイクルをかけること
によって実施することができる。他の方法※;11、化
学的手段によるB2O3の除去を含実験は、第5−に示
した垂直傾j′1形凝固装置50においても、行な?た
。ここで、、ガリウム砒素51は水晶るつぼ52のなか
に含1れ、このるつぼは右進酸化アルミニウムで従来法
により作られた。’11/j造体に含1コ、れている。
この完全な構造体は水晶シリンダ54により従来法で作
られ、頂曹55が、ステンレス鋼で作られ、底〒56が
ステンレス鋼で作られた炉の構造体の内側に含丑れてい
る。(1t造体はインダクションコイル57により加熱
去れ、炭素製スリーフ5817j、ラジオ周波エネルギ
を吸収するように水晶製るつぼ52を取巻いている。
種結晶5′9N結晶の成長全開始させるた、めに使用し
、カリウム砒素溶融体の迫部il:l−8−る一つぼ5
2から溶融体を分離するだめの酸化ホウ素の層を含むも
のである。酸化ホウ素、とカリウム砒素との間の境界で
、ガリウム砒素の最低温度で垂直方向に温度勾配が伺け
ら□れてい1     1             
 1      する。この境界における需jβ−は、
通常、成長過程の初期においてガリウム砒素の1.一点
(1238℃)をわずかに越えるものであ、る。り°リ
ウム砒素溶口;体を下方、腎走らせ″:“る温塵勾自己
は大きく制限量を越えて変化するが、一般に8〜b 範囲である・この勾苧己は・竺瞥内部の初期分布を変え
、さやにB2O3の厚さを増加させることによって変え
ることができる。カリウム砒素溶融体を通って下方に存
在する結晶成長に影響を匂えるように、温度は徐々に下
げられている。完全な凝固の後であって室温への冷却の
前に、通常、650〜1150℃の温度範囲で、結晶は
るつぼから取出す。特にるつほの側壁と底とにおいて、
B2O3の圧力は結晶ケ客易に除去せしめるためのもの
である。
この過イ!1(により成長した結晶は、高品質、人界わ
1tであつ−Cきわめて大きいものであった。
この方法により成長させた結晶は、特に犬容f(1であ
二つ−c’、シかも大きな横断面がイリられるど11つ
〕11′長がある。
特定の実例は、プロセスを図示するのに有用である。シ
リカ製るつぼには、8.、、、OOグラムのガリウム砒
素とj 、00 、、、jr、の酸化ホウ素とを入れた
。門衛したる、つぼはり、リウ、ム砒素の融点を越える
温度に′まで加熱、さ、れ、」二記温度勾配を付けて徐
々に冷却する。凝固後であって、はソ100℃より低く
、寸で冷却する前に、外!すの縁で結晶内に向?て凝固
している水晶枠を使用して、る、つぼ、からガリ、ラム
砒素の結晶を取出した。結晶の直径ははヌ7.5 on
(3インチ)で、th′つた:結tj?+ ’l’$、
縁部近ぐに多結8領竺を有−J−−”、・ツ°@15分
”:、、$岬ゾ・0も基本病に原子ブリッジマン技法、
すなわち水平温度勾配技法を使用、して、1rnBi 
 結晶を成長させる実験全行雇った。使(T]1.、′
た装置J、H:は、第4図に示した装置の高温;底i□
FB 芥にきわめて合、個々の元素を、混合して化合物
半導体重形成し、−品晟長(C先がけて化合物全生成す
□る際の問題点の多くは高純度化に関するものであり、
竹に酸素の除去に関するものである。
InB1  の成長とGaAs  の成長との最も大き
な相〕1γ点は、温度が大きく異なることに関連するも
のである。GaAs  溶融体はは\:1238℃で溶
ノ質し、いっぽうInB1  は109℃で溶j竹する
。この温度の相違は結晶成長の種々の条f′1、!■に
利料の選択に影響を・Jjえる。最もET′l要な点は
旧人物質の選択にあり、その理由iJ: 13203に
対して結晶成長が低すぎる温度で起りB2O3が使えな
い点にある。
しかし、多くの物質が封入物質として使用できる。1l
lfに411月なものにf[F々のシリコン車。
合体と油とである。これらの物質は一般にIn13i 
 、j(らびにこの化合物ライ′1つている元素に対し
て不活性である。結晶成長条件のも古でt:1、こ才U
らの物質も軟かい寸丑、あるいQ、l、液状の丑−まで
ある。封入物質として特に有用なものに15、シリコン
熱膜定形重合体である。
通+::Lのカラスポート(多くの場合、熱安定化ガラ
ス製ポート)、ならびにシリコン重合体封入物質全使用
し、多くの結晶成長に関する実験を行なった。封入物質
は、表面を被覆するためガラスポートに導入した。これ
によって、成長しているInB1  結晶とカラスホー
ドとが直接接触するのは避けられた。試料の作成は、化
合物を形成して酸化物や他の不純物を除去するための基
本的な標準過程全任用して実施した。ホードは封じて上
記装置へ4人した。近くに種結晶を備えた一端はは\゛
109℃の温度に保ち、他端をはソ190℃の温度に保
って、この間で温度全変化させている。ホードの種結晶
が存在する☆11.1部でtま最初に結晶成長をさせ、
ボートの残シの部分に沿って徐々に温度をさげるように
している。
典型的には、温度はは\゛1010時間わたってさげた
。イtIられた結晶←1、きわめて高い品質ケ備え、一
般にひずみや不完全性がまったく存在しないものであっ
た。!1寺に注目−ノべべ点は、結晶がボートの壁に粘
着しないと、−1゛うことであった。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明では結晶拐料と容器との間
での粘着を防ぐことにより、封入物質が生産すべき結晶
の品質全改良できると言う効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明によるプロセス全実施するための結晶
溶融体を含むボートの長手方向に炉を移動させることが
できる水平フリツシマン結晶成長装置の説明図、 第2図は、本発明によるプロセス全実施するための炉の
長手方向に試料全移動させることができる水平フリツジ
マン結晶成長装置の説明図、 第3図は、本発明によるプロセスにより結晶ケ成長させ
るための温度類斜形制御装置の説明図、 第4図は、本発明によるプロセスによりGaAs と関
連化合物との成長に特に適した傾斜凝固式結晶成長装置
の説明図、 第5図は、本発明によるプロセスによりGaAs と関
連化合物との成長に特に適した垂直傾斜凝固式結晶成長
装置の説明図である。 〔符号の簡単な説明〕 12.22,31.52・・・・・容器15.25,3
4.60  ・・・・封入物質47.51   ・・・
・・・・・  ・カリウム砒素F/G、5 50 第1頁の続き 0発 明 者 モリス・ジエン−シー・ヤングアメリカ
合衆国07922ニユージ ヤーシイ・ユニオン・バーフレ イ・ハイツ・マウンテン・アヴ エニュー780

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 容器内に存在する溶融体が結晶材料として凝固す
    るまで前記容器の内部で前記溶融体を冷却する過程を含
    む結晶成長技法による結晶材料成長法において、 前記結晶月利と前記容器との間での粘着を防ぐために前
    記溶融体と前記容器との間に物質を挿入したこと全特徴
    とする結晶材料成長法。 2、特許請求の範囲第1項記載の結晶材料成長法におい
    て、 前記物質が前記結晶拐料の成長中に含−まわた化学物質
    に対して化学的に不活性であることを特徴とする結晶4
    2刺成長法。 3、特許請求の範囲第1項、または第2項に記載の結晶
    材料成長法において、 前記物質ir:]:前記(容量体が凝固する温度におい
    て液体であること全特徴とする結晶材料成長法。 4、特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれかに・
    記載の結晶材料成長法において、前記結晶材料がIII
     −V族化合物半導体から成ることを特徴とする結晶材
    料成長法。 5、特許請求の範囲第4項記載の結晶材料成長法におい
    て、 前記化合物半導体がガリウム砒素であると共に前記物質
    が酸化ホウ素であることを特徴とする結晶材料成長法。 6、特許請求の範囲第5項記載の結晶材料成長法におい
    て、 前記容器が水晶製であることを特徴とする結晶材料成長
    法。 7、特許請求の範囲第5項記載の結晶材料成長法におい
    て、 前記容器が熱分解性の窒化ホウ素で作られたものである
    ように(1q成したことを特徴とする結晶材料成長法。 8.特許請求の範囲第4項記載の結晶材料成長法におい
    て、 前記化合物半導体がInBiであることを特徴とする結
    晶材料成長法。 9.特許請求の範囲第8項記載の結晶材料成長法におい
    て、 前記物質がシリコン重合体であることを特徴とする結晶
    材料成長法。 10.特許請求の範囲第9項記載の結晶月利成長法にお
    いて、 前記容器がガラス製であることを7特徴とする結晶月利
    成長法。
JP15258783A 1982-08-23 1983-08-23 単結晶成長法 Granted JPS5954689A (ja)

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EP0104741B1 (en) 1990-07-25
GB8322133D0 (en) 1983-09-21
DE3381766D1 (de) 1990-08-30
GB2125706A (en) 1984-03-14
EP0104741A1 (en) 1984-04-04
GB2125706B (en) 1985-12-24
CA1222436A (en) 1987-06-02

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